談 駿, 鄒 波
(上海無(wú)線電設(shè)備研究所,上海200090)
太陽(yáng)風(fēng)暴是由太陽(yáng)劇烈活動(dòng)引發(fā)的一種常見(jiàn)空間災(zāi)害現(xiàn)象,太陽(yáng)風(fēng)暴發(fā)生期間,太陽(yáng)釋放出大量帶電粒子所形成的高速粒子流以及等離子體流,對(duì)地球磁層、電離層以及中性大氣的狀態(tài)造成影響,在地球空間導(dǎo)致災(zāi)害性響應(yīng),特別是對(duì)航天、通信、電力、衛(wèi)星導(dǎo)航等領(lǐng)域的影響最為嚴(yán)重。劇烈的太陽(yáng)活動(dòng)一般持續(xù)數(shù)分鐘,對(duì)地球空間的影響則從數(shù)小時(shí)到數(shù)天不等。太陽(yáng)風(fēng)暴能量或物質(zhì)傳遞方式包括三種:電磁輻射傳遞、高能粒子流傳遞、低能等離子體傳遞。
航天器是在地球大氣層以外的宇宙空間,執(zhí)行探索、開(kāi)發(fā)或利用太空等航天任務(wù)的飛行器,航天器在地球大氣層以外運(yùn)行,擺脫了大氣層阻礙,可以接收到來(lái)自宇宙天體的全部電磁輻射信息,開(kāi)辟了全波段天文觀測(cè)[1]。
航天器從近地空間飛行到行星際空間,實(shí)現(xiàn)了對(duì)空間環(huán)境的直接探測(cè)以及對(duì)月球和太陽(yáng)系大行星的逼近觀測(cè)和直接取樣觀測(cè)。航天器的出現(xiàn)使人類(lèi)的活動(dòng)范圍從地球大氣層擴(kuò)大到廣闊無(wú)垠的宇宙空間,引起了人類(lèi)認(rèn)識(shí)自然和改造自然能力的飛躍,對(duì)社會(huì)經(jīng)濟(jì)和社會(huì)生活產(chǎn)生了重大影響。但是由于缺乏大氣層的保護(hù),航天器直接暴露在太陽(yáng)風(fēng)暴下,使得太陽(yáng)風(fēng)暴對(duì)航天器的影響尤為嚴(yán)重。
最近幾個(gè)太陽(yáng)活動(dòng)周期內(nèi)發(fā)生的強(qiáng)太陽(yáng)風(fēng)暴對(duì)航天器造成的影響值得關(guān)注:
a)1989年3月太陽(yáng)風(fēng)暴(強(qiáng)磁暴)爆發(fā),曾導(dǎo)致美國(guó)共計(jì)46顆衛(wèi)星發(fā)生異常;
b)1990年11月初太陽(yáng)風(fēng)暴(耀斑)爆發(fā),曾導(dǎo)致我國(guó)“風(fēng)云一號(hào)”氣象衛(wèi)星計(jì)算機(jī)程序混亂,衛(wèi)星姿態(tài)失控[2];
c)1994年太陽(yáng)風(fēng)暴(日冕物質(zhì)拋射)爆發(fā),導(dǎo)致加拿大通信衛(wèi)星Anik E1和Anik E2等多顆衛(wèi)星在軌異常并最終報(bào)廢[2];
d)2001年4月發(fā)生的太陽(yáng)風(fēng)暴使我國(guó)的短波通信和偵測(cè)等用戶系統(tǒng)故障,中斷約3小時(shí);
e)2003年10 月太陽(yáng)風(fēng)暴引起強(qiáng)烈的北極光,曾導(dǎo)致日本高級(jí)地球觀測(cè)衛(wèi)星Midori-2等多顆衛(wèi)星失靈[2];
f)2006年12 月13 日 發(fā) 生X3 級(jí) 的 太 陽(yáng) 風(fēng)暴,造成我國(guó)廣東、海南、重慶等地?zé)o線電波觀測(cè)中斷3個(gè)多小時(shí)。
要了解太陽(yáng)風(fēng)暴的產(chǎn)生原因,需先了解太陽(yáng)大氣的分層情況。一般情況下,太陽(yáng)大氣分為六層,由內(nèi)往外依次命名為:日核,輻射區(qū),對(duì)流層,光球,色球,日冕。日核的半徑占太陽(yáng)半徑的四分之一左右,它集中了太陽(yáng)質(zhì)量的大部分,并且是太陽(yáng)百分之九十九以上的能量的發(fā)生地。光球是我們平常所見(jiàn)的明亮的太陽(yáng)圓面,太陽(yáng)的可見(jiàn)光全部是由光球面發(fā)出的。而日冕位于太陽(yáng)的最外層,屬于太陽(yáng)的外層大氣。太陽(yáng)風(fēng)暴就是在這里形成并發(fā)射出去的。
從X 射線或遠(yuǎn)紫外線拍下的日冕照片上可以觀察到,在日冕中存在著大片的長(zhǎng)條形的或是不規(guī)則的暗黑區(qū)域,通過(guò)人造衛(wèi)星和宇宙空間探測(cè)器拍攝的照片可以發(fā)現(xiàn),在日冕上長(zhǎng)期存在著這些長(zhǎng)條形的大尺度的黑暗區(qū)域,這里的X 射線強(qiáng)度比其他區(qū)域要低得多,從表觀上看就像日冕上的一些洞,稱之為冕洞[3]。
冕洞是太陽(yáng)磁場(chǎng)的開(kāi)放區(qū)域,這里的磁力線向宇宙空間擴(kuò)散,大量的等離子體順著磁力線跑出去,形成高速運(yùn)動(dòng)的粒子流。粒子流在冕洞底部速度為16km/s左右,當(dāng)?shù)竭_(dá)地球軌道附近時(shí),速度可達(dá)300km/s~400km/s以上,這種高速運(yùn)動(dòng)的等離子體流就是太陽(yáng)風(fēng)暴。太陽(yáng)風(fēng)暴從冕洞噴發(fā)而出后,夾帶著被裹挾在其中的太陽(yáng)磁場(chǎng)向四周迅速吹散。
當(dāng)太陽(yáng)風(fēng)暴到達(dá)地球附近時(shí),與地球的偶極磁場(chǎng)發(fā)生作用,并把地球磁場(chǎng)的磁力線吹得向后彎曲,地磁場(chǎng)的磁壓阻滯了等離子體流的運(yùn)動(dòng),使得太陽(yáng)風(fēng)不能侵入地球大氣而繞過(guò)地磁場(chǎng)繼續(xù)向前運(yùn)動(dòng),于是形成一個(gè)空腔,地磁場(chǎng)就被包含在這個(gè)空腔里。但是,當(dāng)太陽(yáng)出現(xiàn)突發(fā)性的劇烈活動(dòng)時(shí),情況會(huì)有所變化。此時(shí)太陽(yáng)風(fēng)暴中的高能離子會(huì)增多,這些高能離子能夠沿著磁力線侵入地球的極區(qū),并在地球兩極的上層大氣中放電,產(chǎn)生絢麗壯觀的極光。
太陽(yáng)風(fēng)暴構(gòu)成人類(lèi)活動(dòng)的外層空間環(huán)境,太陽(yáng)大氣的擾動(dòng)通過(guò)太陽(yáng)風(fēng)暴傳到地球,通過(guò)與地球磁場(chǎng)的相互作用,會(huì)引起一系列影響人類(lèi)航天活動(dòng)的事件,有時(shí)甚至?xí)a(chǎn)生災(zāi)害性事件,因此研究太陽(yáng)風(fēng)暴對(duì)航天器的影響是人類(lèi)航天活動(dòng)的重要組成部分。
太陽(yáng)風(fēng)暴能夠?qū)υ谲夁\(yùn)行的航天器電子產(chǎn)品造成多種損傷,其中對(duì)航天器電子產(chǎn)品影響最大的是太陽(yáng)風(fēng)暴引起的航天器電子元器件輻射損傷。
電子元器件輻射損傷效應(yīng)包括總電離損害和單粒子效應(yīng)??傠婋x損害是裝置暴露在電離輻射環(huán)境中長(zhǎng)期衰變的累計(jì);單粒子效應(yīng)是單個(gè)電離粒子在電子產(chǎn)品中引起的個(gè)別事件。
單粒子效應(yīng)可分為兩種:軟錯(cuò)誤和硬錯(cuò)誤。軟錯(cuò)誤對(duì)電子產(chǎn)品是非破壞性的,可以導(dǎo)致存儲(chǔ)單元狀態(tài)的翻轉(zhuǎn),狀態(tài)的鎖定或者是發(fā)生在輸入、輸出、邏輯電路及其他電路的瞬間現(xiàn)象,也包括引起電子產(chǎn)品中斷正常操作的狀態(tài)。硬錯(cuò)誤是衛(wèi)星電子產(chǎn)品的物理?yè)p壞,而且是永久性的、不可恢復(fù)的。太陽(yáng)電磁輻射對(duì)集成電路的影響主要表現(xiàn)在使輸入電流增大,輸出低電平提高以及輸出高電平降低,引起噪聲容限下跌,從而表現(xiàn)為邏輯錯(cuò)誤。
目前航天器電子產(chǎn)品組成中,大量采用FPGA 和DSP等數(shù)字邏輯元器件,承擔(dān)著星上信息處理、導(dǎo)航控制信號(hào)生成、在軌測(cè)試測(cè)量、工況信息檢測(cè)等非常重要的功能,一旦出現(xiàn)問(wèn)題,將對(duì)上述的各功能產(chǎn)生影響,甚至導(dǎo)致航天器失效。隨著元器件集成度提高,芯片的容量也逐漸增大,動(dòng)輒百萬(wàn)門(mén)的集成度,在簡(jiǎn)化了系統(tǒng)設(shè)計(jì)的同時(shí),也使得單個(gè)元器件承擔(dān)的處理能力更大,同時(shí)其受損害的風(fēng)險(xiǎn)隨之增加,一旦一個(gè)元器件出現(xiàn)故障,對(duì)系統(tǒng)產(chǎn)生影響的幾率也隨之加大。從目前導(dǎo)航系統(tǒng)產(chǎn)生信號(hào)中斷的原因分析,90%以上的故障都是由于太陽(yáng)輻射對(duì)集成電路影響所致。
例如微波源是航天器電子產(chǎn)品運(yùn)行的心臟,尤其對(duì)于微波系統(tǒng)來(lái)說(shuō),所有時(shí)序運(yùn)行的基準(zhǔn)都是基于微波源頻率的穩(wěn)定性,各種主振、本振、系統(tǒng)時(shí)鐘信號(hào)的產(chǎn)生與保持也依賴于電路各組成元器件的穩(wěn)定運(yùn)行,當(dāng)強(qiáng)太陽(yáng)輻射來(lái)到時(shí),會(huì)影響微波源頻率基準(zhǔn)信號(hào)的穩(wěn)定性,產(chǎn)生信號(hào)抖動(dòng),直接影響信號(hào)品質(zhì),甚至引起時(shí)序錯(cuò)誤,進(jìn)而影響航天器電子產(chǎn)品測(cè)量等功能的實(shí)現(xiàn)。
為了減小電子元器件遭受輻射效應(yīng)所引起的電離總劑量效應(yīng)、單粒子鎖定、單粒子翻轉(zhuǎn)、單粒子瞬態(tài)效應(yīng)、單粒子功能中斷等影響,在航天器電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)采用系統(tǒng)級(jí)抗輻射加固、元器件級(jí)抗輻射加固、軟件編碼糾錯(cuò)加固等技術(shù),以提高衛(wèi)星系統(tǒng)在軌運(yùn)行可靠性。
硬件加固措施是航天器電子產(chǎn)品抗太陽(yáng)風(fēng)暴的重要手段,主要采取的措施包括:
a)加強(qiáng)元器件選擇,選擇高質(zhì)量等級(jí)的元器件,其總劑量、抗單粒子翻轉(zhuǎn)/單粒子鎖定、抗充/放電等指標(biāo)應(yīng)滿足太陽(yáng)風(fēng)暴下的使用要求。其通常具有比較高的品質(zhì)保證,同時(shí)抗太陽(yáng)風(fēng)暴的能力也相應(yīng)較高;
b)分析每個(gè)電路在最壞情況下性能,充分考慮太陽(yáng)風(fēng)暴引起的器件性能下降對(duì)產(chǎn)品的影響,集成電路在條件許可下優(yōu)先考慮使用中小規(guī)模集成電路。折衷考慮抗鎖定限流電阻的選取。盡量使電阻大些,讓鎖定的可能性最小,但又不干擾正常工作;
c)進(jìn)行硬件冗余設(shè)計(jì),包括采用計(jì)算機(jī)冗余,存儲(chǔ)器冗余等,冗余技術(shù)是提高星載計(jì)算機(jī)可靠性的常規(guī)技術(shù)。硬件冗余設(shè)計(jì)可以從整機(jī)冗余、模塊冗余、部件冗余和可重構(gòu)等方面采取措施。近年來(lái),隨著微電子技術(shù)的發(fā)展,芯片級(jí)冗余也已日趨成熟,在芯片級(jí)采取冗余容錯(cuò)技術(shù)可以極大的降低航天電子產(chǎn)品的體積和重量,也使得太陽(yáng)能風(fēng)暴對(duì)航天器電子產(chǎn)品的硬件影響程度降到最低;
d)固化航天器電子產(chǎn)品程序。由于PROM是只讀存儲(chǔ)器,并具有固化后不能改變的特點(diǎn),它的抗干擾能力特別是抗SEU 的能力較RAM 強(qiáng),將重要程序和一些固定的常數(shù)都固化在PROM中,減少程序發(fā)生SEU 錯(cuò)誤的概率;
e)選擇合適的屏蔽及屏蔽材料,除鋁外,鉭材料也可,對(duì)芯片采取貼鉛皮等抗輻照加固措施。
軟件已逐步成為航天器電子產(chǎn)品的核心,其運(yùn)行的可靠度是電子產(chǎn)品整體可靠度的重要環(huán)節(jié),在對(duì)抗太陽(yáng)風(fēng)暴設(shè)計(jì)中必須重視,對(duì)軟件采取的加固措施主要包括:
(1)三模冗余設(shè)計(jì)
即三取二表決法,在每個(gè)采樣周期都把對(duì)程序運(yùn)行有重大影響的標(biāo)志及對(duì)運(yùn)算結(jié)構(gòu)起關(guān)鍵作用的數(shù)據(jù)進(jìn)行三取二比對(duì)表決。在單機(jī)時(shí)間差比對(duì)發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤后,轉(zhuǎn)入錯(cuò)誤處理程序,對(duì)中間變量也進(jìn)行三取二處理,避免RAM 的SEU 軟故障。
(2)設(shè)置軟件看門(mén)狗(WDT)
當(dāng)程序按正常路徑執(zhí)行時(shí),不斷清除WDT,如果程序進(jìn)入死循環(huán),則WDT 在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)不被清除,發(fā)出計(jì)算機(jī)復(fù)位信號(hào),進(jìn)行初始化處理,使計(jì)算機(jī)重新開(kāi)始運(yùn)行,從死循環(huán)中解脫出來(lái)。
(3)程序設(shè)計(jì)技術(shù)
減小太陽(yáng)風(fēng)暴引起的代碼出錯(cuò),根據(jù)航天產(chǎn)品軟件設(shè)計(jì)的實(shí)施經(jīng)驗(yàn),主要采取的設(shè)計(jì)技術(shù)有:
a)對(duì)決定程序分支標(biāo)志的重要參數(shù)FLAG,用一個(gè)字節(jié)或字作標(biāo)志,不用0或1兩種狀態(tài)作為判斷標(biāo)志;
b)模式間轉(zhuǎn)換采用立即數(shù)跳轉(zhuǎn)方式而少用存儲(chǔ)器及寄存器跳轉(zhuǎn)方式;
c)數(shù)據(jù)區(qū)與程序區(qū)隔離,避免程序進(jìn)入RAM 中,大面積沖毀RAM 中數(shù)據(jù);
d)對(duì)CPU、PROM、RAM 空閑區(qū)全部填充HLT 指令。若程序一旦跳入空閑區(qū)就進(jìn)行跑飛程序處理,將程序拉回。
針對(duì)目前航天器電子產(chǎn)品構(gòu)成及各單機(jī)抗太陽(yáng)風(fēng)暴的能力分析,應(yīng)該對(duì)重要的單機(jī)設(shè)備以及芯片,包括星載的FPGA 芯片、星載DSP芯片等,做出防范措施,盡可能地選用高等級(jí)的元器件,并加強(qiáng)防護(hù)措施。
在軟件設(shè)計(jì)方面,提高軟件運(yùn)行狀態(tài)巡檢和復(fù)位能力,一旦出現(xiàn)異常,盡可能在不影響系統(tǒng)運(yùn)行的情況下,進(jìn)行軟件恢復(fù)。在單機(jī)設(shè)計(jì)方面,在不影響正常工作情況下,在核心元器件的周?chē)砑臃雷o(hù)層設(shè)計(jì),減緩太陽(yáng)風(fēng)暴對(duì)重要元器件的沖擊。
太陽(yáng)風(fēng)暴對(duì)航天器電子產(chǎn)品的影響是客觀存在的,且不可避免。必須建立完善的設(shè)計(jì)保障系統(tǒng),制定相關(guān)預(yù)案,采取必要措施,保證系統(tǒng)安全,平穩(wěn)度過(guò)可能發(fā)生的超強(qiáng)太陽(yáng)風(fēng)暴。
[1] 彭成榮.航天器總體設(shè)計(jì)[M].北京:中國(guó)科學(xué)技術(shù)出版社,2011.
[2] 劉俊.關(guān)注太陽(yáng)風(fēng)暴[M].北京:軍事科學(xué)出版社,2009.
[3] 林元章.太陽(yáng)風(fēng)暴及其后果[C].第六屆海峽兩岸天文推廣教育研討會(huì)論文集,2004.