劉天揚(yáng)+覃志東+肖芳雄

摘 要： 隨機(jī)產(chǎn)生失效核分布的方法不能反映眾核處理器物理拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的真實(shí)狀況，在評(píng)價(jià)相關(guān)拓?fù)渲貥?gòu)算法的效能時(shí)有失客觀性。本文針對(duì)這一現(xiàn)狀，提出了一種基于缺陷成團(tuán)效應(yīng)的眾核處理器失效核分布建模方法。實(shí)驗(yàn)表明，本方法得到的物理拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)缺陷分布呈現(xiàn)出不同程度的成團(tuán)特性，且成團(tuán)效應(yīng)會(huì)顯著影響核級(jí)冗余技術(shù)的拓?fù)渲貥?gòu)效果。

關(guān)鍵詞： 眾核處理器；缺陷分布；核級(jí)冗余；拓?fù)渲貥?gòu)

中圖分類(lèi)號(hào)：TP302.8

文獻(xiàn)標(biāo)志碼：A

文章編號(hào)：2095-2163（2017）02-0019-07