韓廣才　王亞偉

摘要：針對光散射測量技術(shù)中微粒光散射多峰現(xiàn)象對測量結(jié)果的影響問題展開了研究，其中對光敏區(qū)中微粒幾種運(yùn)動的隨機(jī)性所產(chǎn)生的光物理機(jī)制進(jìn)行分析，并根據(jù)分析結(jié)果，建立了荷電微粒模型．分析研究了靜電對于光敏區(qū)運(yùn)動微粒的作用及其對單分散特性的影響．提出了在噴嘴處加載高位靜電場給微粒荷電，利用荷電微粒間的Coulomb作用力，從而可有效地減弱非半分散隨機(jī)現(xiàn)象的發(fā)生幾率，最終改善微粒粒度分布光散射測量法的測量效果．

關(guān)鍵詞：微粒；靜電；光散射；測量誤差；單分散；荷電

中圖分類號：0436．2

文獻(xiàn)標(biāo)識碼：A

文章編號：1671—7775(2006)02—0168—04