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金屬表面缺陷的電渦流脈沖熱成像檢測

2021-12-22 00:41陳曉輝解志軍劉春華
無損檢測 2021年3期
關(guān)鍵詞:渦流線圈線性

陳曉輝, 解志軍,劉春華,牟 令,賈 琦

(中國空氣動力研究與發(fā)展中心,綿陽 621000)

磁粉與滲透檢測技術(shù)是最常用的表面無損檢測手段,在檢測前必須對工件進(jìn)行表面處理,如通過物理打磨的方法去除涂層,但打磨過程中可能使工件本體受到損傷,還存在人工成本較高、勞動強(qiáng)度極大、粉塵污染嚴(yán)重、安全性較差、檢測效率較低、檢測周期較長等缺點(diǎn)。這些缺點(diǎn)制約了設(shè)備表面無損檢測工作的開展,甚至可能因?yàn)闄z測前處理不到位和檢測靈敏度不夠,而出現(xiàn)漏檢的現(xiàn)象,在設(shè)備上留下事故隱患。對于表面缺陷檢測,電渦流脈沖熱成像檢測方法具有表面預(yù)處理簡單、檢測效率高、檢測結(jié)果直觀等優(yōu)點(diǎn),是一種具有代替常規(guī)表面缺陷檢測手段潛能的新型無損檢測技術(shù)。電渦流脈沖熱成像在檢測鐵軌、發(fā)動機(jī)葉片、碳纖維復(fù)合材料等場合,已有了成功的應(yīng)用案例[1-2]。目前,針對電渦流脈沖熱成像的圖像處理算法的研究較多,也取得了豐富成果,但關(guān)于圖像序列包含的熱響應(yīng)信號特征的識別及分析較少。筆者利用搭建的檢測平臺和獨(dú)立成分分析方法[3-5],開展了金屬表面缺陷檢測,分析處理試樣的渦流熱圖像序列,識別出了缺陷不同區(qū)域的熱響應(yīng)信號特征,并對相應(yīng)的熱過程進(jìn)行簡單分析,旨在推進(jìn)電渦流脈沖熱成像檢測技術(shù)在金屬表面檢測方面的應(yīng)用。

1 檢測原理

電渦流脈沖熱成像檢測技術(shù)是通過檢測缺陷對感應(yīng)渦流分布的影響來實(shí)現(xiàn)缺陷識別的。脈沖渦流是以脈沖的方式向待測件注入電渦流熱量,利用脈沖電磁激勵(lì)的多物理時(shí)空特性,通過快速紅外熱成像方法,獲取被測件的瞬態(tài)熱傳導(dǎo)信息。加熱時(shí),感應(yīng)渦流主要從缺陷兩端點(diǎn)處繞過,聚集在缺陷兩端,形成了高溫區(qū)域,而缺陷兩側(cè)渦流密度較低或者沒有渦流通過,即形成了低溫區(qū)域[6-8]。該高溫區(qū)域的熱量Q為

(1)

式中:x為水平方向坐標(biāo);y為垂直方向坐標(biāo);σ為電導(dǎo)率;φ為端點(diǎn)電勢。

(2)

式中:W為溫度;ρ為材料密度;k為材料熱導(dǎo)率;Cp為材料熱容;T為材料溫度;t為時(shí)間。

材料的密度、熱導(dǎo)率和熱容均一致時(shí),溫度的變化速率主要取決于周圍的溫度梯度。設(shè)試件的坐標(biāo)位置分別為i(i=1,2,…,I)和j(j=1,2,…,J),對應(yīng)某一時(shí)刻的坐標(biāo)點(diǎn)溫度記為Wi,j,并用該像素點(diǎn)輻射出的能量大小Yi,j組成一幅完整的熱圖像,缺陷特征便被包含在若干幀熱圖像中。

2 檢測平臺

設(shè)計(jì)的電渦流脈沖熱成像檢測系統(tǒng)如圖1所示,該檢測系統(tǒng)主要由感應(yīng)加熱系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、控制系統(tǒng)等組成。感應(yīng)加熱系統(tǒng)包括感應(yīng)加熱器、加熱線圈和冷卻系統(tǒng)等。感應(yīng)加熱器和加熱線圈直接作用于試件以獲得感應(yīng)加熱效果,冷卻系統(tǒng)主要用于給加熱線圈降溫。數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)為高精度的紅外熱成像儀,用于記錄試件從感應(yīng)加熱開始到結(jié)束整個(gè)過程的紅外圖像序列信息??刂葡到y(tǒng)采用高性能計(jì)算機(jī),主要作用是控制感應(yīng)加熱設(shè)備并使得紅外熱成像系統(tǒng)保持同步記錄,并且能夠存儲紅外熱成像信息。圖2所示為搭建的電渦流脈沖熱成像檢測試驗(yàn)裝置。感應(yīng)加熱系統(tǒng)包括EASYHEAT 0224型感應(yīng)加熱器(最大功率為2.4 kW,頻率為150 kHz400 kHz)及加熱線圈,并配備水-氣熱交換器(型號為FLOWMAX-230)用于冷卻加熱線圈。紅外熱像儀的最大成像分辨率為640像素×512像素。

圖1 電渦流脈沖熱成像檢測系統(tǒng)示意

圖2 電渦流脈沖熱成像檢測現(xiàn)場

3 獨(dú)立成分分析

獨(dú)立成分分析(ICA)是近年來由盲源分離(BSS)技術(shù)發(fā)展起來的一項(xiàng)技術(shù)。BSS就是在傳輸信道不清楚的情況下,在混合觀測信號中,通過統(tǒng)計(jì)多個(gè)獨(dú)立信號來分離出源信號的信息處理技術(shù),是一種通過最大化地、多維地觀察混合信號中向量元素的統(tǒng)計(jì)獨(dú)立性,實(shí)現(xiàn)線性變換的方法。在圖像去噪、圖像分離、遙感圖像處理、圖像特征提取、人臉識別、字符識別等圖像處理方面應(yīng)用廣泛[9-10]。筆者主要采用一種基于獨(dú)立成分分析的紅外熱圖像序列特征分析方法對實(shí)際圖像序列熱響應(yīng)特征進(jìn)行了分析,獲得了很好的效果。

可采用“潛在變量”模型來嚴(yán)格地定義ICA,即設(shè)x1,x2,…,xn表示n維隨機(jī)觀測混合信號,s1,s2,…,sm表示m個(gè)未知源信號,且m個(gè)未知源信號通過線性組合可得到n維隨機(jī)觀測混合信號。為了不失一般性,設(shè)n維隨機(jī)觀測混合信號和m個(gè)未知獨(dú)立源信號都具有零均值。忽略時(shí)間參數(shù)t,則ICA的線性混合模型可表示為

(3)

式中:A=[a1,a2,…,am]為一滿秩的n×m矩陣,稱為混合矩陣。

式(3)可寫為矩陣形式

(4)

由此可知,各觀測數(shù)據(jù)xi是由獨(dú)立源信號si經(jīng)不同aij線性加權(quán)得到的。其中,獨(dú)立分量si和混合矩陣A是未知的,由于僅僅知道隨機(jī)變量xi,因此,要用xi估計(jì)出aij和si還需要附加一些基本假設(shè)和約束條件。

(1) 該模型為簡化模型,混合矩陣A為一個(gè)方陣,即源信號數(shù)與觀測信號數(shù)相等(n=m)。

(2) 源信號各分量si都是零均值的實(shí)隨機(jī)變量,且在任意時(shí)刻均相互統(tǒng)計(jì)獨(dú)立源信號。

(3) 各分量si必須為非高斯分布或者至多只有一個(gè)為高斯分布。

ICA算法的原理框圖如圖3所示。

圖3 ICA算法原理框圖

4 金屬表面缺陷檢測試驗(yàn)與分析

4.1 試件規(guī)格

為了觀察金屬表面線性缺陷的熱響應(yīng)特征,設(shè)計(jì)了帶人工線性缺陷的平板型試件。材料為20#鋼;試件尺寸為200 mm×25 mm×10 mm(長×寬×高);人工缺陷類型為貫穿試件表面的線性缺陷;缺陷寬度約為0.5 mm;缺陷深度約為1 mm;缺陷長度為25 mm。

為了觀察金屬表面孔狀缺陷的熱響應(yīng)特征,設(shè)計(jì)了帶人工閉孔缺陷的平板型試件,材料為Q345R鋼。人工缺陷類型為試件表面的閉孔缺陷,其缺陷尺寸為1.0 mm×1.0 mm(直徑×深度)。Q345R單孔缺陷試件實(shí)物如圖4所示。

圖4 平板型Q345R單孔缺陷試件實(shí)物

4.2 試驗(yàn)過程

試驗(yàn)時(shí)脈沖電渦流加熱能量不宜過大或過小。因?yàn)槟芰窟^大時(shí),試件中脈沖渦流影響范圍大,缺陷周邊升溫快,圖像背景噪聲大,不易消除;而能量過小時(shí),脈沖渦流影響范圍小,溫度變化緩慢,試件熱響應(yīng)特征微弱,不易識別。因此,平板型試件的電渦流脈沖熱成像試驗(yàn)參數(shù)設(shè)置如下:加熱功率為500 W;頻率為200 kHz;感應(yīng)加熱器采用脈沖的方式控制加熱線圈中的電流,以便在試件中形成合適的脈沖渦流,從而產(chǎn)生熱量。加熱線圈加熱時(shí)間約為4 s。紅外熱像儀在加熱線圈加熱前就開始采集紅外熱像數(shù)據(jù),加熱結(jié)束后繼續(xù)采集紅外熱像數(shù)據(jù),試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間約為18.2 s。開始加熱的時(shí)間約為2 s(對應(yīng)熱圖像序列約為10幀);停止加熱的時(shí)間約為6 s(對應(yīng)熱圖像序列約為110幀)。紅外熱圖像序列起始幀為42幀;紅外熱圖像序列終止幀為420幀。

4.3 試驗(yàn)結(jié)果與分析

紅外熱圖像序列的算法處理方式為獨(dú)立成分分析(ICA),對比函數(shù)選擇高斯函數(shù),經(jīng)處理后平板型試件的紅外缺陷熱響應(yīng)信號特征與熱響應(yīng)趨勢線如圖5所示,其熱響應(yīng)信號分為圖5(a),5(c),5(e),5(g)所示的4個(gè)混疊向量,圖5(b),5(d),5(f),5(h)為4個(gè)混疊向量所示的試件區(qū)域?qū)?yīng)的熱響應(yīng)趨勢曲線(橫坐標(biāo)為熱像序列的幀數(shù),縱坐標(biāo)是熱像序列數(shù)據(jù)處理后的結(jié)果,無量綱,不代表實(shí)際物理量,僅表示溫度變化的趨勢)。

圖5(b)對應(yīng)的圖5(a)的混疊向量1所代表的試件區(qū)域在加熱階段,幀數(shù)先是迅速上升到100幀左右,然后上升速度減慢持續(xù)一小段時(shí)間,停止加熱后迅速下降至最低點(diǎn),然后有少量回溫??梢娀殳B向量1強(qiáng)化的是試件線性缺陷區(qū)域特征。因?yàn)榫€性缺陷區(qū)域距離加熱線圈比較近,熱量可以很快到達(dá),但是當(dāng)其熱量達(dá)到一定值,由于線性缺陷有一定深度,溫度上升會減慢,加熱結(jié)束后線性缺陷區(qū)域的高溫?zé)崃繒⑹У饺毕莞浇渌麉^(qū)域,而呈現(xiàn)下降趨勢,同時(shí)由于熱傳導(dǎo)吸收周圍區(qū)域熱量,產(chǎn)生了回溫現(xiàn)象,表現(xiàn)出了如圖5(b)所示的熱響應(yīng)趨勢。另外,第一個(gè)圖的峰態(tài)系數(shù)和其余圖有明顯差異,也說明了圖5(a)分離重構(gòu)出來的混疊向量代表的是試件線性缺陷區(qū)域的特征。

圖5(d)中,對應(yīng)的圖5(c)混疊向量2始終保持上升趨勢,在加熱階段上升速度較冷卻階段上升速度快,在250幀左右緩慢上升至300幀,保持高度基本不變,可見混疊向量2強(qiáng)化的是試件邊緣區(qū)域特征。因?yàn)樵嚰吘墔^(qū)域在開始加熱時(shí)會吸收一定熱量,但由于距離加熱線圈有一定距離,溫度上升沒有缺陷及附近區(qū)域溫度上升明顯,上升較為緩慢;加熱結(jié)束后,由于缺陷及其他區(qū)域會散熱,所以邊緣區(qū)域溫度繼續(xù)上升到最高值,直至基本保持不變,因此表現(xiàn)出了如圖5(d)所示的熱響應(yīng)趨勢。

圖5 20#鋼平板試件的線性缺陷熱響應(yīng)信號特征與熱響應(yīng)趨勢曲線

圖5(f)中,對應(yīng)的圖5(e)混疊向量3在開始加熱時(shí)以最大的上升速率迅速上升到最高點(diǎn),結(jié)束加熱后溫度下降迅速,至250幀左右緩慢下降直至平穩(wěn),最后和開始加熱前保持相近??梢娀殳B向量3強(qiáng)化的是激勵(lì)線圈的區(qū)域特征。因?yàn)樵诩訜犭A段,線圈作為熱源一直處于加熱狀態(tài),上升最明顯,當(dāng)加熱結(jié)束時(shí),沒有了熱源激勵(lì),溫度立即開始下降,表現(xiàn)出了如圖5(f)所示的熱響應(yīng)趨勢。由于激勵(lì)線圈正下方的溫度梯度大于其邊緣區(qū)域的溫度梯度,溫度下降速率也相對較高,當(dāng)下降一段時(shí)間后周圍溫差減小,下降速率減慢?;殳B向量3應(yīng)是接近線圈正下方區(qū)域的特征。

圖5(h)中,對應(yīng)的圖5(g)混疊向量4在加熱階段上升達(dá)到最大值,隨后在冷卻階段緩慢下降(下降速率沒有上升速率大),且一直保持下降趨勢。可見混疊向量4強(qiáng)化的是試件線性缺陷附近區(qū)域。因?yàn)樵嚰€性缺陷附近區(qū)域距離加熱線圈和缺陷都比較近,熱量可以很快到達(dá),會快速上升;加熱結(jié)束后,該區(qū)域會對周圍的區(qū)域進(jìn)行熱傳導(dǎo),同時(shí)會吸收缺陷傳來的熱量,所以曲線緩慢下降且保持下降趨勢,因此表現(xiàn)出了如圖5(h)所示的熱響應(yīng)趨勢。

平板型Q345R鋼單孔缺陷試件的紅外檢測可視化結(jié)果(ICA處理)如圖6所示。

圖6 平板型Q345R鋼單孔缺陷試件中檢測可視化結(jié)果

上述試驗(yàn)結(jié)果表明,采用獨(dú)立成分分析方法對試樣的渦流熱圖像序列進(jìn)行分析和處理,可有效地識別出缺陷不同區(qū)域的熱響應(yīng)信號特征。重構(gòu)后的檢測結(jié)果直觀明了,實(shí)現(xiàn)了金屬構(gòu)件表面線性缺陷和微小開孔缺陷的可視化檢測。

5 結(jié)語

針對渦流熱成像檢測過程序列圖像,采用獨(dú)立成分分析法識別出缺陷、線圈、缺陷及線圈附近、試件邊緣等不同區(qū)域的熱響應(yīng)特征,缺陷區(qū)域中熱圖像清晰。試驗(yàn)結(jié)果表明,檢測平臺可有效檢測出寬度為0.5 mm、深度為1 mm的金屬表面線性缺陷以及直徑為1 mm、深度為1 mm的金屬表面開孔缺陷,實(shí)現(xiàn)了金屬構(gòu)件表面線性缺陷和微小開孔的可視化檢測。該技術(shù)成果不僅能為武器裝備的動能毀傷評估以及試驗(yàn)設(shè)備的運(yùn)行維修保養(yǎng)等提供重要技術(shù)支撐,在航天器防熱材料快速檢測、超高速撞擊試驗(yàn)評估等領(lǐng)域也具有重要意義。

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