2016年3期
刊物介紹
本刊是一份由信息產(chǎn)業(yè)部主管、信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所主辦、中國(guó)電子學(xué)會(huì)可靠性分會(huì)協(xié)辦的可靠性研究專(zhuān)業(yè)刊物，1962年創(chuàng)刊，國(guó)內(nèi)外公開(kāi)發(fā)行。本刊是行業(yè)中最有權(quán)威性的可靠性學(xué)術(shù)、技術(shù)類(lèi)科技期刊，發(fā)行分布面廣，覆蓋了電子、航空、航天、造船、兵器、鐵路、教育等多個(gè)行業(yè)與部門(mén)，為提高我國(guó)軍工電子產(chǎn)品可靠性作出了重大的貢獻(xiàn)；同時(shí)，隨著可靠性技術(shù)在民用生產(chǎn)中起著越來(lái)越重要的作用，本刊也成為越來(lái)越多企業(yè)和技術(shù)人員的良師益友。
電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)
專(zhuān)家論壇 （2016年03期）
- 電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)中冷浸及冷設(shè)計(jì)方法探討
- 2016年中國(guó)賽寶實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量與可靠性培訓(xùn)計(jì)劃
- 工業(yè)和信息化部電子第五研究所獲“國(guó)家衛(wèi)星導(dǎo)航及應(yīng)用產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心”授權(quán)
- 本刊參展“第四屆中國(guó)電子信息博覽會(huì)（CITE2016）”
- 云計(jì)算進(jìn)入應(yīng)用迅速普及階段
- 《電子電器產(chǎn)品有害物質(zhì)限制使用管理辦法》實(shí)施宣貫會(huì)在北京、廣州召開(kāi)
- 工業(yè)和信息化部電子第五研究所發(fā)布六性協(xié)同工作平臺(tái)CARMES 7.0版
- 《電子產(chǎn)品環(huán)境與可靠性試驗(yàn)》雜志2012、2013年增刊出版和征訂信息
- 美開(kāi)發(fā)可由發(fā)射管發(fā)射的“三叉戟”TL無(wú)人機(jī)
- 電磁脈沖對(duì)MMIC電路中MIM電容的損傷分析
- CBGA器件焊點(diǎn)溫度循環(huán)失效分析
- 一種嵌入式電阻器宇航適用性研究
- 改善微波功率器件可靠性的方法
- 專(zhuān)業(yè)領(lǐng)域軟件的代碼審查方法研究
- 恒定溫度應(yīng)力下的模擬IC加速退化試驗(yàn)研究
- 機(jī)電產(chǎn)品可靠性自然增長(zhǎng)檢驗(yàn)方法研究
- 測(cè)試性試驗(yàn)的FMECA方法研究
- 利用實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)制定可靠性試驗(yàn)剖面綜述
- 基于失效物理的可靠性仿真技術(shù)及軟件設(shè)計(jì)
- 《萬(wàn)能角度尺檢定規(guī)程》若干問(wèn)題的探討