江濤,李強(qiáng),陳蘇宇,常雨,張扣立
中國空氣動力研究與發(fā)展中心 超高速空氣動力研究所,綿陽 621000
隨著空氣動力學(xué)試驗(yàn)研究的深入和光學(xué)測試技術(shù)的進(jìn)步,越來越多的光學(xué)測試技術(shù)應(yīng)用到風(fēng)洞試驗(yàn)中[1-4],圖像的數(shù)據(jù)量大、信息直觀。但受光學(xué)系統(tǒng)器件或試驗(yàn)條件的影響,如相機(jī)噪聲、物理損傷、流場雜質(zhì)等,圖像中常會存在一些破損或無關(guān)信息等缺陷,會影響試驗(yàn)圖像的處理和分析。
以紋影技術(shù)為例,紋影儀是風(fēng)洞試驗(yàn)常用的流動顯示設(shè)備,紋影圖像是風(fēng)洞試驗(yàn)的重要數(shù)據(jù)之一,分析紋影圖像是數(shù)據(jù)分析的重要工作內(nèi)容,可獲得許多流場結(jié)構(gòu)方面的信息[1-3,5]。紋影光路中的各光學(xué)元件都會直接影響紋影圖像的質(zhì)量,因此有很高的材料和加工要求[1-2]。但光學(xué)元件脆弱,通常難以長期保持完好。較典型的是風(fēng)洞試驗(yàn)段觀測窗上的光學(xué)玻璃,在高速氣流和異物的作用下,表面會出現(xiàn)許多局部破損。玻璃的損傷會在紋影圖像中體現(xiàn)為大小和形狀各異的黑斑,這些多余而有害的信息,影響對圖像的后期處理和分析。對光學(xué)元件進(jìn)行加工修復(fù)或更換,可從根本上解決上述問題,但時效性和經(jīng)濟(jì)性差,而且修復(fù)加工可能會減薄光學(xué)元件的厚度,縮短其使用年限。又如,一些使用多幅圖像(包括單臺相機(jī)多次采集和多臺相機(jī)單次或多次采集)的測試方法,例如溫敏漆(Temperature Sensitive Paint, TSP)、壓敏漆(Pressure Sensitive Paint, PSP)技術(shù)[6-8]等,需要布置圖像標(biāo)記點(diǎn)以開展圖像的校正和配準(zhǔn),或者安裝傳感器作為光學(xué)測試方法的對比和參考,這些圖像標(biāo)記點(diǎn)和傳感器測點(diǎn)也引起了圖像信息缺失。同時,TSP和PSP技術(shù)還會遇到因局部發(fā)光涂層脫落、污染等原因產(chǎn)生的信息缺失或失真等問題[8]??梢姡瑘D像缺陷是光學(xué)測試技術(shù)在風(fēng)洞試驗(yàn)應(yīng)用中面臨的實(shí)際問題。
數(shù)字圖像修復(fù)技術(shù)在2000年由Bertalmio等明確提出[9],之后發(fā)展迅速[10-12]。圖像修復(fù)是圖像處理領(lǐng)域的一個重要部分,是利用圖像中的已知信息,按照一定規(guī)則對某些區(qū)域進(jìn)行修正,可以修補(bǔ)圖像的損壞部分,恢復(fù)圖像的完整性,或者去除圖像中不需要的元素,使圖像更加合理和真實(shí)。數(shù)字圖像修復(fù)技術(shù)可大致分為基于紋理結(jié)構(gòu)的圖像修復(fù)和基于非紋理結(jié)構(gòu)的圖像修復(fù)兩類,前者主要用于填充圖像中大塊丟失的信息,后者主要用于修復(fù)小尺度的圖像破損[11-12]。
經(jīng)過多年研究發(fā)展,數(shù)字圖像修復(fù)技術(shù)已應(yīng)用于氣象云圖、醫(yī)學(xué)影像、物聯(lián)網(wǎng)、文物保護(hù)等領(lǐng)域[10,13-14]。受此啟發(fā),數(shù)字圖像修復(fù)技術(shù)應(yīng)當(dāng)也可以應(yīng)用到風(fēng)洞試驗(yàn)中。對數(shù)字圖像修復(fù)的算法研究較多,但使用中還需要操作者人為指定待修復(fù)區(qū)域[11],存在隨機(jī)性大和耗時長的不足,不利于實(shí)際應(yīng)用。本文以紋影圖像為例,根據(jù)此類圖像缺陷的特點(diǎn),提出完整的圖像修復(fù)流程,選擇合適的算法,以期實(shí)現(xiàn)紋影圖像缺陷的自動識別和修復(fù),獲得一種使紋影圖像信息完整的技術(shù)手段,并作為其他風(fēng)洞光學(xué)測試技術(shù)圖像修復(fù)的參考。
圖1為有缺陷的紋影圖像。顯然,此缺陷屬于小尺度的圖像破損,分析可知缺陷的主要特征為:① 離散分布于紋影視場內(nèi),大小及形狀各異;② 核心區(qū)域的灰度值低,與模型的灰度值相近;③ 邊緣處的灰度梯度變化較大,與附近圖像對比明顯。
根據(jù)上述特征,缺陷可被視為離散存在于明亮視場內(nèi)的局部極小值區(qū)域,可設(shè)計(jì)圖像修復(fù)的流程為:① 確定待處理區(qū)域;② 缺陷識別;③ 缺陷修復(fù)。其中,缺陷識別這一步驟將實(shí)現(xiàn)圖像待修復(fù)區(qū)域自動識別的功能。據(jù)此,可分別使用合適的算法開展圖像的修復(fù)。
圖1 紋影圖像
圖像修復(fù)的前兩個流程均需要進(jìn)行圖像分割。一是確定待處理區(qū)域時,將模型與紋影視場以外的區(qū)域排除,避免修復(fù)處理時破壞模型外形,并減少計(jì)算量,加快修復(fù)速度;二是缺陷識別時,取一定尺寸的圖像塊進(jìn)行圖像分割以識別和確定缺陷的位置、尺寸和形狀。
圖像分割是將圖像劃分成若干個互不相交的小區(qū)域的過程,常用的圖像分割方法很多,如:基于閾值的圖像分割方法、模糊方法、邊緣檢測方法、特征空間聚類方法等[15-17]?;陂撝档姆椒ㄓ?jì)算簡單、分割效果好[18]。其中,Otsu算法[19]是一種性能、穩(wěn)定性和成功率均較高的方法,在一定條件下不受圖像對比度與亮度變化的影響,應(yīng)用廣泛[20-23]。
記圖像各點(diǎn)的灰度i={1, 2, …,L},灰度值為i的像素的數(shù)量為ni,總像素?cái)?shù)量N=n1+n2+ … +nL,各灰度值的比例pi為:pi=ni/N。假設(shè)以灰度值k為閾值將圖像分割為目標(biāo)C0和背景C1兩類,C0中i={1, 2, …,k},C1中i={k+1,k+2, …,L},則有
目標(biāo)部分像素占比ω0為
(1)
目標(biāo)部分灰度均值μ0為
(2)
背景部分像素占比ω1為
(3)
背景部分灰度均值μ1為
(4)
圖像總灰度均值μT為
(5)
ω0ω1(μ1-μ0)2
(6)
小尺度圖像破損的修復(fù)一般采用基于非紋理結(jié)構(gòu)的圖像修復(fù)方法。該類方法是將待修復(fù)區(qū)域附近的已知信息按一定方式從區(qū)域邊界向內(nèi)擴(kuò)散來實(shí)現(xiàn)圖像的修復(fù)。信息的擴(kuò)散過程通常是通過求解高階偏微分方程予以控制,需要大量的迭代運(yùn)算,因此圖像修復(fù)的速度很慢,實(shí)用性不夠理想[11,24-25]。本文使用快速行進(jìn)方法(Fast Marching Method, FMM)[26]來進(jìn)行圖像的修復(fù)?;贔MM的圖像修復(fù)方法最初由Telea提出[27]。該方法將圖像待修復(fù)區(qū)域視為水平集,先利用快速行進(jìn)方法確定修復(fù)路徑,使用方向、距離和水平集等權(quán)值對鄰域像素進(jìn)行加權(quán)平均,然后沿著等照度線進(jìn)行平滑估計(jì),從待修復(fù)區(qū)域的邊緣向內(nèi)逐步推進(jìn),直到所有像素被修復(fù)[24-26]。FMM的修復(fù)速度較快,對紋影圖像缺陷這類離散區(qū)域修復(fù)的適用性較好[24-25]。
修復(fù)原理如圖2所示,Ω為圖像待修復(fù)區(qū)域,?Ω為該區(qū)域的邊界。假定p為?Ω上的一點(diǎn),圍繞p取一個小鄰域Bε(p),q為Bε(p)內(nèi)的一點(diǎn),p點(diǎn)的修復(fù)即由鄰域像素Bε(p)來決定,對Bε(p)中的點(diǎn)進(jìn)行加權(quán)平均來估算p點(diǎn)的灰度值I(p),即
(7)
圖2 修復(fù)原理
加權(quán)函數(shù)w(p,q)采用切線方向N(p)來評價已知鄰域像素點(diǎn)與缺失像素點(diǎn)的相關(guān)程度,即保證距離p點(diǎn)法線方向越接近的像素點(diǎn)對p點(diǎn)的貢獻(xiàn)越大。權(quán)函數(shù)定義為
w(p,q)=dir(p,q)·dst(p,q)·lev(p,q)
(8)
式中:
其中:dir(p,q)為方向因子,保證距法線方向越近的像素對p點(diǎn)修復(fù)的貢獻(xiàn)越大;dst(p,q)為幾何距離因子,保證距p點(diǎn)越近的已知像素對修復(fù)的貢獻(xiàn)越大;lev(p,q)為水平集距離因子,保證距待修復(fù)區(qū)域邊界越近的已知像素對修復(fù)的貢獻(xiàn)越大;d0和T0分別為距離參數(shù)和水平集參數(shù),一般取值為1;T為Ω中的點(diǎn)到邊緣?Ω的距離。
由圖2可見,像素可分為3類:
1) Boundary。待修復(fù)區(qū)域邊界?Ω上的點(diǎn),T= 0,其T值將被更新。
2) Known。?Ω外已知區(qū)域的像素,其T值和灰度值I已知。
3) Inside。?Ω內(nèi)部的像素,其T值和灰度值I未知。
FMM就是對待修復(fù)區(qū)域內(nèi)的點(diǎn)解Eikonal方程:
(9)
令D±x、D±y分別為x方向和y方向的差分,方程的穩(wěn)定解為
max(D-xT,-D+xT,0)2+
max(D-yT,-D+yT,0)2=1
(10)
式中:
由式(9)和式(10)求出Ω內(nèi)部所有點(diǎn)到?Ω的距離T,然后按照T由小到大的路徑進(jìn)行修復(fù)。
以圖1為例進(jìn)行修復(fù),檢驗(yàn)本文流程和算法的可行性和有效性。
待處理區(qū)域確定和缺陷識別的結(jié)果分別如圖3和圖4所示。為取得較理想的修復(fù)結(jié)果,可對圖像進(jìn)行多次修復(fù),圖3和圖4僅為第1次進(jìn)行分割的結(jié)果。
圖3 待處理區(qū)域確定
圖4 圖像缺陷識別(部分結(jié)果)
圖5為圖1經(jīng)多次修復(fù)后的結(jié)果,可見缺陷明顯減少,而模型和流場結(jié)構(gòu)未受影響。圖5中剩余的缺陷還可繼續(xù)予以修復(fù)。
圖5 圖像修復(fù)結(jié)果
圖6為圖1和圖5之間的差異,由兩圖直接相減得到,代表圖1中被修復(fù)的缺陷。圖6中沒有連續(xù)或大片的像素,表明圖像修復(fù)僅處理了離散的信息,沒有影響紋影圖像中的模型和波系結(jié)構(gòu)。
圖6 圖像修復(fù)前后對比
選取圖7對本文的圖像修復(fù)方法進(jìn)行應(yīng)用驗(yàn)證。相對圖1,其缺陷尺寸更小、更密集。缺陷識別、修復(fù)結(jié)果及修復(fù)前后對比如圖8~圖10所示,可見圖7的缺陷得到了有效修復(fù),且圖中的模型和波系結(jié)構(gòu)沒有受到影響。
圖7 有缺陷的紋影圖像
圖8 圖7缺陷識別結(jié)果
圖9 圖7修復(fù)結(jié)果
圖10 圖7中存在的缺陷
為定量評估圖像修復(fù)的影響,選取沒有缺陷的圖像人為添加了13個缺陷(見圖11)進(jìn)行圖像修復(fù)和對比分析。圖像的分辨率為607 pixel×468 pixel,缺陷共1 040個像素。
圖11 添加缺陷的圖像
圖像修復(fù)前后的像素變化見表1,可見修復(fù)后的灰度值與原始灰度值十分接近,如表2所示,約90%的灰度差異不大于3、約99%的灰度差異不大于6。雖然修復(fù)像素的數(shù)量多于添加缺陷的像素?cái)?shù)量,但絕大部分像素的灰度差異很小,且數(shù)量對于整幅圖像而言是極少的,故并未對圖像整體造成明顯影響。圖像原有的部分噪聲在修復(fù)中被處理也是像素?cái)?shù)量增多的原因之一。因此,可以認(rèn)為圖像修復(fù)技術(shù)能將缺陷圖像修復(fù)至與原始圖像相當(dāng)?shù)乃健?/p>
表1 缺陷及圖像修復(fù)前后的像素?cái)?shù)量與灰度值
表2 灰度差異分布
1) 經(jīng)數(shù)字圖像修復(fù)技術(shù)處理,紋影圖像的缺陷明顯減少或得到削弱,可將缺陷圖像修復(fù)至與原始圖像相當(dāng)?shù)乃健?/p>
2) 圖像修復(fù)的信息是客觀合理的,沒有破壞或改變模型形狀和流場結(jié)構(gòu)等關(guān)鍵信息,對非缺陷區(qū)域和圖像整體的影響極小。
3) 在風(fēng)洞試驗(yàn)中引入數(shù)字圖像修復(fù)是可行的,圖像修復(fù)方法具有通用性,也可根據(jù)不同圖像的特點(diǎn)選用不同的算法,推廣運(yùn)用于其他光學(xué)測試技術(shù),如修復(fù)TSP和PSP技術(shù)中的標(biāo)記點(diǎn)、涂層脫落或污染產(chǎn)生的暗區(qū)等。