薛彥

摘要：制造業(yè)生產(chǎn)過程的信息統(tǒng)計過程是工序質(zhì)量分析與控制的重要手段，通過控制圖的方法，運用了均值控制圖、均值-標準差控制圖、均值-極差控制圖、殘差控制圖、累積和控制圖以及自相關(guān)分析，設(shè)計并搭建了工序質(zhì)量異常預(yù)測系統(tǒng)，實現(xiàn)了制造過程中工序質(zhì)量的分析與控制。

關(guān)鍵詞：控制圖；工序質(zhì)量；異常預(yù)測；系統(tǒng)

中圖分類號：U466 文獻標識碼：A 文章編號：1007-9416（2018）09-0115-03

1 引言

目前的實際制造業(yè)生產(chǎn)過程中，很多質(zhì)量特性數(shù)據(jù)只是用報表記錄下來，沒有挖掘這些數(shù)據(jù)的有效信息，特別是運用到工序質(zhì)量異常預(yù)測領(lǐng)域。因此，設(shè)計和開發(fā)了工序質(zhì)量異常預(yù)測系統(tǒng)，可以盡早的發(fā)現(xiàn)制造過程中的異常，及時檢查和發(fā)現(xiàn)問題，從而來提高產(chǎn)品質(zhì)量。

2 工序質(zhì)量異常預(yù)測的方法

SPC（統(tǒng)計過程控制）在產(chǎn)品加工制造領(lǐng)域中特別是某些質(zhì)量特性可以維持在穩(wěn)定的情況非常的適用。一個產(chǎn)品在經(jīng)過設(shè)計、制造檢驗后，才可以將合格的產(chǎn)品銷售給顧客，而傳統(tǒng)的抽樣檢查的方法來判斷一批產(chǎn)品是否合格的方法，通過對不合格品的分析，得以發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在設(shè)計及制造中的問題，從而進行相對應(yīng)的反饋或者改進。但是這個時候不合格品已經(jīng)產(chǎn)生即已經(jīng)造成了既定的損失。如果要降低或者避免這種損失，就必須在產(chǎn)品加工過程中對每個工序或者關(guān)鍵工序進行監(jiān)測，對產(chǎn)品后續(xù)的質(zhì)量特性的是否異常進行預(yù)測，在不合格品加工出之前發(fā)現(xiàn)問題從而達到盡早糾正并且不讓不合格品流向下一個工序，可以很大程度上避免出現(xiàn)大量的不合格品。SPC控制圖就是比較簡單易行的控制系統(tǒng)，來監(jiān)測每個工序的加工過程。

產(chǎn)品在加工的過程中，沒有兩個完全相同的產(chǎn)品或者零件即存在著差異，這種差異往往是通過某些或者某個質(zhì)量特性的波動體現(xiàn)出來的，而這些質(zhì)量特性的波動是存在波動源的，波動源有很多同時在多數(shù)情況下是隨機的，以無法預(yù)測的方式來影響著質(zhì)量特性。正常波動就是這些波動源是微小的且服從正態(tài)分布的也就是說在統(tǒng)計學(xué)上是可以預(yù)測的，這樣的過程也就是受控狀態(tài)。反之，存在強的波動源，使分布改變了，不符合原來的正態(tài)分布就屬于異常波動，即不處于統(tǒng)計控制狀態(tài)（失控狀態(tài)）。本文中的質(zhì)量異常預(yù)測即期望預(yù)測出這樣的異常波動。

2.1 基于常規(guī)控制圖的工序質(zhì)量異常預(yù)測

常規(guī)控制圖應(yīng)用的基本前提是當工序生產(chǎn)過程處于受控狀態(tài)時，那么采集到的質(zhì)量特性的數(shù)據(jù)應(yīng)該是相互獨立的，并且屬于均值為μT，方差為σT2的正態(tài)分布或者近似正態(tài)分布，通過3σ原理，繪制預(yù)測用控制圖。在實際預(yù)測中，當圖中的點超過了上控限或下控限時，或者落在上控限或下控限之間的排列不隨機，就認為生產(chǎn)過程出現(xiàn)異常。

常規(guī)控制圖對工序質(zhì)量異常的預(yù)測是應(yīng)用范圍較廣的，尤其是在大批量生產(chǎn)中。大多數(shù)的質(zhì)量過程的輸出的質(zhì)量特性是具有可計量性的，所以在工序質(zhì)量異常預(yù)測中可以較準確地判斷質(zhì)量異常情況，也更易于調(diào)查異常波動。在實際生產(chǎn)活動中，常規(guī)控制圖進行工序質(zhì)量預(yù)測可以滿足顧客需求對虛發(fā)錯誤和漏報錯誤的概率進行定制，從而更好地運用到生產(chǎn)實踐中。

2.2 基于累積和控制圖的工序質(zhì)量異常預(yù)測

常規(guī)的控制圖在針對一些系統(tǒng)因素較小的波動，發(fā)現(xiàn)它的靈敏程度是較差的，即發(fā)現(xiàn)整個工序質(zhì)量異常預(yù)測是遲鈍和延遲的，并且這樣的延遲可能會錯失發(fā)現(xiàn)問題最好的時機。在整個預(yù)測模型建立初期，通過加大模擬的樣本和縮小控制限的范圍來降低漏報率，但是實踐發(fā)現(xiàn)這樣會使錯報率急劇上升，導(dǎo)致整個預(yù)測效果的下降。

累積和控制圖主要是針對產(chǎn)品的微小變量，很多時候當產(chǎn)品向同一個方向持續(xù)變化，產(chǎn)品的整個生產(chǎn)過程就出現(xiàn)了異常，即累積和到達一定的程度，就可以發(fā)出工序質(zhì)量異常警報。通過設(shè)定參考值、目標值、偏離值來給出決策空間，從而繪制預(yù)測工序質(zhì)量異常的累積和控制圖。

2.3 基于時間序列分析改進控制圖

在連續(xù)的生產(chǎn)過程中，采集到的質(zhì)量特性的數(shù)據(jù)往往具有一定的自相關(guān)過程。抽樣原因是自相關(guān)過程產(chǎn)生的主要原因。為解決由于自相關(guān)性導(dǎo)致的提早報警或者沒有發(fā)出報警，通過分析其過程采集到的觀測值數(shù)據(jù)，可以得到一個按時間次序排列的一系列觀測值，在實際問題中所得到的數(shù)據(jù)一般是指時間序列的有限個觀測樣本。

通過時間序列模型進行擬合，擬合出的殘差序列模型被認為是相互獨立且服從同分布的，可以結(jié)合常規(guī)控制圖和累積和控制圖，建立新的工序質(zhì)量異常預(yù)測控制圖。用簡單的一階自回歸模型AR（1）：

Xn=φ0+φ1 Xn-1+εn

式中： εn～N（0，σε2）。建立過程殘差en=Xn-=εn，累積和殘差Sn=（en-μe），可以繪制殘差控制圖與殘差累積和控制圖。

3 工序質(zhì)量異常預(yù)測系統(tǒng)

3.1 系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)

系統(tǒng)設(shè)計的總結(jié)結(jié)構(gòu)圖如圖1所示。

圖1中，“分析數(shù)據(jù)”是在系統(tǒng)正式開始工序的統(tǒng)計過程控制之前的實時測量值（即該工序處于受控狀態(tài)時的一系列測量值，為之后的統(tǒng)計過程設(shè)定參考）， “數(shù)據(jù)分析”過程用于獲取該工序受控的特征值（如均值、極差、標準差上下控線等），可以用函數(shù)表達式“NORMINV（RAND（），10，0.06）”生成均值為10，標準差為0.06的24組數(shù)據(jù)，每組5個，用于模擬受控的加工工序測量值。

“統(tǒng)計數(shù)據(jù)”是在系統(tǒng)正式開始工序的統(tǒng)計過程控制之后的實時測量值。用函數(shù)表達式“NORMINV（RAND（），10，0.06）”生成30組數(shù)據(jù)，每組5個。其中前20組數(shù)據(jù)均值為10，標準差為0.06，用于模擬受控的加工工序測量值。后20組采用AR（1）模型 Xn=0.6Xn-1+εn，模擬生成加工工序不受控的測量值。

3.2 分析與提取特征值

在正式進入工序質(zhì)量的“統(tǒng)計過程控制”之前，必須獲取該工序在受控狀態(tài)下的特征值，才能進行工序工作過程的統(tǒng)計控制。產(chǎn)生的一組正態(tài)分布的數(shù)據(jù)，用來模擬實際加工過程的受控狀態(tài)，然后提取該狀態(tài)的特征值，包括過程均值、標準差、標準差均值、極差、極差均值等，通過圖形化展示出來，并通過參數(shù)形式傳遞給下一步的統(tǒng)計控制過程，特征參數(shù)提取流程圖如圖2所示。

3.3 工序質(zhì)量異常預(yù)測

在接收上一步的工序測量特征值后，開始正式進入工序統(tǒng)計過程控制階段。在前文生產(chǎn)一組正態(tài)分布的數(shù)據(jù)，用來模擬實際加工過程的受控狀態(tài)，以及在后一部分添加一些擾動的數(shù)據(jù)，可以測試系統(tǒng)能否檢測出工序的非受控狀態(tài)。

“常規(guī)控制圖”是基于常規(guī)控制圖的工序質(zhì)量異常預(yù)測界面，適合運用在大批量的生產(chǎn)過程的質(zhì)量異常預(yù)測中，該方法的工序質(zhì)量異常預(yù)測主要針對生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的較大的異常波動，如圖3所示。

“累積和控制圖”是基于累積和控制圖的工序質(zhì)量預(yù)測界面，適合運用在小批量的生產(chǎn)過程的質(zhì)量異常預(yù)測中，該方法的工序質(zhì)量異常預(yù)測主要針對生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的較小的異常波動，如圖4所示。

“殘差控制圖”是基于殘差的控制圖的工序質(zhì)量異常預(yù)測界面，適合用在大批量、按時間監(jiān)測生產(chǎn)過程中的質(zhì)量特性數(shù)據(jù)的工序質(zhì)量異常預(yù)測中，該方法能消除時間序列的自相關(guān)性，針對較大的異常波動進行預(yù)測，如圖5所示。

“殘差累積和控制圖”是基于殘差的累積和控制圖的工序質(zhì)量異常預(yù)測界面，適合用在小批量、按時間監(jiān)測生產(chǎn)過程中的質(zhì)量特性數(shù)據(jù)的工序質(zhì)量異常預(yù)測中，該方法能消除時間序列的自相關(guān)性，針對較小的異常波動進行預(yù)測，如圖6所示。

4 結(jié)語

本文運用常規(guī)控制圖、均值累積和控制圖和基于時間序列分析改進控制圖，基于獨立正態(tài)分布和自相關(guān)平穩(wěn)兩種過程模擬數(shù)據(jù)，進行的工序質(zhì)量異常預(yù)測，并分析不同的預(yù)測方法的適用情況及評價。同時設(shè)計和開發(fā)了工序質(zhì)量預(yù)測系統(tǒng)，并且用數(shù)據(jù)進行了系統(tǒng)的功能驗證。

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