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158例熱性驚厥兒童的腦電圖分析

2012-06-20 07:43王元青
中外醫(yī)療 2012年2期
關(guān)鍵詞:家族史腦電圖腦損傷

王元青

(青島經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)第一人民醫(yī)院兒科 山東青島 266555)

FC在兒科較為多見,發(fā)生率2%~5%,占小兒發(fā)作性疾病的30%[1],大部分預(yù)后良好,有少數(shù)發(fā)生不可逆的腦損傷。EEG在兒童驚厥性疾病的診斷具有重要的作用,EEG已作為FC的常規(guī)檢查。我們對158例FC患兒做了EEG檢查,以探討FC的腦電圖表現(xiàn),異常EEG與以后癲癇的發(fā)作、FC對腦功能的影響以及預(yù)防性治療的關(guān)系,現(xiàn)將結(jié)果報(bào)道如下。

1 資料與方法

1.1 一般資料

本組FC患兒158例,其中男98例,女60例。年齡6個(gè)月~6歲,平均(3.52±1.03)歲(<6個(gè)月或>6歲者發(fā)病甚少,無統(tǒng)計(jì)學(xué)意義)。初發(fā)年齡1歲以內(nèi)25例,1~3歲95例,3歲以后38例。其中首次發(fā)作86例,反復(fù)發(fā)作72例。大部分患兒系呼吸道或消化道感染疾病,符合FC診斷標(biāo)準(zhǔn)。所有病例均進(jìn)行詳細(xì)的體格檢查及神經(jīng)系統(tǒng)檢查,記錄好發(fā)熱登記表,包括首發(fā)年齡、再發(fā)次數(shù)、最高體溫、持續(xù)時(shí)間、發(fā)作形式、家族驚厥史。

表1 FC患兒不同性別、年齡、發(fā)作次數(shù)、體溫、持續(xù)時(shí)間、發(fā)作類型及家族史與EEG分析(例)

1.2 EEG檢查方法

采用日本光電7213型12道腦電圖機(jī),按國際10-20系統(tǒng)安放頭皮電極描記EEG。采用單極與雙極導(dǎo)聯(lián)描記。3歲以下嬰幼兒在服10%水合氯醛(每公斤體重用0.5mL)誘導(dǎo)睡眠下做EEG,檢查時(shí)間30~60min。3歲以上兒童清醒安靜閉目查EEG,并做睜閉眼及深呼吸3min誘發(fā)試驗(yàn),檢查時(shí)間10~15min。FC患兒于驚厥發(fā)作后1~2周進(jìn)行EEG檢查。結(jié)果按《臨床腦電圖學(xué)》標(biāo)準(zhǔn)并結(jié)合全國第5屆小兒神經(jīng)學(xué)會(huì)議《小兒腦電圖診斷中的注意事項(xiàng)》分析。

1.3 統(tǒng)計(jì)學(xué)處理

計(jì)數(shù)資料比較采用χ2檢驗(yàn),P<0.05為差異有顯著性。

2 結(jié)果

2.1 158例FC中首次EEG

正常108例(68.4%),EEG異常50例(31.6%)。異常者中發(fā)作性EEG異常(棘波、尖波、棘慢綜合波)13例(8.2%),其中廣泛性9例,局限性4例,以顳枕葉部多見;非特異性異常37例(23.4%)。

2.2 FC發(fā)作的臨床特點(diǎn)與EEG關(guān)系(表1)

3 討論

FC是兒科常見病,國內(nèi)對0~14歲兒童的調(diào)查顯示FC的患病率為4.4%,男孩多見[2]。本組男性病例多于女性(1.63∶1)可能與男孩大腦發(fā)育的成熟度以及由此制約的對周圍環(huán)境的適應(yīng)度差于同齡女孩有關(guān)。但從表1可以看出FC患兒男女性別間EEG異常率無顯著性差異(P>0.05)。FC的發(fā)病與年齡有嚴(yán)格的依賴關(guān)系,首次發(fā)作年齡75%在6個(gè)月~3歲之間[3]。本組158例FC患兒6個(gè)月~3歲間發(fā)病120例(75.9%)與上述報(bào)道接近。多數(shù)學(xué)者認(rèn)為這種年齡依賴性與嬰幼兒大腦在解剖生理和生化各方面不成熟,腦的興奮系統(tǒng)和抑制系統(tǒng)處于不穩(wěn)定狀態(tài)有關(guān)。6個(gè)月以下腦發(fā)育極不成熟的嬰幼兒和大腦發(fā)育已趨完善的學(xué)齡兒童都較少發(fā)病。另外6個(gè)月~3歲也是極易發(fā)生呼吸道、消化道感染的年齡段。比較3歲內(nèi)及3歲以上FC患兒的EEG異常率,前者低于后者,說明年齡越大,EEG異常檢出率越高。常杏芝等[4]研究顯示,反復(fù)FC在幼年大鼠可引起腦損傷。本研究發(fā)現(xiàn),FC反復(fù)發(fā)作者比首次發(fā)作者EEG異常率高,發(fā)作持續(xù)時(shí)間>15min者EEG異常率高,提示反復(fù)驚厥發(fā)作及發(fā)作持續(xù)時(shí)間越長,發(fā)生腦損傷的可能性越大,EEG異常率越高,轉(zhuǎn)歸為癲癇的可能性越大。

分析高熱組與低熱組的EEG異常檢出率,兩者有顯著性差異,嬰幼兒大腦皮層對皮層下抑制較弱,各種神經(jīng)功能處于快速發(fā)育又極不穩(wěn)定狀態(tài),驚厥閾值低。高熱時(shí)EEG異常檢出率低,說明高熱驚厥與腦損傷的相關(guān)性低,如患兒在低熱時(shí)發(fā)生驚厥,說明該患兒中樞神經(jīng)系統(tǒng)穩(wěn)定性極差,也可能大腦存在不同程度的潛在病灶,日后轉(zhuǎn)為癲癇的可能性大。

本研究發(fā)現(xiàn)臨床上FC患兒局灶性發(fā)作EEG異常率明顯高于全身性發(fā)作,兩者比較差異具有顯著性(P<0.05)。這說明局灶性發(fā)作容易造成中樞神經(jīng)細(xì)胞的損傷。同時(shí)還發(fā)現(xiàn)FC患兒有陽性家族史者EEG異常率高于無陽性家族史者,兩者差異也具有顯著性(P<0.05)。說明FC具有顯著的家族遺傳傾向。

綜上所述,FC患兒EEG異常率與年齡、發(fā)作次數(shù)、體溫、驚厥持續(xù)時(shí)間、發(fā)作類型及陽性家族史有密切關(guān)系,年齡越大、發(fā)作次數(shù)越多、體溫越低、驚厥持續(xù)時(shí)間越長、局灶性發(fā)作及有陽性家族史,EEG異常率越高,轉(zhuǎn)化為癲癇的可能性較大,應(yīng)預(yù)防性應(yīng)用抗癲癇藥。

[1]劉智勝.熱性驚厥預(yù)后的研究進(jìn)展[J].實(shí)用兒科雜志,1992,7:272.

[2]諸福棠.實(shí)用兒科學(xué)[M].北京:人民衛(wèi)生出版社,2003:1856.

[3]沈鼎烈.臨床癲癇學(xué)[M].上海:上海科學(xué)技術(shù)出版社,1994:156.

[4]常杏芝,秦炯,吳希如.幼年大鼠反復(fù)熱性驚厥腦損傷的研究[J].中國當(dāng)代兒科雜志,2002,4(6):439~442.

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