羅磊,曹盛,湯繪華
(1.南昌黃綠照明有限公司,江西 南昌 330047;
2.南昌大學(xué),江西 南昌 330047)
噴淋式GaN-MOCVD反應(yīng)室的數(shù)值模擬及研究
Numerical simulation and research of spraying GaN-MOCVD reaction chamber
羅磊1,2,曹盛1,2,湯繪華1
(1.南昌黃綠照明有限公司,江西 南昌 330047;
2.南昌大學(xué),江西 南昌 330047)
本文以低壓、旋轉(zhuǎn)、垂直噴淋式的GaN-MOCVD反應(yīng)室為研究對(duì)象,運(yùn)用計(jì)算流體力學(xué)(CFD)方法對(duì)反應(yīng)室內(nèi)部的輸運(yùn)過(guò)程進(jìn)行了比較詳細(xì)數(shù)值模擬及研究。數(shù)值模擬研究結(jié)果發(fā)現(xiàn):在一定外延材料工藝生長(zhǎng)參數(shù)范圍內(nèi),加大進(jìn)氣流量(Q)可以有效抑制熱浮力效應(yīng),從而使反應(yīng)器內(nèi)部的流場(chǎng)均勻分布。數(shù)值模擬結(jié)果不僅對(duì)GaN-MOCVD反應(yīng)室機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)有重要的指導(dǎo)作用,同時(shí)也對(duì)高品質(zhì)的外延材料生長(zhǎng)工藝參數(shù)優(yōu)化和調(diào)試具有重要的參考價(jià)值。
GaN-MOCVD反應(yīng)室;數(shù)值模擬;CFD;熱浮力效應(yīng)
GaN 材料在LED照明、高溫大功率微電子器件、信息顯示存儲(chǔ)和讀取等領(lǐng)域有著廣闊的應(yīng)用前景,因此,GaN 的制備已經(jīng)引起越來(lái)越多研究人員的關(guān)注[1-5]。 而目前公認(rèn)的最佳 GaN 薄膜生長(zhǎng)工藝方法是:金屬有機(jī)化合物化學(xué)氣相沉積(MOCVD),其原理是將氣態(tài)的金屬有機(jī)物(TMGa或TEGa等MO源)稀釋于輸運(yùn)氣流中,與反應(yīng)氣體NH3同時(shí)注入反應(yīng)室內(nèi)被加熱的高溫載片表面,在高溫下反應(yīng)物氣體分解、反應(yīng)、沉積等一系列氣相與表面化學(xué)反應(yīng)并生成GaN 晶體薄膜。由于反應(yīng)氣體間存在著熱量和質(zhì)量的傳輸,使得GaN-MOCVD 反應(yīng)室內(nèi)的流場(chǎng)和溫度場(chǎng)十分復(fù)雜;目前國(guó)內(nèi)科研院所對(duì)GaN-MOCVD反應(yīng)室數(shù)值模擬也做了很多有益的工作,并取得了不少的有意義的成果[6-11]。
本文將基于某生產(chǎn)型立式噴淋式GaN-MOCVD反應(yīng)室的物理機(jī)理提出模型和氣體動(dòng)力學(xué)原理,利用商業(yè)計(jì)算流體力學(xué)(CFD)軟件對(duì)該GaN-MOCVD反應(yīng)室內(nèi)流場(chǎng)進(jìn)行二維數(shù)值模擬及研究。通過(guò)調(diào)節(jié)進(jìn)氣流量(Q)得到反應(yīng)室流場(chǎng)結(jié)構(gòu)數(shù)值模擬結(jié)果;由此來(lái)研究該工藝參數(shù)對(duì)GaN晶體薄膜生長(zhǎng)質(zhì)量的影響,以提高流場(chǎng)結(jié)構(gòu)品質(zhì),優(yōu)化GaN 晶體薄膜生長(zhǎng)質(zhì)量。
本文研究的GaN-MOCVD反應(yīng)室采用垂直流設(shè)計(jì),GaN-MOCVD反應(yīng)室物理結(jié)構(gòu)和數(shù)值模擬簡(jiǎn)化模型如圖1、圖2所示。因?yàn)樵揋aN-MOCVD反應(yīng)室具有自然的對(duì)稱軸,因此數(shù)值模擬簡(jiǎn)化模型可采用二維軸對(duì)稱數(shù)學(xué)模型,模擬結(jié)果只表征中心軸一側(cè)的情況,從而減少計(jì)算機(jī)的計(jì)算工作量。
圖1 GaN—MOCVD反應(yīng)室物理結(jié)構(gòu)示意圖
圖2 簡(jiǎn)化的數(shù)值模擬模型
結(jié)合方程求解和反應(yīng)室內(nèi)的實(shí)際流動(dòng)情況,對(duì)數(shù)值模擬模型做如下假設(shè)和簡(jiǎn)化:
(1)反應(yīng)室內(nèi)氣流速度很低,可假設(shè)流動(dòng)為層流狀態(tài);
(2)反應(yīng)室內(nèi)的流動(dòng)是有粘、定常的;
(3) 反應(yīng)室內(nèi)氣體滿足連續(xù)流體假設(shè)和理想氣體狀態(tài)方程;
(4)由于反應(yīng)物MO源占載體氣流的比例不足1%,故可以忽略化學(xué)反應(yīng)造成的MO源組分的變化對(duì)流場(chǎng)和溫度場(chǎng)的影響。
GaN-MOCVD反應(yīng)室內(nèi)流動(dòng)的數(shù)學(xué)模型為一組耦合的三維偏微分方程[12]:
連續(xù)性方程:
動(dòng)量方程:
組分方程:
能量方程:
狀態(tài)方程:
其中:ρ為密度;ui為速度矢分量;gi為重力加速度;p為壓力;μ為分子粘性;T為溫度;Pi為環(huán)境壓力,Pi=1.0135×105Pa;Ms為s組分的摩爾質(zhì)量;Ys為s組份的質(zhì)量分?jǐn)?shù);R為通用氣體常數(shù);q和w分別是化學(xué)反應(yīng)的熱量源項(xiàng)和質(zhì)量源項(xiàng);施密特?cái)?shù)Sc和普朗特?cái)?shù)Pr在計(jì)算中取值為Sc=Pr=0.7。
3.1 進(jìn)氣流量(Q)對(duì)流場(chǎng)的影響
選定與實(shí)際相同的參數(shù)作為基準(zhǔn)條件:反應(yīng)室直徑為250 mm,噴淋頭底部與襯底的距離為11 mm,石墨基座表面溫度為1 000 ℃,石墨基座旋轉(zhuǎn)速度為50 rpm,重力加速度為g=9.8 m2/s,數(shù)值模擬中主要反應(yīng)氣體為TMGa和NH3,載氣為H2和N2的混合氣體,其中TMGa流量固定為50 mL/min,氣體體積組分NH3∶H2∶N2=40%∶30%∶30%,進(jìn)氣溫度60 ℃。反應(yīng)室壓力設(shè)定為100 torr,進(jìn)氣流量選取一組數(shù)據(jù)為:10、20、40 L/min。
從圖3(a)、(b)、(c)可以看出進(jìn)氣流量對(duì)反應(yīng)室內(nèi)部流場(chǎng)有重要影響。由圖3(a)可以看出在進(jìn)氣流量較小的情況時(shí),在石墨基座上方流場(chǎng)出現(xiàn)了渦流,這是由于反應(yīng)室側(cè)壁與石墨基座熱浮力對(duì)流產(chǎn)生的。從圖3(b)可以看出隨著進(jìn)氣流量的加大,熱浮力對(duì)流受到了抑制,石墨上方的流場(chǎng)已趨于穩(wěn)定,從圖3(c)可以看出當(dāng)進(jìn)氣流量加大到一定值,熱浮力對(duì)流很小,石墨基座上方流場(chǎng)也趨于穩(wěn)定,但是相對(duì)于進(jìn)氣流量為20 L/min來(lái)說(shuō)進(jìn)一步加大進(jìn)氣流量也會(huì)使徑向速度增大,徑向速度增大將使氣流通過(guò)襯底表面的時(shí)間縮短從而導(dǎo)致MO源材料消耗量增加。可知進(jìn)氣流量加大有利于GaN-MOCVD反應(yīng)室流場(chǎng)穩(wěn)定,但也不是越大越好,流量值應(yīng)當(dāng)適宜。
同時(shí)加大反應(yīng)室進(jìn)氣流量對(duì)襯底表面材料薄膜厚度均勻性也有重要影響;加大反應(yīng)室進(jìn)氣流量這樣使得傳質(zhì)系數(shù)也增大,有利于MO源材料分子在反應(yīng)室內(nèi)迅速擴(kuò)散,這樣就改善了MO源材料分子在常壓下組分分布不均勻的缺點(diǎn),所以降低反應(yīng)室壓力有利于得到大面積均勻厚度的襯底表面材料薄膜。
本文基于計(jì)算流體力學(xué)(CFD)技術(shù)對(duì)某生產(chǎn)型GaN-MOCVD反應(yīng)室的二維空間流場(chǎng)進(jìn)行了數(shù)值模擬。數(shù)值模擬結(jié)果有效的再現(xiàn)了具有復(fù)雜機(jī)械結(jié)構(gòu)和部件運(yùn)動(dòng)方式的GaN-MOCVD反應(yīng)室二維空間流場(chǎng)結(jié)構(gòu)。數(shù)值模擬結(jié)果不僅對(duì)GaN-MOCVD反應(yīng)室機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)有重要的指導(dǎo)作用,同時(shí)也對(duì)高品質(zhì)的外延材料生長(zhǎng)工藝參數(shù)優(yōu)化和調(diào)試具有重要的參考價(jià)值;數(shù)值模擬結(jié)果發(fā)現(xiàn):
圖3 不同進(jìn)氣流量下GaN—MOCVD 反應(yīng)室的流場(chǎng)
(1)適度加大反應(yīng)室進(jìn)氣流量,有利于抑制GaN-MOCVD反應(yīng)室側(cè)壁與石墨基座熱浮力對(duì)流,從而減少石墨基座上方的渦流,增加GaN-MOCVD反應(yīng)室流場(chǎng)的平穩(wěn)性。
(2)適度加大反應(yīng)室進(jìn)氣流量,這樣就使得傳質(zhì)系數(shù)也增大,有利于MO源材料分子在反應(yīng)室內(nèi)迅速擴(kuò)散,有利于得到大面積均勻厚度的襯底表面材料薄膜。
[1] 楊基南,劉亞紅. GaN-MOCVD設(shè)備產(chǎn)業(yè)化發(fā)展戰(zhàn)略研究[J]. 新材料產(chǎn)業(yè),2003,6:17~19.
[2] 章其麟,孫文紅,劉燕飛. GaN 材料生長(zhǎng)研究[J]. 半導(dǎo)體情報(bào),1997,34(5): 6~9.
[3] 陸大成,汪度,王曉暉. GaN 的 MOCVD 生長(zhǎng)[J]. 半導(dǎo)體學(xué)報(bào),1995,16(11): 831~834.
[4] 曹傳寶,朱鶴孫. 氮化鎵薄膜及其研究進(jìn)展[J]. 材料研究學(xué)報(bào),2000,14(增刊).
[5] 趙育明,周科衍. 氮化鎵的性質(zhì)及其金屬有機(jī)化學(xué)蒸汽沉淀法[J]. 現(xiàn)代化工,1996,3:51~52.
[6] Jin X Z, Cong Z X and Liu M D. Numerical Simulation of Vortex Distribution in Horizontal MOCVD Reactor [J]. Chinese Journal of Sem iconductors , 1993,14(1): 21~27.
[7] Zhang JW, Gao H K, Zhang JK, et al Numerical Simulation of Return Flow in MOCVD Reactor [J}. Chinese Journal of Semiconductors .1994, 15(4):268~272.
[8] Zuo R Zhang H, Liu X L, Numerical Study of Transport Phenomena in a Radial Flow MOCVD with Threeseparate Vertical Inlets[J]. Chinese Journal of Sem iconductors ,2005,26(5): 977~982.
[9] Liu Y, Chen H X,F(xiàn)u S.CFD Simulation of Flow Patterns in GaN-MOCVD Reactor[J}. Chinese Journal of Sem iconductors, 2004, 25(12);1639~1645.
[10] Guo W P, Shao J P, Luo Y, et al MOCVD Process S i m u l a t i o n o f G a N [J]. C h i n e s e J o u r n a l o f Semiconductors ,2005, 26(4): 735~739.
[11] Zuo R, Zhong H,Xu Q. Numerical Modeling and Optimization of Transport Process for Radial Flow MOCVD Reactor [J].Journal of Synthetic Crysta Is ,2005 , 34(6): 1 011~1 017.
[12] 劉奕,陳海昕,符松. GaN-MOCVD設(shè)備反應(yīng)室流場(chǎng)的CFD 數(shù)值仿真[J]. 半導(dǎo)體學(xué)報(bào),2004,25(12):1 639~1 646.
TN304
1009-797X (2015) 16-0007-03
A
10.13520/j.cnki.rpte.2015.16.003
羅磊(1984-),男,碩士,主要從事真空設(shè)備設(shè)計(jì)與數(shù)值模擬研究。
2015-07-13