李娜,尚恒
(陜西省電子技術(shù)研究所,陜西西安,712000)
軍用電子元器件檢測篩選是保證其質(zhì)量可靠性的關(guān)鍵途徑,考慮到軍用電子元器件內(nèi)部在檢測篩選的過程中會(huì)產(chǎn)生一定的噪聲,通??煞譃榘自肼暬蛘哂猩肼?。白噪聲在軍用電子元器件檢測篩選中的表現(xiàn)形式為單調(diào)、有規(guī)律性,其功率譜密度為常數(shù)[1]。有色噪聲是白噪聲由于受信道頻率的影響而形成的,其在軍用電子元器件檢測篩選中的表現(xiàn)形式為功率譜密度函數(shù)不平坦[2]。因此,軍用電子元器件檢測篩選中噪聲源會(huì)對(duì)軍用電子元器件檢測篩選精度造成干擾,必須通過相應(yīng)的識(shí)別方式,進(jìn)行軍用電子元器件檢測篩選中噪聲源的設(shè)計(jì)。以往針對(duì)此方面的研究在學(xué)術(shù)界并不多見,主要是在軍用電子元器件檢測篩選研究中出現(xiàn),且篇幅占比較少。由此可見,針對(duì)軍用電子元器件檢測篩選中噪聲源的專項(xiàng)設(shè)計(jì)是有現(xiàn)實(shí)應(yīng)用價(jià)值的?;诖?,本文提出軍用電子元器件檢測篩選中噪聲源的設(shè)計(jì)。
為分析軍用電子元器件檢測篩選中噪聲源特性,必須明確噪聲源輻射原理[3]。在軍用電子元器件檢測篩選過程中必然會(huì)產(chǎn)生諧波,且諧波特性屬于高次諧波,高次諧波具有高頻的特性,能夠在限定范圍內(nèi)發(fā)射高頻電磁波,進(jìn)而產(chǎn)生噪聲源。軍用電子元器件檢測篩選的功率越高,噪聲輻射越大;反之,則越小。軍用電子元器件檢測篩選中噪聲源的傳播方式,是噪聲輻射獨(dú)具的特性?;诟哳l電磁波的傳導(dǎo)與輻射特性,可通過電路耦合以及電磁輻射的方式傳播噪聲輻射。通過分析軍用電子元器件檢測篩選中噪聲源特性,明確軍用電子元器件檢測篩選中噪聲源主要產(chǎn)生的位置以及傳播方式,為下文設(shè)計(jì)提供基礎(chǔ)路徑支持。
本文針對(duì)軍用電子元器件檢測篩選中噪聲源設(shè)計(jì)流程,如圖1所示。
圖1 軍用電子元器件檢測篩選中噪聲源的設(shè)計(jì)流程
結(jié)合圖1所示,下文將針對(duì)圖中4步主要流程加以詳細(xì)闡述,具體內(nèi)容如下。
在本文研究中,采用AD裝換的數(shù)據(jù)采集技術(shù),采集噪聲輻射多元數(shù)據(jù)。以軍用電子元器件檢測篩選中噪聲源采樣范圍、量化精度以及采樣率為標(biāo)準(zhǔn),設(shè)定AD量化精度為17bit,以200kS/s進(jìn)行采樣[4]。在此過程中,在第一部分寫滿之后通過循環(huán)緩沖的方式進(jìn)入第二部分,第二部分錄入后會(huì)自動(dòng)覆蓋原始數(shù)據(jù),并將其送至緩沖,通過此過程中的反復(fù)迭代,為軍用電子元器件檢測篩選中噪聲源的設(shè)計(jì)提供實(shí)時(shí)的數(shù)據(jù)流,最大限度上保證其數(shù)據(jù)采集的連續(xù)性。但由于考慮到時(shí)間間隔問題,在采集時(shí)很容易出現(xiàn)信號(hào)中斷,采集噪聲源輻射多元數(shù)據(jù)時(shí)間間隔示意圖,如圖2所示。
圖2 采集噪聲源輻射多元數(shù)據(jù)時(shí)間間隔示意圖
結(jié)合圖2所示,為防止在采集時(shí)出現(xiàn)信號(hào)中斷的問題,可以采用數(shù)據(jù)流盤技術(shù),寫入噪聲源輻射多元數(shù)據(jù),進(jìn)而實(shí)現(xiàn)多部分?jǐn)?shù)據(jù)之間的共享功能,保證噪聲源輻射多元數(shù)據(jù)采集吞吐率。
以上述采集到的噪聲源輻射多元數(shù)據(jù)為依據(jù),為保證信號(hào)源設(shè)計(jì)對(duì)于精度的要求,需要對(duì)數(shù)據(jù)執(zhí)行相應(yīng)的處理操作。在軍用電子元器件檢測篩選一定頻域內(nèi),設(shè)噪聲源數(shù)據(jù)中白噪聲與1/f噪聲擬合的計(jì)算表達(dá)式為S(f),則有公式(1)。
公式(1)中,A指的是噪聲源數(shù)據(jù)中的有色噪聲幅度;B指的是噪聲源數(shù)據(jù)中的白噪聲幅度;f指的是轉(zhuǎn)折頻率;γ指的是頻率指數(shù)因子;C指的是噪聲源數(shù)據(jù)特征;f0指的是噪聲分量;α指的是指數(shù)因子。通過公式(1),得出噪聲源數(shù)據(jù)中白噪聲與1/f噪聲擬合結(jié)果,以此作為噪聲源數(shù)據(jù)處理結(jié)果,并輸出。
在完成噪聲源數(shù)據(jù)處理后,可以通過控制軍用電子元器件檢測篩選中噪聲源輻射。本文運(yùn)用疊加原理,確定軍用電子元器件檢測篩選中噪聲源輻射邊界條件。其中,設(shè)一個(gè)噪聲源在電阻上產(chǎn)生的瞬時(shí)電流值為w;另一個(gè)噪聲源在電阻上產(chǎn)生的瞬時(shí)電流值為w。將其相加確定軍用電子元器件檢測篩選中噪聲源輻射邊界條件[5]。假定噪聲源輻射時(shí)的電壓動(dòng)勢集合為v= 1 ,2,...,n,設(shè)噪聲輻射邊界為U,可得公式(2)。
公式(2)中,b指的是噪聲輻射點(diǎn)電阻值,w、b均為實(shí)數(shù)。將噪聲輻射邊界條件用U? (w?x) ?b來表示,可得公式為 :
公式(3)中,IA指的是噪聲輻射時(shí)電壓最小對(duì)稱分量;IB指的是噪聲輻射時(shí)電流最大對(duì)稱分量。通過公式(3),確定噪聲輻射邊界條件是對(duì)稱分量的概率質(zhì)量函數(shù)最大值與最小值。
在確定噪聲源輻射邊界條件的基礎(chǔ)上,本文提取檢測篩選中噪聲源背散射系數(shù)[6]。首先,測試出軍用電子元器件檢測篩選中的背景噪聲;而后,確定軍用電子元器件的最高溫度以及最小電流,并記錄不同偏壓下的電流噪聲系數(shù),如表1所示。
表1 不同偏壓下的電流噪聲系數(shù)
結(jié)合表1所示,利用低噪聲化技術(shù)轉(zhuǎn)換不同偏壓下的電流噪聲系數(shù),獲取散粒噪聲信號(hào)時(shí)間序列和頻譜,通過噪聲前置放大器,提取檢測篩選中噪聲源背散射系數(shù),實(shí)現(xiàn)軍用電子元器件檢測篩選中噪聲源的設(shè)計(jì)。
構(gòu)建實(shí)驗(yàn),選取某軍用電子元器件作為實(shí)驗(yàn)對(duì)象,實(shí)驗(yàn)?zāi)康臑闇y試軍用電子元器件檢測篩選中噪聲源設(shè)計(jì)的現(xiàn)實(shí)應(yīng)用情況。首先,使用本文方法設(shè)計(jì)電子元器件檢測篩選中噪聲源,通過MATALB記錄噪聲源功率譜密度,設(shè)置為實(shí)驗(yàn)組;再使用傳統(tǒng)方法設(shè)計(jì)電子元器件檢測篩選中噪聲源,同樣通過MATALB記錄噪聲源功率譜密度,設(shè)置為對(duì)照組。本文實(shí)驗(yàn)中,選取的對(duì)比指標(biāo)為兩種設(shè)計(jì)下測得的噪聲源功率譜密度,測得的噪聲源功率譜密度越高,證明該方法針對(duì)軍用電子元器件檢測篩選中噪聲源的設(shè)計(jì)性能越好。設(shè)定實(shí)驗(yàn)次數(shù)為10次,記錄實(shí)驗(yàn)結(jié)果。
噪聲源功率譜密度測試結(jié)果對(duì)比表,如表2所示。
表2 噪聲源功率譜密度測試結(jié)果對(duì)比表
由表2中實(shí)驗(yàn)結(jié)果可以看出,實(shí)驗(yàn)組噪聲源功率譜密度顯著高于對(duì)照組,證明軍用電子元器件檢測篩選中噪聲源設(shè)計(jì)的實(shí)效性。
本文設(shè)計(jì)了軍用電子元器件檢測篩選中噪聲源,明確噪聲源的關(guān)鍵特征參數(shù),為提高軍用電子元器件檢測篩選精度提供一定的幫助??紤]到軍用電子元器件檢測篩選中噪聲源設(shè)計(jì)會(huì)受到外界因素的干擾,因此,需要采取合適的步驟進(jìn)行除雜降噪,并且在檢測篩選過程中,應(yīng)注意檢測篩選流程應(yīng)當(dāng)按照標(biāo)準(zhǔn)化方式實(shí)施,避免檢測篩選結(jié)果由于操作不當(dāng)出現(xiàn)與實(shí)際不匹配的問題。除此之外,在后續(xù)的研究中還需要進(jìn)一步對(duì)軍用電子元器件的優(yōu)化設(shè)計(jì)進(jìn)行深入分析。