傅惠民, 李子昂, 付越帥
(北京航空航天大學(xué) 小樣本技術(shù)研究中心, 北京 100191)
大型電子產(chǎn)品通常難以進(jìn)行試驗(yàn), 如何根據(jù)其子系統(tǒng)的試驗(yàn)結(jié)果對(duì)整機(jī)進(jìn)行高置信度、 高可靠度的評(píng)估是當(dāng)前研究的熱點(diǎn)問(wèn)題[1]。 為此,文獻(xiàn)[2]基于文獻(xiàn)[3]的置信分布提出一種和差積商的置信限理論, 給出子系統(tǒng)可靠度和差積商的置信限公式, 解決了復(fù)雜系統(tǒng)可靠度的置信限計(jì)算難題。 本文進(jìn)一步建立了一般系統(tǒng)可靠度積商及線性組合的置信限公式,在此基礎(chǔ)上,提出一種電子產(chǎn)品小樣本可靠性評(píng)估與更新方法, 該方法能夠根據(jù)大型電子產(chǎn)品子系統(tǒng)的試驗(yàn)結(jié)果對(duì)整機(jī)可靠度和可靠壽命進(jìn)行高精度評(píng)估, 并且能夠根據(jù)整機(jī)試驗(yàn)結(jié)果或該電子產(chǎn)品的外場(chǎng)使用數(shù)據(jù), 對(duì)其整機(jī)可靠度或可靠壽命的置信限進(jìn)行實(shí)時(shí)更新。
式中RLi,γki和γki仍分別由式(4)和式(5)計(jì)算。ai>0,i=1,2,…,m,通常ai為正整數(shù),且多數(shù)情況ai=1。
鑒于置信度1-γ 的可靠度單側(cè)置信下限即為置信度γ 的可靠度單側(cè)置信上限,因此根據(jù)定理1~4 也能求得子系統(tǒng)可靠度積商及線性組合的單側(cè)置信上限。若將定理1和3 中的可靠度換成破壞率, 單側(cè)置信下限換成單側(cè)置信上限,則定理仍然成立。 若將定理1~4 中的可靠度換成可靠壽命,則定理仍然成立。 若將定理1~4 中的可靠度換成一般的母體特征值(如均值、方差、百分位值、百分率等),則定理仍然成立。 若將置信度換成置信水平,則上述4 個(gè)定理也仍然成立。此外,在定理1~4 中,當(dāng)遇到某些子系統(tǒng)可靠度置信限完全相關(guān)時(shí),則只需將式(2)中與之相對(duì)應(yīng)的求和號(hào)保留其中之一即可。
設(shè)某電子產(chǎn)品整機(jī)由m 個(gè)相互獨(dú)立的子系統(tǒng)串聯(lián)而成,各子系統(tǒng)壽命t 均服從指數(shù)分布,其可靠度函數(shù)分別為
式中θi為第i 個(gè)子系統(tǒng)的平均壽命, i=1,2,…,m。
若對(duì)各子系統(tǒng)單獨(dú)開(kāi)展壽命試驗(yàn), 試驗(yàn)結(jié)果為(Ti,ri), 其中Ti為子系統(tǒng)i 所有試樣的總試驗(yàn)時(shí)間,ri為其發(fā)生失效的試樣數(shù)。子系統(tǒng)i 在t 時(shí)刻置信度為γ 的可靠度單側(cè)置信下限為[4,5]
其中γki由式(5)給出。 當(dāng)δk2k3…km<0 時(shí),令δk2k3…km=0。
進(jìn)一步通過(guò)調(diào)整式(14)中的γ 取值為γ**,使得式(15)中的γ*=γ,即可求得該電子產(chǎn)品整機(jī)置信度為γ 的可靠度單側(cè)置信下限
設(shè)某大型電子產(chǎn)品由三個(gè)不同的子系統(tǒng)串聯(lián)組成,各子系統(tǒng)的壽命分別服從平均壽命為θ1=5.0×106小時(shí),θ2=6.0×106小時(shí),θ3=8.0×106小時(shí)的指數(shù)分布。 則該電子產(chǎn)品整機(jī)在t=104小時(shí)處的可靠度真值R=0.9951。
首先,對(duì)三個(gè)子系統(tǒng)的壽命進(jìn)行隨機(jī)抽樣,仿真生成一組定數(shù)截尾數(shù)據(jù):(T1,r1)=(8.0×106,3),(T2,r2)=(1.6×107,3),(T3,r3)=(3.4×107,3)。則根據(jù)式(14)可以求得該電子產(chǎn)品整機(jī)在t=104小時(shí)處的可靠度單側(cè)置信下限RL為
定理1~4 建立了子系統(tǒng)可靠度積商及線性組合的置信限公式, 不但解決了一般復(fù)雜系統(tǒng)可靠度和可靠壽命置信限計(jì)算難題, 而且還可推廣用于一般的母體特征值(如均值、方差、百分位值和百分率等)的積商及線性組合的置信限計(jì)算。
提出了整機(jī)小樣本可靠性評(píng)估方法, 能夠根據(jù)電子產(chǎn)品子系統(tǒng)的試驗(yàn)結(jié)果給出整機(jī)可靠度和可靠壽命的置信限,解決了大型電子產(chǎn)品難以進(jìn)行試驗(yàn)時(shí),其可靠性評(píng)估和壽命預(yù)測(cè)的難題。
給出了整機(jī)小樣本可靠性更新方法, 能夠根據(jù)電子產(chǎn)品整機(jī)試驗(yàn)結(jié)果或外場(chǎng)實(shí)際使用數(shù)據(jù), 對(duì)其整機(jī)可靠度和可靠壽命的置信限進(jìn)行實(shí)時(shí)更新。
文中詳細(xì)討論了串聯(lián)系統(tǒng)的可靠性評(píng)估與更新,對(duì)于一般系統(tǒng)也可以根據(jù)本文子系統(tǒng)可靠度積商及線性組合的置信限公式和文獻(xiàn)[2]進(jìn)行計(jì)算。