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基于虛擬儀器的三極管伏安特性測量的研究

2012-06-01 06:58北方工業(yè)大學(xué)信息工程學(xué)院微電子學(xué)系江雪穎王彥虎宗博寰趙治乾魏淑華
電子世界 2012年21期
關(guān)鍵詞:輸出特性三極管采集卡

北方工業(yè)大學(xué)信息工程學(xué)院微電子學(xué)系 江雪穎 王彥虎 宗博寰 趙治乾 魏淑華 張 靜

基于虛擬儀器的三極管伏安特性測量的研究

北方工業(yè)大學(xué)信息工程學(xué)院微電子學(xué)系 江雪穎 王彥虎 宗博寰 趙治乾 魏淑華 張 靜

本文利用虛擬儀器技術(shù)進行了三極管伏安特性測試系統(tǒng)的研究設(shè)計。硬件平臺選用NI公司的PCI-6251數(shù)據(jù)采集卡,實現(xiàn)信號的產(chǎn)生與采集;軟件設(shè)計利用NI LabVIEW 8.2開發(fā)平臺完成。整個測試系統(tǒng)能方便完成三極管測試電路各節(jié)點電壓信號的采集和通道控制,采集數(shù)據(jù)的精確處理,以及測試結(jié)果的顯示和保存。最后利用測試系統(tǒng)對三極管伏安特性進行了測量,實驗結(jié)果表明所研制的測試系統(tǒng)達到了設(shè)計要求,測試精度高,操作靈活方便,且擴展性強。

虛擬儀器;LabVIEW;數(shù)據(jù)采集;伏安特性曲線

1.引言

虛擬儀器將儀器技術(shù)、計算機技術(shù)、總線技術(shù)和軟件技術(shù)緊密的融合在一起,利用計算機強大的數(shù)字處理能力實現(xiàn)了儀器的大部分功能,打破了傳統(tǒng)儀器的框架,形成了一種新的儀器模式。在傳統(tǒng)的半導(dǎo)體參數(shù)測試實驗中,通常需要使用多種測量儀器來測量半導(dǎo)體的伏安特性曲線和其他參數(shù)。為了降低實驗成本,簡化實驗操作過程,采用虛擬儀器技術(shù)在軟件平臺LabVIEW上設(shè)計一種半導(dǎo)體伏安特性測試系統(tǒng),可以方便的顯示半導(dǎo)體器件的特性曲線,并且可將主要參數(shù)抽取出來單獨進行處理,靈活方便,完全能夠滿足測試實驗的要求。而且利用虛擬儀器技術(shù)構(gòu)建的測試系統(tǒng)具有很強的靈活性與可擴展性,便于后期測試功能的擴展與完善。

2.測試系統(tǒng)設(shè)計

2.1 設(shè)計要求及整體方案

本測試系統(tǒng)設(shè)計的核心思想是充分發(fā)揮虛擬儀器的靈活性,通用性,擴展性和強大的軟件功能等優(yōu)點,盡量減少外圍硬件的數(shù)量。要求系統(tǒng)能夠在硬件設(shè)備以及連線大多數(shù)不變的前提下,改變軟件程序就可以實現(xiàn)三極管等半導(dǎo)體伏安特性曲線的繪制和參數(shù)測量,這樣的設(shè)計可以有效降低系統(tǒng)的硬件成本。測試系統(tǒng)原理如圖1。

首先需要構(gòu)造外圍測試電路,將其搭建在接線盒(或面包板)上。然后,執(zhí)行程序,數(shù)據(jù)采集卡會按照信號發(fā)生的子程序輸出電壓(電流)掃描信號,并且從指定的端口采集某元件兩端(或節(jié)點)的電壓(電流)信號,最后將其反饋到計算機做處理。系統(tǒng)采用NI LabVIEW8.2開發(fā)的測試軟件系統(tǒng),控制測試系統(tǒng)完成所有的測試任務(wù),包括:利用采集卡上的硬件資源產(chǎn)生各種測試信號波形,數(shù)據(jù)采集,測試種類的控制,采集數(shù)據(jù)的處理,儀器面板的繪制,以及測試結(jié)果的顯示,數(shù)據(jù)的保存等等。

2.2 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計

數(shù)據(jù)采集是虛擬儀器的核心技術(shù)之一。LabVIEW提供了與NI公司的數(shù)據(jù)采集硬件相配合的豐富軟件資源,使得它能夠方便地將現(xiàn)實世界中各種物理量數(shù)據(jù)采集到計算機中,從而為計算機在測量領(lǐng)域發(fā)揮其強大的功能奠定了基礎(chǔ)。要將數(shù)據(jù)采集到計算機里,并對其進行合理的組織,需要組建一個完整的數(shù)據(jù)采集(DataAcQuisition,DAQ)系統(tǒng)。

本測試系統(tǒng)的數(shù)據(jù)采集部分選用NI公司的PCI-6251型數(shù)據(jù)采集卡。NI PCI-6251數(shù)據(jù)采集卡共有16個模擬輸入通道,2個模擬輸出通道,分別有8個數(shù)字輸入輸出通道,2個計數(shù)器和定時器,1個ADC,2個DAC。16個模擬輸入通道可以根據(jù)采集方式的不同,用多通道采集多組信號。因為有兩個DAC,可以并行輸出兩路模擬信號。

2.3 軟件系統(tǒng)設(shè)計

軟件開發(fā)利用LabVIEW 8.2開發(fā)平臺。軟件系統(tǒng)的前面板設(shè)計窗口如圖2所示。前面板既接受來自框圖程序的指令,又是用戶與程序代碼發(fā)生交互的窗口。這個窗口模擬真實儀表的面板,用于設(shè)置輸入和觀察輸出,能夠?qū)崟r的顯示半導(dǎo)體的特性曲線,并能方便的調(diào)節(jié)設(shè)置所需要的各個參數(shù)。

圖1 測試系統(tǒng)設(shè)計原理圖

后面板程序采用平行和嵌套的條件循環(huán)發(fā)生程序,從而實現(xiàn)對功能的發(fā)生與切換的控制。邏輯結(jié)構(gòu)如圖3所示。第一層程序由布爾燈的值來控制,用來決定是否產(chǎn)生電壓信號。第二層程序由功能選擇開關(guān)的值來控制,用來決定內(nèi)部執(zhí)行的是輸出曲線測試程序還是輸入曲線測試程序;同時,標(biāo)簽切換程序也由功能選擇開關(guān)來控制,用來切換前面板示波器的文字說明。由于第一層程序包含著第二層程序,如果第一層程序不執(zhí)行,則第二層程序無論為何值都不會執(zhí)行。

3.測試實驗驗證

3.1 測試電路設(shè)計

以測試NPN9013三極管伏安特性曲線為例,測試電路采用簡單的共射(對場效應(yīng)管為共源)放大電路,與采集卡各端口連接的示意圖如圖4所示。對應(yīng)的實際硬件連接電路如圖5所示。

采集卡的通道設(shè)置、端口連接和電阻的取值如下:

①模擬輸出的設(shè)定:

AO:0 通道輸出V0掃描信號(正弦半波)。如圖,將采集卡上編號為22的端口接在圖示節(jié)點5處,編號為55的端口接在圖示節(jié)點1處。(下同,不再贅述)

AO:1 通道輸出V1掃描信號(階梯波)。

②模擬輸入的設(shè)定:

AI:1 通道采集基極電壓信號Urb。

圖2 測試系統(tǒng)的前面板

圖3 功能控制框架的邏輯結(jié)構(gòu)

圖4 測試電路設(shè)計示意圖

圖5 實際測試電路的搭建

AI:2 通道采集集電極-射極電壓Uce。

a.測量輸出特性曲線時,AI:3 通道采集集電極電流信號Urc。

b.測量輸入特性曲線時,AI:0 通道采集基極—射極電壓Ube。

③電阻的取值:

Re取值為300Ω,Rb取值為4700Ω,Rc取值為2200Ω。

圖6 輸出特性曲線測試程序框圖

圖7 三極管輸出特性曲線

圖8 輸入特性曲線測試程序框圖

圖9 三極管輸入特性曲線

3.2 輸出特性曲線的測試

三極管輸出特性是指在一定的基極電流Ib控制下,三極管的集電極與發(fā)射極之間的電壓Uce同集電極電流Ic的函數(shù)關(guān)系,如公式1。參變量Ib可以用Urb除以Rb的阻值來求出,參變量Ic可以用Urc除以Rc的阻值來求出,而Urb與Urc、Uce可以用DAQ板卡來測量。

測試程序如圖6所示。當(dāng)“功能選擇”為(真)測輸出特性曲線時,利用循環(huán)分別將各個時刻的Uce(2通道)、Ic(3通道)提取,然后錄入移位寄存器,按x-y捆綁后繪制曲線,調(diào)用當(dāng)前時刻的一個Ib(1通道)傳入顯示控件作為對參變量的監(jiān)視。

圖7是參變量Ib=0.18644mA時Ic隨Uce變化的曲線。

3.3 輸入特性曲線的測試

三極管輸入特性指三極管輸入回路中,加在基極和發(fā)射極的電壓Ube與由它所產(chǎn)生的基極電流Ib之間的函數(shù)關(guān)系,如公式2。因變量Ib可以用Urb除以Rb的阻值來求出,而Urb、Ube可以用DAQ板卡來測量。

測試程序框架與輸出特性曲線測試時相似,“功能選擇”設(shè)置為(假)時測輸入特性曲線,提取的參數(shù)與測試輸出特性曲線時不同,分別將各個時刻的Ube(0通道)、Ib(1通道)提取,然后錄入移位寄存器,按x-y捆綁后繪制曲線,調(diào)用當(dāng)前時刻的一個Uce(2通道)傳入顯示控件作為對參變量的監(jiān)視。測試程序框圖如圖8所示。

圖9是參變量Uce=0.0688V時Ib隨Ube變化的曲線。

4.總結(jié)

本文利用虛擬儀器技術(shù)研發(fā)了三極管伏安特性測試系統(tǒng)。利用NI公司采集卡上的硬件資源,可以方便地產(chǎn)生所需要的模擬信號,也可以方便地對被測數(shù)據(jù)進行采集;利用LabVIEW軟件強大的數(shù)據(jù)處理能力,可靈活方便地對數(shù)據(jù)進行操作顯示。經(jīng)過實際測試驗證,整個系統(tǒng)操作靈活,測量精度高,數(shù)據(jù)存儲方便,擴展性強,可以滿足學(xué)校實驗室對半導(dǎo)體器件特性的測試需求。

[1]陳錫輝,張銀鴻著.LabVIEW 8.20程序設(shè)計從入門到精通[M].北京:清華大學(xué)出版社,2007.

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[3]劉燕,陳興文.基于虛擬技術(shù)的晶體管特性測試[J].大連民族學(xué)院學(xué)報,2011,Vol.13,No.3,p260-263.

[4]宗愛芹.基于NI Multisim 10與LabVIEW的單結(jié)晶體管伏安特性測試[J].現(xiàn)代電子技術(shù),2010,No 10,p148-151.

[5]隋琦.虛擬三極管伏安特性的測試的設(shè)計[J].山東理工大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版),2008,Vol.22,No.5,p88-90.

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