李汝樂 陳正弟 廖貽柱 高鶴鳴 程亮

摘 要：重力Mura是TFT-LCD行業(yè)頑固不良，其形成原因?yàn)镃ell Gap均勻性差導(dǎo)致透光率不均，在視覺上呈現(xiàn)出色不均現(xiàn)象。為解決傳統(tǒng)監(jiān)控方式重力Mura不易攔截的缺陷，基于重力Mura形成原理，本文通過(guò)探究液晶量對(duì)Cell Gap的影響，Cell Gap變化的敏感區(qū)間，不同液晶量面板在高溫條件下其Cell Gap隨加熱時(shí)間的變化趨勢(shì)以及不同位置Cell Gap差異性，總結(jié)出通過(guò)高溫Cell Gap變化趨勢(shì)預(yù)警重力Mura的模型，為行業(yè)內(nèi)預(yù)防重力Mura提供了一種全新思路。

關(guān)鍵詞：高溫Cell Gap；重力Mura；預(yù)警模型

1 引言

隨著TFT-LCD（Thin fi lm transistor liquid crystal display，薄膜晶體管液晶顯示器）面板市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)的日益激烈，用戶對(duì)產(chǎn)品畫質(zhì)的要求也越來(lái)越高，因此改善畫面質(zhì)量成為企業(yè)取得客戶信任及用戶認(rèn)可的關(guān)鍵。其中Mura類不良為一種常見不良，且很難避免，成為業(yè)內(nèi)需要攻克的難題。重力Mura為其中一種頑固不良，在常溫下很難攔截，但是在加熱或長(zhǎng)時(shí)間通電條件下會(huì)在面板底部呈現(xiàn)出色不均現(xiàn)象，嚴(yán)重影響顯示效果。

傳統(tǒng)監(jiān)控重力Mura方法大致分為三種：第一種方法是在產(chǎn)線生產(chǎn)過(guò)程中，常溫條件下抽測(cè)Cell Gap值，判斷是否滿足設(shè)計(jì)規(guī)范；第二種方法是在產(chǎn)線生產(chǎn)過(guò)程中，抽取一定數(shù)量Glass進(jìn)行高溫重力Mura測(cè)試；第三種方法是抽取一定數(shù)量的TFT-LCD面板，在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行高溫重力Mura測(cè)試；但這幾種方法都存在一定局限性，第一種方法受產(chǎn)線條件限制，只能在大板Glass上選取相應(yīng)點(diǎn)位進(jìn)行測(cè)試，每個(gè)面板只能測(cè)到個(gè)別點(diǎn)，無(wú)法觀測(cè)變化趨勢(shì)，只有當(dāng)測(cè)得Cell Gap值超過(guò)設(shè)計(jì)規(guī)范時(shí)才能發(fā)現(xiàn)，此時(shí)再評(píng)估出現(xiàn)重力Mura的風(fēng)險(xiǎn)性大小，無(wú)法做到提前預(yù)警。第二種和第三種方法同樣是在出現(xiàn)重力Mura時(shí)才可被發(fā)現(xiàn)，無(wú)法做到提前預(yù)警，且由于重力Mura對(duì)比度低，邊緣模糊等特點(diǎn)，人眼觀察易造成漏檢，不利于不良的識(shí)別與改善。

基于以上對(duì)重力Mura監(jiān)控的局限性，本文創(chuàng)新性提出一種通過(guò)高溫Cell Gap預(yù)警重力Mura的方法，此方法可以根據(jù)豎直放置的TFT-LCD面板其Cell Gap在高溫條件下的變化趨勢(shì)，判斷出現(xiàn)重力Mura的可能性，并探索出針對(duì)重力Mura的預(yù)警模型，可做到提前預(yù)警重力Mura。

2 實(shí)驗(yàn)方法

本文使用高溫Cell Gap測(cè)試系統(tǒng)，選取一款A(yù)DS產(chǎn)品進(jìn)行探究，包括液晶量和加熱時(shí)間對(duì)Cell Gap的影響、Cell Gap變化的敏感區(qū)間及不同位置Cell Gap的差異性。本文選取的TFT-LCD面板其LC Margin上限液晶量為4.5%，通過(guò)對(duì)比接近中心液晶量（1.5%）與LC Margin上限（4.5%）TFT-LCD面板Cell Gap變化趨勢(shì)，探究出重力Mura的預(yù)警模型。Cell Gap測(cè)試原理在此不再贅述，其計(jì)算公式為d = Re/△n，其中d為Cell Gap，Re為雙折射相位差，△n為雙折射NeNo，此為液晶特性值。

根據(jù)先前研究及探討，選擇測(cè)試方法如下：將TFT-LCD面板豎直放置（如圖1所示），橫向X軸選取坐標(biāo)原則為面左右邊緣10 mm，及中間區(qū)域每隔200 mm各一條線，根據(jù)不同尺寸面板適當(dāng)增減；縱向Y軸選取坐標(biāo)分別為1 mm、3 mm、5 mm、7 mm、9 mm、11 mm、13 mm、15 mm、17 mm、21 mm、23 mm、25 mm、30 mm、35 mm、40 mm、45 mm、50 mm。測(cè)試溫度選取60 ℃，測(cè)試時(shí)間分別為5 min、30 min、60 min、120 min。

3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果

3.1 液晶量對(duì)Cell Gap的影響及Cell Gap敏感區(qū)間

根據(jù)重力Mura形成原理，當(dāng)液晶量超過(guò)LC Margin時(shí)，在高溫條件下液晶因重力作用下沉?xí)赑anel底部形成色不均現(xiàn)象[6]，因此探究不同液晶量時(shí)Cell Gap的變化趨勢(shì)對(duì)預(yù)防重力Mura具有重要指導(dǎo)意義。本文選取液晶量分別為0%、1.5%、3.0%、4.5%、6.0%（設(shè)定中心液晶量為0%）TFT-LCD面板探究了在60℃條件下加熱120 min后的Cell Gap變化趨勢(shì)，測(cè)試結(jié)果如圖2所示。

根據(jù)測(cè)試結(jié)果，高溫下Cell Gap隨液晶量增加呈現(xiàn)增大趨勢(shì)，當(dāng)液晶量接近中心液晶量時(shí)（≤3%），Cell Gap平穩(wěn)增加，面板底部Cell Gap無(wú)明顯上升趨勢(shì)；但當(dāng)液晶量接近LC Margin上限時(shí)（≥4.5%），面板底部縱向Y <10 mm范圍內(nèi)Cell Gap呈現(xiàn)出明顯增大趨勢(shì)，這歸結(jié)為液晶下沉的結(jié)果，另外在此區(qū)間內(nèi)，縱向Y≤3mm范圍內(nèi)Cell Gap值略小于Y≤5 mm處，我們歸結(jié)為受Seal膠束縛影響造成。

3.2 加熱時(shí)間對(duì)Cell Gap影響

根據(jù)重力Mura形成原理，當(dāng)液晶量較少時(shí)，在高溫加熱條件下液晶不會(huì)下沉，此時(shí)Cell Gap較穩(wěn)定；但當(dāng)液晶量超過(guò)LC Margin上限時(shí)，液晶會(huì)因重力作用逐漸下沉，最終在Panel底部呈現(xiàn)出色不均現(xiàn)象。

為探究不同液晶量TFT-LCD面板隨加熱時(shí)間的變化趨勢(shì)，本文選取液晶量分別為1.5%（接近中心液晶量）和4.5%（LC Margin上限）進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試溫度為60 C°，測(cè)試結(jié)果如圖3所示。根據(jù)測(cè)試結(jié)果，當(dāng)液晶量為1.5%時(shí)，隨加熱時(shí)間的延長(zhǎng)，Cell Gap無(wú)明顯變化趨勢(shì)，此時(shí)液晶較穩(wěn)定，未發(fā)生下沉現(xiàn)象；但當(dāng)液晶量為4.5%時(shí)，在縱向Y <10 mm范圍內(nèi)隨加熱時(shí)間延長(zhǎng)Cell Gap呈現(xiàn)出明顯增大趨勢(shì)，此區(qū)域變化可歸結(jié)為在高溫（60 C°）加熱條件下，面板內(nèi)液晶因重力作用逐漸下沉造成的，這與Cell Gap的形成原理是一致的。

3.3 不同位置Cell Gap差異性探討

根據(jù)重力Mura現(xiàn)象，產(chǎn)生重力Mura的TFT-LCD面板，局部區(qū)域會(huì)出現(xiàn)色不均現(xiàn)象，說(shuō)明在面板的不同區(qū)域其液晶量是不同的，因此呈現(xiàn)的Cell Gap也會(huì)有所不同。相反，接近中心液晶量的面板在不同位置其Cell Gap理論上是無(wú)較大差異的。為探究同一面板不同位置Cell Gap的差異性，本文選取液晶量分別為1.5%（接近中心液晶量）和4.5%（LC Margin上限）進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試溫度為60 C°，測(cè)試結(jié)果如圖4所示。根據(jù)測(cè)試結(jié)果，當(dāng)液晶量為1.5%時(shí)，不同測(cè)試區(qū)域Cell Gap值無(wú)明顯差異，說(shuō)明液晶較穩(wěn)定，在高溫加熱條件下未發(fā)生下沉現(xiàn)象；但當(dāng)液晶量為4.5%時(shí)，在縱向Y <10 mm范圍內(nèi)，橫向X軸Cell Gap表現(xiàn)出明顯差異，這是因?yàn)樵诖藚^(qū)域內(nèi)液晶的流動(dòng)造成的。在此指出一點(diǎn)，液晶量為4.5%面板 ，在橫向X=800處Cell Gap與其他區(qū)域相差較大，此為邊緣區(qū)域的特殊偶發(fā)性，只能表征邊緣區(qū)域由于某些特殊因素與其他區(qū)域可能存在差異，并非所有面板均有此現(xiàn)象，在對(duì)其他系列面板的測(cè)試中也證明了這一結(jié)論。

4 預(yù)警模型建立

根據(jù)第三部分的探討，我們提出對(duì)量產(chǎn)階段TFTLCD面板重力Mura監(jiān)控的預(yù)警模型如下。

預(yù)警模型1：根據(jù)Cell Gap隨液晶量的變化趨勢(shì)：取不同時(shí)期的面板按照3.1條件進(jìn)行測(cè)試，若其Cell Gap值呈連續(xù)上升趨勢(shì)時(shí)即可預(yù)警重力Mura。

預(yù)警模型2：根據(jù)Cell Gap變化的敏感區(qū)間：按照3.1條件測(cè)試，若在縱向Y <10 mm范圍內(nèi)，Cell Gap呈明顯上升趨勢(shì)時(shí)即可預(yù)警重力Mura。

預(yù)警模型3：根據(jù)Cell Gap隨加熱時(shí)間的變化趨勢(shì)：按照3.2條件測(cè)試，若隨加熱時(shí)間延長(zhǎng)Cell Gap呈明顯上升趨勢(shì)時(shí)即可預(yù)警重力Mura。

預(yù)警模型4：根據(jù)不同位置Cell Gap的差異性：按照3.3條件測(cè)試，當(dāng)不同位置Cell Gap值波動(dòng)較大時(shí)即可預(yù)警重力Mura。

以上四種模型可相互佐證，共同判定TFT-LCD面板是否存在重力Mura風(fēng)險(xiǎn)。采用上述預(yù)警模型，我們已對(duì)多款量產(chǎn)TFT-LCD面板進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證，證明其準(zhǔn)確性，包含ADS和TN產(chǎn)品。

5 結(jié)語(yǔ)

針對(duì)傳統(tǒng)監(jiān)控重力Mura方法只有當(dāng)重力Mura出現(xiàn)或Cell Gap超出設(shè)計(jì)規(guī)范時(shí)才可被發(fā)現(xiàn)這一痛點(diǎn)，本文創(chuàng)新性提出通過(guò)TFT-LCD面板高溫Cell Gap變化趨勢(shì)預(yù)警重力Mura這一思路。通過(guò)探究液晶量和加

熱時(shí)間對(duì)Cell Gap的影響、Cell Gap變化的敏感區(qū)間及不同位置Cell Gap的差異性，得出以下規(guī)律：

（1）隨液晶量增加，Cell Gap呈上升趨勢(shì)；

（2）在縱向Y <10 mm范圍內(nèi)，Cell Gap變化較為敏感，易出現(xiàn)重力Mura；

（3）液晶量接近中心值時(shí)，Cell Gap隨加熱時(shí)間延長(zhǎng)無(wú)明顯變化，但當(dāng)液晶量接近LC Margin時(shí)，Cell Gap隨加熱時(shí)間延長(zhǎng)呈現(xiàn)出明顯增大趨勢(shì)；

（4）液晶量接近中心值時(shí)，同一面板不同位置Cell Gap無(wú)差異，但當(dāng)液晶量接近LC Margin時(shí)，同一面板不同位置Cell Gap呈現(xiàn)出較大差異性。

通過(guò)以上規(guī)律，本文提出通過(guò)高溫Cell Gap預(yù)警重力Mura的四種模型，并取多款量產(chǎn)TFT-LCD面板（包含ADS和TN產(chǎn)品）驗(yàn)證了預(yù)警模型的準(zhǔn)確性，為業(yè)內(nèi)預(yù)防重力Mura提供了一種新思路。

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