黃偉,譚順玲,孫虎
(1.中國科學(xué)院昆明植物研究所 資源植物與生物技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,云南 昆明 650201;2.中國科學(xué)院昆明植物研究所 植物醫(yī)生研發(fā)中心,云南 昆明 650201)
植物利用光能進(jìn)行光合作用,通過光反應(yīng)產(chǎn)生的ATP(腺嘌呤核苷三磷酸)和NADPH(還原型煙酰胺腺嘌呤二核苷酸磷酸)在暗反應(yīng)中被用于固定二氧化碳(CO2)并轉(zhuǎn)化為合成有機(jī)物。光反應(yīng)中的光合電子傳遞分為線性電子傳遞、圍繞光系統(tǒng)I(PSI)的環(huán)式電子傳遞、假環(huán)式電子傳遞等[1]。光合電子傳遞的運(yùn)轉(zhuǎn)形成跨類囊體膜質(zhì)子驅(qū)動(dòng)勢,驅(qū)動(dòng)ATP合成酶合成ATP[2]。線性電子傳遞產(chǎn)生的ATP/NADPH比值大約為1.29,暗反應(yīng)所需的ATP/NADPH比值大概為1.6,所以植物需要其他的替代電子傳遞途徑來補(bǔ)充ATP的合成[3]。環(huán)式電子傳遞產(chǎn)生的跨類囊體膜質(zhì)子梯度不僅補(bǔ)充ATP的合成,并且通過調(diào)節(jié)光合電子傳遞鏈的氧化還原態(tài)保護(hù)PSI和光系統(tǒng)II(PSII)免受過剩光能的損傷[4]。非生物脅迫對PSII活性的影響主要集中在單因子脅迫(高溫、低溫、強(qiáng)光、干旱等)[5-8],但是目前關(guān)于植物對高溫和強(qiáng)光復(fù)合脅迫的光合生理響應(yīng)還了解較少。
中等程度高溫會(huì)對PSII的放氧復(fù)合體活性造成損傷[9],進(jìn)而引起PSII的光抑制[10]。與此同時(shí),高溫導(dǎo)致氣孔關(guān)閉,抑制卡爾文循環(huán),增加葉綠體內(nèi)活性氧自由基的產(chǎn)生[11]?;钚匝踝杂苫鶗?huì)抑制D1蛋白的合成,進(jìn)而影響PSII活性的快速修復(fù)[12-13]。所以,高溫脅迫不僅會(huì)提高損傷速率,還會(huì)降低修復(fù)速率[14]。在強(qiáng)光條件下,過剩光能大部分通過非光化學(xué)淬滅以無害的形式耗散(熱耗散),避免PSII的修復(fù)受到抑制[7,15-16]。熱耗散的激發(fā)依賴于跨類囊體膜質(zhì)子梯度(ΔpH)的建立,而ΔpH的建立又依賴線性電子傳遞和環(huán)式電子傳遞[17],光合電子傳遞的運(yùn)轉(zhuǎn)受PSI和PSII活性的控制[18-20]。所以,在高溫和強(qiáng)光復(fù)合脅迫下,PSII的損傷有可能抑制線性電子傳遞并影響跨類囊體膜質(zhì)子梯度的建立,從而加劇光抑制的發(fā)生。
高溫脅迫也會(huì)對PSI的活性造成影響,研究表明42 ℃的中等程度高溫和300 μmol/(m2·s1)光照處理10 h就會(huì)對小麥(Triticumaestivum)的PSI活性造成嚴(yán)重?fù)p傷,且損傷程度要高于PSII[5]。這主要是高溫加劇了類囊體膜的質(zhì)子滲漏,降低了ΔpH[21],進(jìn)而造成PSI的電子載體處于過度還原態(tài),引發(fā)PSI內(nèi)活性氧自由基的產(chǎn)生,造成PSI受損。此外,42 ℃的中等程度高溫會(huì)加劇波動(dòng)光強(qiáng)下煙草(Nicotianatabacum)幼葉的PSI損傷程度[22]。但是,中等程度高溫和持續(xù)恒定強(qiáng)光對PSI活性的影響還缺乏研究。
鐵皮石斛(DendrobiumofficinaleKimura et Migo)是一種有重要藥用價(jià)值的蘭科(Orchidaceae)植物,在亞熱帶地區(qū)被廣泛種植。但是,目前關(guān)于逆境脅迫對鐵皮石斛光合機(jī)構(gòu)及光合電子傳遞影響的研究還十分欠缺。由于高溫和強(qiáng)光復(fù)合脅迫在鐵皮石斛種植地區(qū)的夏季經(jīng)常出現(xiàn),因此本研究將以鐵皮石斛“昆植1號”品種為研究對象,研究高溫和強(qiáng)光復(fù)合脅迫對其PSI和PSII的影響及其光合生理機(jī)制,為鐵皮石斛的種植策略提供參考。
供試材料為種植在中國科學(xué)院昆明植物研究所溫室內(nèi)的鐵皮石斛品種“昆植1號”。鐵皮石斛“昆植1號”植株被栽培在直徑為20 cm的透水塑料盆中,以樹皮為基質(zhì)。生長季晝夜溫度為20/30 ℃,空氣濕度維持在60%左右,光照條件為全光照的40%。
將鐵皮石斛植株在常溫下暗適應(yīng)30 min后,放入42 ℃溫室中繼續(xù)暗適應(yīng)5 min,然后利用Dual-PAM 100雙通道葉綠素?zé)晒鈨x(德國Walz公司)測定葉綠素?zé)晒饪焖賱?dòng)力學(xué)曲線(300 ms)和Pm值,分析處理前葉片的PSII和PSI活性。隨后暗適應(yīng)5 min,然后測定強(qiáng)光〔1 809 μmol/(m2· s)〕處理過程中PSI和PSII參數(shù)的變化。處理60 min后,再暗適應(yīng)30 min測定葉綠素?zé)晒饪焖賱?dòng)力學(xué)曲線和Pm值,分析處理后葉片的PSII和PSI活性。通過比較處理前后PSII和PSI活性的差異,判斷高溫強(qiáng)光處理對PSII和PSI活性的損傷程度。
PSI和PSII參數(shù)的測定都利用Dual-PAM 100雙通道葉綠素?zé)晒鈨x(德國Walz公司)完成。葉綠素?zé)晒饪焖賱?dòng)力學(xué)曲線的測定使用20 000 μmol/(m2· s)的強(qiáng)光脈沖(300 ms),葉綠素相對熒光強(qiáng)度的快速動(dòng)力學(xué)曲線利用最大熒光強(qiáng)度進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化。PSII的參數(shù)計(jì)算如下[23]:
Y(II)=(Fm′ -Fs)/Fm′;NPQ=(Fm-Fm′)/Fm′;Y(NO)=Fs/Fm。
式中:Fm代表暗適應(yīng)后的最大葉綠素?zé)晒鈴?qiáng)度;Fm′代表光適應(yīng)后的最大葉綠素?zé)晒鈴?qiáng)度;Fs代表光適應(yīng)后的穩(wěn)態(tài)熒光強(qiáng)度;Y(II)表示PSII的有效光化學(xué)量子產(chǎn)額;NPQ表示PSII的非光化學(xué)淬滅能力;Y(NO)表示PSII的非調(diào)節(jié)性熱耗散量子產(chǎn)額。PSI的參數(shù)計(jì)算如下[22]:
Y(I)=(Pm′-P)/Pm;Y(ND)=P/Pm;Y(NA)=(Pm-Pm′)/Pm。
式中:Y(I)代表光PSI的光化學(xué)量子產(chǎn)額,Y(ND)代表PSI反應(yīng)中心P700的氧化態(tài)比例,Y(NA)代表PSI反應(yīng)中心P700的還原態(tài)比例。光合電子傳遞速率的計(jì)算如下:
ETRI = PPFD×Y(I)×0.84×0.5;ETRII = PPFD×Y(II)×0.84×0.5。
式中:ETRI和ETRII分別代表通過PSI和PSII的電子傳遞速率,ETRI-ETRII代表環(huán)式電子傳遞速率[24],PPFD代表光合有效輻射強(qiáng)度。
本研究的每組實(shí)驗(yàn)測定包括5個(gè)重復(fù),數(shù)據(jù)為平均值±標(biāo)準(zhǔn)誤。采用SPSS 16.0軟件對數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。處理前后的數(shù)據(jù)比較采用獨(dú)立樣本T檢驗(yàn)進(jìn)行。
高溫強(qiáng)光脅迫對鐵皮石斛葉綠素影響見圖1。
圖1 高溫強(qiáng)光處理對鐵皮石斛葉綠素?zé)晒饪焖賱?dòng)力學(xué)曲線的影響
在42 ℃的中等高溫脅迫下對鐵皮石斛葉片進(jìn)行強(qiáng)光〔1 809 μmol/(m2· s〕處理60 min后,測定其葉綠素?zé)晒饪焖賱?dòng)力學(xué)曲線(OJIP曲線),發(fā)現(xiàn)J點(diǎn)、I點(diǎn)和P點(diǎn)的葉綠素?zé)晒鈴?qiáng)度都發(fā)生大幅度下降(圖1A),表明PSII活性受到了嚴(yán)重?fù)p傷。此外,在300 μs時(shí)的相對葉綠素?zé)晒鈴?qiáng)度(K點(diǎn))發(fā)生了顯著上升(圖1B),表明PSII的電子供體即放氧復(fù)合體活性受到了明顯的損傷。
高溫強(qiáng)光脅迫對鐵皮石斛PSII光量子產(chǎn)額的影響見圖2。
圖2 高溫強(qiáng)光處理對鐵皮石斛光系統(tǒng)II量子產(chǎn)額的影響
在暗適應(yīng)葉片突然曝光的前1 min內(nèi),鐵皮石斛的PSII光化學(xué)量子產(chǎn)額[Y(II)]維持在很高水平(圖2A),這主要和水-水循環(huán)介導(dǎo)的PSII電子傳遞相關(guān)。在高溫和強(qiáng)光處理過程中,Y(II)在前6 min內(nèi)大幅度下降(圖2A),說明鐵皮石斛的卡爾文循環(huán)受到了高溫脅迫的強(qiáng)烈抑制,導(dǎo)致線性電子傳遞產(chǎn)生的ATP和NADPH不能被及時(shí)消耗,NADP+/NADPH的比例下降,影響了電子從PSII經(jīng)過PSI再傳遞給NADP+的過程。在高溫和強(qiáng)光處理60 min后,鐵皮石斛的NPQ從2.4下降到0.43,下降幅度達(dá)到了82%(圖2B)。NPQ的激發(fā)不僅依賴跨類囊體膜質(zhì)子梯度,同時(shí)還受PSII復(fù)合體核心活性的影響,前者和后者對NPQ的貢獻(xiàn)分別大概為60%和40%。所以,鐵皮石斛經(jīng)高溫和強(qiáng)光處理后NPQ的大幅度下降不僅和跨類囊體膜質(zhì)子梯度的不足有關(guān),同時(shí)還涉及PSII反應(yīng)中心的受損。當(dāng)NPQ能力不足時(shí),PSII吸收的大部分光能就變成了過剩光能,引起Y(NO)的大幅度上升(圖2C)。Y(NO)的大幅度上升會(huì)引起活性氧自由基在PSII復(fù)合體處大量產(chǎn)生,進(jìn)而影響D1蛋白的合成和PSII的修復(fù)過程。
高溫強(qiáng)光脅迫對鐵皮石斛PSI光量子產(chǎn)額的影響見圖3。
圖3 高溫強(qiáng)光處理對鐵皮石斛光系統(tǒng)I量子產(chǎn)額的影響
與Y(II)類似,在暗適應(yīng)葉片突然曝光的前1 min內(nèi),鐵皮石斛的PSI光化學(xué)量子產(chǎn)額[Y(I)]維持在很高水平(圖3A),這主要和水-水循環(huán)及環(huán)式電子傳遞的高度激發(fā)有關(guān)。在高溫和強(qiáng)光處理過程中,Y(I)在前6 min內(nèi)大幅度下降,隨后緩慢下降(圖3A)。PSI的反應(yīng)中心在暗適應(yīng)突然曝光后的20 s就高度氧化(圖3B),說明水-水循環(huán)在高溫處理的初期耗散了積累在PSI的過?;罨娮樱苊馄涑霈F(xiàn)過度還原態(tài)(圖3C)。但是,在隨后的高溫強(qiáng)光處理過程中,PSI的氧化態(tài)比例逐漸下降(圖3B),過度還原態(tài)比例逐漸上升(圖3C),這主要和PSI的逐漸受損相關(guān)。
高溫強(qiáng)光脅迫對鐵皮石斛光合電子傳遞的影響見圖4。
圖4 高溫強(qiáng)光脅迫對鐵皮石斛光合電子傳遞速率的影響
在暗適應(yīng)葉片突然曝光的前1 min內(nèi),PSI電子傳遞速率(ETRI)維持在很高水平(圖4A),這主要是因?yàn)樗?水循環(huán)和環(huán)式電子傳遞都高度激發(fā)。在隨后的處理過程中,水-水循環(huán)介導(dǎo)的PSII電子傳遞大幅度下降(圖4B),并且環(huán)式電子傳遞的激發(fā)受到抑制(圖4C),導(dǎo)致ETRI快速下降。值得注意的是,在高溫強(qiáng)光處理5 min以后,環(huán)式電子傳遞的活性基本喪失(圖4C),這會(huì)嚴(yán)重影響跨類囊體膜質(zhì)子梯度的構(gòu)建,進(jìn)而抑制NPQ的激發(fā)。
經(jīng)過60 min高溫和強(qiáng)光處理后,最大葉綠素?zé)晒鈴?qiáng)度(Fm)下降了78%,表明PSII活性受到嚴(yán)重?fù)p傷。與此同時(shí),最大可氧化的P700值(Pm)下降了31%,說明PSI活性也出現(xiàn)了中等程度損傷。相比較PSII活性而言,PSI活性的受損程度較低,這說明PSII是高溫強(qiáng)光脅迫對鐵皮石斛造成光損傷的主要靶點(diǎn)。
圖5 高溫強(qiáng)光脅迫對鐵皮石斛光系統(tǒng)I和II活性的影響
自然條件下,高溫和強(qiáng)光脅迫是植物在夏季經(jīng)常遭遇的非生物逆境脅迫,但這種復(fù)合脅迫對植物葉片PSI和PSII的影響還有待揭示。有研究表明,42 ℃和中等光強(qiáng)復(fù)合脅迫對小麥PSI活性的影響大于其對PSII活性的影響。本研究發(fā)現(xiàn),在42 ℃下強(qiáng)光脅迫處理60 min后鐵皮石斛的最大葉綠素?zé)晒庵?Fm)下降了78%,表明其PSII活性受到嚴(yán)重?fù)p傷[20]。與此同時(shí),其最大可氧化的P700值(Pm)下降了31%,表明PSI活性也有顯著的下降[22,25-26]。所以,高溫和強(qiáng)光脅迫對鐵皮石斛PSII活性的影響大于其對PSI活性的影響。此外,通過PSI和PSII的電子傳遞速率分別下降91%和86%,說明PSI和PSII的損傷對整個(gè)光合電子傳遞鏈的功能造成了嚴(yán)重影響。
PSII的損傷程度由損傷速率和修復(fù)速率共同決定,當(dāng)損傷速率大于修復(fù)速率時(shí),PSII活性發(fā)生損傷[27]。反之,當(dāng)修復(fù)速率大于損傷速率時(shí),PSII活性得到修復(fù)[28]。在自然條件下,強(qiáng)光導(dǎo)致的PSII損傷會(huì)在弱光條件下修復(fù)[29]。PSII的損傷速率主要和光照強(qiáng)度相關(guān),但修復(fù)速率會(huì)受到其他環(huán)境因素的影響,例如鹽脅迫、溫度脅迫等[10]。本研究發(fā)現(xiàn),高溫和強(qiáng)光復(fù)合脅迫處理對鐵皮石斛的放氧復(fù)合體活性造成顯著性損傷,這和PSII損傷的“兩步模型”相吻合。在“兩步模型”中,放氧復(fù)合體是PSII損傷的最初靶點(diǎn),放氧復(fù)合體的受損隨后引起PSII的損傷[30]。在逆境條件下,葉片的光能利用效率下降,導(dǎo)致活性氧自由基的含量上升?;钚匝踝杂苫鶗?huì)抑制PSII復(fù)合體關(guān)鍵亞基D1蛋白的重新合成,進(jìn)而影響D1蛋白和受損PSII復(fù)合體的組裝,限制PSII活性的修復(fù)。所以,環(huán)境脅迫對PSII修復(fù)速率的影響主要和活性氧自由基的產(chǎn)生密切相關(guān)[10]。當(dāng)暗適應(yīng)葉片在42 ℃下突然曝光后,其PSII電子傳遞速率(ETR II)先保持在較高水平,然后急速下降,這主要和水-水循環(huán)電子傳遞的短暫激發(fā)相關(guān),此時(shí)水-水循環(huán)電子傳遞的運(yùn)轉(zhuǎn)避免了PSI處于過度還原態(tài),也消耗了PSII的部分過剩光能。但是,在隨后的高溫強(qiáng)光處理過程中,ETR II逐漸下降并維持在較低的水平,說明鐵皮石斛的暗反應(yīng)受到限制。高溫容易引起卡爾文循環(huán)的受限,導(dǎo)致NADPH的消耗速率變慢,引起NADP+的缺失,進(jìn)而造成電子從PSI到NADP+的傳遞受阻,最終導(dǎo)致ETRII受限,引發(fā)活性氧自由基的大量產(chǎn)生,從而抑制PSII活性的修復(fù)。此外,非光化學(xué)淬滅(NPQ)作為PSII耗散過剩光能的主要保護(hù)機(jī)制,在高溫強(qiáng)光脅迫處理60 min后大幅度下降,這也加劇了PSII內(nèi)部活性氧自由基的產(chǎn)生。所以,在42 ℃和強(qiáng)光復(fù)合脅迫條件下,較高的PSII損傷速率和較低的PSII修復(fù)速率協(xié)同作用,導(dǎo)致鐵皮石斛的PSII活性嚴(yán)重受損。
PSII活性雖然容易受損,但是在合適條件下只需要幾個(gè)小時(shí)就能夠基本修復(fù)[31]。而PSI活性則不同,一旦受損就需要一周甚至更長時(shí)間才能完全修復(fù)[18,32]。PSI的損傷主要是由于其反應(yīng)中心附近的電子載體處于過度還原態(tài),造成PSI復(fù)合體內(nèi)部產(chǎn)生大量的活性氧自由基,進(jìn)而引發(fā)氧化損傷[33]。在正常生長條件下,葉片產(chǎn)生較高的跨類囊體膜質(zhì)子梯度(ΔpH),在Cyt b6f復(fù)合體處調(diào)節(jié)PSII到PSI的電子傳遞,保證PSI的電子載體在強(qiáng)光條件下都處于高度氧化態(tài),進(jìn)而避免過度還原引起的光損傷[34-35]。本研究發(fā)現(xiàn),鐵皮石斛的PSI電子載體在高溫強(qiáng)光脅迫處理的初期并沒有發(fā)生過度還原,但是在處理后期PSI電子載體出現(xiàn)過度還原并伴隨著光損傷。ΔpH在調(diào)控PSI氧化還原態(tài)過程中發(fā)揮重要作用,例如在擬南芥(Arabidopsisthaliana)環(huán)式電子傳遞突變體pgr5中,強(qiáng)光條件下ΔpH的建立不足導(dǎo)致其PSI發(fā)生嚴(yán)重?fù)p傷,甚至造成植株死亡[36-39]。所以,環(huán)式電子傳遞是植物在強(qiáng)光條件下建立充分的ΔpH并保護(hù)PSI活性的重要替代電子傳遞途徑[1,40]。本研究還發(fā)現(xiàn),在高溫強(qiáng)光脅迫處理的初期,鐵皮石斛的環(huán)式電子傳遞被高度激發(fā)。但是在處理后期,環(huán)式電子傳遞的激發(fā)程度很低,這就導(dǎo)致ΔpH的建立不足。同時(shí),由于NPQ的激發(fā)也依賴ΔpH的建立,因此高溫強(qiáng)光處理后NPQ的下降也證實(shí)了ΔpH的建立受限。所以,長期的高溫強(qiáng)光脅迫會(huì)導(dǎo)致環(huán)式電子傳遞失活,引起ΔpH的建立不足,進(jìn)而引起PSI活性受損。
高溫脅迫對光系統(tǒng)II活性及光量子產(chǎn)額的影響是導(dǎo)致其光合作用機(jī)構(gòu)受損的重要方面[41-44]。本研究發(fā)現(xiàn),在高溫強(qiáng)光復(fù)合脅迫處理60 min后,鐵皮石斛的PSI和PSII活性都顯著下降,且PSII的下降幅度更大,表明PSII活性的受損是鐵皮石斛難以適應(yīng)長期高溫強(qiáng)光復(fù)合脅迫的重要原因。提高光能利用效率是維持植物生長和提高產(chǎn)量的基礎(chǔ),而負(fù)責(zé)光反應(yīng)的PSI和PSII活性是決定光能利用效率的重要因素。鑒于高溫強(qiáng)光脅迫會(huì)對鐵皮石斛的PSI和PSII活性造成嚴(yán)重?fù)p傷,在鐵皮石斛種植條件的選擇和控制上,應(yīng)盡量避免高溫和強(qiáng)光復(fù)合脅迫。本研究的設(shè)計(jì)思路和實(shí)驗(yàn)結(jié)果對于其他農(nóng)作物和經(jīng)濟(jì)作物種植策略的選擇同樣具有參考和借鑒意義。