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軍用電子元器件質(zhì)量檢測技術(shù)研究

2021-11-05 10:40李靜尚恒
消費電子 2021年9期
關(guān)鍵詞:軍用元器件信號

李靜 尚恒

【關(guān)鍵詞】軍用;電子元器件;檢測;質(zhì)量

一、引言

軍用電子元器件作為軍事戰(zhàn)略中最基礎(chǔ)也是最重要的關(guān)鍵硬件,我國通過制定軍用電子元器件標準的方式,嚴格把控軍用電子元器件質(zhì)量。針對軍用電子元器件質(zhì)量檢測技術(shù)的研究并不少見,主要是通過超聲波檢測法,實現(xiàn)軍用電子元器件質(zhì)量檢測。該技術(shù)能夠精準定位軍用電子元器件損傷部位,但應用在軍用領(lǐng)域中,會受到工件材質(zhì)和晶粒度的影響,導致其檢測精度降低。為此,本文提出軍用電子元器件質(zhì)量檢測技術(shù)研究,通過設(shè)計一種新型質(zhì)量檢測技術(shù),探究電子元器件質(zhì)量控制的新思路和新方法。

二、軍用電子元器件質(zhì)量檢測技術(shù)

(一)確定軍用電子元器件質(zhì)量檢測關(guān)鍵點

以軍用電子元器件為目標,通過確定軍用電子元器件質(zhì)量檢測關(guān)鍵點的方式,提取其質(zhì)量特征參數(shù)。建造軍用電子元器件質(zhì)量節(jié)點切片,預先提取目標檢測點,并在直線中進行擬合,擬合目標檢測點在直線中的位置,根據(jù)軍用元器件類別以及質(zhì)量分級,提取目標檢測中的關(guān)鍵點,在完成上述統(tǒng)計的軍用電子元器件質(zhì)量檢測關(guān)鍵節(jié)點的基礎(chǔ)上,針對不同的質(zhì)量等級,分別采取相應的檢測處理措施。

(二)同步采集軍用電子元器件質(zhì)量檢測特高頻信號

確定軍用電子元器件質(zhì)量檢測關(guān)鍵點后,考慮到軍用電子元器件質(zhì)量檢測信號中存在諸多特高頻信息以及低頻信息,而其主要信息均存儲在特高頻信息中。采用同步采集的方式,高速獲取軍用電子元器件質(zhì)量檢測特高頻信號。首先,采集初始軍用電子元器件質(zhì)量檢測信號;而后,觸發(fā)脈沖,同步輸出軍用電子元器件質(zhì)量檢測信息;再通過過濾的方式,實現(xiàn)對局放脈沖同步處理。同步采集軍用電子元器件質(zhì)量檢測特高頻信號流程圖,如圖1所示。

圖1所示過程中,最為關(guān)鍵的一步是針對脈沖信號的過濾,本文采用過濾器,保證軍用電子元器件質(zhì)量檢測特高頻信號的過濾純度,為下文分析軍用電子元器件質(zhì)量檢測圖譜異常提供精度支持。

(三)得出軍用電子元器件質(zhì)量檢測結(jié)果

以上述同步采集得到軍用電子元器件質(zhì)量檢測特高頻信號為依據(jù),等待前端獲取信息的處理完成后,可持續(xù)進行數(shù)據(jù)的處理工作,使數(shù)據(jù)處理處于一種相對循環(huán)的過程。在深入對此種數(shù)據(jù)處理方法的本質(zhì)分析中發(fā)現(xiàn),此種處理方式更加適用于對質(zhì)量信息的處理,包括數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)終端調(diào)用等。此過程需要建立在數(shù)據(jù)采集工作已完善的基礎(chǔ)上,即通過采樣處理的方式,對高頻信號與特高頻信號進行處理,并在終端優(yōu)先輸出前端錄入的數(shù)據(jù)。設(shè)此過程的目標函數(shù)為S(hij,u),則有公式(1)。

根據(jù)上文得出的圖譜異常為質(zhì)量檢測切入點,提取軍用電子元器件質(zhì)量檢測數(shù)據(jù)。并將字符型軍用電子元器件質(zhì)量檢測數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為數(shù)值型軍用電子元器件質(zhì)量檢測數(shù)據(jù)。此過程,可通過公式可表現(xiàn)為:

三、實例分析

(一)前期準備

構(gòu)建實例分析,實驗對象為HKUS-RFF3-323混合集成電路,實際質(zhì)量等級為H1。為證明本文設(shè)計檢測技術(shù)的精準性,首先使用本文設(shè)計檢測技術(shù)對軍用電子元器件質(zhì)量進行檢測,設(shè)置為實驗組;再使用傳統(tǒng)檢測技術(shù)對軍用電子元器件質(zhì)量進行檢測,設(shè)置為對照組。實驗對比指標為兩種檢測技術(shù)下測得的檢測結(jié)果與實際檢測結(jié)果之間的誤差,測得的檢測結(jié)果與實際檢測結(jié)果之間的誤差越小,證明該檢測技術(shù)針對軍用電子元器件質(zhì)量檢測精度越高。本次實驗共設(shè)置檢測批次為5次。

(二)實驗結(jié)果與分析

具體實驗結(jié)果,如表1所示:

由表1中實驗結(jié)果可以看出,本文設(shè)計檢測技術(shù)檢測結(jié)果與實際檢測結(jié)果相比完全一致,且不存在任何誤差。而對照組在5次檢測過程中,共出現(xiàn)4次檢測結(jié)果與實際檢測結(jié)果不符的情況,證明存在檢測誤差。由此可見,本文設(shè)計檢測技術(shù)檢測誤差明顯小于對照組,針對軍用電子元器件質(zhì)量檢測精度更高。

四、結(jié)束語

本文通過設(shè)計軍用電子元器件質(zhì)量檢測技術(shù),明確軍用電子元器件質(zhì)量檢測的必要性。一旦軍用電子元器件表面存在損傷情況,必然會對其質(zhì)量造成巨大影響,進而引發(fā)一系列的安全問題。因此,在后續(xù)的研究中應該進一步加大對軍用電子元器件質(zhì)量檢測技術(shù)的研究力度,為保證軍用電子元器件質(zhì)量,提高軍用電子元器件安全可靠性提供先進的技術(shù)支持。

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