方戰(zhàn)鋒,李正義,陸 坤,蘇 峻
(南京林業(yè)大學(xué) 理學(xué)院,江蘇 南京 210037)
邁克爾遜干涉儀是利用分振幅法實(shí)現(xiàn)分光干涉的精密光學(xué)儀器。其中,分光板將光源發(fā)出的光分成相互垂直的兩束光,即由分光板表面反射的光(反射光)及透過分光板的光(透射光)。補(bǔ)償板平行于分光板放置,用于補(bǔ)償這兩束光的光程差。當(dāng)補(bǔ)償板和透射光的夾角改變時(shí),會(huì)引起透射光光程的變化。故在緩慢改變補(bǔ)償板的角度的過程中可以觀察到干涉圓環(huán)不斷從其中心“吐出”或“吞入”[1]。已有文獻(xiàn)[2,3]從理論上推導(dǎo)出補(bǔ)償板的角度在45°~90°范圍內(nèi)變化時(shí)其角度變化量與干涉條紋變化的關(guān)系,但未見有實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。本文推導(dǎo)了補(bǔ)償板的角度在0°~90°范圍內(nèi)變化時(shí),其角度變化量與干涉條紋變化的關(guān)系。利用精密微調(diào)螺桿調(diào)節(jié)補(bǔ)償板的角度,并基于光杠桿原理[4]測(cè)量補(bǔ)償板微小角度變化量,驗(yàn)證了補(bǔ)償板角度變化量與干涉條紋變化的關(guān)系。可為應(yīng)用邁克爾遜干涉儀測(cè)量微小角度變化提供理論和實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)。同時(shí),基于等傾干涉的光強(qiáng)分布公式,利用MATLAB設(shè)計(jì)了仿真實(shí)驗(yàn)軟件。
圖1 補(bǔ)償板旋轉(zhuǎn)前后透射光光路圖
設(shè)空氣的折射率為n0,補(bǔ)償板的折射率為n2,補(bǔ)償板厚度為d,則透射光在補(bǔ)償板旋轉(zhuǎn)前后的光程差為:
(1)
i+θ=90°,i′+θ′=90°
(2)
根據(jù)折射定律,n0sini=n2sinj,n0sini′=n2sinj′,及(1)、(2)式可得:
(3)
(4)
當(dāng)補(bǔ)償板在光路中繞其他軸旋轉(zhuǎn)時(shí),等效為補(bǔ)償板繞其前表面中心軸的旋轉(zhuǎn)及其平動(dòng)的疊加。而補(bǔ)償板在平動(dòng)過程中不會(huì)引起額外光程差。故(4)式對(duì)補(bǔ)償板繞任意軸旋轉(zhuǎn)均成立。
在邁克爾遜干涉儀(WSM-100,杭州光學(xué)電子儀器有限公司生產(chǎn))補(bǔ)償板一側(cè)加裝精密微調(diào)螺桿(M6×0.25,精度0.001 mm),以對(duì)補(bǔ)償板的角度進(jìn)行微調(diào)(順時(shí)針旋轉(zhuǎn)微調(diào)螺桿時(shí),補(bǔ)償板與透射光方向夾角減?。荒鏁r(shí)針旋轉(zhuǎn)微調(diào)螺桿時(shí),夾角增大)。在補(bǔ)償板上方固定一個(gè)表面鍍膜平面反射鏡,其與補(bǔ)償板嚴(yán)格平行且豎直放置,如圖2所示。
1-精密微調(diào)螺桿;2-微調(diào)螺桿球頭;3-補(bǔ)償板G2;4-微調(diào)螺桿固定支架;5-表面鍍膜平面反射鏡;6-平面反射鏡底座圖2 微調(diào)螺桿及平面反射鏡結(jié)構(gòu)圖
實(shí)驗(yàn)裝置如圖3所示,利用半導(dǎo)體激光器、平面反射鏡以及光屏E2組成光杠桿系統(tǒng)以測(cè)量補(bǔ)償板角度的微小變化量。當(dāng)通過精密微調(diào)螺桿微調(diào)補(bǔ)償板的角度時(shí),平面反射鏡旋轉(zhuǎn)相同角度,半導(dǎo)體激光器發(fā)出的激光經(jīng)平面反射鏡反射至光屏E2中,進(jìn)而將補(bǔ)償板微小角度變化量放大為光屏E2上反射光點(diǎn)的位移量。
1-光屏E1;2-光源;3-鍍膜平面反射鏡;4-平面鏡底座;5-分光板G1;6-補(bǔ)償板G2;7-微調(diào)螺桿;8-補(bǔ)償板底座;9-光屏E2;10-半導(dǎo)體激光器;11-動(dòng)鏡M1;12-定鏡M2;13-反射光點(diǎn)圖3 實(shí)驗(yàn)裝置圖
圖4所示,記平面反射鏡與透射光夾角45°位置為P,半導(dǎo)體激光器中心投影至光屏E2中的位置為點(diǎn)Q。設(shè)光屏E2中反射光點(diǎn)到點(diǎn)Q的距離為D,補(bǔ)償板旋轉(zhuǎn)前平面反射鏡中心到光屏E2的垂直距離為L(zhǎng)。則補(bǔ)償板旋轉(zhuǎn)后經(jīng)平面反射鏡產(chǎn)生的反射光線與其入射光線的夾角為:
(5)
其中,平面反射鏡由位置P順時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí),D>0;逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí),D<0。根據(jù)反射定理及幾何關(guān)系可知,平面反射鏡(也即補(bǔ)償板)偏離位置P的角度為:
(6)
由幾何關(guān)系可知旋轉(zhuǎn)后補(bǔ)償板和透射光方向夾角為:
θ′=45°-α
(7)
聯(lián)立(5)、(6)及(7)式,可得:
(8)
1-半導(dǎo)體激光器;2-旋轉(zhuǎn)前平面反射鏡;3-旋轉(zhuǎn)后平面反射鏡;4-光屏E2;5-透射光圖4 補(bǔ)償板角度測(cè)量原理圖
搭建如圖3所示實(shí)驗(yàn)裝置。調(diào)節(jié)邁克爾遜干涉儀,使光屏E1中呈現(xiàn)清晰完整的干涉條紋,測(cè)出平面反射鏡中心到光屏E2的垂直距離L。
(1)調(diào)節(jié)補(bǔ)償板至某個(gè)初始角度,標(biāo)記光屏E2中反射光點(diǎn)位置為點(diǎn)S,測(cè)量并記錄點(diǎn)S和點(diǎn)Q的距離D0,根據(jù)(8)式計(jì)算補(bǔ)償板和透射光方向夾角θ0。
(2)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)微調(diào)螺桿,當(dāng)光屏E1中干涉條紋中心“吐出”(或向中心“吞入”)圓環(huán)數(shù)量變化15個(gè)時(shí),測(cè)量并記錄光屏E2中反射光點(diǎn)到點(diǎn)Q的距離D。記錄多組數(shù)據(jù)后,逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)微調(diào)螺桿,將光屏E2中反射光點(diǎn)和標(biāo)記點(diǎn)S重合。
(3)逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)微調(diào)螺桿,當(dāng)光屏E1中干涉條紋中心“吞入”(或向中心“吐出”)圓環(huán)數(shù)量變化15個(gè)時(shí),測(cè)量并記錄光屏E2中反射光點(diǎn)到點(diǎn)Q的距離D。記錄多組數(shù)據(jù)后,順時(shí)針旋轉(zhuǎn)微調(diào)螺桿,將光屏E2中反射光點(diǎn)和標(biāo)記點(diǎn)S重合。
(4)重復(fù)上述步驟(2)、(3)三次。
實(shí)驗(yàn)中分別測(cè)量了補(bǔ)償板初始角度在45°附近、30°附近及50°附近時(shí)補(bǔ)償板角度改變量和干涉條紋中心“吞吐”圓環(huán)的數(shù)量。實(shí)驗(yàn)用邁克爾遜干涉儀補(bǔ)償板厚度d=8.28 mm,所使用的激光波長(zhǎng)λ=624.8 nm(實(shí)驗(yàn)測(cè)得),平面反射鏡到光屏E2垂直距離L=3.987 m。當(dāng)補(bǔ)償板初始角度在45°附近時(shí),由D0=0 m及(8)式可知θ0=45°;當(dāng)補(bǔ)償板初始角度在30°附近時(shí),測(cè)得D0=1.934 6 m,由(8)式計(jì)算得θ0=32.058°;當(dāng)補(bǔ)償板初始角度在50°附近時(shí),測(cè)得D0=-1.137 7 m,由(8)式計(jì)算得θ0=52.963°。三組實(shí)驗(yàn)所測(cè)的部分?jǐn)?shù)據(jù)如表1~3所示。
表1 θ0=45°時(shí)干涉條紋變化與補(bǔ)償板角度 改變量的關(guān)系數(shù)據(jù)
表2 θ0=32.058°時(shí)干涉條紋變化與 補(bǔ)償板角度改變量的關(guān)系數(shù)據(jù)
表3 θ0=52.963°時(shí)干涉條紋變化與 補(bǔ)償板角度改變量的關(guān)系數(shù)據(jù)
如圖5所示,利用Origin軟件對(duì)比每組實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和理論數(shù)據(jù),并對(duì)測(cè)量值進(jìn)行線性擬合。
(a)θ0=45°
(b)θ0=32.058°
(c)θ0=52.963°圖5 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和理論數(shù)據(jù)對(duì)比圖
由表1~3及圖5可知:(1)實(shí)驗(yàn)相對(duì)誤差在6%以內(nèi),實(shí)驗(yàn)測(cè)量值和理論值相吻合;(2)三組實(shí)驗(yàn)的ΔN和Δθ線性擬合度較好,相關(guān)系數(shù)分別為0.999、0.998、0.998,故可知當(dāng)補(bǔ)償板的角度在某個(gè)基礎(chǔ)角度附近5°范圍內(nèi)改變時(shí),干涉條紋中心“吞吐”圓環(huán)數(shù)量ΔN和補(bǔ)償板角度改變量Δθ可視為線性關(guān)系;(3)由三組實(shí)驗(yàn)的ΔN和Δθ線性擬合的K值可知,隨著補(bǔ)償板初始角度的增大,其微小角度分辨率(干涉條紋每變化一環(huán)時(shí)補(bǔ)償板角度改變量)逐漸增大。補(bǔ)償板初始角度為32.058°時(shí),其微小角度分辨率為0.004 3°;補(bǔ)償板初始角度為45°時(shí),其微小角度分辨率為0.006 36°;補(bǔ)償板初始角度為52.963°時(shí),其微小角度分辨率為0.008 86°。
對(duì)于實(shí)驗(yàn)測(cè)量值和理論值存在一定誤差,分析如下:1)由(8)式可知,實(shí)驗(yàn)所測(cè)量的角度只與D和L有關(guān),D和L讀數(shù)的準(zhǔn)確性是實(shí)驗(yàn)誤差的主要來源;2)實(shí)驗(yàn)中干涉條紋中心“吞吐”圓環(huán)的數(shù)量采用人工計(jì)數(shù)亦是誤差的來源。
在文獻(xiàn)[5,6]基礎(chǔ)上,利用MATLAB中App Designer功能設(shè)計(jì)了如圖6所示邁克爾遜干涉儀仿真軟件。該仿真軟件不僅可以對(duì)常規(guī)邁克爾遜干涉實(shí)驗(yàn)進(jìn)行仿真,還可對(duì)補(bǔ)償板角度與干涉條紋變化關(guān)系進(jìn)行仿真[8]。其基于邁克爾遜干涉儀的等傾干涉的光強(qiáng)分布實(shí)現(xiàn):
(9)
其中,t為動(dòng)鏡M1和定鏡M2的像之間的距離,z為定鏡M2的像到光屏E1的距離,r為光屏E1中某點(diǎn)到光屏中心點(diǎn)的距離,δ表示因補(bǔ)償板旋轉(zhuǎn)引起的光程差(即(3)式)。
本仿真軟件實(shí)現(xiàn)功能如下:(1)直觀、動(dòng)態(tài)地顯示出干涉條紋圖像及補(bǔ)償板與透射光方向夾角;(2)通過拖動(dòng)“微調(diào)手輪”旋鈕調(diào)節(jié)動(dòng)鏡M1移動(dòng)距離,“動(dòng)鏡位置數(shù)值”結(jié)果欄顯示動(dòng)鏡M1移動(dòng)距離,“動(dòng)鏡位移條紋變換環(huán)數(shù)”結(jié)果欄顯示干涉條紋中心“吞吐”圓環(huán)的數(shù)量;(3)通過拖動(dòng)“G2調(diào)節(jié)旋鈕”調(diào)節(jié)補(bǔ)償板與透射光方向夾角,“輸出結(jié)果”面板顯示補(bǔ)償板與透射光方向夾角以及干涉條紋中心“吞吐”圓環(huán)的數(shù)量;(4)可自動(dòng)保存或手動(dòng)保存實(shí)驗(yàn)結(jié)果和實(shí)驗(yàn)參數(shù);(5)提供實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處理功能。該仿真軟件能夠簡(jiǎn)化學(xué)生的實(shí)驗(yàn)操作,使學(xué)生較方便地觀察到不同參數(shù)條件下干涉條紋的變化,可加深學(xué)生對(duì)光的干涉等相關(guān)物理概念的理解。再者,利用計(jì)算機(jī)仿真技術(shù)擴(kuò)展實(shí)驗(yàn)教學(xué)手段,可以提升實(shí)驗(yàn)教學(xué)效果。
該仿真軟件下載鏈接為:https://github.com/CopleM/Simulation-of-Michelson-interferometer
圖6 邁克爾遜干涉儀MATLAB仿真系統(tǒng)界面
邁克爾遜干涉儀補(bǔ)償板的角度在0°-90°范圍內(nèi)變化時(shí)其角度變化量和干涉條紋中心“吞吐”圓環(huán)的數(shù)量存在對(duì)應(yīng)關(guān)系。且補(bǔ)償板在一定角度基礎(chǔ)上改變微小角度時(shí)(5°以內(nèi)),其角度變化與干涉條紋中心“吞吐”圓環(huán)的數(shù)量近似為線性關(guān)系。這為利用邁克爾遜干涉儀測(cè)量微小角度提供理論和實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)。在實(shí)際應(yīng)用中,在某個(gè)基礎(chǔ)角度處微調(diào)補(bǔ)償板的角度,計(jì)數(shù)干涉條紋中心“吞吐”圓環(huán)的數(shù)量,根據(jù)(4)式計(jì)算補(bǔ)償板旋轉(zhuǎn)后的角度,進(jìn)而計(jì)算補(bǔ)償板角度變化量?;?qū)?shù)輸入仿真軟件中,通過仿真軟件獲得補(bǔ)償板角度改變量。此外,可設(shè)計(jì)邁克爾遜干涉儀干涉條紋自動(dòng)測(cè)量裝置降低測(cè)量誤差。上述實(shí)驗(yàn)在邁克爾遜干涉實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)上豐富了光的干涉實(shí)驗(yàn)內(nèi)容,實(shí)驗(yàn)原理簡(jiǎn)單,操作難易適中,可作為大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)性和探究性實(shí)驗(yàn),以加深學(xué)生對(duì)光的干涉等相關(guān)物理概念的理解。