閆 璽,張景超,李賀光,肖長(zhǎng)江,丁 瑞,王曉磊
(燕山大學(xué)a.理學(xué)院;b.里仁學(xué)院,河北秦皇島066004)
玻璃厚度是評(píng)定玻璃生產(chǎn)質(zhì)量的重要參量,傳統(tǒng)的玻璃厚度檢測(cè)方法主要是利用螺旋千分尺或者具有相同精度的測(cè)量?jī)x器,對(duì)待測(cè)玻璃進(jìn)行人工接觸式測(cè)量.傳統(tǒng)方法測(cè)量的速度較慢,效率低下,而且在一些工業(yè)生產(chǎn)中特定的生產(chǎn)環(huán)境(如高溫、輻射以及有害氣體等)下,無法進(jìn)行有效的接觸測(cè)量.近些年來,隨著光電檢測(cè)技術(shù)的迅速發(fā)展,電荷耦合器件CCD(charge couple device)圖像傳感器已在圖像傳感和信號(hào)處理、產(chǎn)品外部尺寸檢測(cè)、分類、表面質(zhì)量評(píng)估、智能化測(cè)控及機(jī)器視覺中的精確定位等諸多領(lǐng)域中被廣泛地應(yīng)用[1-2],已成為非接觸檢測(cè)的主要工具,目前針對(duì)平板玻璃厚度的非接觸式測(cè)量技術(shù),已有不少人做了大量的工作和研究[3-9],主要測(cè)量方法有激光多普勒技術(shù)[10-11]、透射法[6,12]、激光三角法[13-14]等.本測(cè)量主要采用雙路透射法,測(cè)量原理簡(jiǎn)單,采用USB圖像采集卡實(shí)時(shí)提取圖像,以自適應(yīng)閾值法定位邊界,灰度重心法提取中心像素,對(duì)不同的樣品進(jìn)行實(shí)驗(yàn)測(cè)量分析,力求準(zhǔn)確、簡(jiǎn)單、快速地操作.
光束以一定方向斜射入待測(cè)平板玻璃時(shí),根據(jù)光的折射定律,光線傳播方向?qū)l(fā)生偏移,光束中透射出玻璃的光與無待測(cè)玻璃時(shí)的光線方向平行,只是位置平移了一段距離.
如圖1所示,設(shè)光束以θ為入射角,玻璃的折射率為n,空氣折射率可近似為1,待測(cè)平板玻璃厚度為d,光束平移量為Δs.
圖1 折射原理圖
依據(jù)圖1中的幾何關(guān)系可以得到:
根據(jù)光的折射定律
以上各式中θ和n為已知量,可以令H=sinθcosθ·tanβ,式(3)即可寫為Δs=dH,從而玻璃的厚度
如果更準(zhǔn)確地計(jì)算光束平移量,可通過線陣CCD圖像傳感器接收檢測(cè)信號(hào),采用對(duì)稱的雙光束,如圖2所示,實(shí)線部分為光束通過玻璃的實(shí)際光路,虛線為沒有加載待測(cè)玻璃時(shí)的光路,經(jīng)過對(duì)稱的平面鏡反射過來的2束光線,根據(jù)前后2次光束位置的變化來求得光束偏移量,同樣在對(duì)稱的反射鏡面光束也發(fā)生同樣的平移.在圖2中,每個(gè)反射平面鏡上,屬于入射光線的實(shí)線與虛線部分的間距與屬于反射光束的實(shí)線與虛線的間距相等.從而式(3)變?yōu)?/p>
玻璃的厚度表達(dá)式變?yōu)?/p>
根據(jù)鏡頭成像倍率公式
由式(4)~(6)可得厚度公式為
式中:M為鏡頭放大倍率,N為像素?cái)?shù).
圖2 對(duì)稱雙光路圖
測(cè)量系統(tǒng)主要有光學(xué)設(shè)計(jì)部分和圖像采集部分,結(jié)構(gòu)裝置如圖3所示.
光學(xué)系統(tǒng)部分由對(duì)稱安裝的激光器、反射鏡組和慮光片以及成像鏡頭組成.光源根據(jù)CCD的光譜特性曲線(參照CCD產(chǎn)品簡(jiǎn)介及說明書),采用半導(dǎo)體激光器,功率為3mW,波長(zhǎng)為532nm,光束形狀為一字線型,光束出口線寬L≤0.5mm.反射鏡組的功能主要是將對(duì)稱雙路激光轉(zhuǎn)變?yōu)閮善叫泄馐?采用濾波片是因?yàn)榧す饪赡茌敵瞿芰窟^大,避免CCD輸出飽和.鏡頭采用ZENITAR-F2/50mm型號(hào)標(biāo)準(zhǔn)鏡頭,焦距50mm,光學(xué)成像放大率為M=1∶5,最大光圈可達(dá)f/2.
圖3 系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)裝置示意圖
光學(xué)圖像采集部分主要由線陣CCD傳感接收器、傳感器驅(qū)動(dòng)電源、圖像采集卡、計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)和顯示器組成.CCD傳感器采用日本TOSHIBA-TCD1501D型號(hào),該型號(hào)器件是一款具有高靈敏度、低噪聲、低暗電流等特性線陣電荷耦合器件,有效光敏像元數(shù)目為5 000像素,單位像元間距p=7μm.
圖像采集卡采用KXUSB-SDK系列,采用USB總線數(shù)據(jù)接口,接口芯片與主機(jī)USB接口相連,圖像以黑白圖像GRAY8數(shù)字圖像格式顯示.系統(tǒng)通過CCD將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào),電信號(hào)經(jīng)過傳輸后,通過A/D轉(zhuǎn)換獲得數(shù)字信號(hào),圖像數(shù)據(jù)被采集卡讀取后,進(jìn)入計(jì)算機(jī)保存和顯示,以數(shù)字圖像類型BMP,JPEG及TIFF等格式文件保存.采集到線激光條紋以灰度圖像顯示,如圖4所示;圖像的數(shù)據(jù)以矩陣的形式存儲(chǔ),如圖5所示.
圖4 線激光灰度圖像
圖5 數(shù)字圖像數(shù)據(jù)格式
提取條紋圖像中心像素是實(shí)驗(yàn)測(cè)量的關(guān)鍵,由于實(shí)驗(yàn)裝置中采用的是線激光光源,激光產(chǎn)生的條紋是一字線型(如圖4所示),在線激光光束截面上,對(duì)應(yīng)光強(qiáng)能量一般呈現(xiàn)的是強(qiáng)度對(duì)稱的高斯分布,圖像灰度由條紋中心向兩側(cè)遞減,直到與背景灰度值融合,如圖6所示,左邊白色部分為目標(biāo)線光帶圖像,右邊黑色為背景部分,中間為邊界過渡區(qū)域.理論上灰度中心兩邊鄰域像素對(duì)稱分布,由于系統(tǒng)采集過程中產(chǎn)生各種隨機(jī)噪聲,對(duì)圖像采集或多或少帶來不穩(wěn)定的影響.往往會(huì)造成圖像灰度可能分布部分不對(duì)稱或者條紋中心偏移等.
圖6 光帶邊界鄰域灰度圖
在數(shù)字圖像理論中,根據(jù)圖像灰度特征的分割理論對(duì)圖像邊界處理有多種方法[15],由于實(shí)驗(yàn)采集的線激光灰度圖像結(jié)構(gòu)分布簡(jiǎn)單,主要由背景與2束平行的目標(biāo)光條紋構(gòu)成,為了提高灰度中心的準(zhǔn)確度,采用自適應(yīng)邊界閾值定位[16],通過灰度重心法[17],提取目標(biāo)像素中心.
首先根據(jù)圖像灰度曲線可以快速粗略地找到灰度圖像數(shù)據(jù)某一行i光強(qiáng)中心的粗略位置Ci,如圖7所示,然后在Ci左右各n個(gè)像素之間范圍,要求該范圍寬度大于光線帶寬.該范圍內(nèi)的灰度平均值為f(i)M,計(jì)算在Ci-n至Ci+n之間灰度小于f(i)M的灰度平均值f(i)th,
式中n′為灰度值f(i,j)小于f(i)M的像素?cái)?shù),以此f(i)M為邊界閾值,l和r為對(duì)應(yīng)邊界位置,灰度重心法求得光帶中心位置為
圖7 中心像素提取示意圖
固定好各實(shí)驗(yàn)裝置,雙路激光入射角為45°,調(diào)整好對(duì)稱的兩反射鏡角度,系統(tǒng)參考標(biāo)定時(shí)采集到的條紋灰度圖像如8所示,圖像尺寸為5 000像素×1 024像素,沿某一行的掃描對(duì)應(yīng)光強(qiáng)分布圖即灰度曲線如圖9所示,對(duì)采集的圖像進(jìn)行Matlab處理,圖10為圖像灰度統(tǒng)計(jì)直方圖,其中左右區(qū)域分別為背景與目標(biāo)像素統(tǒng)計(jì),中間為邊界過渡區(qū).通過圖9和10可以粗略找到條紋中心與邊界區(qū)域,圖11為冪次變換后圖像灰度曲線,參考圖11分析,依據(jù)式(8)~(10)對(duì)圖像數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)計(jì)算得各條紋中心位置,最后完成參考標(biāo)定,可得未加載玻璃情況下條紋寬度.
圖8 條紋灰度圖像
圖9 灰度曲線圖
圖10 灰度統(tǒng)計(jì)直方圖
圖11 冪次變換后灰度曲線
完成系統(tǒng)參考標(biāo)定后,實(shí)驗(yàn)采用樣品玻璃折射率為1.512,分別對(duì)厚度不同的樣品進(jìn)行實(shí)驗(yàn),實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)如表1和表2所示.其中,ΔN為光束與標(biāo)稱比較變化的像素?cái)?shù),d為玻璃厚度,Δd為誤差量.以樣品厚度為5.336mm(千分尺測(cè)定)為例,由表1中的數(shù)據(jù)可以求得厚度測(cè)試的平均值為5.340 7mm,與標(biāo)準(zhǔn)值比較測(cè)量中最大偏差為0.029mm.表2為不同厚度樣本比較,從表中可以看出隨著厚度的增加,測(cè)量的示值偏差逐漸減小.結(jié)果表明測(cè)量平均值在玻璃厚度標(biāo)準(zhǔn)允許的誤差范圍內(nèi),能夠滿足測(cè)量要求.
表1 測(cè)量數(shù)據(jù)
表2 不同厚度的測(cè)量數(shù)據(jù)
采用激光透射法,以對(duì)稱雙路激光透射測(cè)量方式,利用機(jī)器視覺技術(shù),實(shí)現(xiàn)了玻璃厚度的非接觸測(cè)量.本實(shí)驗(yàn)裝置主要是針對(duì)玻璃生產(chǎn)在線方式為構(gòu)造基礎(chǔ),可在玻璃退火處設(shè)計(jì)檢測(cè).生產(chǎn)中玻璃退火溫度較高,熱氣流上升,而CCD置于下方可以避免退火時(shí)上升熱流對(duì)傳感器的干擾,采用雙路對(duì)稱光路可以減少單束激光透射造成的平移誤差.使用該方法檢測(cè)玻璃厚度,測(cè)量裝置簡(jiǎn)單,操作方便,能夠滿足國(guó)家規(guī)定的厚度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)(GB11614-1999)的要求,厚度測(cè)量范圍可以在2~20mm內(nèi).本課題將進(jìn)一步研究和改進(jìn),可應(yīng)用于圖像的亞像素提取、圖像濾波去噪處理及高溫環(huán)境下檢測(cè)的可靠性能檢測(cè)研究.
[1] 陳東雷,王清元,張?zhí)祉?CCD傳感器及其應(yīng)用研究[J].傳感器世界,2007(7):22-26.
[2] 楊冰,丁蔻,李麗華,等.塞曼效應(yīng)數(shù)據(jù)分析與處理方法改進(jìn)[J].物理實(shí)驗(yàn),2010,30(5):36-38.
[3] Liu Chien-h(huán)ang,Li Zong-h(huán)an.Application of the thickness measurement of glass substrites[J].Applied Optics,2008(21):3968-3970.
[4] Novikov M A,Tertyshnik A D,Ivanov V V.Optical interference system for controlling float-glass ribbon thickness at hot Stages of production[J].Glass and Ceramics,2004,61(2):37-41.
[5] Mamedov F I,Dadashov M G,Gabibov S S.Device for continuous glass thickness determination[J].Glass and Ceramics,1990,47(5):184-186.
[6] 趙育良,王偉.基于CCD的航空相機(jī)平板玻璃厚度的測(cè)量系統(tǒng)[J].傳感器技術(shù),2003,22(1):58-60.
[7] 劉瑾,楊海馬,張菁.基于CCD在線厚度測(cè)量方法研究[J].儀器儀表學(xué)報(bào),2006,27(6):1217-1218.
[8] 杜曉強(qiáng),王偉,王召巴.玻璃厚度在線檢測(cè)系統(tǒng)的研究[J].紅外,2008,29(12):36-39.
[9] 張銚,王寶亞,梁洪峰,等.一種新型光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)那在高溫環(huán)境中的應(yīng)用研究[J].傳感器與系統(tǒng),2008,27(5):73-75.
[10] 宋晨,呂岑,郭琪,等.一種激光多普勒玻璃厚度的測(cè)量方法[J].光子學(xué)報(bào),2008,37(8):1635-1638.
[11] 李彥超,章亮,楊彥玲,等.多光束激光外差高精度測(cè)量玻璃厚度方法[J].物理學(xué)報(bào),2009,58(8):5475-5477.
[12] 胡玉禧,張紅強(qiáng),周紹祥.一直測(cè)量折射率的新方法[J].光電工程,1997,24(4):26-29.
[13] 王曉嘉,高雋,王磊.激光三角法綜述[J].儀器儀表學(xué)報(bào),2004,25(4):601-604.
[14] 黃戰(zhàn)華,蔡懷宇,李賀橋,等.三角法激光測(cè)量系統(tǒng)的誤差分析及消除方法[J].光電工程,2002,29(3):58-59.
[15] 劉文耀.數(shù)字圖像采集與處理[M].北京:電子工業(yè)出版社,2007:272-280.
[16] 吳家勇,王平江,陳吉紅,等.基于梯度重心法的線結(jié)構(gòu)光中心亞像素提取算法[J].中國(guó)圖象圖形學(xué)報(bào),2009,14(7):1354-1360.
[17] 吳慶陽(yáng),蘇顯渝,李景鎮(zhèn),等.一種新的線結(jié)構(gòu)光光帶中心提取算法[J].四川大學(xué)學(xué)報(bào),2007,39(4):151-155.