馬 騰， 袁 著

（電子科技大學(xué) 電子科學(xué)技術(shù)研究院，四川 成都 610054）

0 引言

D/A 轉(zhuǎn)換器作為連接數(shù)字系統(tǒng)與模擬系統(tǒng)的橋梁，不僅要求快速、靈敏，而且線性誤差、信噪比和增益誤差等也要滿足系統(tǒng)的要求[1]。因此，研究DAC芯片的測(cè)試方法，對(duì)高速、高分辨率DAC芯片的研發(fā)具有十分重要的意義。

目前，波形測(cè)量和分析協(xié)會(huì)已提出了DAC測(cè)試的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn) IEEE Std.1057[2]，里面的術(shù)語(yǔ)和測(cè)試方法為 DAC測(cè)試提供了更多的參考。傳統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試只適于信號(hào)發(fā)生器、示波器等測(cè)試儀器，但是測(cè)試精度不高；大規(guī)模芯片測(cè)試時(shí)則使用自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE），但是成本很高；最近提出的DAC的測(cè)試方法，比如結(jié)合V777數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)可以進(jìn)行DAC測(cè)試[3]，應(yīng)用模擬濾波器進(jìn)行音頻DAC測(cè)試[4]，利用數(shù)?；旌闲盘?hào)測(cè)試系統(tǒng)Quartet對(duì)高速DAC進(jìn)行測(cè)試，等等[5]，這些方法在通用性、精確度和成本方面無(wú)法同時(shí)滿足。為了達(dá)到上述要求，提出了基于FPGA的高性能DAC芯片回路測(cè)試法。

1 DAC主要技術(shù)參數(shù)

DAC 的主要技術(shù)參數(shù)基本上可以分為靜態(tài)特性參數(shù)和動(dòng)態(tài)特性參數(shù)。DAC的靜態(tài)特性參數(shù)用來(lái)確定其轉(zhuǎn)換的精確度，主要包括失調(diào)誤差(Offset Error)、增益誤差（Gain Error）、積分非線性誤差（INL）以及微分非線性誤差（DNL）等。DAC動(dòng)態(tài)特性參數(shù)用來(lái)確定其交流條件下的性能，主要包括信噪比（SNR）、信號(hào)噪聲和失真比（SINAD）、有效位數(shù)（ENOB）、總諧波失真（THD），以及無(wú)雜散動(dòng)態(tài)范圍（SFDR）等。

2 測(cè)試方案

2.1 設(shè)計(jì)原理

DAC芯片參數(shù)回路測(cè)試法，就是將待測(cè)信號(hào)形成一個(gè)完整的信號(hào)回路。首先，使用 FPGA產(chǎn)生待測(cè)信號(hào)，經(jīng)過 DAC芯片后轉(zhuǎn)換成模擬信號(hào)，再經(jīng)過濾波、放大電路和ADC芯片轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)，存儲(chǔ)在FPGA的RAM里，然后使用Quartus II 軟件Signal tap II工具取出數(shù)據(jù)，導(dǎo)入Matlab軟件后，就可以對(duì)數(shù)字信號(hào)進(jìn)行分析和計(jì)算，從而得到DAC的技術(shù)參數(shù)[6]。在ADC采樣之前使用模擬信號(hào)接收器，如示波器、頻譜儀等，可與后端測(cè)試結(jié)果比較分析。設(shè)計(jì)原理如圖1所示。

由于 FPGA使用非常靈活，通過配置不同的編程數(shù)據(jù)可以產(chǎn)生不同的電路功能[7]，對(duì)于不同分辨率和采樣速度的DAC芯片都可以進(jìn)行參數(shù)測(cè)試；濾波和運(yùn)算放大電路盡可能地降低信號(hào)在轉(zhuǎn)換和傳遞過程中的噪聲；數(shù)字信號(hào)在分析和計(jì)算方面比模擬信號(hào)更加準(zhǔn)確，保證了測(cè)試系統(tǒng)的精確度；相對(duì)于其他DAC測(cè)試系統(tǒng)來(lái)說(shuō)，本測(cè)試方案使用的元器件比較少，成本比較低。

圖1 設(shè)計(jì)原理

2.2 硬件實(shí)現(xiàn)

DAC使用12位分辨率、250 Ms/s采樣速度的DAC芯片，芯片采用LVDS差分電路、PTAT基準(zhǔn)源以及4+4+4電流源陣列等關(guān)鍵技術(shù)設(shè)計(jì)，可以滿足高速高分辨率轉(zhuǎn)換電路處理的要求。FPGA是Altera公司Cyclone III系列EP3C25Q240 C8芯片，功耗小，系統(tǒng)綜合能力強(qiáng)，價(jià)格較低，包含了24624個(gè)邏輯單元、594 Kbit內(nèi)存空間和4個(gè)鎖相環(huán)，硬件資源完全可以滿足測(cè)試的要求[8]。ADC是 LINEAR公司的LTC2242-12芯片，交流特性非常好，降低了測(cè)試系統(tǒng)帶來(lái)的誤差。運(yùn)算放大器是ADI公司的AD8008芯片，非常好的驅(qū)動(dòng)特性保證了DAC芯片輸出信號(hào)的質(zhì)量，提高了DAC的驅(qū)動(dòng)能力。

2.3 軟件設(shè)計(jì)

軟件代碼采用硬件描述語(yǔ)言Verilog實(shí)現(xiàn)。FPGA產(chǎn)生待測(cè)信號(hào)包括Test（全零、全一等）、Ladder（階梯波）和Sin（正弦波）。其中Test信號(hào)用于測(cè)試DAC芯片的靜態(tài)特性參數(shù)失調(diào)誤差和增益誤差，Ladder信號(hào)用于測(cè)試DNL和INL，Sin信號(hào)用于測(cè)試動(dòng)態(tài)特性參數(shù)SNR、SINAD、ENOB、THD和SFDR。

數(shù)據(jù)分析和計(jì)算過程主要通過Matlab軟件實(shí)現(xiàn)。DAC芯片輸入全零和全一信號(hào)，可計(jì)算出失調(diào)誤差和增益誤差；使用階梯波信號(hào)測(cè)試INL和DNL時(shí)，為了測(cè)試精確度，將 12位輸入數(shù)據(jù)分成高中低各四個(gè)位進(jìn)行測(cè)試。DAC的動(dòng)態(tài)特性參數(shù)測(cè)試采用快速傅里葉變換的方法，將Signal tap II工具取出數(shù)據(jù)經(jīng)過FFT和其他運(yùn)算，得到SNR、SINAD、ENOB、THD和SFDR等動(dòng)態(tài)特性參數(shù)，它們可以全面地反映DAC的動(dòng)態(tài)特性，這里精確到14階諧波。

3 測(cè)試結(jié)果

Test信號(hào)測(cè)試：DAC輸入全一狀態(tài)的輸出電壓為760 mV,輸入全零狀態(tài)的輸出電壓為276 uV，經(jīng)過Matlab計(jì)算，失調(diào)誤差是0.036%，增益誤差是3.63%。

Ladder信號(hào)測(cè)試：在計(jì)算INL和DNL時(shí)，DAC輸入高中低各四個(gè)位的測(cè)試原理相同，以中四位為例來(lái)介紹。n=12，i從24～28位變化，用1LSB來(lái)表示，測(cè)定輸出的15次(Step)階梯波，轉(zhuǎn)換成電壓值，部分?jǐn)?shù)據(jù)如表1所示，每列數(shù)據(jù)分別表示階數(shù)、測(cè)試最小值、測(cè)試最大值、測(cè)試平均值、理想數(shù)值以及考慮小電流影響后最終電壓值。使用Matlab軟件分析數(shù)據(jù)后得到INL和DNL曲線如圖2和圖3所示。

表1 15次階梯波電壓值

圖2 INL分析曲線

圖3 DNL分析曲線

Sin信號(hào)測(cè)試：輸入正弦波頻率 25 kHz，AD采樣率為100 MHz/s，輸出數(shù)字信號(hào)經(jīng)過Matlab分析計(jì)算后，測(cè)得SNR是58 dB,SINAD是57.75 dB,SFDR是62.84 dB,THD是58.62 dB,ENOB是9.3位。時(shí)域波形和FFT變換后14階諧波的頻譜如圖4和圖5所示。

圖5 sin信號(hào)輸出頻域波形

4 結(jié)語(yǔ)

以12位、250 Ms/s DAC芯片為例，在FPGA的基礎(chǔ)上使用回路測(cè)試法，測(cè)試了其靜態(tài)特性參數(shù)和動(dòng)態(tài)特性參數(shù)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，可以有效地測(cè)試DAC芯片的靜態(tài)特性參數(shù)和動(dòng)態(tài)特性參數(shù)。同時(shí)可以測(cè)試不同分辨率和采樣速度的DAC芯片，測(cè)試結(jié)果比普通模擬測(cè)試儀器的精度高，測(cè)試系統(tǒng)比專用DAC自動(dòng)測(cè)試設(shè)備成本低。

[1]BURNS M, ROBERTS G W. An Introduction to Mixed-signal IC Test and measurement[M]. New York: Oxford University Press, 2001:1-389.

[2]IEEE. IEEE Standard for Digitizing Waveform Recorders[s].[s.l.]:IEEE，1994.

[3]陸強(qiáng)，孫曉麗. V777測(cè)試系統(tǒng)DA/AD測(cè)試技術(shù)的研究[J].電子與封裝, 2008(08):13-17.

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[5]趙步云，管杰，戴昌培.基于 Quartet測(cè)試系統(tǒng)的高速 DAC芯片測(cè)試[J].電子工業(yè)專用設(shè)備,2005(127):37-42.

[6]李媛媛，徐巖，王靖岳. 對(duì)MATLAB實(shí)現(xiàn)數(shù)字信號(hào)的QPSK的頻譜分析[J].通信技術(shù),2008,41(01):41-42

[7]張煒，楊虎，張爾揚(yáng). 一種靈活的實(shí)時(shí)FPGA數(shù)據(jù)配置方法[J].通信技術(shù),2003(02):23-24

[8]Altera Corporation. Cyclone III Device Handbook, Volume 1[R].[s.l.]:Altera Corporation, 2008.