授權(quán)公告號:CN107014780B 授權(quán)公告日:2018.10.26
申請?zhí)枺?017103429972 申請日:2017.05.16
同一申請的已公布的文獻(xiàn)號:CN107014780A
申請公布日:2017.08.04
專利權(quán)人:北京奧博泰科技有限公司
摘要:本發(fā)明公開了用于測量非漫射平板材料透射比和反射比的裝置及方法;所述裝置包括發(fā)射裝置、被測樣品、參考樣品、接收裝置和平移機(jī)構(gòu),且發(fā)射裝置和接收裝置位于所述被測樣品和/或參考樣品的同一側(cè),所述發(fā)射裝置和接收裝置的位置可互換;發(fā)射裝置包括光源、第一狹縫和透鏡,所述接收裝置包括積分球、第二狹縫和驅(qū)動機(jī)構(gòu);驅(qū)動機(jī)構(gòu)用于驅(qū)動接收裝置中的積分球移動,或者第二狹縫移動,或者發(fā)射裝置中的光源移動,調(diào)控進(jìn)入所述積分球的光束量。本發(fā)明在被測樣品在無需翻面的情況下,即可測得所述被測樣品兩側(cè)的反射比以及被測樣品的透射比;本發(fā)明能夠同時測量所述非漫射平板材料的透射比和兩側(cè)的反射比,測量步驟少、操作簡單、測量時間縮短。
授權(quán)公告號:CN102565008B 授權(quán)公告日:2013.09.11
申請?zhí)枺?011104476691 申請日:2011.12.28
專利權(quán)人:北京奧博泰科技有限公司
摘要:本發(fā)明公開了一種利用積分球測量材料透射比的方法,該方法通過在積分球上設(shè)置補(bǔ)償口,使在測取空測值和實(shí)測值時的積分球內(nèi)的漫反射條件一致,并最終通過計算得到精確的材料透射比。本發(fā)明還同時公開了實(shí)施該方法的裝置。本發(fā)明通過在積分球上設(shè)置補(bǔ)償開口,使積分球在兩次測量時其內(nèi)部漫反射條件的一致,因而提高了材料透射比的測量精度。
授權(quán)公告號:CN107064070B 授權(quán)公告日:2018.10.26
申請?zhí)枺?017103009355 申請日:2017.05.02
同一申請的已公布的文獻(xiàn)號:CN107064070A
申請公布日:2017.08.18
專利權(quán)人:北京奧博泰科技有限公司
摘要:本發(fā)明公開了一種用于測量中空玻璃的透射比和反射比的裝置及方法;所述裝置包括:發(fā)射裝置和接收裝置;發(fā)射裝置依次包括光源、光闌和準(zhǔn)直透鏡;接收裝置依次包括狹縫調(diào)節(jié)裝置、積分球、光譜分光裝置、光電探測器、信號采集與處理單元;所述積分球用于收集進(jìn)入其內(nèi)部的所有光束,所述狹縫調(diào)節(jié)裝置用于調(diào)節(jié)所述積分球的進(jìn)光量,所述光譜分光裝置用于將所述積分球收集的光束按照一定波長規(guī)律分開,所述光電探測器用于將光束的光信號轉(zhuǎn)換為電信號,所述信號采集與處理單元用于采集所述電信號,并將所述電信號處理得到對應(yīng)的參數(shù)。本發(fā)明能夠?qū)χ锌詹AнM(jìn)行無損檢測;能夠檢測出中空玻璃整體結(jié)構(gòu)和各片玻璃的透射比和反射比。
授權(quán)公告號:CN103343905B 授權(quán)公告日:2015.11.18
申請?zhí)枺?013102973858 申請日:2013.07.16
專利權(quán)人:北京奧博泰科技有限公司
摘要:本發(fā)明公開了一種集成式LED燈具,該LED燈具由若干個燈具單元組合構(gòu)成,燈具單元設(shè)置有鋁合金型材的燈殼,燈殼截面呈H型具有上下凹槽,燈殼的殼體設(shè)置成波浪形,在殼體上構(gòu)成散熱片及若干個卡槽;燈殼下凹槽內(nèi)設(shè)置有LED燈條,燈條兩側(cè)設(shè)置有對稱的傾斜狀反射膜,反射膜將燈條發(fā)出的光反射向下凹槽開口處,在下凹槽開口處設(shè)置有封閉開口的光線擴(kuò)散板,所述燈條、反射膜和擴(kuò)散板均通過下凹槽殼體上的卡槽固定;燈殼上凹槽內(nèi)設(shè)置有LED燈條驅(qū)動模塊,還設(shè)置有懸掛LED燈具的掛件,所述驅(qū)動模塊和掛件均通過上凹槽殼體上的卡槽固定。本發(fā)明具有光能利用率高、散熱效率高并且安裝方便的特點(diǎn)。
授權(quán)公告號:CN102519915B 授權(quán)公告日:2014.05.07
申請?zhí)枺?011104470252 申請日:2011.12.28
專利權(quán)人:北京奧博泰科技有限公司
摘要:本發(fā)明公開了一種測量光伏玻璃光譜霧度的分光測量裝置及測量方法,包括積分球、物鏡組和第一分光光度計,其中,積分球內(nèi)設(shè)置有光源,積分球上開設(shè)有出光口和光陷口,出光口外部按照光線的射出方向依次設(shè)置有物鏡組和第一分光光度計;光陷口上按照測量的設(shè)計要求設(shè)置有白板,或者光陷口為開放狀態(tài);積分球上設(shè)置有實(shí)時接收積分球內(nèi)表面輻亮度的參比光路。本發(fā)明中,在分光光度法的基礎(chǔ)上,增加了一路參比光路,這樣能夠獲得待測樣品的霧度精確測量值,這對霧度要求比較高的TCO玻璃來說,是一種非常好的測量方法。
授權(quán)公告號:CN101561559B 授權(quán)公告日:2011.01.05
申請?zhí)枺?009100847093 申請日:2009.05.25
專利權(quán)人:北京奧博泰科技有限公司
摘要:本發(fā)明公開了一種高分辨率窄波段光譜在線膜厚監(jiān)控系統(tǒng)及分光裝置,該系統(tǒng)包括光源、發(fā)射單元、監(jiān)控片、接收單元、光譜分光裝置、CCD陣列信號轉(zhuǎn)換系統(tǒng)和控制采集單元。本發(fā)明的光譜分光裝置包括入射狹縫、第一準(zhǔn)直物鏡、平面光柵、第二準(zhǔn)直物鏡、平面反射鏡。本發(fā)明高分辨率窄波段光譜在線膜厚監(jiān)控系統(tǒng),將光譜分光裝置與線陣CCD相結(jié)合,實(shí)現(xiàn)了動態(tài)的監(jiān)控波長調(diào)整,形成以監(jiān)控波長點(diǎn)為中心的對稱的左右各數(shù)十納米的光譜帶,在每一監(jiān)控點(diǎn)得到近一百納米的光譜信號,光譜數(shù)據(jù)量大,波長分辨率高,評價函數(shù)計算精確,為光譜監(jiān)控系統(tǒng)在光學(xué)鍍膜過程中實(shí)現(xiàn)高精度自動鍍膜提供了一種科學(xué)的方法。
授權(quán)公告號:CN208334231U 授權(quán)公告日:2019.01.04
申請?zhí)枺?018207927943 申請日:2018.05.25
專利權(quán)人:北京奧博泰科技有限公司
摘要: 本實(shí)用新型提供了一種用于測量中空玻璃整體透射比、反射比和顏色的裝置,所述裝置包括發(fā)射裝置、透射組件、反射組件和信號采集與處理單元,中空玻璃包括至少兩片玻璃,兩片相鄰的玻璃之間形成空腔,透射組件和反射組件分別位于中空玻璃的兩側(cè),反射組件和發(fā)射裝置位于中空玻璃的同一側(cè),發(fā)射裝置用于發(fā)出光束;透射組件用于接收光束經(jīng)過所述中空玻璃后透射的光束;反射組件用于接收光束經(jīng)過中空玻璃后每片玻璃反射的光束;信號采集與處理單元分別用于采集透射組件和反射組件發(fā)出的電信號,并將電信號處理得到對應(yīng)的參數(shù)。本實(shí)用新型能夠?qū)崿F(xiàn)在不拆解中空玻璃結(jié)構(gòu)的情況下進(jìn)行整體測量;避免了由于拆解導(dǎo)致膜層氧化而導(dǎo)致的測量結(jié)果不準(zhǔn)確。
授權(quán)公告號:CN207964616U 授權(quán)公告日:2018.10.12
申請?zhí)枺?018204033597 申請日:2018.03.23
專利權(quán)人:北京奧博泰科技有限公司
摘要: 本實(shí)用新型公開了一種鍍膜玻璃反射比和顏色的測量裝置,包括樣品支架、入射模塊、積分球和接收模塊,樣品支架用于承載樣品,并使樣品的反射面朝向入射模塊和接收模塊;入射模塊用于產(chǎn)生多束入射光束;多束入射光束包括相對于反射面的法線具有不同入射角度的光束;多束入射光束被反射面反射后沿鏡面反射方向出射形成多束反射光束;積分球上設(shè)有開孔,多束反射光束經(jīng)開孔進(jìn)入積分球后被接收模塊接收。本實(shí)用新型能夠通過一個積分球同時接收多束反射光線,多束反射光束經(jīng)開孔進(jìn)入積分球后再被接收模塊接收,結(jié)構(gòu)簡單,設(shè)計合理,既提高了測量效率,也降低了生產(chǎn)成本。
授權(quán)公告號:CN207798269U 授權(quán)公告日:2018.08.31
申請?zhí)枺?017218175457 申請日:2017.12.22
專利權(quán)人:北京奧博泰科技有限公司
摘要:本實(shí)用新型公開了一種輻射率測量裝置,包括絕緣隔熱筒、熱電堆式輻射熱流計、電加熱板和微控制器主板;絕緣隔熱筒是一端具有開口的殼體,熱電堆式輻射熱流計、電加熱板和微控制器主板設(shè)置在絕緣隔熱筒內(nèi)部,電加熱裝置的一面為向外輻射熱能的輻射面,電加熱板輻射面與待測材料表面以及所述絕緣隔熱筒的側(cè)壁形成密閉空腔,熱電堆式輻射熱流計設(shè)置在電加熱板輻射面的中心位置。本實(shí)用新型提供的一種輻射率測量裝置,規(guī)避了測量過程中的附加誤差和因溫度差異而引起的多次反射和發(fā)射帶來的干擾,實(shí)現(xiàn)了對待測材料輻射率的準(zhǔn)確測量和計算,并且本實(shí)用新型體積較小,方便攜帶,使得測量不受材料大小和地點(diǎn)的限制,使用簡單快捷。
授權(quán)公告號:CN105222994B 授權(quán)公告日:2017.10.13
申請?zhí)枺?015106246739 申請日:2015.09.25
同一申請的已公布的文獻(xiàn)號:CN105222994A
申請公布日:2016.01.06
專利權(quán)人:北京奧博泰科技有限公司
摘要:本發(fā)明提供一種分布式光度計,包括:支撐框架,起到支撐作用;支撐軸,橫向設(shè)置在所述支撐框架上;圓弧形狀的旋轉(zhuǎn)支架,連接在所述支撐軸上,可繞著所述支撐軸上下轉(zhuǎn)動;多個光探測單元,設(shè)置在所述旋轉(zhuǎn)支架上。根據(jù)該結(jié)構(gòu),可以精確、便捷地測量被測光源的輻照度。
授權(quán)公告號:CN207798640U 授權(quán)公告日:2018.08.31
申請?zhí)枺?017215249406 申請日:2017.11.15
專利權(quán)人:北京奧博泰科技有限公司
摘要:本實(shí)用新型公開了一種平板材料光學(xué)測量裝置的安裝機(jī)構(gòu),平板材料光學(xué)測量裝置設(shè)有支架,安裝機(jī)構(gòu)包括安裝板、連接件和吸盤,安裝板的表面設(shè)置有吸盤,吸盤能夠吸附在被測樣品的表面;連接件一端固定在安裝板上,連接件的另一端與支架通過螺紋連接,支架用于支撐平板材料光學(xué)測量裝置;支架相對于安裝板的相對距離可調(diào),使得平板材料光學(xué)測量裝置能夠貼在被測樣品的表面。本實(shí)用新型的平板材料光學(xué)測量裝置的安裝機(jī)構(gòu),能夠輕松實(shí)現(xiàn)平板材料光學(xué)測量裝置的安裝,安裝機(jī)構(gòu)通過吸盤吸附于被測樣品表面,平板材料光學(xué)測量裝置緊貼被測樣品表面進(jìn)行測量,無需人為手持測量裝置,測量過程簡便,測量結(jié)果更加精確,測量成本降低。