張勇 楊紅
摘 要:電氣開(kāi)關(guān)柜運(yùn)行中,絕緣材料會(huì)受到過(guò)電壓、高溫、化學(xué)物質(zhì)、機(jī)械振動(dòng)等多方面的影響,絕緣性能不斷下降,加快了局部放電的速度,反過(guò)來(lái)局部放電又對(duì)絕緣性能的下降起到推動(dòng)作用。因此檢測(cè)開(kāi)關(guān)柜的局部放電可以有效預(yù)防故障。本文對(duì)電氣開(kāi)關(guān)柜局部放電故障提也了具體的檢測(cè)措施與分析技術(shù)。
關(guān)鍵詞:局部放電;故障檢測(cè)
1 前言
在開(kāi)關(guān)柜絕緣系統(tǒng)中,各部位的電場(chǎng)強(qiáng)度存在差異,某個(gè)區(qū)域的電場(chǎng)強(qiáng)度一旦達(dá)到其擊穿場(chǎng)強(qiáng)時(shí),該區(qū)域就會(huì)出現(xiàn)放電現(xiàn)象,不過(guò)施加電壓的兩個(gè)導(dǎo)體之間并未貫穿整個(gè)放電過(guò)程,即放電未擊穿絕緣系統(tǒng),這種現(xiàn)象即為局部放電。絕緣介質(zhì)中電場(chǎng)分布、絕緣的電氣物理性能等決定了發(fā)生局部放電的條件,一般情況下高電場(chǎng)強(qiáng)度、低電氣強(qiáng)度的條件下容易出現(xiàn)局部放電。雖然局部放電通常不會(huì)貫通性的擊穿絕緣,但是卻可能局部損壞電介質(zhì),如果長(zhǎng)期存在局部放電的現(xiàn)象,則基于特定的條件下會(huì)降低絕緣介質(zhì)的電氣強(qiáng)度。局部放電屬于電氣設(shè)備中的隱患,其破壞過(guò)程體現(xiàn)出緩慢性、長(zhǎng)期性的特點(diǎn)。
2 開(kāi)關(guān)柜局部放電檢測(cè)方法
2.1 地電波檢測(cè)
在高壓開(kāi)關(guān)柜絕緣層中發(fā)生局部放電時(shí)會(huì)產(chǎn)生電磁波,而開(kāi)關(guān)柜的金屬外殼會(huì)將這種電磁波屏蔽掉一大部分,不過(guò)仍有小部分會(huì)通過(guò)金屬殼體的接縫或者氣體絕緣開(kāi)關(guān)襯墊傳播出去,而且還會(huì)產(chǎn)生一個(gè)地電波通過(guò)設(shè)備金屬殼體外表面?zhèn)飨虻叵?。地電波的范圍通常在幾毫伏直至幾伏中間,而且上升時(shí)間內(nèi)有幾個(gè)納秒??梢詫⑻筋^設(shè)置于工作狀態(tài)中的開(kāi)關(guān)柜的外表面,對(duì)局部放電活動(dòng)進(jìn)行檢測(cè)。
2.2 超聲波檢測(cè)
其實(shí)超聲波檢測(cè)屬于機(jī)械振動(dòng)波的一種,基于能量的角度而言,局部放電的過(guò)程即為能量瞬時(shí)爆發(fā)的過(guò)程,電能通過(guò)聲能、光能、熱能以及電磁能的形式釋放出去,電氣擊穿發(fā)生在空氣間隙,瞬間就可以完成放電,此時(shí)電能也會(huì)在一瞬間轉(zhuǎn)化為熱能,放電中心的氣體受到熱能的作用會(huì)發(fā)生膨脹,通過(guò)聲波向外傳播,傳播區(qū)域內(nèi)氣體被加熱后形成一個(gè)等溫區(qū),
其溫度超出環(huán)境溫度;等到這些氣體冷卻后開(kāi)始收縮,則會(huì)產(chǎn)生后續(xù)波,后續(xù)波的頻率以及強(qiáng)度均比較低,包含各種頻率分量,有很寬的頻帶,超聲波的頻率大于20kHz。因?yàn)榫植糠烹姷膮^(qū)域相對(duì)較小,所以局放聲源即為點(diǎn)聲源。
2.3 超高頻檢測(cè)法
時(shí)間變化過(guò)程中,局部放電所產(chǎn)生的電磁振動(dòng)會(huì)產(chǎn)生電磁波,在固氣與氣體介質(zhì)中,局部放電脈沖會(huì)發(fā)生非常豐富的電磁波超高頻分量,最高可達(dá)數(shù)GHz。實(shí)際應(yīng)用過(guò)程中,局放信號(hào)的檢測(cè)可以利用兩個(gè)探頭來(lái)進(jìn)行,將探頭檢測(cè)到信號(hào)的時(shí)間順序作為判斷依據(jù),放電源的距離較近,就會(huì)被先檢測(cè)到;探頭位置不斷變化,可以將放電源的大致位置逐步判斷出來(lái)。或者通過(guò)多個(gè)探頭,將探頭檢測(cè)局放信號(hào)的時(shí)間差列方程組,可以求出放電源的三維空間坐標(biāo),最終確定放電源。該方法的靈敏度相對(duì)較高,且具備較強(qiáng)的抗干擾能力,而且開(kāi)關(guān)柜上通常有接縫或者小玻璃窗,可以不用考慮該方法在完全密封條件下很難檢測(cè)的要求。
2.4 綜合檢測(cè)技術(shù)
其實(shí)無(wú)論哪種檢測(cè)方法均有一定的局限性,無(wú)法將開(kāi)關(guān)柜的運(yùn)行狀態(tài)客觀、全面、真實(shí)的反映出來(lái),還會(huì)出現(xiàn)誤判的可能。由于放電類(lèi)型能量的釋放形式不同、各種檢測(cè)方法的實(shí)用性與靈敏度也存在差異,所以在對(duì)開(kāi)關(guān)柜局部放電檢測(cè)過(guò)程中,要將上述檢測(cè)手段綜合應(yīng)用,以地電波檢測(cè)為主、超聲波檢測(cè)及超高頻檢測(cè)為輔來(lái)進(jìn)行。
3 局部放電分析技術(shù)
具體而言,常用的局部放電分析技術(shù)包括以下幾種:①橫向分析法,即對(duì)同個(gè)開(kāi)關(guān)室中開(kāi)關(guān)柜的檢測(cè)結(jié)果做出橫向比較,如果其中一個(gè)開(kāi)關(guān)柜的檢測(cè)結(jié)果大于現(xiàn)場(chǎng)背景值以及其它開(kāi)關(guān)柜的測(cè)試結(jié)果,則可以確定該設(shè)備可能存在缺陷;②趨勢(shì)分析法,分析同一個(gè)開(kāi)關(guān)柜在不同時(shí)間的檢測(cè)結(jié)果,進(jìn)行縱向比較判斷開(kāi)關(guān)柜的運(yùn)行趨勢(shì)。根據(jù)特定的周期檢測(cè)開(kāi)關(guān)室中的開(kāi)關(guān)柜,保留每次的檢測(cè)結(jié)果,后續(xù)就可以根據(jù)檢測(cè)結(jié)果對(duì)設(shè)備局部放電狀態(tài)變化的趨勢(shì)進(jìn)行分析;③閾值比較,即提供判斷閾值,將其與開(kāi)關(guān)柜的檢測(cè)結(jié)果做出比較,分析結(jié)果判斷開(kāi)關(guān)柜的運(yùn)行狀態(tài)。可以根據(jù)以下根據(jù)做出判斷:開(kāi)關(guān)室內(nèi)背景值與測(cè)試值都在20dB以下時(shí),開(kāi)關(guān)設(shè)備正常,下月再次進(jìn)行巡檢;開(kāi)關(guān)室內(nèi)背景值在20dB以下,而某些開(kāi)關(guān)柜的測(cè)試值在20~30dB,對(duì)該開(kāi)關(guān)柜加強(qiáng)關(guān)注,縮短檢測(cè)周期,觀察檢測(cè)幅值的變化趨勢(shì);如果開(kāi)關(guān)室內(nèi)背景值在20dB以下,而某些開(kāi)關(guān)柜的測(cè)試值大于30dB,該開(kāi)關(guān)柜有局部放電現(xiàn)象,應(yīng)使用定位技術(shù)對(duì)放電點(diǎn)進(jìn)行定位。
局部放電體現(xiàn)出一定的復(fù)雜性,通常在絕緣內(nèi)部擊穿場(chǎng)強(qiáng)相對(duì)較低的部位容易發(fā)生局部放電,而且絕緣介質(zhì)內(nèi)部的電場(chǎng)分布、絕緣的電氣性能均對(duì)發(fā)生局部放電的條件起著決定性作用。實(shí)際檢測(cè)過(guò)程中,要選擇合理、適用的檢測(cè)方法與分析方法,及時(shí)排除故障,保證開(kāi)關(guān)柜處于良好的運(yùn)行狀態(tài)。
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