0.4Ti0.6O3薄膜電容器的儲能特性研究"/>
摘要:在SrTiO3(001)(STO)基片上,以La0.67Sr0.33MnO3(LSMO)為底電極,Pt為上電極,成功制備了BaSr0.4Ti0.6O3(BST)薄膜電容器。XRD測試結果表明,LSMO薄膜和BST薄膜為面外單一取向,外延生長于STO基片上。電容器在頻率為102Hz-106Hz的測試范圍內,介電常數(shù)表現(xiàn)平穩(wěn)。同時,該電容器具有很瘦的P-U曲線,施加電場為2.17MV/cm時,儲能密度達到20.2J/cm3,儲能效率為68.4%。
關鍵詞:薄膜電容器;儲能密度;儲能效率;P-U曲線
1.??? 引言
常見的電能儲存器件有電池、超級電容器和電介質電容器等,電介質電容器有著超快充放電速度(~ns)而功率密度最高(~GW*kg-1),同時它有抗循環(huán)老化,可承受高溫高壓等極端環(huán)境和儲能性能穩(wěn)定等優(yōu)點而應用到高功率電子、電力設備中。比如:高壓電配電和運輸、高功率粒子束、高功率微波、脈沖功率武器、電磁裝甲、混合動力汽車以及我國新研制的高功率脈沖加速器“聚龍一號”等。最近,隨著微電子設備向小型化,輕質和集成化發(fā)展,對電介質電容器也提出了更多的要求:有很大的存儲能力和高效率,體積小,對環(huán)境無污染等。無機電介質薄膜與塊體材料和有機無機復合材料相比,有更小的體積,更高的儲能密度和更大的功率密度,而且它可以承受較高溫度(>140℃),對于脈沖功率設備微型化應用具有深遠的意義。
反鐵電體因為有較大的Ps,很小的Pr,同時擊穿場強也比較大,表現(xiàn)出優(yōu)異的儲能特性。反鐵電儲能材料大多以鋯鈦酸鉛(PZT)為基體進行離子(La3+,Ba2+,Y3+,Sn4+等)替位摻雜提高材料擊穿場強,進而增大儲能密度。但是含鉛材料高溫制備時不可避免的產(chǎn)生鉛揮發(fā),包括大量的生產(chǎn)中的含鉛廢棄原料都極易給人體和環(huán)境帶來巨大危害,極大限制了含鉛儲能材料體系的應用。目前在歐盟和美國等地方,已經(jīng)禁止使用含鉛材料,所以,開展無鉛鐵電儲能材料的系統(tǒng)研究,尋找儲能性能優(yōu)異的無鉛鐵電材料體系替代含鉛材料體系也迫在眉睫。近些年,有很多關于無鉛鐵電材料儲能特性的研究和報道,并取得很大進步,國內Ye Zhao等人制備的(Na0.5Bi0.5)TiO3鐵電薄膜擊穿場強僅有1.2MV/cm,儲能密度12.4J/cm3,效率也只有43%; 美國Venkata Sreenivas Puli等人在MgO基片上以La0.5Sr0.5CoO3做緩沖層(底電極)制備的Ba0.955Ca0.045Zr0.17Ti0.83O3單晶鐵電薄膜擊穿場強能到2.08MV/cm,儲能密度高達39.1J/cm3,但是儲能效率小于50%。一方面,單一鐵電薄膜擊穿場強較低導致儲能密度較低;另一方面,鐵電體與反鐵電體相比,雖然也有較大的Ps,但是因為Pr也比較大,導致電容器儲能效率低,所以單一鐵電薄膜儲能特性受到很大的限制。
本工作利用磁控濺射技術在SrTiO3(001)(STO)基片上以La0.67Sr0.33MnO3(LSMO)為底電極制備了電介質層為BaSr0.4Ti0.6O3(BST)的薄膜電介質電容器,具體結構表示為Pt/BST/LSMO/STO。并對該電容器的結構,介電特性和儲能特性進行了綜合測試和分析。研究發(fā)現(xiàn)該電容器在施加電場為2.17MV/cm時,儲能密度為20.2J/cm3,儲能效率為68.4%。
2.??? 實驗結論與分析
圖1是BST/LSMO/STO傳統(tǒng)θ-2θ掃描圖,圖中除了STO基片的(00l)峰之外,僅出現(xiàn)LSMO和BST薄膜的(00l)峰,這說明低電極和電介質薄膜面外單一取向,可以推測薄膜和基片屬于異質外延外延關系。通過薄膜截面的SEM測試結果得出BST薄膜厚度約為200nm。
圖2 是Pt/BST/LSMO/STO電容器的介電頻譜,測試范圍為102Hz-106Hz。首先是在整個測試頻段內,隨著頻率的增加,其介電常數(shù)出現(xiàn)略微下降,這是電介質薄膜的正常表現(xiàn)之一。其次,隨著頻率的增加,電容器損耗角正切值(tanδ)也有增加趨勢,尤其在頻率高于105Hz后,tanδ表現(xiàn)出明顯增加趨勢。這是因為隨著頻率的持續(xù)增加,薄膜中取向極化翻轉會出現(xiàn)滯后而引起損耗的增加。最后,在103Hz的測試頻率下,電容器介電常數(shù)約為100,介電損耗低于5%。
在對電容器的介電特性進行測試評估后,接下來對電容器極化特性進行驗證。對于BST薄膜來說,Sr2+比Ba2+具有更小的離子半徑,抑制Ti4+的可移動范圍,減弱了BaTiO3的位移極化。所以,BST薄膜一般擁有較瘦的P-U曲線,這也是其本質使然。圖3是Pt/BST/LSMO/STO電容器的極化-電壓(P-U)曲線,測試電壓為三角波電壓,電壓頻率為103Hz,大小為40V。由圖可以看出我們制備的電容器非線性特性減弱,具有很瘦的P-U曲線,符合我們的預期。
對電介質電容器儲能特性評估分為動態(tài)測試方法和靜態(tài)測試方法。靜態(tài)測試方法即為快速充放電測試方法;動態(tài)測試方法為利用電容器的P-U曲線計算而得。在此,電容器的儲能特性是通過其P-U曲線進行積分計算而得。正如圖4 所示,是Pt/BST/LSMO/STO電容器在不同施加電壓下的單極性P-U曲線。隨著施加電壓的增加,最大極化有明顯增加,剩余極化增加卻不明顯,這說明BST電介質層鐵電性減弱,表現(xiàn)出順電體特性,非常有利于電介質儲能。隨著施加電場的持續(xù)增加,電容器的效率沒有出現(xiàn)明顯下降趨勢,在施加電場為2.17MV/cm時,其儲能密度為20.2J/cm3,儲能效率為68.4%。
3.??? 總結
本工作利用磁控濺射技術制備了Pt/BST/LSMO/STO電容器。在103Hz的測試頻率下,電容器介電常數(shù)約為100,介電損耗低于5%。同時電容器非線性特性減弱,具有很瘦的P-U曲線,符合我們的預期。該電容器在施加電場為2.17MV/cm時,儲能密度為20.2J/cm3,儲能效率為68.4%。
參考文獻:
[1]顧逸韜,劉宏波,馬海華,等.電介質儲能材料研究進展[J].絕緣材料,2015(11).
[2]Y.Cao,P.C.Irwin and K.Younsi,IEEE Trans.Dielectr.Electr.Insul.,2004,11,797.
[3]Z.M.Dang,J.K.Yuan,J.W.Zha,T.Zhou,S.T.Li and G.H.Hu,“Fundamentals,processes and applications of high-permittivity polymermatrix
composites”Prog.Mater.Sci.,2012,57,660.
[4]K.Yao,S.Chen,M.Rahimabady,M.S.Mirshekarloo,S.Yu,F(xiàn).E.H.Tay,T.Sritharan and L.Lu,IEEE Trans.Ultrason.Eng.,2011,58,1968.
[5]Peng B,Qi Z,Xing L,et al.Large Energy Storage Density and High Thermal Stability in a Highly Textured(111)-Oriented Pb0.8Ba0.2ZrO3Relaxor Thin Film with the Coexistence of Antiferroelectric and Ferroelectric Phases[J].Acs Applied Materials&Interfaces,2015,7(24).
作者簡介:
王曦(1982-),女,漢族,遼寧錦州,碩士研究生,講師,研究方向:學科教學論(物理)及凝聚態(tài)物理。
基金項目:“本項目受邯鄲市科學技術研究與發(fā)展計劃(基金:1723209056-4)資助”
摘要:在SrTiO3(001)(STO)基片上,以La0.67Sr0.33MnO3(LSMO)為底電極,Pt為上電極,成功制備了BaSr0.4Ti0.6O3(BST)薄膜電容器。XRD測試結果表明,LSMO薄膜和BST薄膜為面外單一取向,外延生長于STO基片上。電容器在頻率為102Hz-106Hz的測試范圍內,介電常數(shù)表現(xiàn)平穩(wěn)。同時,該電容器具有很瘦的P-U曲線,施加電場為2.17MV/cm時,儲能密度達到20.2J/cm3,儲能效率為68.4%。
關鍵詞:薄膜電容器;儲能密度;儲能效率;P-U曲線
1.??? 引言
常見的電能儲存器件有電池、超級電容器和電介質電容器等,電介質電容器有著超快充放電速度(~ns)而功率密度最高(~GW*kg-1),同時它有抗循環(huán)老化,可承受高溫高壓等極端環(huán)境和儲能性能穩(wěn)定等優(yōu)點而應用到高功率電子、電力設備中。比如:高壓電配電和運輸、高功率粒子束、高功率微波、脈沖功率武器、電磁裝甲、混合動力汽車以及我國新研制的高功率脈沖加速器“聚龍一號”等。最近,隨著微電子設備向小型化,輕質和集成化發(fā)展,對電介質電容器也提出了更多的要求:有很大的存儲能力和高效率,體積小,對環(huán)境無污染等。無機電介質薄膜與塊體材料和有機無機復合材料相比,有更小的體積,更高的儲能密度和更大的功率密度,而且它可以承受較高溫度(>140℃),對于脈沖功率設備微型化應用具有深遠的意義。
反鐵電體因為有較大的Ps,很小的Pr,同時擊穿場強也比較大,表現(xiàn)出優(yōu)異的儲能特性。反鐵電儲能材料大多以鋯鈦酸鉛(PZT)為基體進行離子(La3+,Ba2+,Y3+,Sn4+等)替位摻雜提高材料擊穿場強,進而增大儲能密度。但是含鉛材料高溫制備時不可避免的產(chǎn)生鉛揮發(fā),包括大量的生產(chǎn)中的含鉛廢棄原料都極易給人體和環(huán)境帶來巨大危害,極大限制了含鉛儲能材料體系的應用。目前在歐盟和美國等地方,已經(jīng)禁止使用含鉛材料,所以,開展無鉛鐵電儲能材料的系統(tǒng)研究,尋找儲能性能優(yōu)異的無鉛鐵電材料體系替代含鉛材料體系也迫在眉睫。近些年,有很多關于無鉛鐵電材料儲能特性的研究和報道,并取得很大進步,國內Ye Zhao等人制備的(Na0.5Bi0.5)TiO3鐵電薄膜擊穿場強僅有1.2MV/cm,儲能密度12.4J/cm3,效率也只有43%; 美國Venkata Sreenivas Puli等人在MgO基片上以La0.5Sr0.5CoO3做緩沖層(底電極)制備的Ba0.955Ca0.045Zr0.17Ti0.83O3單晶鐵電薄膜擊穿場強能到2.08MV/cm,儲能密度高達39.1J/cm3,但是儲能效率小于50%。一方面,單一鐵電薄膜擊穿場強較低導致儲能密度較低;另一方面,鐵電體與反鐵電體相比,雖然也有較大的Ps,但是因為Pr也比較大,導致電容器儲能效率低,所以單一鐵電薄膜儲能特性受到很大的限制。
本工作利用磁控濺射技術在SrTiO3(001)(STO)基片上以La0.67Sr0.33MnO3(LSMO)為底電極制備了電介質層為BaSr0.4Ti0.6O3(BST)的薄膜電介質電容器,具體結構表示為Pt/BST/LSMO/STO。并對該電容器的結構,介電特性和儲能特性進行了綜合測試和分析。研究發(fā)現(xiàn)該電容器在施加電場為2.17MV/cm時,儲能密度為20.2J/cm3,儲能效率為68.4%。
2.??? 實驗結論與分析
圖1是BST/LSMO/STO傳統(tǒng)θ-2θ掃描圖,圖中除了STO基片的(00l)峰之外,僅出現(xiàn)LSMO和BST薄膜的(00l)峰,這說明低電極和電介質薄膜面外單一取向,可以推測薄膜和基片屬于異質外延外延關系。通過薄膜截面的SEM測試結果得出BST薄膜厚度約為200nm。
圖2 是Pt/BST/LSMO/STO電容器的介電頻譜,測試范圍為102Hz-106Hz。首先是在整個測試頻段內,隨著頻率的增加,其介電常數(shù)出現(xiàn)略微下降,這是電介質薄膜的正常表現(xiàn)之一。其次,隨著頻率的增加,電容器損耗角正切值(tanδ)也有增加趨勢,尤其在頻率高于105Hz后,tanδ表現(xiàn)出明顯增加趨勢。這是因為隨著頻率的持續(xù)增加,薄膜中取向極化翻轉會出現(xiàn)滯后而引起損耗的增加。最后,在103Hz的測試頻率下,電容器介電常數(shù)約為100,介電損耗低于5%。
在對電容器的介電特性進行測試評估后,接下來對電容器極化特性進行驗證。對于BST薄膜來說,Sr2+比Ba2+具有更小的離子半徑,抑制Ti4+的可移動范圍,減弱了BaTiO3的位移極化。所以,BST薄膜一般擁有較瘦的P-U曲線,這也是其本質使然。圖3是Pt/BST/LSMO/STO電容器的極化-電壓(P-U)曲線,測試電壓為三角波電壓,電壓頻率為103Hz,大小為40V。由圖可以看出我們制備的電容器非線性特性減弱,具有很瘦的P-U曲線,符合我們的預期。
對電介質電容器儲能特性評估分為動態(tài)測試方法和靜態(tài)測試方法。靜態(tài)測試方法即為快速充放電測試方法;動態(tài)測試方法為利用電容器的P-U曲線計算而得。在此,電容器的儲能特性是通過其P-U曲線進行積分計算而得。正如圖4 所示,是Pt/BST/LSMO/STO電容器在不同施加電壓下的單極性P-U曲線。隨著施加電壓的增加,最大極化有明顯增加,剩余極化增加卻不明顯,這說明BST電介質層鐵電性減弱,表現(xiàn)出順電體特性,非常有利于電介質儲能。隨著施加電場的持續(xù)增加,電容器的效率沒有出現(xiàn)明顯下降趨勢,在施加電場為2.17MV/cm時,其儲能密度為20.2J/cm3,儲能效率為68.4%。
3.??? 總結
本工作利用磁控濺射技術制備了Pt/BST/LSMO/STO電容器。在103Hz的測試頻率下,電容器介電常數(shù)約為100,介電損耗低于5%。同時電容器非線性特性減弱,具有很瘦的P-U曲線,符合我們的預期。該電容器在施加電場為2.17MV/cm時,儲能密度為20.2J/cm3,儲能效率為68.4%。
參考文獻:
[1]顧逸韜,劉宏波,馬海華,等.電介質儲能材料研究進展[J].絕緣材料,2015(11).
[2]Y.Cao,P.C.Irwin and K.Younsi,IEEE Trans.Dielectr.Electr.Insul.,2004,11,797.
[3]Z.M.Dang,J.K.Yuan,J.W.Zha,T.Zhou,S.T.Li and G.H.Hu,“Fundamentals,processes and applications of high-permittivity polymermatrix
composites”Prog.Mater.Sci.,2012,57,660.
[4]K.Yao,S.Chen,M.Rahimabady,M.S.Mirshekarloo,S.Yu,F(xiàn).E.H.Tay,T.Sritharan and L.Lu,IEEE Trans.Ultrason.Eng.,2011,58,1968.
[5]Peng B,Qi Z,Xing L,et al.Large Energy Storage Density and High Thermal Stability in a Highly Textured(111)-Oriented Pb0.8Ba0.2ZrO3Relaxor Thin Film with the Coexistence of Antiferroelectric and Ferroelectric Phases[J].Acs Applied Materials&Interfaces,2015,7(24).
作者簡介:
王曦(1982-),女,漢族,遼寧錦州,碩士研究生,講師,研究方向:學科教學論(物理)及凝聚態(tài)物理。
基金項目:“本項目受邯鄲市科學技術研究與發(fā)展計劃(基金:1723209056-4)資助”