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基于MCU船用多芯儀表電纜測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

2019-02-07 05:37胡彩霞張廣來(lái)
無(wú)線互聯(lián)科技 2019年22期

胡彩霞 張廣來(lái)

摘? ?要:船用儀表電纜具有芯線量大、敷設(shè)與端接前后測(cè)試頻繁等特點(diǎn),常規(guī)儀表無(wú)法快速、準(zhǔn)確完成導(dǎo)通測(cè)試與絕緣測(cè)試。文章提出了一套基于主控MCU與從控MCU架構(gòu)的船用多芯儀表電纜測(cè)試系統(tǒng),能準(zhǔn)確、快速地完成儀表電纜功能性測(cè)試,系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單、運(yùn)行穩(wěn)定,具有較高的應(yīng)用前景。

關(guān)鍵詞:儀表電纜;導(dǎo)通測(cè)試;絕緣測(cè)試;微控制單元

在船只制造過(guò)程中,多芯儀表電纜已大規(guī)模使用,電纜敷設(shè)前、敷設(shè)后、與儀表端接后均需進(jìn)行絕緣測(cè)試與導(dǎo)通測(cè)試,以確保電纜啟用前無(wú)故障[1]。常規(guī)方法為使用絕緣測(cè)試儀完成絕緣測(cè)試,使用萬(wàn)用表完成導(dǎo)通測(cè)試,主要缺點(diǎn)為測(cè)試誤差大、測(cè)試結(jié)果無(wú)法自動(dòng)保存和打印輸出且人工消耗量大,再加之船用儀表電纜具有芯線數(shù)多、測(cè)試頻率高等特點(diǎn),嚴(yán)重制約了施工現(xiàn)場(chǎng)電纜測(cè)試進(jìn)度[2]。通過(guò)介紹船用儀表電纜測(cè)試儀,設(shè)計(jì)基于主控微控制單元(Microcontroller Unit,MCU)和從控MCU架構(gòu)的測(cè)試系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了最大32芯電纜導(dǎo)通與絕緣阻值的自動(dòng)測(cè)量,既保證了測(cè)試的質(zhì)量和效率,又降低了人工測(cè)量消耗,有效降低了生產(chǎn)成本。

1? ? 系統(tǒng)簡(jiǎn)介

多芯船用儀表電纜測(cè)試系統(tǒng)主要由電纜導(dǎo)通測(cè)試電路、線圈絕緣電阻測(cè)試電路、模式控制電路、32芯電纜選通電路、主控MCU、從控MCU、上位機(jī)配置和數(shù)據(jù)采集存儲(chǔ)軟件、數(shù)據(jù)自動(dòng)化處理軟件等組成,如圖1所示。

2? ? 工作原理

主控MCU負(fù)責(zé)與上位機(jī)軟件進(jìn)行通信,接收上位機(jī)軟件的控制信息,并對(duì)從控MCU模式控制電路、多芯選通電路等進(jìn)行配置[3];從控MCU接收主控MCU的配置指令,對(duì)電纜通斷測(cè)試電路、線圈絕緣電阻測(cè)試電路進(jìn)行控制,配合主控MCU,完成電纜通斷測(cè)試盒線圈絕緣電阻測(cè)試[4]??傮w工作流程如圖2所示。

3 電纜測(cè)試控制電路設(shè)計(jì)

3.1? 導(dǎo)通測(cè)試電路設(shè)計(jì)

電纜導(dǎo)通采用開(kāi)爾文四線檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè),相比于傳統(tǒng)的兩線測(cè)量方法,四線測(cè)量方法能夠消除測(cè)量?jī)x本身由于線纜等引起的內(nèi)阻問(wèn)題,測(cè)量精度更高[5],測(cè)試方法如圖3所示。

四線制測(cè)量方法,將電壓測(cè)量回路與電流傳輸回路進(jìn)行了分離,在線纜電阻R1和R4上沒(méi)有電流通過(guò),測(cè)量到的電壓為被測(cè)電阻R兩端的電壓值,電壓測(cè)量的結(jié)果V=I×R,解算得到的電阻R=V/I,消除了線纜電阻的影響,提高了測(cè)量精度。

3.2? 絕緣測(cè)試電路設(shè)計(jì)

線圈絕緣電阻測(cè)試電路需要用到50 V,100 V直流電壓,為保證測(cè)試的安全性、準(zhǔn)確性,選用成熟的絕緣電阻測(cè)試儀作為線圈絕緣電阻的測(cè)試電路。多芯儀表電纜測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)從控MCU對(duì)線圈絕緣電阻測(cè)試電路進(jìn)行控制。

3.3? 主控、從控MCU

多芯儀表電纜測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部由于需要進(jìn)行控制的電路較多,采用主控和從控MCU的架構(gòu)。主控MCU負(fù)責(zé)與PC機(jī)進(jìn)行通信,接收PC機(jī)下發(fā)的控制指令,解析后,按照測(cè)試項(xiàng)目,生成自動(dòng)化測(cè)試序列,實(shí)現(xiàn)對(duì)從控MCU、模式控制電路、32芯電纜選通電路的自動(dòng)控制;從控MCU接收主控MCU的指令,對(duì)絕緣電阻測(cè)試儀、電纜導(dǎo)通測(cè)試電路進(jìn)行控制,采集絕緣電阻測(cè)試儀、電纜導(dǎo)通測(cè)試電路的測(cè)量結(jié)果,打包組幀傳輸給主控MCU;主控MCU接收到從控MCU的測(cè)試指令后,按照測(cè)試項(xiàng)目的要求將測(cè)試結(jié)果傳輸給PC機(jī),直到需要測(cè)試的項(xiàng)目全部完成。

3.4? 模式控制電路

在進(jìn)行測(cè)試時(shí),模式控制電路用于切換不同的工作模式,提供測(cè)試電路的電路接口,同時(shí)需要響應(yīng)上位機(jī)軟件的配置指令。由于線圈絕緣電阻測(cè)試存在高壓,模式控制電路需要對(duì)高壓和低壓電路進(jìn)行隔離[6],本系統(tǒng)采用耐高壓的開(kāi)關(guān)進(jìn)行隔離。

4? ? 測(cè)試結(jié)果分析

選用FLUKE 287和多芯儀表電纜測(cè)試儀分別對(duì)標(biāo)準(zhǔn)電阻值(10 Ω)的測(cè)量,測(cè)試結(jié)果如表1所示。

從表1數(shù)據(jù)對(duì)比可知,F(xiàn)LUKE 287和多芯儀表電纜測(cè)試儀平均誤差均小于1%,且數(shù)值相近,但多芯電纜測(cè)試儀數(shù)據(jù)分布較為集中,而FLUKE 287因受制于人為誤差,數(shù)據(jù)分布較為分散,對(duì)測(cè)試結(jié)果影響較大。

選用FLUKE 1508和多芯儀表電纜測(cè)試儀,均使用50 V直流電分別對(duì)同一根芯線對(duì)地絕緣電阻進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試結(jié)果如表2所示。

該儀表電纜絕緣合格的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)為在50 V直流電下對(duì)地絕緣阻值大于10 MΩ,從測(cè)試結(jié)果分析,均滿足要求。但由于FLUKE1508采集數(shù)據(jù)穩(wěn)定期較長(zhǎng),且人為誤判概率高,測(cè)試精準(zhǔn)度要低于電纜測(cè)試儀;FLUKE1508和多芯儀表電纜測(cè)試儀電纜端接時(shí)間為2 s,但FLUKE1508測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定期大于10 s,而測(cè)試儀測(cè)量時(shí)間不足1 s,效率遠(yuǎn)高于FLUKE1508。

5? ? 結(jié)語(yǔ)

從測(cè)試結(jié)果可以看出,船用多芯儀表電纜測(cè)試儀測(cè)試效率和精度遠(yuǎn)高于現(xiàn)有測(cè)試儀表,實(shí)現(xiàn)了測(cè)試、記錄、判斷一鍵操作,降低了人工成本,極大地提高了測(cè)試效率。

[參考文獻(xiàn)]

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