竇丙飛 嚴繼進 吳貽偉 呂春明
【關(guān)鍵詞】微波技術(shù) GaN 器件 T/R組件
摘要
T/R組件是雷達系統(tǒng)的核心部件,其性能決定了雷達的性能。本文介紹了雷達T/R組件的技術(shù)發(fā)展,重點介紹了一種基于GaN功率器件的雷達T/R組件設(shè)計,組件具有高的輸出功率和效率。同時,經(jīng)過試驗驗證,組件的溫度穩(wěn)定性也很好。
1 引言
雷達首次應(yīng)用可以追溯到二戰(zhàn)時期,第一部雷達是裝備了真空電子管收發(fā)器的機械掃描反射陣面。隨后雷達發(fā)展出電子掃描技術(shù),同時雷達中的收發(fā)器也逐步地發(fā)展成為多個收發(fā)組件合成的形式,隨后收發(fā)(T/R)組件開始成為雷達技術(shù)發(fā)展的重要環(huán)節(jié)。隨著雷達性能要求的不斷提高,T/R組件也經(jīng)歷了多次技術(shù)變革,向著小型化輕量化高性能的方向前進。
本文介紹了雷達T/R組件的技術(shù)發(fā)展和類型,同時介紹了一款基于GaN器件的T/R組件設(shè)計。
2 T/R組件的技術(shù)發(fā)展
T/R組件的發(fā)展趨勢是小型化,輕量化,性能不斷提高,T/R組件的技術(shù)發(fā)展大致可以分為以下幾個方面。
2.1 基板材料技術(shù)
影響組件電路的微波性能以及組件的散熱性能。基板材料常見的主要是陶瓷材料包括有厚膜陶瓷,低溫共燒陶瓷(LTCC),高溫共燒陶瓷(HTCC)等。以及有機印制板材料包括了玻璃纖維增強樹脂系列,陶瓷粉填充樹脂系列,陶瓷粉填充熱周性樹脂系列。
2.2 封裝技術(shù)
T/R組件從一開始的單層厚膜電路封裝結(jié)構(gòu),發(fā)展到多層電路結(jié)構(gòu)。隨著薄膜技術(shù)的發(fā)展,薄膜電路技術(shù)讓組件的布線精度和密度大大提升。而21世紀以來,微電子,半導(dǎo)體技術(shù)的快速進步,開始研究晶圓級組件技術(shù),而在二維層面上發(fā)展到一定程度的封裝技術(shù),開始走向三維立體封裝,進一步提高了組件的集成度。
2.3 元器件技術(shù)
早期的T/R組件采用的是硅基功率器件。而GaAs微波單片集成電路(MMIC)的發(fā)展,明顯提高了組件的集成度和可靠性。近年來,GaN功率器件的發(fā)展應(yīng)用,讓組件的功率密度,效率以及工作溫度又上了一個新的臺階。其優(yōu)異的性能讓人們相信GaN器件能夠成為下一代微波功率器件的重要角色。
3 基于GaN功率器件的T/R組件
圖1是采用了GaN功率管作為功率放大器的T/R組件的設(shè)計原理框圖,組件包括了數(shù)字移相器,收發(fā)開關(guān),驅(qū)動放大器,功率放大器,環(huán)行器,低噪聲放大器,衰減器,電源控制等功能組成。圖2是設(shè)計制造出的T/R組件產(chǎn)品功率和效率測試結(jié)果。可以看到,組件具有很高的輸出功率(≥50dBm)以及功率附加效率(≥42%),性能優(yōu)異。
4 T/R組件的溫度穩(wěn)定性試驗
我們對上述的10只T/R組件進行了溫度試驗,在不同的環(huán)境溫度下,測試其輸出功率和效率。結(jié)果如圖3所示,組件分別在低溫,室溫,高溫下進行了測試,可以看到工作溫度相差很大的情況下,組件的輸出功率和效率保持了相對穩(wěn)定。試驗表明,該設(shè)計的T/R組件具備良好的溫度穩(wěn)定性。
5 小結(jié)
T/R組件是相控陣雷達的核心部件,T/R組件的技術(shù)發(fā)展包括了基板材料,封裝技術(shù)以及器件技術(shù)。應(yīng)用GaN功率器件的T/R組件具有很高的輸出功率和效率,同時溫度穩(wěn)定性也很好。GaN功率器件將成為下一代T/R組件的重要組成。
參考文獻
[1] B. A. Kopp? M. Borkowski, and G. Jerinic, IEEE Trans. Microwave Theory Tech.,vo 1.50, No. 3, pp. 827-834, 2002
[2] N.Kolias, IEEE MTT-S Int.Microwave Symp. Dig., pp. 1405-1408, 2009.
[3] 楊維生,彭延輝.覆銅板資訊,2015, 5:13-18.
[4] PETER RAMM,ARMIN KIUMPP,JOSEF WEBER,ET A12009 SYMPOSIUM ON DESIGN,TEST, INTERGRATION & PACKAGING OF MEMS/MOEMS, 2009: 71-73.
[5] WANG M,CHEN K J.Electron Devices, IEEE Transactions on,2011,58 (02): 460-465.