胡玉生 溫舒樺 范 峻
(1.集美大學(xué)機(jī)械與能源工程學(xué)院,福建 廈門 361021;2.北京郵電大學(xué)電子工程學(xué)院,北京 100876;3.EMC Laboratory,Missouri University of Science and Technology, Rolla, MO 65409, USA)
多層印制電路板(Printed Circuit Board,PCB)的電源分布網(wǎng)絡(luò),即電源/地(Power/Ground,P/G)平面形成了平行板諧振結(jié)構(gòu),當(dāng)P/G平面的尺寸與波長相比擬時(shí)會(huì)從電源/地平面邊緣產(chǎn)生顯著的電磁波輻射干擾.
文獻(xiàn)[1-3]等采用腔模理論研究了矩形PCB的輻射發(fā)射問題,文獻(xiàn)[4-5]等采用時(shí)域有限差分(Finite-Difference Time-Domain,FDTD)全波分析方法對(duì)PCB的輻射發(fā)射進(jìn)行了建模分析,F(xiàn)DTD法雖適宜解決復(fù)雜模型,但網(wǎng)格離散數(shù)量龐大,計(jì)算十分耗時(shí),占用計(jì)算機(jī)資源較多.文獻(xiàn)[6-9]采用邊界積分方程法研究了電源/地平面上多過孔之間的耦合關(guān)系或電源/地平面的輻射發(fā)射.由于電源/地平面的輻射只需計(jì)算周圍邊界的場(chǎng)分量,基于邊界離散的積分方程法或邊界元法具有突出的優(yōu)點(diǎn),計(jì)算效率高,且可應(yīng)用于任意形狀的PCB.
目前關(guān)于電源/地平面輻射發(fā)射的研究大多是在過孔處施加假設(shè)的電流作為激勵(lì)源,未能準(zhǔn)確評(píng)估PCB實(shí)際的輻射場(chǎng).本文的貢獻(xiàn)在于通過場(chǎng)路結(jié)合的計(jì)算方法獲得了精確的輻射發(fā)射激勵(lì)電流,從而可精確預(yù)測(cè)PCB的輻射值.
多層印制電路板的一對(duì)P/G平面結(jié)構(gòu)如圖1所示.電源層和地層均為厚度很小的導(dǎo)體,間距為h,填充介質(zhì)的相對(duì)介電常數(shù)為εr,損耗正切為tanδ.P/G平面上通常含有若干過孔,為簡化起見,本文中的模型僅包含一個(gè)信號(hào)過孔.輻射發(fā)射由P/G平面四周的邊緣場(chǎng)產(chǎn)生,信號(hào)過孔耦合到P/G平面的電流為輻射發(fā)射的激勵(lì)電流.
圖1 電源/地平面的結(jié)構(gòu)
P/G平面的間距h與波長相比很小,可以認(rèn)為電磁場(chǎng)沿厚度方向沒有變化,Hz=Ex=Ey=0,場(chǎng)分布只有沿z方向的電場(chǎng)分量Ez以及xy平面上的磁場(chǎng)分量Hx和Hy,移去過孔后圖1中的三維結(jié)構(gòu)可簡化為一個(gè)二維問題.邊界元法的計(jì)算模型及邊界離散見圖2.P/G平面間的場(chǎng)分布控制微分方程為亥姆霍茲方程,即
(1)
式中:u=Ez;k為傳播常數(shù),考慮介質(zhì)損耗,
(2)
圖2 邊界元計(jì)算模型及邊界離散圖
設(shè)在地平面上電流I+從反焊盤邊緣向四周擴(kuò)散,在電源平面上對(duì)應(yīng)的返回電流I-從四周向反焊盤邊緣匯聚.設(shè)地平面上表面的電流密度為i(ix,iy),單位法向量為ng(見圖1),根據(jù)i=ng×H可求出磁場(chǎng)與電流密度的關(guān)系為:
Hy=-ix;Hx=iy.
(3)
設(shè)電源平面下表面的單位法向量為np,對(duì)電源平面也可得到與式(3)相同的結(jié)果.P/G平面的介質(zhì)內(nèi)無電流,但反焊盤處的磁場(chǎng)可等效為激勵(lì)電流,激勵(lì)電流與磁場(chǎng)的關(guān)系滿足關(guān)系式(3).
由麥克斯韋第一方程
(4)
得:
(5)
(6)
式中:μ為磁導(dǎo)率;ω為角頻率.令圖2中反焊盤邊界外法線方向?yàn)閚,由于
(7)
(8)
將式(3)、(5)、(6)代入式(7)、(8),得
(9)
式中:ax、ay分別為x、y方向的單位向量;in為反焊盤處沿外法向量n的電流密度in′,而給定的實(shí)際電流密度為沿反焊盤內(nèi)法向量的in′=-in,因而反焊盤處的邊界條件為
(10)
在電源/地平面的外周邊界,因無電流流出,in=0,為磁壁邊界條件為
(11)
控制方程(1)及邊界條件(9)、(10)構(gòu)成了模型的邊值問題.根據(jù)邊界元法可推導(dǎo)出邊界上任一點(diǎn)i的電場(chǎng)ui可表示為邊界上的積分方程
(12)
式中:S為積分邊界;q=?u/?n;ci=1-θ/(2π),θ是i點(diǎn)處的平面角;u*為自由空間的格林函數(shù),u*、q*分別給定如下[10]:
(13)
(14)
采用線性元法將場(chǎng)域邊界離散為N個(gè)元素,式(12)寫成離散形式為
(15)
對(duì)N個(gè)單元最終可形成N個(gè)方程組,代入邊界條件可求得邊界上各節(jié)點(diǎn)的Ez值.電源/地平面四周表面的等效磁流密度Ms與電場(chǎng)Ez的關(guān)系為
Ms=-ns×Ez.
(16)
式中,ns為電源/地平面四周表面的單位法向量.
忽略P/G平面厚度的影響,Ms產(chǎn)生的電矢位F為
(17)
圖3 等效磁流輻射發(fā)射的幾何關(guān)系
式中:R是P/G平面周圍邊界上的任一點(diǎn)到觀察點(diǎn)的距離;C是整個(gè)周邊積分邊界; dl′是積分微元.等效磁流輻射發(fā)射的幾何關(guān)系見圖3.設(shè)任一單元k內(nèi)的磁流密度Msk為定值,Msk取為其節(jié)點(diǎn)k和k+1的磁流密度的平均值.當(dāng)單元尺寸很小時(shí),可忽略單元內(nèi)各點(diǎn)到空間觀察點(diǎn)P(x,y,z)產(chǎn)生的相位差,因而單元k內(nèi)任一點(diǎn)到點(diǎn)P的距離可近似為單元中心點(diǎn)(x′,y′,0)到P點(diǎn)的距離,即
(18)
在直角坐標(biāo)系中,將Msk分解為x、y分量Mxk和Myk,對(duì)應(yīng)的電矢位分別為Fxk和Fyk,單元長度在x、y方向的投影分別令為Δx′、Δy′.
式(17)電矢位的離散形式可寫為
(19)
(20)
由以下公式將電矢位由直角坐標(biāo)變換為球坐標(biāo):
Fθ=Fxcosθcosφ+Fycosθsinφ;
(21)
Fφ=-Fxsinφ+Fycosφ.
(22)
輻射電場(chǎng)為電矢位F的旋度,即
(23)
由于遠(yuǎn)區(qū)場(chǎng)可視為沿r向傳播的橫電磁波,可由平面波場(chǎng)的簡化算法直接得出[11]
(24)
式中,ar、aθ、aφ是球坐標(biāo)系中的單位矢量.因而
(25)
(26)
總電場(chǎng)強(qiáng)度輻值|E|為
(27)
以圖4為例,對(duì)一個(gè)簡單四層電路板結(jié)構(gòu)進(jìn)行闡述,電路板上有一個(gè)信號(hào)過孔,并與一個(gè)簡單的外部電路相連.四層板的頂層和底層為信號(hào)層,第二層為電源層,第三層為地層.信號(hào)電流從頂層通過過孔傳送到底層.頂層和底層信號(hào)電流的返回路徑分別為第二層上表面和第三層下表面;過孔電流的返回路徑為P/G平面[12].
圖4 一個(gè)四層電路板結(jié)構(gòu)及返回電流路徑
(28)
式中,Ia為反焊盤處施加的已知電流.
忽略損耗,過孔段可采用一節(jié)LC等效π模型集總電路表示,其與外部電路連接形成完整的整體電路.圖4所示電路結(jié)構(gòu)的等效SPICE模擬程序電路模型見圖5.經(jīng)電路仿真可求得流經(jīng)Zpp的電流,亦即輻射發(fā)射的激勵(lì)電流Ihole,然后以激勵(lì)電流Ihole為反焊盤處的邊界條件通過邊界元法求得P/G平面邊緣的場(chǎng)分布,進(jìn)而求得遠(yuǎn)區(qū)輻射場(chǎng).
圖5 過孔轉(zhuǎn)換結(jié)構(gòu)的等效電路模型及整體電路
圖4所示電路實(shí)例的結(jié)構(gòu)尺寸見圖6,PCB長40 mm,寬20 mm;位于頂層和底層的走線長度均為15 mm;信號(hào)源內(nèi)阻及負(fù)載阻抗均為50 Ω,走線的特性阻抗亦令為50 Ω;信號(hào)過孔位于PCB板的中心,過孔直徑為20 mil(1 mil=0.025 4 mm),反焊盤直徑為80 mil;電源層和地層的間距h=1.4 mm,走線距離電源層和地層均為0.5 mm,走線寬10 mil;PCB板間介質(zhì)材料為FR4,相對(duì)介電常數(shù)為εr=4.5,損耗正切tanδ=0.02.
頂層和底層走線呈微帶線結(jié)構(gòu),分別用一節(jié)Γ型集總電路表示.根據(jù)Zpp呈容性或感性,Zpp用電容Cpp或電感Lpp代替,Cpp=1/(ωZpp),Lpp=Zpp/ω.則圖6的PCB電路轉(zhuǎn)化為圖7的電路模型.
(a) 俯視圖
(b) 俯視圖圖6 計(jì)算實(shí)例的結(jié)構(gòu)尺寸(單位:mm)
圖7 計(jì)算實(shí)例的SPICE整體電路模型
過孔與P/G平面的電容采用采用軸對(duì)稱有限元法計(jì)算[15],得過孔的總電容Ctotal=0.213 pF,將該總電容分配給過孔π模型電路的電容C2、C3,C2=C3=Ctotal/2=0.106 5 pF.設(shè)過孔單位長度的電容和電感分別為c和l,則c=Ctotal/h=0.152 nF/m,由
(29)
得l=32.9 μH,其中v為相速度,v0=3×108m/s.從而可得過孔π模型中的電感L2=lh=4.144 7 nH.
計(jì)算得走線單位長度的電容、電感分別為:c=94.1 pF/m、l=0.532 μH,則走線的總電容為C1=C4=94.1×0.015 pF=1.41 pF,走線的總電感為L1=L3=0.532×0.015 μH=7.98 nH.
計(jì)算頻率從10 MHz到5 GHz,步長為10 MHz,采用邊界元法計(jì)算得反焊盤處的Zpp曲線見圖8.在圖8中相位為-90°的頻率處Zpp呈容抗,相位為+90°的頻率處Zpp呈感抗.在1.33 GHz、4.16GHz處為諧振頻率點(diǎn),Zpp有極小值;在3.55 GHz處為反諧振頻率點(diǎn),Zpp有極大值.
(a) Zpp的輻值
(b) Zpp的相位圖8 不同頻率時(shí)的Zpp
圖9 電源/地平面反焊盤處的返回電流
圖10 距PCB板10 m處不同頻率的最大輻射場(chǎng)強(qiáng)
(a) 1 GHz
(b) 3.55 GHz圖11 電源/地平面的輻射方向圖
由Zpp及圖7電路可計(jì)算出不同頻率時(shí)流經(jīng)P/G平面反焊盤處的返回電流Ihole.設(shè)交流信號(hào)源的輻值為5 V,計(jì)算結(jié)果見圖9,由圖9可知,在500 MHz附近Ihole最大,隨頻率提高返回電流逐漸下降,當(dāng)頻率為3~5 GHz,Ihole將保持在一個(gè)相對(duì)穩(wěn)定值.
由激勵(lì)電流Ihole計(jì)算得離PCB板10 m處不同頻率時(shí)的最大輻射場(chǎng)強(qiáng)見圖10.由圖10可以看出,在頻率較低的頻段盡管激勵(lì)電流較大,但輻射值相對(duì)較小,隨頻率提高輻射值逐漸增加;在3.55 GHz的反諧振點(diǎn)處突變到極大值.1 GHz和3.55 GHz的輻射方向圖見圖11.采用Ansys電磁場(chǎng)有限元全波分析軟件進(jìn)行驗(yàn)證,結(jié)果基本吻合.
將過孔轉(zhuǎn)換結(jié)構(gòu)的等效物理電路模型與外部電路組成整體電路,通過電路仿真可獲得多層印制電路板電源/地平面精確的輻射發(fā)射激勵(lì)電流.采用邊界元法對(duì)電源/地平面的邊緣場(chǎng)分布及反焊盤處返回電流的阻抗進(jìn)行分析,可顯著減少單元離散數(shù)量,計(jì)算效率和計(jì)算精度高,特別適宜處理精細(xì)的過孔等結(jié)構(gòu).計(jì)算結(jié)果表明,在反諧振頻率處輻射場(chǎng)有極大值,其原因是在反諧振頻率處信號(hào)返回路徑阻抗最大,電流返回路徑受到阻斷,因而輻射場(chǎng)大幅增加.采用全波分析的電磁場(chǎng)有限元軟件對(duì)本文計(jì)算結(jié)果進(jìn)行了驗(yàn)證.場(chǎng)路結(jié)合的方法便于與現(xiàn)有電路設(shè)計(jì)分析軟件集成,是分析多層PCB輻射發(fā)射的一種有效方法.
[1] LEI G-T,R TECHENTIN R W,GILBERT B K.High-frequency characterization of power/ground-plane structures[J].IEEE Trans Microw Theory Tech,1999,47(5):562-569.
[2] LEONE M.The radiation of a rectangular power-bus structure at multiple cavity-mode resonances[J].IEEE Trans Electromag Compat,2003,45(3):486-492.
[3] SHIM Hwan-Woo,HUBING T H.A closed-form expression for estimating radiated emissions from the power planes in a populated printed circuit board[J].IEEE Trans Electromag Compat,2006,48(1):74-81.
[4] FORNBERG Per E,BYERS Andrew,PIKET-MAY Melinda.FDTD modeling of printed circuit board signal integrity and radiation[C]//IEEE Inter Symp Electro-mag Compat,Washington DC,Aug 2000,1:307-312.
[5] YE Xiaoning,HOCKANSON M David,LI Min,et al.EMI mitigation with multilayer power-bus stacks and via stitching of reference planes[J].IEEE Trans Electromagn Compat,2001,43(4):538-548.
[6] WEI X,LI E,LIU E,et al.Efficient simulation of power distribution network by using integral-equation and model decoupling technology[J].IEEE Trans Microw Theory Tech,2008,56(10):2277-2285.
[7] STUMPF M,LEONE M.Efficient 2-D integral equation approach for the analysis of power bus structures with arbitrary shape[J].IEEE Trans Electro-mag Compat,2009,51(1):38-45.
[8] ZHANG Yaojiang,F(xiàn)AN Jun.An intrinsic circuit model for multiple vias in an irregular plate pair through rigorous electromagnetic analysis[J].IEEE Trans Microw Theory Tech,2010,58(8):2251-2265.
[9] ZOU G,LI E,WEI X,et al.EMI and EMC analysis of arbitrarily shaped power-ground planes[C]//Asia-Pacific Inter Symp Electromag Compat,Beijing,April, 2010:12-16.
[10] 曹世昌.電磁場(chǎng)的數(shù)值計(jì)算和微波的計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)[M].北京:電子工業(yè)出版社,1989.
CAO S.Numerical calculation of electromagnetic and computer aided design for microwave[M].Beijing:Electronic Industry Press,1989.(in Chinese)
[11] EDWARDS T C.Fundation for microstrip circuit design.New York:John Wiley &Sons,1981.
[12] BOGATIN E.Signal integrity:simplified[M].New Jersey:Prentice Hall,2004.
[13] WEI X,LI E,LIU E,et al.Efficient modeling of re-routed return currents in multilayered power-ground planes by using integral equation[J].IEEE Trans Electromagn Compat,2008,50(3):740-743.
[14] ZHANG Yaojiang,F(xiàn)ENG Gang,F(xiàn)AN Jun.A novel impedance definition of a parallel plate pair for an intrinsic via circuit model[J].IEEE Trans Microw Theory Tech,2010,58(12):3780-3789.
[15] 楊榮彬,胡玉生.采用軸對(duì)稱二維有限元法提取過孔分布電容[J].安全與電磁兼容,(2),2012:69-72.
YANG Rongbing,HU Yusheng.Extracting via capacit-ance of PCB using axially symmetric two-dimensional FEM Method[J].Safety & EMC,2012(2):69-72.(in Chinese)