楊富紅,賈朱紅,徐 慧,史 磊,汪靈瑤
(1.北京機(jī)械工業(yè)自動化研究所,北京 100120;2.大唐移動通信設(shè)備有限公司,北京 100083)
基于適配器和POE兩種供電電路設(shè)備的熱插拔損壞問題分析
楊富紅1,賈朱紅2,徐慧1,史磊1,汪靈瑤1
(1.北京機(jī)械工業(yè)自動化研究所,北京 100120;2.大唐移動通信設(shè)備有限公司,北京 100083)
針對一款通信設(shè)備電源,詳細(xì)分析了適配器和POE兩種供電電路共存情況下,任意一種供電模式下熱插拔時POE(Power Over Ethernet)管理芯片MAX5982AETE+燒毀的原因,提出了通信設(shè)備電源熱插拔損壞的策略,并在相關(guān)通信電源設(shè)備中得以驗證。
電源設(shè)備;POE;適配器;MAX5982AETE+
為了便于通信設(shè)備的安裝使用,通信設(shè)備的電源有兩種供電模式,一種是適配器供電模式,適配器的輸出電壓為48V,適配器供電模式主要用近距離供電的場合,本文不過多贅述;另一種是POE供電模式,POE的供電電壓為53.5V。
POE系統(tǒng)包括供電端設(shè)備(PSE,Power Sourcing Equipment)和受電設(shè)備(PD,Power Device)。PSE是為 Ethernet客戶端設(shè)備(即PD設(shè)備)供電的設(shè)備,對整個POE以太網(wǎng)供電過程的進(jìn)行管理。而PD設(shè)備是接受供電的PSE的負(fù)載,即POE系統(tǒng)的客戶端設(shè)備。
本文是針對適配器供電和POE供電兩種供電系統(tǒng)作用在通訊設(shè)備,在使用過程中出現(xiàn)熱插拔現(xiàn)象,對通信設(shè)備中的管理芯片MAX5982AETE+產(chǎn)生電壓沖擊,燒毀芯片這種現(xiàn)象進(jìn)行分析,并在實際使用的通訊電源設(shè)備中進(jìn)行驗證。
1.1兩種供電模式共存于通信設(shè)備電源上的問題描述
在通信設(shè)備中,使用 PSE供電端設(shè)備時,POE以太網(wǎng)供電工作過程主要有五個步驟:
1)檢測;
2)PD端設(shè)備分類;
3)開始供電;
4)供電;
5)斷電。
通信設(shè)備電源的POE管理芯片采用MAXIN的MAX5982AETE+,MAX5982AETE+最大功率可達(dá)到100W,SMC的RRU的功耗最大20W,而SMC在使用適配器和POE供電熱插拔時都會使得PD(Powered Device)芯片MAX5982AETE+損壞,MAX5982AETE+的PG引腳把電源PWM發(fā)生器MAX5974DETE+的EN引腳電平拉低,48V轉(zhuǎn)12V電源沒有輸出,SMC設(shè)備上電失敗。
1.2異常MAX5982AETE+用測量工具測試
對其進(jìn)行外形分析,未發(fā)現(xiàn)異常的燒毀、擊穿點等。
1)用萬用表二極管檔測量異常MAX5982AETE+芯片引腳的二極管特性,各引腳沒有異?,F(xiàn)象。
2)使用XJ4810A型半導(dǎo)體管特性圖示儀對MAX5982AETE+芯片進(jìn)行管腳的I-V曲線分析。
(1)測試MAX5982AETE+芯片所有管腳和VSS之間ESD二極管的正向I-V特性。發(fā)現(xiàn)MAX5982AETE+芯片的PG管腳存在異常。好的MAX5982AETE+芯片樣品和失效的MAX5982AETE+芯片樣品的PG腳與VSS腳之間ESD二極管的I-V曲線,分別如圖1(a)和圖1(b)所示。其中X軸為1V/div。從圖中可以看出,失效樣品的不同之處在于,電壓小于0.5V時呈阻性,失效樣品整體表現(xiàn)為電阻和二極管并聯(lián)的特性。
(2)測試MAX5982AETE+芯片的PG和VSS管腳之間ESD二極管的反向I-V特性。發(fā)現(xiàn)失效樣品的曲線呈現(xiàn)阻性的特征,X軸為1V/div,Y軸為0.2mA/div。而好的MAX5982AETE+芯片樣品檢測不到電流,表現(xiàn)為高阻狀態(tài)。
圖1 MAX5982AETE+芯片樣品PG與VSS管腳間ESD二極管的正向I-V特性
(3)測試MAX5982AETE+芯片的PG管腳和其他非VSS任意管腳之間的I-V特性。發(fā)現(xiàn)失效MAX5982AETE+芯片樣品的曲線均呈現(xiàn)電阻和二極管串聯(lián)的特性,是由于PG和VSS之間的MOS管損壞呈阻性后,通過VSS與其他管腳之間的ESD二極管串聯(lián)組合得到的曲線。X軸為1V/div,Y軸為0.2mA/div。而好的樣品檢測不到電流,表現(xiàn)為高阻狀態(tài)。
(4)測試非PG管腳互相之間的I-V特性,發(fā)現(xiàn)失效品均與好的樣品曲線幾乎相同。說明失效樣品的其他管腳正常。
1.3異常MAX5982AETE+的原理分析
MAX5982AETE+為PD接口控制器,用于在POE系統(tǒng)中用于功率分級、握手協(xié)商,內(nèi)部集成一個限制浪涌電流的功率開關(guān)MOS管,如圖2中紅圈所示。握手成功時,該MOS管導(dǎo)通,VSS與RTN連通形成電流通路。
圖2 MAX5982AETE+的內(nèi)部MOS管
在SMC項目的RRU電路原理中,POE供電防護(hù)電路和適配器供電防護(hù)電路的原理圖如圖3和圖4所示,VSS_1作為POE輸入電源的參考地,連在MAX5982AETE+的VSS腳,VSS_2連在MAX5982AETE+的RTN腳,兩腳通過MOS管連接。VSS_3與VSS_2之間有一個磁珠和共模電感,如圖3所示。此外,MAX5974DETE+的參考地PGND與VSS_3通過0歐電阻連接。
圖3 POE供電防護(hù)電路
圖4 適配器供電防護(hù)電路
下面從實測電路波形,實際分析一下上述兩種供電保護(hù)電路中問題所產(chǎn)生的現(xiàn)象。
1)POE供電防護(hù)電路的問題分析
POE供電設(shè)備通過網(wǎng)線連接到SMC設(shè)備,SMC設(shè)備內(nèi)部給DC/DC電源供電的防護(hù)電路和PD電路如圖5所示。
圖5 MAX5982AETE+與MAX5974DETE+連接關(guān)系簡圖
PD電路握手芯片MAX5982AETE+的PG腳施能控制DC/DC電源的PWM發(fā)生芯片MAX5974DETE+的PWM輸出,在POE供電時,MAX5982AETE+握手成功之前,PG引腳的電平為低電平,也就是MAX5974DETE+的施能引腳為低電平,MAX5974DETE+沒有PWM脈沖輸出,DC/DC電源沒有輸出電壓,當(dāng)MAX5982AETE+握手成功之后,PG引腳的電平為高電平,DC/DC電源有輸出電壓。MAX5974DETE+的地與VSS_3等電位。EN由VDD_1分壓1提供相的電平,VDD_1的參考地為VSS_1。因此,在VSS_1與VSS_3之間的MOS管完全導(dǎo)通之前,由于沒有電流回路,VDD_1、PG、VSS_3均處于同一電位。
測量POE上電時VDD_1和PG分別相對于VSS_1的波形,圖6中分黃色為VDD_1與VSS_1之間的電壓波形,藍(lán)色為PG與VSS_1之間的電壓波形。圖6中的兩個小方波是POE握手階段的波形。握手之后的VDD_1和PG的電壓建立之后都有較大的過沖。對紅框區(qū)域放大之后的波形如圖7所示。其中VDD_1達(dá)到70.4V,PG達(dá)到79.2V。而VDD_1在穩(wěn)定之后正常值大約為53.5V,PG為2V。
圖6 VDD_1和PG的上電波形
圖7 導(dǎo)通時的電壓過沖
VDD_1和PG上電過沖是由于上電瞬間100uH電感LA1(如圖3所示)導(dǎo)致的,在手冊中查詢到PG相對于地VSS_1的最大額定值為100V,由于器件耐壓指標(biāo)誤差及器件耐壓一致性的差異,PG引腳的損壞與上電沖擊電壓太高可能有關(guān)系。
在去掉電感LA1和磁珠LA2之后,尖峰消除,但在MOS管導(dǎo)通后,PG引腳有個異常拉高,而VDD_1被拉低。經(jīng)過測試,是由電解電容CA59(如圖8中紅圈所示)造成。具體原因是電容容量大,電容充電時拉電流比較大,因此VDD_1被拉低。
圖8 DC/DC電源的部分電路
去掉該電容后,異常消失,反復(fù)上下電上百次,VDD_1和PG的上電波形沒有過高的電壓沖擊,最大值分別為55.2V和42V。
2)適配器供電防護(hù)電路
SMC設(shè)備使用適配器供電時MAX5982AETE+有時也會損壞,發(fā)現(xiàn)在設(shè)備穩(wěn)定后,VSS_1與VSS_3之間的電壓波形是-0.6V~1.2V矩形波,頻率為300kHz,剛好是MAX5974DETE+的開關(guān)頻率。經(jīng)逐步尋找,發(fā)現(xiàn)是由于共模電感LA9的充放電引起,負(fù)壓導(dǎo)致MAX5982AETE+損壞。去掉共模電感后,VSS_1與VSS_3之間的壓差為0。
在去掉電感、磁珠和電解電容的情況下,使用適配器供電,上電時VDD_1和PG相對于VSS_1的波形,非常相近,無尖峰脈沖。
通過對POE供電防護(hù)電路和適配器防護(hù)電路共同供電的設(shè)備熱插拔損壞問題的分析,電路正極的防浪涌電感的感值不能太大,否則會產(chǎn)生很大的泵升電壓,造成電感后面的受電器件因過壓損壞。而對于兩種供電電路的地平面之間之間不要設(shè)計感性器件,否則會因為電感充放電造成地平面電壓波動,產(chǎn)生的較大負(fù)壓使得后面受電器件損壞。
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Analysis of hot plug damage foradapter-based and POE-based power supply circuit
YANG Fu-hong1,JIA Zhu-hong2,XU Hui1,SHI Lei1,WANG Ling-yao1
TN91
B
1009-0134(2016)09-0131-04
2016-07-11
楊富宏(1981 -),男,山西長治人,學(xué)士,主要從事項目管理及設(shè)備調(diào)試工作。