吳耀軍,帥 平,張 倩,傅靈忠,陳 強
(中國空間技術(shù)研究院錢學(xué)森空間技術(shù)實驗室,北京100094)
宇宙中存在著一種被稱為脈沖星的高速自轉(zhuǎn)中子星,以極其穩(wěn)定的周期輻射X射線;可以通過在航天器上安裝X射線探測器,探測脈沖星輻射的X射線信號,測量光子到達時間并提取脈沖星影像信息,從而得到航天器的位置、速度、時間和姿態(tài)等參數(shù)信息。X射線脈沖星導(dǎo)航是實現(xiàn)航天器長時間高精度自主導(dǎo)航的可行途徑,備受國際航天機構(gòu)關(guān)注,已成為航天前沿技術(shù)領(lǐng)域的研究熱點[1-4]。脈沖星導(dǎo)航探測器要求具有高能量分辨率、高時間分辨率、大面積、重量輕、體積小、具備一定的成像能力以及不需低溫制冷等特點。在目前發(fā)展較為成熟的X射線探測器中,氣體正比計數(shù)探測器由于輸入窗易受到微流星破壞而造成氣體泄漏,限制了其在脈沖星導(dǎo)航領(lǐng)域的應(yīng)用;NaI(Tl)閃爍探測器具有閃爍晶體易潮解、性能不穩(wěn)定等不足,同時閃爍晶體的探測范圍主要在高能段;Si(Li)探測器和高純鍺探測器一般需要低溫制冷才能正常工作;CCD探測器時間分辨率較差。綜合比較來看,微通道板探測器、硅漂移探測器和電荷掃描探測器可在一定程度上滿足脈沖星導(dǎo)航的需求,但這三類探測器的部分指標(biāo)仍需要改進以更好地應(yīng)用于脈沖星導(dǎo)航。面對現(xiàn)有X射線探測方法的局限性,一種新的基于石墨烯的X射線探測方法有望滿足脈沖星導(dǎo)航的應(yīng)用需求。
2004年,Novoselov等利用機械剝離的方法制備得到單層石墨烯,證明了二維材料是可以自由穩(wěn)定存在的,并由此引發(fā)了石墨烯等二維材料研究的熱潮[5]。石墨烯是一種由單層碳原子構(gòu)成的具有二維蜂窩晶格結(jié)構(gòu)的新材料,是構(gòu)成零維富勒烯、一維碳納米管和三維石墨等其它碳的同素異形體的基礎(chǔ)[6-7]。石墨烯具有零帶隙能帶結(jié)構(gòu)、高電子遷移率、低電阻率、高導(dǎo)熱性和高力學(xué)強度等優(yōu)異特性,因此石墨烯在科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中具有廣闊的應(yīng)用前景。目前,基于石墨烯的晶體管、光子學(xué)器件、光電探測器、光調(diào)制器、鎖模激光發(fā)生器、光偏振控制器、復(fù)合材料、能量存儲器、傳感器和生物器件等新器件不斷涌現(xiàn)[8-9]。Lemme等研究了基于石墨烯的場效應(yīng)晶體管[10];Wang等制作了基于石墨烯場效應(yīng)晶體管的射頻混頻器[11];Vicarelli等制成了基于石墨烯場效應(yīng)晶體管的THz波探測器,并在室溫下實現(xiàn)了對 0.3 THz波的探測[12];Koybasi等制作了SiC基底的石墨烯場效應(yīng)晶體管探測器,并研究了在不同柵壓下探測器對光照的響應(yīng)[13];Foxe等提出了一種利用石墨烯場效應(yīng)晶體管實現(xiàn)X射線探測的方法,并模擬分析了X射線與探測器的相互作用[14]。Patil等研究了不同基底材料的石墨烯場效應(yīng)晶體管探測器對X射線和γ射線的探測,并分析了溫度和柵壓對探測器性能的影響[15-16]。
本文介紹了一種基于石墨烯電場效應(yīng)的X射線探測方法及探測器基本結(jié)構(gòu),利用蒙特卡羅方法和有限元方法分析了探測器對X射線的響應(yīng)和載流子輸運,并最終給出了探測器指標(biāo)的理論計算值。
作為碳的一種平面同素異形體,石墨烯的碳原子在同一平面內(nèi)通過共價鍵相互連接。碳元素有4個價電子,分別占據(jù)2 s和2 p軌道。當(dāng)碳原子聚集到一起形成晶體時,相鄰碳原子之間的2 s和2 p軌道會發(fā)生交疊而形成化學(xué)鍵,這種原子軌道的交疊形式稱為雜化。在石墨烯中,2 s軌道與2px和2py軌道相互作用,電子發(fā)生重排,形成3個sp2雜化軌道。這3個sp2軌道相互作用形成3個σ鍵。σ鍵是一種最強的共價鍵,所以石墨烯具有優(yōu)異的機械強度和力學(xué)特性。而由剩下的2pz電子形成的鍵稱為π鍵,其成鍵電子云分布垂直于碳原子所構(gòu)成的平面,并與石墨烯的電學(xué)性質(zhì)緊密相關(guān)[17]。
可以利用最近鄰緊束縛模型并結(jié)合電子-空穴對稱近似來求解石墨烯的能帶結(jié)構(gòu),計算公式[17]如下:
式中:E為波矢k對應(yīng)的能量;γ為擬合參數(shù),其取值范圍為2.7~3.3 eV,本文的計算中取 γ =3.1;a為石墨烯晶格原胞基矢的長度,數(shù)值上等于石墨烯中碳-碳鍵鍵長的倍;kx為波矢k的x方向分量;ky為波矢k的y方向分量。
利用式(1)計算得到石墨烯的三維能帶結(jié)構(gòu)如圖1所示。
圖1 石墨烯三維能帶結(jié)構(gòu)Fig.1 Three-dimensional energy-band structures of graphene
圖1 中E=0對應(yīng)費米能級。費米能級上半部分對應(yīng)于π*態(tài),即π軌道的反鍵態(tài),也稱導(dǎo)帶;費米能級下半部分對應(yīng)于π態(tài),即π軌道的成鍵態(tài),也稱價帶。從圖1可以看出,石墨烯的導(dǎo)帶和價帶關(guān)于費米能級對稱,并在費米能級相互接觸,接觸點為K點。由于在費米能級附近沒有帶隙,因此石墨烯是零帶隙半導(dǎo)體或半金屬。在K點附近,電子的能量和波矢成線性關(guān)系,這表明在K點附近電子的有效質(zhì)量為零,需要用狄拉克相對論量子力學(xué)波動方程來描述其運動,因此K點通常也被稱為狄拉克點,而石墨烯中的電子也常被稱為無質(zhì)量狄拉克-費米子[17-18]。
由于石墨烯是零帶隙的半導(dǎo)體,在電場的作用下,狄拉克-費米子可以從電子(或空穴)連續(xù)轉(zhuǎn)變到空穴(或電子)。在距離狄拉克點較遠的地方,石墨烯中只有單一的載流子,其濃度和加載的柵極電壓成正比[19]。由于電導(dǎo)率和載流子濃度成正比,因此石墨烯的電阻值受到柵極電壓的影響,如圖2所示[14],這就是石墨烯的電場效應(yīng)。因此,可以利用石墨烯的電場效應(yīng)來感知電場的變化。
圖2 石墨烯電場效應(yīng)曲線Fig.2 Electric field effect of graphene
基于石墨烯電場效應(yīng)的X射線探測器結(jié)構(gòu)如圖3所示。探測器結(jié)構(gòu)包括3層:石墨烯探測層、SiO2絕緣層和Si半導(dǎo)體吸收基底。其中,Si半導(dǎo)體吸收基底作為X射線探測的工作介質(zhì),吸收入射的X射線并在基底內(nèi)產(chǎn)生電子-空穴對;SiO2絕緣層在石墨烯探測層和Si半導(dǎo)體吸收基底之間形成絕緣,并阻止X射線在基底內(nèi)產(chǎn)生的電子直接被石墨烯接收;石墨烯探測層主要用于感知X射線產(chǎn)生電子所形成的電場,根據(jù)石墨烯的電場效應(yīng),其電阻值會發(fā)生改變,從而利用電阻值的變化量作為探測器的輸出信號。在石墨烯探測層和Si半導(dǎo)體吸收基底之間加載柵極電壓,在探測器內(nèi)部形成一個合適的電場分布,從而引導(dǎo)X射線在基底內(nèi)產(chǎn)生的電子向石墨烯探測層漂移[15-16]。
圖3 石墨烯探測器結(jié)構(gòu)示意圖Fig.3 Schematic of the detector architecture
探測器具體工作原理為:X射線入射到探測器基底中電離產(chǎn)生電子-空穴對,且所產(chǎn)生的電子-空穴對數(shù)目與其能量成正比。電子在柵極電壓產(chǎn)生電場的作用下做漂移運動,并被SiO2絕緣層阻擋而最終匯集在石墨烯探測層下方。匯集電子產(chǎn)生電場改變石墨烯探測層的電場強度,從而改變石墨烯的電阻值。通過測量石墨烯電阻值的變化量,可以推算出其電場強度的變化量。通過石墨烯所處電場強度的變化量,可以推算出入射X射線所產(chǎn)生的電子-空穴對數(shù)目。通過電子-空穴對數(shù)目,可以推算出入射X射線的能量。根據(jù)石墨烯電阻值變化所引起的電脈沖輸出信號的上升沿,可以推算出入射粒子的到達時間。從而實現(xiàn)對入射X射線能量和到達時間的測量。
在實際應(yīng)用中,可以利用多個圖3這樣的探測單元拼接為面陣以增加探測面積。另外,可以搭配X射線聚焦鏡頭使用,由“X射線聚焦鏡頭+面陣石墨烯探測器”組成的探測系統(tǒng)具有更大的探測面積,以滿足脈沖星導(dǎo)航對探測器大面積的要求。
X射線入射到探測器吸收基底,并與其發(fā)生作用,產(chǎn)生電子-空穴對;X射線與物質(zhì)相互作用主要有三種機制:光電效應(yīng)、康普頓效應(yīng)和電子對效應(yīng),具體作用過程可借助蒙特卡羅模擬軟件進行模擬,比如Geant 4。Geant 4是由歐洲核子研究中心基于C++面向?qū)ο蠹夹g(shù)開發(fā)的蒙特卡羅應(yīng)用軟件包,用于模擬粒子在物質(zhì)中輸運的物理過程,其源代碼完全開放,主要包括幾何跟蹤、探測器響應(yīng)、運行管理、可視化和用戶界面等模塊。利用Geant 4蒙特卡羅模擬軟件,分析了不同能量的X射線和不同厚度探測器吸收基底的相互作用。由于脈沖星輻射的X射線主要是軟X射線,因此模擬時選取了4種不同的能量,分別為:1 keV、10 keV、15 keV和 30 keV。探測器的基底也選取了4種不同的厚度,分別為:0.1 mm、0.4 mm、1.0 mm 和2.0 mm。
圖4為不同能量X射線與0.4 mm厚Si基底相互作用的Geant 4模擬結(jié)果,其中,中心矩形區(qū)域為Si基底,實線簇表示電子的運動軌跡。從圖4可以看出,探測器吸收基底為0.4 mm時,1 keV能量的X射線全部被吸收,然后隨著X射線能量的增加,不發(fā)生作用而直接穿過基底的X射線逐漸增加,到30 keV時X射線絕大部分都直接穿過。
圖4 不同能量X射線與0.4 mm厚Si基底相互作用Fig.4 The interaction between X-rays with different energies and 0.4 mm thick Si substrate
表1為不同能量的X射線與0.4 mm厚Si基底相互作用時不同效應(yīng)的發(fā)生幾率。從表1可看出,作用時主要以光電效應(yīng)為主,康普頓效應(yīng)發(fā)生的幾率很小。隨著X射線能量的增加,光電效應(yīng)發(fā)生的幾率減小,X射線不發(fā)生作用直接穿過基底的幾率明顯增加。
表1 不同效應(yīng)發(fā)生幾率Table 1 Probability of different effects
圖5表示能量為15 keV的X射線與不同厚度Si基底相互作用的Geant 4模擬結(jié)果。從圖5可以看出,隨著探測器基底厚度的增加,入射X射線被吸收的幾率顯著增加,在厚度為2.0 mm時,入射X射線幾乎全部被吸收在基底中。在探測器厚度為0.4 mm和1.0 mm時,入射X射線也大部分被吸收。可以根據(jù)實際探測X射線的目標(biāo)能段,并考慮探測器的體積重量要求,來選擇合適的探測器吸收基底厚度,實現(xiàn)對X射線的有效探測。
圖5 15 keV X射線與不同厚度Si基底相互作用Fig.5 The interaction between 15 keV X-ray and Si substrate with different thicknesses
X射線在探測器吸收基底中產(chǎn)生電子-空穴對之后,在柵極電壓產(chǎn)生電場的作用下,電子向石墨烯探測層運動,空穴向基底底部運動,通過使電子漂移匯集到石墨烯層下方來實現(xiàn)對電子數(shù)目的探測。因此,在實際的探測器設(shè)計中,需要分析柵極電壓的加載方式及其對基底中載流子漂移運動的影響,從而使探測器能更好地按照所設(shè)計的方式來工作。
通過COMSOL Multiphysics 4.3b多物理場耦合分析軟件來模擬柵極電壓在探測器內(nèi)引起的電勢和電場分布,并對電子在柵極電壓產(chǎn)生電場作用下的漂移運動進行模擬。COMSOL Multiphysics是以有限元法為基礎(chǔ),通過求解偏微分方程(單物理場)或偏微分方程組(多物理場)來實現(xiàn)真實物理現(xiàn)象的仿真,其包含了大量預(yù)定義的物理應(yīng)用模型,涵蓋電磁學(xué)、流體力學(xué)、傳熱學(xué)和結(jié)構(gòu)力學(xué)等多種物理場,可快速建模。具體計算參數(shù)如下:吸收基底尺寸為400×400×400 μm3,材料為 Si,其中電子遷移率為1450 cm2/(V·s);絕緣層尺寸為 400×400×0.5μm3,材料為SiO2;石墨烯位于SiO2絕緣層的中央,簡化為10×10μm2的面元;石墨烯電勢為0 V,基底底部電勢為-50 V。為減小計算量,在不失準(zhǔn)確性的情況下,模擬時探測器簡化為二維結(jié)構(gòu)。
模擬計算所用的模型為COMSOL內(nèi)置的靜電學(xué)計算模型和帶電粒子追蹤模型。靜電學(xué)計算模型方程為:
式中:D為電位移矢量,ρ為空間電荷密度,E為電場強度,V為電勢,ε為介質(zhì)的電容率。
帶電粒子追蹤模型方程為:
式中:q為帶電粒子位移,v為帶電粒子速度,μ為電子遷移率,E為電場強度。
因此,將靜電學(xué)計算模型和帶電粒子追蹤模型進行耦合求解,即可得到探測器內(nèi)的電勢分布、電場強度分布以及電子的漂移運動軌跡。
圖6為計算得到的探測器內(nèi)部電場示意圖,圖中黑色箭頭表示電場線。從圖6可以看出,在石墨烯附近電場強度較大,隨著遠離石墨烯,電場強度迅速減小,且電場線表現(xiàn)出趨向石墨烯聚集的特點。
圖6 探測器內(nèi)部電勢分布及電場線示意Fig.6 The potential distribution and field lines in the detector
圖7 為探測器基底內(nèi)電子在柵極電壓產(chǎn)生電場的作用下發(fā)生漂移運動的軌跡。為盡可能完整地描述電子在基底內(nèi)的運動過程,假設(shè)X射線剛進入探測器基底就產(chǎn)生了電子。在利用COMSOL進行模擬時,選取15個電子作為粒子追蹤的對象,初始位置設(shè)定在探測器基底的最下端,初始速度設(shè)為0。模擬結(jié)果表明:在探測器基底不同位置產(chǎn)生的電子,最終都在電場作用下向著石墨烯漂移,并最終匯集在石墨烯層的下方,符合探測器設(shè)計的要求。
圖7 電子運動軌跡Fig.7 The trajectory of electrons in the detector
為綜合考量探測器的性能參數(shù),并對其性能指標(biāo)作出正確合理的預(yù)估,現(xiàn)對探測器的能量分辨率和時間分辨率進行理論分析。
探測器能量分辨率計算公式為:
式中:F為法諾因子,N0為入射X射線在探測器基底中產(chǎn)生的電子-空穴對數(shù)目。
Si的法諾因子F=0.15。假如入射的X射線能量為10 keV,由于 Si的平均游離功為3.61 eV,因此N0=2770。利用式(4)可以計算得到探測器的能量分辨率理論極限值為1.74%。
探測器載流子收集時間計算公式為:
式中:d為探測器基底厚度,μ為電子遷移率,UG為加載的柵極電壓。這里d=400μm,μ=1450 cm2/(V·s),UG=50 V,計算得到 tc=22 ns。對 Si基底的石墨烯探測器,其時間分辨率取決于載流子的收集時間。因此,探測器時間分辨率的理論極限值為22 ns。
目前,技術(shù)發(fā)展成熟的可用于脈沖星導(dǎo)航領(lǐng)域的主流探測器包括:微通道板探測器、硅漂移探測器和電荷掃描探測器。微通道板探測器的時間分辨率可達到ns量級,但是其能量分辨率較差。硅漂移探測器的能量分辨率可達到2.5%,但是其時間分辨率只能做到μs量級。電荷掃描探測器的能量分辨率可做到7.5%,但是其時間分辨率只能做到ms量級。由此可見,石墨烯探測器能同時具有較高的能量分辨率和時間分辨率,綜合性能優(yōu)于上述三種主流探測器。
針對基于石墨烯的X射線探測方法,本文利用蒙特卡羅方法和有限元方法數(shù)值驗證了其原理可行性,且數(shù)值計算的結(jié)果可以為探測器的設(shè)計提供支撐。通過對探測器性能指標(biāo)的計算分析,發(fā)現(xiàn)基于石墨烯電場效應(yīng)的X射線探測器可同時具有較高的能量分辨率和時間分辨率,在性能上優(yōu)于現(xiàn)有的X射線探測方式,可應(yīng)用于X射線脈沖星導(dǎo)航以及傳統(tǒng)的X射線探測領(lǐng)域。
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