徐 寶,姜玉秋,滕 飛
產(chǎn)品可靠性是產(chǎn)品壽命指標(biāo)的總稱,它反映一個產(chǎn)品在規(guī)定時間和規(guī)定條件下完成規(guī)定功能的能力。在現(xiàn)代實際生產(chǎn)中,隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,許多產(chǎn)品都要求有很高的可靠性指標(biāo),產(chǎn)品的可靠性越來越受到人們的重視。因此,必須對產(chǎn)品進行可靠性測試,以此來弄清楚被試產(chǎn)品的壽命、求出各項可靠性指標(biāo)以及研究產(chǎn)品的失效機理,從而為提高產(chǎn)品的可靠性提出建議。如果對產(chǎn)品的測試手段是成敗型試驗(如脈沖、振蕩等沖擊試驗),那么該產(chǎn)品的壽命是以成敗次數(shù)來衡量的。在測試產(chǎn)品壽命的研究中Pascal分布起著重要的作用,因此對Pascal分布的可靠性分析具有理論價值和實際應(yīng)用價值。在貝努里試驗中,設(shè)每次試驗成功的概率為θ(也稱其為可靠度),失敗的概率為1-θ,試驗進行到r次失敗為止,那么所需要的試驗總次數(shù)X為服從參數(shù)為r,?θ的 Pascal分布的隨機變量,其分布律為:
其中,θ為產(chǎn)品的可靠度函數(shù),簡稱可靠度,?0<θ<1;x=r,r+1,r+2,…。在對產(chǎn)品可靠性測試數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析時,對產(chǎn)品失效個數(shù)大于2個的情形,已經(jīng)有許多成熟的統(tǒng)計方法對其進行處理,但在現(xiàn)代生產(chǎn)中,產(chǎn)品可靠性的逐漸提高,產(chǎn)品失效機理也受到某些限制,從而導(dǎo)致試驗截止時無產(chǎn)品失效或只有一個產(chǎn)品失效(即單失效)的現(xiàn)象經(jīng)常在小樣本的試驗中出現(xiàn).對無失效數(shù)據(jù)的統(tǒng)計分析,一些學(xué)者已經(jīng)進行了廣泛的研究[1~3],得到了許多理論與方法,但對單失效數(shù)據(jù)進行研究的統(tǒng)計文獻卻并不多見。本文將在Bayes框架下,用參數(shù)估計方法研究單失效數(shù)據(jù)情形出現(xiàn)時壽命產(chǎn)品可靠度的估計問題。
單失效數(shù)據(jù)模型[4]具體描述如下:假設(shè)對某壽命產(chǎn)品進行定時截尾試驗,試驗樣品個數(shù)為n,測試時間分別為0<t1<t2<…<tk,如果在整個試驗過程中只有一個樣品在區(qū)間(tm-1,tm)內(nèi)失效(這里1≤m≤k),而其它樣品均未發(fā)生失效,那么就可以得到單失效數(shù)據(jù)模型:(si,ri,ti),這里si和ri是ti時刻樣品的參試個數(shù)和失效個數(shù),易知當(dāng)i≤m-1時有ri=0,當(dāng)i>m-1時有ri=1,并且s1>s2>…>sk.
統(tǒng)計推斷中的參數(shù)估計問題,一般都是在給定損失函數(shù)下進行的.對壽命服從Pascal分布的產(chǎn)品的可靠度,一些學(xué)者在平方損失函數(shù)、熵損失函數(shù)以及LINEX損失函數(shù)等損失函數(shù)下對其Bayes估計問題進行了深入的研究.本文將使用加權(quán)p,q對稱熵損失函數(shù)[5]
研究單失效數(shù)據(jù)情形出現(xiàn)時壽命產(chǎn)品可靠度的Bayes估計問題.這里δ是待估參數(shù)θ的估計量。
這一部分在Bayes框架下,利用損失函數(shù)(2)來研究單失效數(shù)據(jù)情形下Pascal分布(1)的可靠度θ的估計,其中包括Bayes估計、多層Bayes估計以及E-Bayes估計,分別由下面定理給出。
定理1令隨機變量X服從Pascal分布(1),在損失函數(shù)(2)下,對任何先驗分布,單失效數(shù)據(jù)情形下可靠度θ的Bayes估計為
證明:令δ(X)為單失效數(shù)據(jù)情形下可靠度θ的任一估計量,在損失函數(shù)(2)下,有δ(X)對應(yīng)的Bayes風(fēng)險:上式左端E表示關(guān)于θ與樣本x的聯(lián)合分布取期望。要想得到θ的Bayes解,只須關(guān)于δ極小化 E(θppδp(X)+δq(X)/qθq-2|X)即可,容易知道是其唯一最小值點,從而得到θ的Bayes估計為
下面考慮在給定先驗分布π1(θ)后,單失效數(shù)據(jù)下可靠度θ的Bayes估計的精確形式及其性質(zhì)。
定理2若可靠度θ的先驗分布π1(θ)為貝塔分布,(其中a>0,?b>0為超參數(shù),B(a,b)=∫01ta-1(1-t)b-1d t為Beta函數(shù)),則在單失效數(shù)據(jù)情形下,可靠度θ基于損失函數(shù)(2)的Bayes估計為:
并且是θ的可容許估計。
證明:在單失效數(shù)據(jù)情形下,可靠度θ的似然函數(shù)為L(θ|x)=θx-1(1-θ),于是θ的后驗分布密度為:
由于可靠度θ的Bayes估計的精確形式中含有貝塔先驗分布中的超參數(shù)a和b,若對超參數(shù)再給出一個先驗,稱之為超先驗,由先驗和超先驗決定的一個新先驗就稱為多層先驗。本文應(yīng)用文[6]的結(jié)果,取超參數(shù)a的先驗π2(a)為U(1,c),其中2≤c≤6,超參數(shù)b的先驗π2(b)為U(0,1),并假設(shè)兩個超參數(shù)a和b獨立,則θ的多層先驗密度為:
定理3在多層先驗密度(3.1)下,單失效數(shù)據(jù)下可靠度θ的多層Bayes估計為:
證明:易知θ的后驗密度為:
于是
從而在損失函數(shù)(2)下,單失效數(shù)據(jù)下可靠度θ的多層Bayes估計為:
可靠度θ的多層Bayes估計是對先驗分布中的參數(shù)給出超先驗分布后得到的多層先驗分布下計算出來。對于先驗分布中的參數(shù),一些文獻也把它看成是可靠度θ的Bayes估計中的參數(shù),給定它們的先驗分布后,可以對可靠度θ的Bayes估計計算在該先驗分布下的數(shù)學(xué)期望,即可靠度θ的E-Bayes(expected Bayes estimation)估計[7]。下面研究在損失函數(shù)(2)下,單失效數(shù)據(jù)下可靠度θ的E-Bayes估計。
定理4若可靠度θ的貝塔先驗密度Beta(a,?b)中的超參數(shù)a和b的先驗分別為U(1,c)(其中c是常數(shù))和U(0,1),并且a和b獨立,則單失效數(shù)據(jù)下可靠度θ的E-Bayes估計為:
證明:由于超參數(shù)a的先驗π2(a)為U(1,c),超參數(shù)b的先驗π2(b)為U(0,1),由a和b獨立,從而有a和b的聯(lián)合先驗密度,其定義區(qū)域為D=(1,c)×(0,1)。由定理2知單失效數(shù)據(jù)下可靠度θ在貝塔分布Beta(a,?b)下基于損失函數(shù)(1.2)的Bayes估計為:
于是可靠度θ的E-Bayes估計為:
本文基于Pascal分布在加權(quán)p,q對稱熵損失函數(shù)研究了單失效數(shù)據(jù)下可靠度θ的Bayes估計問題,在Beta(a,?b)先驗分布下得到了θ的Bayes估計,又在給定超參數(shù)先驗分布下分別得到了θ的多層Bayes估計以及E-Bayes估計。盡管這些估計的形式中都含有積分運算,但由于本文使用的損失函數(shù)中有兩個待定常數(shù)p,q,可以通過選擇合適的p,q的值簡化計算以及得到穩(wěn)健性較好的估計。
[1]韓明,丁元耀.產(chǎn)品無失效數(shù)據(jù)的可靠性分析[J].運籌與管理,2003,12(5).
[2]余文波,任海平.成敗型試驗中無失效數(shù)據(jù)的多層Bayes分析[J].南昌大學(xué)學(xué)報(理科版),2009,33(2).
[3]HAN Ming.Estimation of Reliability Based on Zero-failure Data[J].Pureand Applied Mathematics,2002,18(2).
[4]陳文華,崔杰,樊曉燕.單失效數(shù)據(jù)的可靠性統(tǒng)計分析[J].機械工程學(xué)報,2003,39(9).
[5]徐寶.壽命產(chǎn)品可靠度的貝葉斯估計[J].統(tǒng)計與決策,2011,(4).
[6]魏玲,師義民.巴斯卡分布參數(shù)的Bayes估計[J].純粹數(shù)學(xué)與應(yīng)用數(shù)學(xué),1999,15(2).
[7]韓明.Pascal分布的參數(shù)估計[J].純粹數(shù)學(xué)與應(yīng)用數(shù)學(xué),2006,22(4).