葉揚韜 景洪恩 徐振飛 陳楚軒 劉泳海
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近年來,第五代移動通信技術(5G)成為全球科技進步和經(jīng)濟發(fā)展領域的重要課題。據(jù)我國工信部數(shù)據(jù)顯示,截止到2021年8月底,我國5G終端的連接數(shù)量接近4.2億。而隨著5G技術對智慧交通、智能制造等垂直領域的滲透,5G將進一步的影響到社會生活的方方面面,5G終端的數(shù)量也將進一步增長。
空口(OTA)測試技術能夠從終端整機的角度考察終端的無線性能,比射頻傳導測試更加全面,在以往的移動通信技術中被廣泛采用。根據(jù)天線端口的數(shù)量,OTA測試又分為SISO OTA測試和MIMO OTA測試。5G包含了FR1頻段(450 MHz~7.125 GHz)與FR2頻段(24.25~52.6 GHz)。一方面,5G 終端在FR1頻段的天線數(shù)量相比LTE將更多,OTA測試能夠對多天線的無線性能做出評估。另一方面,5G FR2頻段的終端具有高集成的特點,不再具有射頻測試接口,只能利用OTA技術進行無線性能測試。因此,OTA測試在5G時代將發(fā)揮更加重要的作用。
本文將對5G終端在FR1和FR2頻段的SISO OTA和MIMO OTA測試方法進行分析介紹。
5G FR1頻段都采用的6GHz以下的載波進行通信,其SISO OTA測試系統(tǒng)可以基本與LTE保持一致,主要測試的項目為總全向輻射功率(TIRP)和總全向輻射靈敏度(TIRS)。但由于5G相比4G在通信帶寬和子載波間隔的支持上都有所增強,并包含獨立組網(wǎng)(SA)及非獨立組網(wǎng)(NSA)兩種模式,其設置參數(shù)上相比4G還是存在一定差異。
由于5G頻段的最大帶寬由LTE的20 MHz變?yōu)镹R FR1頻段的100 MHz,5G FR1 OTA測試的相關帶寬設置也相應做出調整,如中國通信標準化協(xié)會CCSA制訂的《無線終端空間射頻輻射功率和接收機性能測量方法第9部分:5G NR無線終端(Sub-6GHz)》標準中即采用100 MHz作為TIRP和TIRS的測試參數(shù)設置[1]。表1和表2分別給出了NR FR1在獨立組網(wǎng)(SA)模式下的測試信道列表和相應的信道帶寬、子載波間隔參數(shù)設置,可以看到在輻射功率和接收靈敏度的測試中,信道帶寬都是設置為100 MHz,而子載波間隔都是設置為30 MHz。
表1 NR FR1獨立組網(wǎng)射頻輻射功率測試信道列表
表2 NR FR1 獨立組網(wǎng)接收靈敏度測試信道列表
在SA模式下,TIRP和TIRS的測試方式與LTE近似。在測試射頻輻射功率時,EUT要在整個測試過程中都以最大功率發(fā)射,試驗將測試等效全向輻射功率EIRP并計算TIRP。在測試接收機靈敏度時,上行功率采用閉環(huán)功率控制模式,EUT要以最大功率發(fā)射,試驗將測量等效全向靈敏度EIS并計算TIRS。
在NSA模式下,NR FR1與LTE處于雙連接狀態(tài),5G終端的LTE和NR FR1的射頻性能都要求被測試。在射頻輻射功率的測試中,NR TIRP與LTE TIRP可被同時測試或者先后測試。在接收機靈敏度的測試中,當NR TIRS被測試時,LTE下行鏈路功率設置需保持穩(wěn)定連接且誤塊率(BLER)為零,當LTE TIRS被測試時,NR下行鏈路功率設置需保持穩(wěn)定連接且誤塊率為零。
在LTE測試中,射頻性能主要采用傳導的方式進行測試。但毫米波由于高度集成的特點,不再保留射頻測試端口,毫米波的全部射頻性能測試都將采用OTA測試的方式。目前,毫米波測試主要有直接遠場法、間接遠場法和近遠場轉換法三種方式。
直接遠場法要求測試距滿足三個基本條件R>3D,R>3λ,R>2D2/λ,其中R是EUT的旋轉中心到測試天線相位中心的距離,D是輻射天線孔徑。直接遠場法在傳統(tǒng)OTA測試中被普遍采用,因為傳統(tǒng)測試頻率低于3GHz,測試距離約為2m,傳統(tǒng)測試對空間的要求不高,空間損耗也較小。
對于FR2毫米波頻段,其頻率較高,波長較小,遠場的測試距離主要由R>2D2/λ決定。由于天線與被測物其他部分的耦合效應,EUT的實際輻射天線孔徑難以被準確評估,3GPP采用天線陣列尺寸作為D值來計算測量距離[2],這樣能夠減小測量距離的要求,但同時會增加系統(tǒng)的總不確定度。隨著頻率的增加,系統(tǒng)對于測試距離的要求顯著增長,表3給出了28 GHz和100 GHz頻段對于不同被測物尺寸的遠場距離最小要求,可以看出,當D達到15 cm時,遠場的測試距離很大,系統(tǒng)的建設成本急劇上升,空間損耗也非常高,影響系統(tǒng)動態(tài)范圍和射頻指標的測試難度。所以,直接遠場法在FR2頻段適用于天線孔徑較小的5G終端,3GPP也將直接遠場法的使用條件規(guī)定為D ≤ 5 cm。
表3 對于不同孔徑被測天線的最小測試距離
間接遠場法是利用一些替代方法來近似模擬遠場環(huán)境,從而減小測量距離。緊縮場法(CATR)就是一種典型的間接遠場法,其基本原理是利用高精度的反射面,在較短的距離內(nèi)將原始信號發(fā)射的球面波轉化為平面波。緊縮場系統(tǒng)由EUT、饋電天線、反射面等構成,EUT安裝在旋轉支架上,示意圖如圖1所示。緊縮場法能利用較短的距離實現(xiàn)等效遠場的測試環(huán)境,從而降低系統(tǒng)建設成本和系統(tǒng)空間損耗。
圖1 緊縮場系統(tǒng)示意圖
緊縮場測試系統(tǒng)的性能主要由系統(tǒng)靜區(qū)的性能來進行表征,靜區(qū)尺寸一般為反射面尺寸的一半左右。例如,對于120 cm的反射面,靜區(qū)尺寸為60 cm左右。靜區(qū)性能包含幅度變化和靜區(qū)相位變化兩個主要參數(shù),會受到饋源、反射面平整度、反射面尺寸、吸波材料等參數(shù)的影響。一般認為,幅度變化小于1 dB,相位變化小于10度能滿足產(chǎn)業(yè)發(fā)展的基本需求。緊縮場系統(tǒng)可以對靜區(qū)內(nèi)任意尺寸的EUT進行測試,制造商不需要提供EUT的天線位置以及天線陣列尺寸等信息。也即是說,緊縮場是采用“黑盒”模式進行測試。無論是單個天線孔徑,還是多個相干或者不相干的天線孔徑,都可以在“黑盒”模式下進行測試。緊縮場系統(tǒng)可用于EIRP、TIRP、EIS、EVM、雜散輻射以及阻塞指標的測試。另外,由于反射面可以為信號提供額外的增益,系統(tǒng)的空間損耗降低,系統(tǒng)能夠降低對放大器等射頻器件的性能要求。
目前,3GPP、CCSA和CTIA等組織都采用緊縮場法作為FR2 SISO OTA測試的主要方案,緊縮場法將成為未來主流的FR2認證測試方案。
無論是直接遠場法還是間接遠場法,由于高頻信號的衰減較大,部分測試指標的測試精度較低。而近遠場轉換法的空間損耗較小,對于頻率、解調相關的射頻指標,可以保持更高的測試精度。
近遠場轉換法的原理是在近場的一個截面上采集電磁場的幅度、相位和頻譜等信息,再通過數(shù)值計算推導相對應的遠場幅度、相位等信息,得到遠場的輻射特性。根據(jù)采集面的形狀,近遠場轉換法又分為平面法、球面法和柱面法。
近遠場轉換法的關鍵步驟是對近場截面幅度及相位信息的精確測量。但有源天線的寬帶信號的相位信息難以被準確測量,這也是近遠場轉換法的主要問題。另一方面,采樣間隔也是影響結果準確性的關鍵因素,采樣網(wǎng)格尺寸需要小于波長的一半,隨著頻率的升高,網(wǎng)格密度也會不斷上升,掃描時間也會隨之增大。
目前,近遠場轉換法已被3GPP采納,但僅限于5G終端發(fā)射性能的測試,所以近遠場轉換法的適用范圍較窄。
5G FR1頻段的MIMO OTA測試,目前主要包括多探頭法(MPAC)和輻射兩步法(RTS)兩種測試方法。
在LTE MIMO OTA測試中,MPAC測試系統(tǒng)采用2D多探頭天線環(huán)結構,共有8個探頭呈環(huán)形均勻分布,在暗室內(nèi)構建具有特定來波角、多普勒時延等參數(shù)的信道環(huán)境。LTE MIMO OTA測試采用了城區(qū)微小區(qū)(SCME UMi)模型和城區(qū)宏小區(qū)(SCME UMa)模型,能夠進行2X2 MIMO OTA性能測試。5G FR1頻段的MIMO OTA與LTE類似,也是采用的2D多探頭天線環(huán)形架構,但在多個方面進行了升級。
在信道方面,5G基于3GPP TR38.901定義的集群延遲線(CDL)信道模型重新定義了多個信道模型[3],其中典型的信道模型為應用于5G 4X4 MIMO OTA測試的UMa CDL-C模型。在探頭分布方面,為了保證在暗室測試區(qū)域內(nèi)精準復現(xiàn)具有特定功率強度、時延、來波角度和相關性等參數(shù)的信道環(huán)境,F(xiàn)R1 MIMO OTA測試系統(tǒng)在LTE多探頭法的基礎上對探頭數(shù)量進行了升級,探頭間的間隔角度由45度減小為22.5度,探頭數(shù)量由8個上升為16個[4]。這樣的探頭分布,不僅可以向前兼容LTE MIMO OTA測試,也易于拓展標準規(guī)定以外的其他信道模型。而在天線端口數(shù)量的支持上,由于5G終端對于n7,n77,n78,n79等頻段一般采用至少4個接收天線端口,5G MIMO OTA測試系統(tǒng)也要求能夠支持4X4 MIMO無線性能的測試。
5G FR1 MIMO OTA測試系統(tǒng)的框架如圖所示,由基站模擬器、信道仿真器、放大器及多探頭暗室組成。在測試過程中,EUT被放置在暗室中心的靜區(qū)范圍內(nèi),并以30度為步長在水平面內(nèi)旋轉,在12個不同方向上依次進行吞吐量的測試。目前,3GPP已確定多探頭法為5G FR1 MIMO OTA認證測試方案。
多探頭法需要16個探頭呈環(huán)形分布,成本過高,而輻射兩步法則對探頭數(shù)量要求較低,可以有效降低建設成本及系統(tǒng)復雜度。圖3顯示了一種典型的4X4 MIMO OTA的測試架構圖。
圖2 FR1 MIMO OTA架構示意圖
圖3 輻射兩步法的典型測試架構圖
輻射兩步法分為兩個步驟,第一步需要在暗室中測量得到EUT的接收天線方向圖,該步驟要求EUT的芯片能夠支持信號幅度和相對相位信息的獲取及上報。
在第二步中,EUT放在全電波暗室中進行測試,但實際上我們希望測試系統(tǒng)能夠模擬一種“無線版的射頻傳導測試”。為達到這一目標,系統(tǒng)需要先校準發(fā)射天線和EUT接收機之間的傳輸矩陣。將第一步中得到的接收天線方向圖信息加載到信道模仿真中,獲得包含EUT天線特性的無線信道,再將系統(tǒng)的傳輸矩陣的逆矩陣也加載到信道仿真器中。這樣EUT的接收機接收到的信號類似于射頻傳導方式接入的信號,但同時被測設備的多天線自干擾特性也被考慮在內(nèi)了。之后,就可以對不同角度下的吞吐量進行測試了。與多探頭法旋轉被測設備的方式不同,輻射兩步法是通過旋轉信道仿真器中EUT的天線方向圖來實現(xiàn)不同角度下的測試,由于省略了物理旋轉的步驟,輻射兩步法可以有效節(jié)省測試時間。
輻射兩步法要求測試系統(tǒng)發(fā)射天線具有一定的隔離度,具體的隔離度要求限值還需進一步研究。另外,輻射兩步法僅適用于EUT天線配置和方向圖不隨外界環(huán)境變化而改變的情形。但很多采用四天線系統(tǒng)的5G終端,在2X2 MIMO模式下會隨外界環(huán)境變化進行天線的切換。對于這種情形,輻射兩步法無法完成測試。
目前,3GPP已經(jīng)采納輻射兩步法成為5G FR1 MIMO OTA的測試方法,但將其作為第二優(yōu)先級。
與5G FR1頻段不同,F(xiàn)R2 MIMO OTA測試采用3D信道模型,測試場景包括城市微小區(qū)(UMi)和室內(nèi)辦公室(InO),其系統(tǒng)架構如圖4所示。
圖4 FR2 MIMO OTA測試框架圖
在3D-MPAC系統(tǒng)中,探頭數(shù)量和位置是準確構建信道模型的關鍵。在FR1頻段,信道模型的準確性與空間相關性關系密切,而在FR2頻段,角度功率譜相似度(PSP)則至關重要。為了優(yōu)化信道PSP,3GPP規(guī)定了在距離測試區(qū)域中心最小半徑為0.75 m扇區(qū)上放置6個雙極化探頭的測試系統(tǒng),每個探頭的位置見表4,3D-MPAC系統(tǒng)目前支持的最大測試區(qū)域為20 cm。
表4 FR2 MIMO OTA測試系統(tǒng)探頭位置
本文分析介紹了5G終端在FR1和FR2頻段的SISO OTA和MIMO OTA測試方法。由于5G仍處于起步階段,相關的測試方法還需進一步的討論和完善。隨著5G技術的發(fā)展,全球各大標準組織和認證機構也會進一步規(guī)范5G OTA的測試方法,共同促進OTA技術在5G中的廣泛應用。