田文新,毋學(xué)平,鄭 波,陳 梅,王鳳軍
(中國(guó)石油測(cè)井有限公司華北事業(yè)部 河北 廊坊 065007)
補(bǔ)償中子儀器二級(jí)刻度是在標(biāo)準(zhǔn)的二級(jí)刻度筒中進(jìn)行的,在刻度點(diǎn)上采集長(zhǎng)短源距的計(jì)數(shù)率計(jì)算比值,然后與刻度點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)比值進(jìn)行比較[1,2]。在補(bǔ)償中子儀器進(jìn)行二級(jí)刻度過(guò)程中,經(jīng)常出現(xiàn)長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率比值超差的問(wèn)題,也就是儀器刻度的實(shí)際比值超出標(biāo)準(zhǔn)比值的誤差范圍。其結(jié)果造成刻度返工,重復(fù)裝源。即加大了裝源人員放射性照射劑量,又增加了刻度成本。為了進(jìn)一步減少刻度返工的次數(shù),提高補(bǔ)償中子儀器二級(jí)刻度一次成功率,我們開(kāi)展補(bǔ)償中子儀器長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率比值的相關(guān)性分析。也就是找出補(bǔ)償中子儀器使用校驗(yàn)源的長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率的響應(yīng)數(shù)據(jù),與二級(jí)刻度長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率的響應(yīng)數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,分析校驗(yàn)源得到的長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率比值與二級(jí)刻度得到的長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率的比值的相關(guān)性。通過(guò)調(diào)整校驗(yàn)源的長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率滿(mǎn)足補(bǔ)償中子儀器二級(jí)刻度比值在誤差范圍之內(nèi)。
補(bǔ)償中子二級(jí)刻度使用標(biāo)準(zhǔn)的刻度裝置,該裝置的刻度點(diǎn)孔隙度已知,長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率的比值已知。例如,某測(cè)井基地Eilog-05補(bǔ)償中子刻度裝置標(biāo)準(zhǔn)比值為6.149。儀器在刻度點(diǎn)響應(yīng)的比值與標(biāo)準(zhǔn)比值進(jìn)行比較,在誤差范圍內(nèi),刻度合格;超出誤差范圍,刻度結(jié)果就不符合要求,需要對(duì)補(bǔ)償中子儀器進(jìn)行調(diào)校,重新刻度。儀器的二級(jí)刻度過(guò)程如下:將儀器插入刻度筒內(nèi),將源倉(cāng)露出刻度筒的端面,安裝中子源。20Ci的Am-Be中子源安裝好以后,將儀器推入刻度筒內(nèi),儀器供電預(yù)熱30 min后,地面系統(tǒng)開(kāi)始采樣。讀取長(zhǎng)短源距180 s的平均計(jì)數(shù)率,計(jì)算出長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率的比值R。儀器進(jìn)行校正,與刻度裝置的標(biāo)準(zhǔn)比值進(jìn)行比較[3,4]。該刻度裝置補(bǔ)償中子儀器長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率比值R的范圍要求在5.867~6.459之間。比值R的計(jì)算公式:
式中,Nl為刻度點(diǎn)長(zhǎng)源距計(jì)數(shù)率;Ns為刻度點(diǎn)短源距計(jì)數(shù)率。
對(duì)于CNLT5420補(bǔ)償中子儀器:短源距探測(cè)器位置是中間銅環(huán)靠上130 mm,長(zhǎng)源距探測(cè)器位置是中間銅環(huán)靠上420 mm,如圖1所示。在儀器的外殼上做好標(biāo)記。校驗(yàn)源放置在長(zhǎng)短源距探測(cè)器的中心位置,得到的長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率才具有一致性和可比性。
圖1 校驗(yàn)源放置位置圖
儀器供電預(yù)熱30 min,滿(mǎn)足探測(cè)器、電子線路器件、高壓供電的工作穩(wěn)定性的要求。使用刻度程序采集長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率。采樣時(shí)間180 s,記錄3組采集的長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率,求取平均值。計(jì)算校驗(yàn)源長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率的比值R1,做好記錄[5]。
二級(jí)刻度之前用校驗(yàn)源對(duì)儀器進(jìn)行檢查,記錄長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率,計(jì)算比值R1。二級(jí)刻度過(guò)程中記錄儀器得出的長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率,計(jì)算比值R2。查找規(guī)律,從而找出每支儀器校驗(yàn)源對(duì)于長(zhǎng)短源距探測(cè)器計(jì)數(shù)率響應(yīng)數(shù)據(jù)和二級(jí)刻度長(zhǎng)、短源距探測(cè)器計(jì)數(shù)率響應(yīng)數(shù)據(jù)。建立儀器校驗(yàn)源檢查數(shù)據(jù)和二級(jí)刻度數(shù)據(jù)列表。表1為某支補(bǔ)償中子儀器用校驗(yàn)源檢查的數(shù)據(jù),校驗(yàn)源檢查完成以后,立即對(duì)儀器進(jìn)行二級(jí)刻度,表2是該儀器對(duì)應(yīng)的二級(jí)刻度數(shù)據(jù)。
表1 校驗(yàn)源的檢查數(shù)據(jù)
表2 對(duì)應(yīng)的二級(jí)刻度數(shù)據(jù)
分析表1和表2的數(shù)據(jù)可以看出,校驗(yàn)源得出的長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率比值越大,相應(yīng)的二級(jí)刻度比值越大。根據(jù)這一規(guī)律,可以得出結(jié)論,校驗(yàn)源得出的長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率比值與二級(jí)刻度比值有一定的對(duì)應(yīng)關(guān)系。利用這種對(duì)應(yīng)關(guān)系,用校驗(yàn)源檢查儀器得出的長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率比值來(lái)推算二級(jí)刻度的比值。
從表1和表2中可以看出,校驗(yàn)源檢查的比值為0.228 2和0.225 8時(shí),二級(jí)刻度時(shí)的比值分別為5.731 1和5.807 9,超過(guò)了二級(jí)刻度標(biāo)準(zhǔn)比值的誤差范圍。校驗(yàn)源檢查的比值為0.233 7和0.242 6時(shí),二級(jí)刻度時(shí)的比值分別為5.982 5和6.039 2,在誤差范圍內(nèi)。
根據(jù)表1和表2可以建立校驗(yàn)源長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率比值與二級(jí)刻度長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率比值數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)關(guān)系圖,如圖2所示。
圖2 校驗(yàn)源比值與二級(jí)刻度比值對(duì)應(yīng)關(guān)系圖
該圖以二級(jí)刻度長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率比值為X軸,以校驗(yàn)源長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率的比值為Y軸。兩者的關(guān)系近似于直線,二級(jí)刻度比值增大時(shí),校驗(yàn)源比值增大。從圖中可以看出:該儀器校驗(yàn)源比值在0.232~0.248之間時(shí),二級(jí)刻度的K值在5.912 5~6.405 2范圍內(nèi),滿(mǎn)足刻度要求。對(duì)補(bǔ)償中子儀器檢查時(shí),校驗(yàn)源計(jì)數(shù)率的比值要在0.232~0.248之間,這樣二級(jí)刻度比值就不會(huì)超差。按照這一規(guī)律用校驗(yàn)源檢查其它補(bǔ)償中子儀器,分別建立校驗(yàn)源檢查的長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率比值數(shù)據(jù),保證二級(jí)刻度比值滿(mǎn)足誤差要求。
通過(guò)開(kāi)展用校驗(yàn)源檢查的長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率比值與二級(jí)刻度長(zhǎng)短源距計(jì)數(shù)率比值相關(guān)性分析,找到了一種控制補(bǔ)償中子儀器刻度超差的方法,可以較好地指導(dǎo)補(bǔ)償中子儀器二級(jí)刻度,有效地解決補(bǔ)償中子儀器刻度返工的問(wèn)題,提高了補(bǔ)償中子二級(jí)刻度的成功率。
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