高 寧，桂江華，吳 江

（中國電子科技集團公司第五十八研究所，江蘇 無錫 214072）

一種改進型盲過采樣時鐘數(shù)據(jù)恢復電路

高 寧，桂江華，吳 江

（中國電子科技集團公司第五十八研究所，江蘇 無錫 214072）

設(shè)計一種改進型盲過采樣時鐘數(shù)據(jù)恢復電路。電路主要由并行過采樣、濾波整形、鑒相編碼和數(shù)據(jù)選擇等模塊組成。提出的濾波整形電路可以有效改善采樣數(shù)據(jù)流，讓電路擁有更高的抑制噪聲和干擾的能力。與鑒相編碼電路組合工作，可以使整個時鐘數(shù)據(jù)恢復電路的誤碼率更低，相位鎖定時間更短。

盲過采樣；時鐘數(shù)據(jù)恢復；鑒相編碼電路

1 引言

許多高速有線數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)中都會用到時鐘數(shù)據(jù)恢復電路，如光通信系統(tǒng)、背板數(shù)據(jù)鏈路和芯片到芯片互連。CDR的作用是從接收到的畸變信號中提取傳輸?shù)拇袛?shù)據(jù)，并恢復相關(guān)時鐘的定時信息[1]。接收端接收到的串行數(shù)據(jù)疊加了外界噪聲和干擾，接收端在恢復串行信號時，若要正確恢復出數(shù)據(jù)，必須選擇最佳的采樣和判決時刻，從而保證最小的誤碼率。針對這種情況，時鐘數(shù)據(jù)恢復電路必須具備抑制噪聲、干擾的能力。

盲過采樣時鐘數(shù)據(jù)恢復的技術(shù)差別主要體現(xiàn)在數(shù)據(jù)恢復邏輯的實現(xiàn)方式上。而數(shù)據(jù)恢復邏輯主要有兩種技術(shù)：多數(shù)判決(Majority Decision Rule)[2～6]和鑒相編碼[7～9]。多數(shù)判決方式需要消耗一定的數(shù)據(jù)位用于相位統(tǒng)計，以便選擇正確的采樣數(shù)據(jù)作為恢復數(shù)據(jù)，需要消耗一定的時間用于鎖定；鑒相編碼方式不同于多數(shù)判決，有更大的計算量，數(shù)字實現(xiàn)也更加復雜，但是鎖定迅速。多數(shù)判決方式要求輸入數(shù)據(jù)率與本地采樣頻率一致才可以保證正確地恢復數(shù)據(jù)；而鑒相編碼方式則允許兩者之間存在一定的頻率偏差，所以適用范圍更廣。鑒相編碼電路也存在著一些重要問題，如采樣數(shù)據(jù)流里面的不平滑會嚴重影響數(shù)據(jù)恢復。

本文對鑒相編碼電路進行改進，配合濾波整形電路，讓時鐘數(shù)據(jù)電路擁有更好的抑制噪聲和干擾的能力。

2 電路設(shè)計

如圖1所示，盲過采樣數(shù)據(jù)恢復電路主要分為接收器電路和數(shù)據(jù)恢復電路兩個部分。接收器電路采用空間過采樣[4]可以減少對本地時鐘頻率的要求，實現(xiàn)方法基于鎖相環(huán)（PLL）[1]，這里的過采樣倍數(shù)N選擇為5。

圖1 盲過采樣數(shù)據(jù)恢復電路結(jié)構(gòu)

時鐘數(shù)據(jù)恢復電路采用改進型的鑒相編碼方式實現(xiàn)數(shù)據(jù)的恢復，同時加入濾波整形電路。

3 主要電路模塊

3.1 濾波整形電路

多路平行過采樣模塊對輸入信號Din進行5倍過采樣，PLL提供等相差的5個采樣時鐘采樣，產(chǎn)生5位的采樣數(shù)據(jù)流 Bit1、Bit2……Bit5，PBit1、PBit2、……PBit5表示前一采樣數(shù)據(jù)流，LBit1、LBit2、……LBit5表示下一采樣數(shù)據(jù)流。

采樣數(shù)據(jù)流不經(jīng)過整形直接傳入后級進行邊沿檢測會有很大的問題，一些信號因為噪聲和干擾的影響，使得原本的低電平疊加噪聲和干擾變成了高電平，有些高電平因為傳輸?shù)乃p被判決為低電平，所以采樣數(shù)據(jù)流必須經(jīng)過濾波整形之后再送到后級，才能較好地實現(xiàn)時鐘數(shù)據(jù)恢復。

通過上面的表述也可以看到，采樣數(shù)據(jù)由高電平判決為低電平，低電平誤判為高電平之后，往往都與周圍至少1個采樣數(shù)據(jù)是相異的，將判決錯誤的情況做一個統(tǒng)計，這里只考慮5倍過采樣的采樣數(shù)據(jù)中有1個數(shù)據(jù)出現(xiàn)錯誤的可能性，出現(xiàn)2個誤碼的可能性極低，這里不作考慮。

按圖2所示，將3組采樣數(shù)據(jù)相加，得到HxLx（x為1、2……5），如果當前整形的數(shù)據(jù)為突變數(shù)據(jù)，假設(shè)為1，那么左右數(shù)據(jù)都為0，此時HxLx為01，那么Hx即為整形數(shù)據(jù)應(yīng)該輸出的數(shù)據(jù)0；如果當前整形數(shù)據(jù)為突變數(shù)據(jù)0，那么左右數(shù)據(jù)都為1，此時HxLx為10，那么Hx仍為整形數(shù)據(jù)應(yīng)該輸出的數(shù)據(jù)1。下面的加權(quán)判決電路即為一個數(shù)據(jù)選擇模塊，將整形后的5 bit采樣數(shù)據(jù)輸出到寄存器中。

圖2 濾波整形電路實現(xiàn)原理圖

通過這個電路對采樣數(shù)據(jù)流的濾波整形，消除了其中的畸變采樣數(shù)據(jù)，使得整個采樣數(shù)據(jù)流變得更加平滑，之后再加上邊沿檢測電路對整形之后的采樣數(shù)據(jù)流進行跳變沿的檢測，并將每位采樣數(shù)據(jù)進行編碼，完成對采樣數(shù)據(jù)流的重定時，最終加上數(shù)據(jù)恢復電路，根據(jù)所得編碼選擇合適的采樣時鐘作為最佳采樣恢復點，進而恢復出有效數(shù)據(jù)。

3.2 改進型鑒相編碼電路

該電路采用鑒相編碼的方式來實現(xiàn)時鐘數(shù)據(jù)恢復。

經(jīng)過濾波整形之后的采樣數(shù)據(jù)流送至鑒相編碼電路，如圖3所示，采樣數(shù)據(jù)流先進行邊沿檢測（鑒相），如果采樣數(shù)據(jù)A與采樣數(shù)據(jù)B不同，則將采樣數(shù)據(jù)B標記為1，否則標記為0，這樣就完成了邊沿檢測（鑒相），對每個采樣數(shù)據(jù)進行標記。之后根據(jù)對采樣數(shù)據(jù)的標記進行編碼，當標記為1時，編碼為10000，當標記為0，依次移位，當移位到00001時，如果下一個采樣數(shù)據(jù)標記為1時，編碼為10000，如果下一個采樣數(shù)據(jù)依舊標記為0時，則繼續(xù)移位為10000。在數(shù)據(jù)選擇階段，選擇兩個10000編碼之間的位置作為最佳采樣點，減少錯誤發(fā)生的可能。

最佳采樣點都會有一個編號，在理想情況下，應(yīng)該一直為固定的00100，因為噪聲的干擾，在去除噪聲的過程中，采樣數(shù)據(jù)流會進行相應(yīng)的調(diào)整，最佳采樣點會發(fā)生變化；如果輸入數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)率與CDR采樣時鐘的頻率不一致時，也會導致最佳采樣點的變化。這個時候可以對采樣點進行統(tǒng)計，記錄實際采樣點與理想采樣點的偏離程度與趨勢，對于噪聲引起的采樣點變化，在整形過程中將去除噪聲的位置做標記，在采樣點統(tǒng)計時不做統(tǒng)計。

如果采樣點規(guī)律性偏向01000，則說明輸入數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)率高于CDR采樣時鐘的頻率，反之，則說明輸入數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)率不高于CDR采樣時鐘的頻率。

在對采樣點做監(jiān)測時，只有采樣位置為00100、01000時，電路才做采樣，而采樣位置為10000則為異常，不做采樣操作。

當輸入數(shù)據(jù)由于頻率抖動或者噪聲疊加時，從圖3中可以看出，在不理想的情況下依舊可以正確地恢復出數(shù)據(jù)。

圖3 鑒相編碼

4 仿真結(jié)果

本文將采用偽隨機序列對盲過采樣時鐘數(shù)據(jù)恢復電路進行測試，這里的偽隨機序列由線性反饋移位寄存器(LinearFeedbackShiftRegisters,LFSR)結(jié)構(gòu)實現(xiàn)。

從圖4可以看到，在串行輸入的數(shù)據(jù)DIN中存在著一些畸變，這些畸變信號在過采樣之后如果不經(jīng)過處理會嚴重影響后級的邊沿檢測（鑒相）。經(jīng)過設(shè)計的電路處理之后可以看到，輸出的波形平滑，恢復的數(shù)據(jù)也完全正確。

經(jīng)過上述仿真，盲過采樣時鐘數(shù)據(jù)恢復電路功能完備，性能可靠，將電路在Altera公司的FPGA內(nèi)用邏輯分析儀進行驗證。經(jīng)過FPGA驗證（見圖6），當輸入信號的數(shù)據(jù)率達到100 Mbps時，數(shù)據(jù)恢復完全正確。

圖4 偽隨機序列仿真結(jié)果

圖5 時鐘數(shù)據(jù)恢復仿真

圖6 FPGA原型驗證結(jié)果

5 總結(jié)

本文設(shè)計的改進型盲過采樣時鐘數(shù)據(jù)恢復電路，其鑒相編碼電路具備相位偏移監(jiān)測功能，配合濾波整形電路，使得這樣的時鐘數(shù)據(jù)恢復具有更廣的適用范圍，對于連續(xù)字有很高的容忍度，能夠很快地鎖定并恢復出數(shù)據(jù)，同時還具有很高的抗噪性能，大大降低數(shù)據(jù)恢復的誤碼率（BER），完成突發(fā)模式下的數(shù)據(jù)恢復。

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A Improved Blind Oversampling Clock and Data Recovery Circuit

GAO Ning,GUI Jianghua,WU Jiang
（China Electronics Technology Group Corporation No.58 Research Institute,Wuxi 214072,China）

This is a improved blind oversampling clock and data recovery circuit.The circuit mainly contains parallel oversampling module,filtering and shaping circuit,phase detector and encoding circuit,data selection module.The filtering and shaping circuit can effectively improve the mutations in the sampling data stream,so that the circuit has a higher abilityto suppress noise and disturbing,combined with phase detector and encoding circuit,the clockanddata recoverycircuitcangeta lower BERandshorter phase-lockingtime.

blindoversampling;clockanddata recovery(CDR);phase detector andencodingcircuit

TN402

A

1681-1070（2017）12-0023-03

2017-08-30

高 寧（1989—），男，江蘇無錫人，碩士學歷，現(xiàn)在中國電子科技集團公司第五十八研究所從事集成電路開發(fā)工作。