馬禮敦(復旦大學, 上海 200433)

X射線粉末衍射的發(fā)展與應用
——紀念X射線粉末衍射發(fā)現(xiàn)一百年(續(xù)前)

馬禮敦
(復旦大學, 上海 200433)

4 X射線粉末衍射技術的新發(fā)展

經(jīng)過上百年的研究，已經(jīng)發(fā)展出一些在特定狀態(tài)和特定條件下用粉末衍射技術對多晶聚集態(tài)進行結構研究的新技術，比如在隔絕空氣或某種極端條件下，在一個微小的區(qū)域內對極少量的試樣或在一個過程中研究試樣變化的情況等。下面介紹幾種可適應不同要求的X射線粉末衍射技術和裝置。

4.1 原位與極端條件下的粉末衍射技術

原位與極端條件下的衍射一般是指讓處于特定環(huán)境條件下的試樣產(chǎn)生衍射，特定環(huán)境條件是指高溫、低溫、高壓、真空、可充氣和/或可進出物料等。為此，需有能模仿真實狀態(tài)、能產(chǎn)生需要的特定環(huán)境條件和進出物料及X射線的裝置。利用此種裝置來采集靜態(tài)試樣或變化中試樣的X射線衍射圖，以研究在各種特定條件下試樣的狀態(tài)，或某種變化前后或過程中試樣狀態(tài)的變化，如固體反應、固-氣反應、化學反應或催化過程、處于極端條件下的地殼中巖石的相態(tài)和相變等。

Andreasen J W等曾經(jīng)用原位裝置研究了用于基本化工原料甲醇合成的Cu/ZnO催化劑(Cu/Zn原子比為5∶95)的活化過程[1]。他們在一臺常規(guī)衍射儀上用Anton Paar出品的XRK900原位反應器研究了催化劑的氧化和還原過程。此類原位反應器的外形見圖40，可控溫度范圍為室溫至900 ℃，可抽真空至100 Pa，加壓至106Pa，可以送入惰性、氧化或還原性氣體等，氣體流速可達40 L·h-1，適用于固體反應或固-氣反應的研究。圖40的右側為示意的記錄譜圖，有試樣的X射線粉末衍射譜(XRD)、流出氣體的氣相色譜(GC)和質譜(MS)，還可根據(jù)需要配用紅外光譜等其他譜儀進行協(xié)同分析。

圖40 XRK型原位反應器外觀及配套輸出的XRD，GC和MS譜圖Fig.40 Appearance of in-situ reactor and patterns of XRD, GS and MS

圖41為已活化Cu/ZnO催化劑的XRD譜，圖中的小圈為實測點I(obs)，實線是用Le Bail精修法對試驗譜的擬合譜I(cal)，點線為本底Background，下部粗黑線為差譜I(obs)-I(cal)。從圖41可分析得出，試樣是純ZnO相，未發(fā)現(xiàn)金屬銅的衍射峰，說明銅進入了ZnO晶格，形成置換型固溶體，而不是形成分散在ZnO中的銅原子簇。進一步分析發(fā)現(xiàn)，衍射峰的寬化是各向異性的，低衍射指數(shù)的衍射峰寬化較少，且峰寬相近，由此推斷晶粒是近球形的，求得平均晶粒尺寸為12.8 nm，晶胞參數(shù)為a=(0.325 11±0.000 02) nm，c=(0.520 82±0.000 04) nm，比由單晶獲得的參數(shù)略大。對比其他較寬峰分析得出，這是由晶粒內存在的堆垛層錯造成的。

圖41 已活化Cu/ZnO催化劑的XRD譜Fig.41 XRD pattern of the activated Cu/ZnO catalyst

Andreasen J W等還在瑞士的SLS同步輻射裝置上做過上述催化劑的原位共振X射線衍射試驗。共振衍射是指在進行X射線衍射試驗時，在試樣所含某一個元素的吸收邊附近選擇所使用的X射線的波長。此時，該元素的原子散射因子f發(fā)生變化，與常用的f不同，因此衍射強度也會不同，對不同的衍射影響不同，有助于研究該種元素的結構細節(jié)。如果試樣中含有兩個相鄰元素，它們的f相近，難以分辨，則可用一種元素的共振吸收來加以區(qū)分。圖42為還原后的催化劑使用銅的K吸收邊前-5 eV和-200 eV處能量的X射線共振衍射譜，圖中小圈代表使用-200 eV處能量的衍射譜，細實線代表使用-5 eV處能量的衍射譜，兩者衍射峰位重疊，說明晶胞參數(shù)未變。但可看出兩譜的衍射峰高不同，對于(101)反射，-5 eV的衍射峰高比-200 eV的要低7%，這說明越靠近吸收邊，影響越大，與理論計算值相符。圖42中未發(fā)現(xiàn)存在任何銅的氧化物，但在q[q=(4π/λ)sinθ]約30 nm-1處出現(xiàn)一個很矮的寬峰，經(jīng)鑒定為Cu(111)衍射峰，說明在催化劑中生成了極微小的納米銅晶粒。圖42右上角為采用對數(shù)縱坐標的衍射譜，使Cu(111) 衍射峰更明顯。

圖42 還原后催化劑中銅在K吸收邊前-5 eV和-200 eV處的X射線共振衍射譜Fig.42 Resonance XRD pattern of Cu in reduced catalyst at-5 eV and -200 eV of K pre-absorption edge

除了以上兩種衍射技術外，Andreasen J W等還用了原位電子能量損失譜和共振小角X射線散射兩種技術來配合研究。他們在原位裝置內還反復進行了在還原和氧化過程中的升溫、保溫、降溫試驗，圖43顯示了反復試驗中催化劑ZnO的晶胞參數(shù)a和c的變化，其中黑點為a軸，圈點為c軸。從圖43可以看到，在升溫、保溫過程中，晶胞參數(shù)存在正常的熱脹冷縮現(xiàn)象。但在493 K附近出現(xiàn)不正常的大幅增加或下降，結合另幾種試驗分析可以得出，這是Cu2+還原為銅原子或相反過程所致。銅析出后，(Cu，Zn)O固溶體變?yōu)榧僙nO，晶胞參數(shù)會變大，這也與試驗結果相符。

圖44為Andreasen J W等人總結的在還原-氧化-還原過程中，催化劑中(110)晶面的結構變化示意圖,自下而上第1張圖顯示的是剛制得的催化劑，斜直線表示ZnO固溶體的(110)晶面中原子的排列取向。在兩條水平線的上下位置有斜線錯位，表示存在堆垛層錯。放大鏡中為堆垛層錯處原子的排列圖，可看出ABCBC的層錯；第2張圖顯示的是還原后的催化劑，銅從固溶體中析出為金屬銅粒，附著在無銅的ZnO顆粒的外圍；第3張圖顯示的是氧化后的催化劑，部分銅回到ZnO中，再次形成固溶體，而另一部分銅被氧化成CuO，以薄膜形式緊貼在催化劑顆粒表面；接著再還原，再氧化，結果與前述狀態(tài)相同，發(fā)生循環(huán)。

4.1.2 高壓衍射

如要給試樣加很高的壓力，如若干GPa(1 GPa=104大氣壓)，則上述裝置是不能用的，需用一種叫高壓砧的特殊裝置，其構造示意于圖45。砧體由可承受很高壓力的材料制成，如金剛石。安放樣品的空腔很小，一般只有數(shù)十至數(shù)百微米，因此入射光束就要強而細。常采用白光能量色散衍射法進行高壓試驗，入射光是白光。各種波長的光會同時發(fā)生衍射，可以用二維探測器記錄得到一張勞埃譜，也可以通過固體探測器進行能量色散而得到一張以能量為橫坐標的衍射譜。由于白光的光通量大，可在極短時間內記錄一張譜，因此能量色散法也常用于時間分辨的研究。關于高壓裝置更詳細的介紹，可參閱文獻[2]。

教師在教育學生形成健康的網(wǎng)絡道德的同時，必須以身為范提高自身網(wǎng)絡道德修養(yǎng)，在學生心目中樹立起良好形象。新形勢呼喚高信息素養(yǎng)的教師，由于種種原因，教師的信息技術水平普遍較差，甚至“遠遠落后”于自己所教的學生。在中學生普遍“觸網(wǎng)”的今天，網(wǎng)絡上的新思維、新動態(tài)層出不窮，瞬息萬變，如果不“及時跟進”，教師就很難與學生進行毫無障礙的溝通。提高教師素養(yǎng)不能局限于對網(wǎng)上知識的體驗，還應該盡快學習和掌握計算機網(wǎng)絡技術，提高自身的信息素養(yǎng)。信息素養(yǎng)已經(jīng)是教師適應網(wǎng)絡社會的基本素養(yǎng)和走進網(wǎng)絡社會的“通行證”，良好的教師信息素養(yǎng)是學校開展網(wǎng)絡道德教育的必要條件，是學校實施網(wǎng)絡道德教育的關鍵因素。

圖43 在還原和氧化過程的反復試驗中催化劑ZnO的晶胞參數(shù)a和c的變化Fig.43 Evolution of the cell parameters of a and c for catalyst ZnO during reduction and oxidation cycles

圖44 還原-氧化-還原過程中催化劑ZnO(110)晶面的結構變化示意圖Fig.44 Outline of the structure changes of catalyst ZnO (110)during the process of reduction-oxidation-reduction

圖45 高壓砧的構造示意圖Fig.45 Sketch of structure of the high pressure anvil

Elena V Boldyreva及其團隊曾系統(tǒng)地研究了高壓下分子有機化合物的各種變化，包括從液態(tài)或溶液的結晶過程、構型的變化或相變、應變的各向異性、分子的轉動、分子間鍵的扭曲等[3]。圖46為DL-絲氨酸在常壓和8.1 GPa下的結構示意圖，可看出兩者之間存在不同。其中1P和3P是兩個應變張量的基軸(2P垂直于1P和3P)。加壓后，晶體在1P方向上微微膨脹，而在3P方向上發(fā)生最大壓縮。

圖46 DL-絲氨酸的結構示意圖Fig.46 Sketch of structure of DL-serine:(a) atmospheric pressure; (b) 8.1 GPa

Oliveira J等曾研究過GdMnO3在高壓下的相變，試驗壓力高達53 GPa[4]。研究發(fā)現(xiàn)，GdMnO3在50 GPa左右存在一個可逆相變，伴隨有對稱性在Pnma和P213之間的可逆變化，相應的物理性能變化是在絕緣體和金屬之間的轉變。

物體的超導性能是由其晶體結構、電荷、軌道和自旋狀態(tài)及其相互作用決定的，而它們又被一些外部參數(shù)如壓力、磁場、化學組成的改變而調控，中科院物理所孫力玲等研究了多種超導體。他們在研究一類新型鐵基超導體時發(fā)現(xiàn)了一種特別的現(xiàn)象，即：在對超導體加壓時，隨著壓力的升高，超導性能變差，在壓力接近10 GPa 時，超導性能消失；但若繼續(xù)加壓，當壓力大于10 GPa時，超導性能又會重新出現(xiàn)，如圖47所示。為了弄清產(chǎn)生此種特殊現(xiàn)象的原因，在上海光源硬X射線微聚焦光束線站進行了原位高壓微束衍射試驗，束斑尺寸為2 μm×2 μm，壓力從常壓至17 GPa。圖48為部分K0.8Fe1.7Se2在不同壓力下的XRD譜，可以看出，在此壓力范圍內，超導體物相沒有發(fā)生變化，這說明其超導性能的變化原因并不是相變。孫力玲等人的這項研究成果發(fā)表在Nature雜志2012年第483期的67～69頁，同時Nature的News發(fā)表了哈佛大學Subir Sachdev的評論，他認為這可能與壓力搞亂了原晶體的排列有關。筆者認為，從圖48可以看出，壓力的升高雖不會引起相變，但衍射線位置向大的衍射角θ方向移動，同時衍射線強度降低，并有衍射線加寬現(xiàn)象出現(xiàn)。前者說明壓力使晶體壓縮，晶胞縮??；后者說明晶體內發(fā)生有序的破壞，缺陷增加，有應力應變產(chǎn)生。也許此種微結構的變化正與超導性能的變化有關聯(lián)。孫力玲在另一篇關于鐵基超導體的論文中指出，在壓力升高導致超導性能變化的同時，在高壓微束衍射譜上發(fā)現(xiàn)，鐵有序缺位特征峰逐漸消失，還伴隨由反鐵磁向順磁磁性的連續(xù)轉變[5-6]。

圖47 幾種超導體超導轉變溫度隨壓力的變化Fig.47 The superconductor transition temperature for a few superconductors changed with pressure

圖48 K0.8Fe1.7Se2在不同壓力下的衍射譜Fig.48 Diffraction patterns of K0.8Fe1.7Se2 under different pressure

高壓衍射還常被用來模仿地球深處的狀況，研究巖石在地下深處存在的相態(tài)和變化等各種地球物理問題。

4.1.3 火星上真正的原位分析

2011年11月26日，美國在卡納維拉角發(fā)射了一個火星科學實驗站(MSL)，該實驗站于2012年8月6日降落在火星的蓋爾隕石坑(Gale Crater)。從MSL上釋放了一輛火星車，即“好奇的漫游者”(Curiosity Rover，CR)，見圖49，前往夏普山(Mount Sharp)進行了長達8 km的野外考察。

CR攜帶了10種科學儀器，其中有一臺名為Che Min(CM) 的小型X射線衍射/X射線熒光光譜儀(XRD/XRF)，僅為鞋盒大小。該分析儀的構造示意于圖50，具有一個微焦點鈷靶X射線管，由CR上的同位素熱電發(fā)生器供電。光束直徑為70 μm，用透射幾何采集衍射譜。用于能量分辨的CCD探測器，有600像元×1 182像元，像元尺寸40 μm，可分辨CoKα和Kβ，因此無濾色片。為減少暗流，CCD探測器由致冷機冷卻至-48 ℃，可單光子計數(shù)。CM光譜儀在夜晚工作，每譜記錄時間為10 s。儀器采用振動試樣(2 150 Hz)和追跡法，以提高峰強度和優(yōu)化一維譜的衍射峰半高寬(FWHM)(達0.3°)。最后以綠柱石和石英的混合物為標樣，對衍射譜進行校正。

圖50 Che Min XRD/XRF光譜儀構造示意圖及得到的XRF和XRD譜Fig.50 Sketch of the Che Min XRD/XRF spectrometer and XRF spectrum and XRD spectrum obtained by it:(a) structure sketch; (b) XRF spectrum and XRD spectrum

數(shù)據(jù)處理的過程是先相加180張原始譜，產(chǎn)生一張“Minor”譜，再相加所有的“Minor”譜得到“Major”譜，備作后續(xù)分析。Bish D等的論文[7]報道了3個試樣的分析結果，一個是巖石Rocknest (RN)，另兩個是泥巖John Klein(JK)和Cumberland(CL)。泥巖試樣是鉆孔采到的，采樣地被認為是淺湖泊的沉積層。圖51為泥巖JK試樣的二維衍射譜，由于試樣振動而有相當完美的衍射環(huán)，泥巖CL的二維譜與此相似。通過在二維衍射譜上對強度作圓積分而將二維衍射譜轉變?yōu)橐痪S，圖52所示為泥巖CL的一維衍射譜，藍色線條為試驗譜，紅色線條為計算譜，泥巖JK的一維衍射譜與此相似。

圖51 泥巖JK試樣的著色二維X射線衍射譜Fig.51 A colorized two-dimensional XRD pattern for the mudstone JK sample

圖52 泥巖CL試樣的一維X射線衍射譜及全譜擬合結果Fig.52 A one-dimensional XRD pattern and the result of Rietveld refinement for the mudstone CL sample

對一維衍射譜進行Rietveld全譜擬合，作出物相定性和定量分析，3個試樣的分析結果列于表1～2。此外，還求得了一些主要物相的晶胞參數(shù)。分析比較表1和表2發(fā)現(xiàn)，巖石RN的主要組分為斜長石(Plagioclase)和無定形相(Amorphous)，還含有大量的鐵橄欖石(Fe-forsterite)、輝石(Augite)和易變輝石(Pigeonite)。兩個泥巖JK和CL的成分幾乎相同，但和巖石RN有較大差異，泥巖的主要組分除斜長石和無定形相外，還有層狀硅酸鹽(Phyllosilicate)，這可由圖52上2θ約為7.5°處的寬峰和10°處的肩峰得到證明。這兩個峰再加上2θ在 22.5°～23°附近的(02l)衍射帶的存在，可推斷存在有序度不良的蒙脫石，這表明了存在由液體水引起的蝕變現(xiàn)象。另外，在巖石RN中數(shù)量不多的磁鐵礦(Magnetite)在泥巖中卻成倍增加。已經(jīng)知道，鐵橄欖石在水的浸蝕下會轉變成磁鐵礦和層狀硅酸鹽。因此，這支持了泥巖是由火成巖因為水的浸蝕而逐漸演變來的觀點。大量無定形相的存在也是長期與液體水相互作用的證明。此外，在泥巖中還發(fā)現(xiàn)少量燒石膏(Basanite)，這是含水的石膏(CaSO4·0.5H2O)，也說明此泥巖含水。這一切發(fā)現(xiàn)都支持火星曾長期有水，現(xiàn)在也還有水的觀點。綜上可見，X射線衍射可以在推斷火星的歷史、過去和現(xiàn)在的環(huán)境上發(fā)揮作用。

表1 巖石RN試樣一維衍射譜的全譜擬合分析結果Tab.1 The analysis result of Rietveld refinement for the one-dimensional XRD pattern of the rock RN sample

圖53 時間分辨從秒到飛秒的進展[8]Fig.53 The progress of time resolution from second to femtosecond

表2 泥巖JK和CL試樣一維衍射譜的全譜擬合分析結果Tab.2 The analysis result of Rietveld refinement for the one-dimensional XRD pattern of the mudstone JK and CL samples

4.2 時間分辨衍射

物質結構的研究是從靜態(tài)物質結構開始的，從簡單到復雜。但人們并不滿足對物質靜態(tài)結構的了解，還要了解動態(tài)過程、各種化學過程、物理過程、生物過程、物質結構隨時間的變化等。不同過程的變化速率不同，有快有慢，因此時間分辨的要求不同，有的幾秒即可，而有的卻需要毫秒(ms)、微秒(μs)，甚至皮秒(ps)、飛秒(fs)的時間分辨，研究技術也會不同。圖53顯示的是不同過程大致的時間分辨要求，及因相關研究而獲諾貝爾獎者的名字與年份。

4.2.1 相變動力學研究裝置

Kimura M等曾使用影像板技術在位研究了鐵板高溫鍍鋅過程中的相變動力學[9]。鍍于表面的鋅(厚度只有幾微米)和鐵會發(fā)生反應，生成ζ，δ，Γ 3種相。這3種相的相對含量對產(chǎn)品的最終性能(如延展性、耐蝕性等)會有影響，因此了解其相變過程以控制反應是獲得所需性能產(chǎn)品的關鍵。由于整個反應過程僅若干秒，因此必須快速記錄。用于研究該相變動力學的X射線衍射幾何裝置示意于圖54，鐵板與鋅處于一個具有加熱系統(tǒng)的復雜的在位裝置中，可以160 K·s-1的速率將樣品加熱到1 100 K，另外還有測溫裝置及參比校正系統(tǒng)等。記錄器為影像板(IP)，緊貼于一圓筒狀的板托上，圓筒的軸與入射光束在試樣中心垂直相交。在IP之前置一狹縫，可讓各衍射圓維的一小段透過狹縫，在IP上記錄為一狹條衍射譜。載有IP的板托在狹縫后沿圓筒軸平移，則不同時間的狹條衍射譜連續(xù)落在IP的不同部位，因此可觀察到衍射譜隨時間的變化情況，來獲知相變過程。

圖54 一種時間分辨率在位裝置示意圖Fig.54 Sketch of an in-situ set-up for time resolution experiment

圖55是用IP記錄到的隨時間變化的X射線衍射譜，可清楚地看出相變過程。開始時衍射譜上出現(xiàn)的物相是鋅，隨著時間的延長、溫度的升高，衍射線往小角方向平移，是由于熱膨脹所致。然后，有幾秒的時間內沒有衍射線，是因為鋅熔化了。鋅熔化后約5 s開始反應，出現(xiàn)了ζ，δ，Γ相的衍射線。通過定量分析可看出3種相的生成量是隨時間變化的，圖56中列出了3種相的量隨時間的變化曲線(實線)。從圖56可以看出，開始時主要是ζ相，之后出現(xiàn)了δ相與Γ相，但Γ相很少。在60 s以前3種相的含量均隨時間的延長而增加，之后ζ相快速減少而δ相大量增加，Γ相雖有增加，但不多。在約100 s后δ相也開始減少，只有Γ相繼續(xù)增加，且增加速率變大，但3種相中Γ相的含量還是最少的。圖56中同時列出了摻了磷的樣品中3種相的變化情況(虛線)，可看出與無磷時的變化規(guī)律是不同的。

圖55 IP記錄的Zn-Fe反應的在位時間分辨XRD譜Fig.55 An in-situ time resolution XRD pattern recorded by IP for Zn-Fe reaction

圖56 3種相含量隨時間的變化Fig.56 Content of three phases changing with the time

圖57 泵-探針裝置的構造示意圖[10]Fig.57 Structure sketch of a pump-probe device

4.2.2 泵-探針技術

對于更快的過程，如某些電子轉移或生化反應等中間態(tài)的研究，時間分辨小于納秒，上述裝置的時間靈敏度是不夠的。對于某些光敏反應，則常使用泵-探針技術。即用一臺光泵來激發(fā)反應，緊接著用X射線脈沖來探測結構變化。圖57為一種泵-探針裝置的構造示意圖。

有一類有機化合物在光照后會引起分子內電荷轉移而被激發(fā)，如二異丙基胺苯肼(DIABN)。圖58為DIABN的分子結構圖，右圖為分子的平面結構式，左上圖為A方向視圖，左下圖為B方向視圖。此前，對光照引起的DIABN分子激發(fā)有兩種理論：TICT理論認為，在光照后，異丙基胺平面(分子平面結構式的上部)相對于苯環(huán)平面(分子平面結構式的下部)會出現(xiàn)90°的相對扭動，造成分子構型的變化；而PICT理論則認為，光照不會引起大的扭動，仍保持近平面的構型。這兩個理論均只有間接試驗依據(jù)，沒有直接試驗證明。因為此中間態(tài)壽命很短，此前尚無可直接測定的試驗方法。

Techert S等使用泵-探針裝置研究了此過程分子構型的變化[11]。他們使用的光泵是鈦-藍寶石激光器，波長λ=267 nm，脈沖寬度為100 fs(1 fs=10-15s)，尺寸為200～400 μm，功率為5～8 μJ·s-1。試驗使用的X射線脈沖取自歐洲同步輻射裝置(ESRF)的ID09B光束線，X射線的波長λ=0.075 3 nm (16.5 keV)，脈沖寬度為70 ps(1 ps=10-12s)，光通量為0.5×108～2×108光子，光束線尺寸為200 μm×200 μm，探測器為MAR133CCD(二維)。試樣壓片置于激光和X射線的交匯點，激光照射后X射線照射，使光激發(fā)引起的中間態(tài)在弛豫前受到X射線照射而產(chǎn)生衍射，帶來了中間態(tài)的結構信息。這樣得到的是二維衍射譜，將二維譜積分，即得到通常的一維衍射譜，見圖59。

圖58 DIABN分子結構圖Fig.58 DIABN molecular structure diagram: (a) structural formula; (b) view A; (c) view B

圖59 由二維X射線衍射譜積分得到的一維X射線衍射譜Fig.59 One-dimensional XRD pattern obtained by integrating a two-dimensional XRD pattern

圖60 光照前后衍射譜的差譜Fig.60 Difference pattern between X-ray diffraction patterns before and after photoexcitation

由于光照只能激發(fā)部分分子，因此衍射后的衍射譜是光照射前后的未激發(fā)與激發(fā)分子衍射譜的疊加。從光照后的衍射譜中減去光照射前的衍射譜，所得差譜(圖60)才是激發(fā)分子的衍射譜。用Rietveld全譜擬合法擬合光照不同時間后的衍射差譜，即可解出相應的激發(fā)分子的結構。擬合中，將激發(fā)前DIABN結構作為初結構，苯肼部分作剛體處理(數(shù)據(jù)不修正)，光照不同時間后的分子激發(fā)率Occ和異丙基胺平面與苯環(huán)平面間的扭角Φ(t)作為擬合參數(shù)。表3列出了光照前后不同時間的擬合結果，從結果可以看出，光照前的基態(tài)并非平面，存在著約14.3°的扭角，光照后不同時間激發(fā)態(tài)的扭角為10°～12°。這說明，光照未使扭角增加而是變小，分子更加趨于平面了。試驗證實PICT理論才是正確的。

表3 光照后不同時間差譜的Rietveld擬合結果Tab.3 Rietveld fitting results of the difference pattern at different time after photoexcitation

(未完待續(xù))

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Development and Application of X-ray Powder Diffraction—To Commemorate the Discovery of X-ray Powder Diffraction for One Hundred Years (Continued)

MA Li-dun
(Fudan University, Shanghai 200433, China)

2016-04-20

馬禮敦(1935-),男,教授,主要從事X射線晶體學方面的教學與研究工作,ldma@fudan.edu.cn。

10.11973/lhjy-wl201703010

TG115.22

A

1001-4012(2017)03-0188-09