寧永成,韓桂玉
(1.中國空間技術(shù)研究院,北京 100094;2.北京空間機電研究所,北京 100094)
更多的成功案例表明,以塑封器件為代表的COTS元器件只要選擇得當,是完全可以勝任航天器任務需求的。針對該發(fā)展趨勢,美國宇航局(NASA)為了保持技術(shù)領先地位、降低成本,系統(tǒng)地開展了商用器件宇航應用的可靠性保證技術(shù)研究[1],并于2002年2月26日發(fā)布了商用塑封器件用于空間的使用白皮書[2],在2003年發(fā)布了《塑封器件 (PEM)的選擇、篩選和鑒定指南》(PEM-INST-001:Instructions for Plastic Encapsulated Microcircuit(PEM)Selection,Screening,and Qualification);歐空局(ESA)在2013年發(fā)布了《空間產(chǎn)品保證-商用EEE元器件》 (ECSS-Q-ST-60-13C:Space Product Assurance-Commercial Elec trical,Electronic and Electromechanical(EEE)Components)。標準是實踐后經(jīng)驗總結(jié)提煉的產(chǎn)物,因此對于PEM在宇航領域中的應用早在上述標準發(fā)布之前。ESA早在20世紀80年代就獨立開展了商用器件在空間技術(shù)領域的應用研究工作,并且在Proba等部分宇航項目上大量地驗證、使用了商用器件,獲得了成功。1995年,NASA開展新千年計劃(NMP:New Millennium Project)研究,其將“空間應用商用器件產(chǎn)品”和“低成本電子學產(chǎn)品”列入了研究目標,該計劃研制的ST8航天器要驗證的4項重要技術(shù)之一是基于商用器件的多處理器系統(tǒng)的可靠性研究。近些年,隨著快響系列衛(wèi)星的崛起,COTS技術(shù)的應用得到了較為快速的發(fā)展,為了滿足快速響應的設計理念,采用了大量的COTS器件,并通過一系列的技術(shù)手段來提高COTS器件的抗輻照能力[3]。
本文通過介紹日本低成本衛(wèi)星ETS-VI(Engineering Test Satellite-VI)項目對通用器件可靠性保證方法的新實踐和SpaceX對塑封器件的認證和質(zhì)保過程,結(jié)合我國工程實踐,提出了國內(nèi)宇航型號后續(xù)針對PEM選用的質(zhì)量保證建議。
在1992年召開的第43屆國際宇航聯(lián)合會上,日本NTT公司無線電通信系統(tǒng)實驗室的坂本浩和田中正芳,發(fā)表了題為“New Reliability Assurance Method Effective for Economical Satellite on-board Equipment”[4]的文章,介紹了如何在低成本衛(wèi)星上使用通用元器件替代宇航級特定元器件,以及如何進行可靠性保證。
文章開篇就提出了GUPs和STPs兩個概念。GUPs(Generally Used Parts)指的是通常使用的元器件,與現(xiàn)在的COTS元器件意思相近;STPs(Specially Tailored expensive Parts)意思是特殊定制的昂貴元器件,文中指的是JANS質(zhì)量等級分立器件、S級集成電路在特定的生產(chǎn)線上生產(chǎn)的器件。另外,筆者還認為之所以要進行器件級篩選和抽樣檢驗,是因為批量少,這是成本高的原因。
使用GUPs替代STPs的前提是:對單機設備(含地面設備)的故障率進行了調(diào)查分析,表明幾乎所有GUPs的故障率都小于或等于單機分配到單元用元器件的故障率;公共通信設備使用證明,GUPs已經(jīng)變得與STPs一樣可靠(不考慮空間環(huán)境);大部分GUPs能夠承受空間環(huán)境影響,對沒有空間飛行經(jīng)歷的GUPs,要進行額外的試驗驗證。
過多的試驗項目使得元器件成本昂貴,在GUPs傳統(tǒng)的基礎上,只選擇進行特定的篩選試驗項目,選定的試驗項目是被認為更有效的檢測潛在缺陷的項目。以下將以在應答機上使用GUPs為例進行說明。
1.2.1使用STPs的應答機制造流程
文章給出的使用STPs的應答機制造流程,如圖1所示。STPs 100%的篩選和抽樣進行的批次質(zhì)量檢驗試驗,都是在器件級進行的,如此多的試驗項目使得元器件成本昂貴。
圖1 使用STPs的應答機制造流程
1.2.2使用GUPs的應答機制造流程
文章給出的采用GUPs的制造流程,如圖2所示。為了降低試驗的成本,提出有選擇性地進行更有效的剔除早期失效缺陷的試驗(如表1所示)。老煉試驗在接近單機級進行,但在30℃開展3 500 h(接近5個月)的老煉試驗的時間有些過長。當缺陷激活能取值為0.3 eV時,如果溫度提高到70℃,根據(jù)阿倫紐斯方程,那么老煉時間可以縮短到1 000 h。
圖2 使用GUPs的應答機制造流程
表1 GUPs的篩選試驗項目
在該工程案例中,可以分析并總結(jié)出以下幾個特點:
1)在應答機單機中,高達70%的元器件都用GUPs替代,因此值得進行單機級的老煉試驗;
2)GUPs也需要針對性地選擇(基于地面使用故障率等現(xiàn)場數(shù)據(jù)),沒有飛行經(jīng)歷的新品要進行空間環(huán)境相關(guān)試驗;
3)為了降低元器件的成本,對試驗項目進行了裁剪,只保留認為有效的試驗項目;
4)單機級的老煉試驗,可以與125℃、240 h的器件級老煉試驗等效。
在NASA發(fā)布的《商用器件技術(shù)認定流程》(“Commercial Parts Technology Qualification Processes”[5])中,2.4章節(jié)是太空探索技術(shù)公司(SpaceX:Space Exploration Technologies)的近地軌道重型有效載荷運載火箭的飛行終端系統(tǒng)(FTS:Flight Termination Systems)及其對PEMs的使用所進行的全面分析,認為由于PEMs具有體積小、重量輕、機械和散熱特性好等優(yōu)點,其比傳統(tǒng)的陶瓷封裝器件更能適應任務環(huán)境,PEMs的長壽命和緩變退化在該任務中不是問題,傳統(tǒng)的軍用器件和PEMs器件都可以使用很多年。SpaceX認為,PEMs在抗機械沖擊能力方面比傳統(tǒng)的陶瓷器件要好一個數(shù)量級;PEMs沒用空腔,不用擔心可動多余物和鍵合絲碰絲等問題;超聲掃描(C-SAM)在大部分器件中都發(fā)現(xiàn)了分層,C-SAM可能不是PEMs篩選的好方法;PEMs的設計余量很大;應重點關(guān)注潮濕和腐蝕、純錫和包裝問題(對于FTS應用,從歷史看輻照不是個問題)等等。以下介紹SpaceX給出的PEMs篩選和認定流程。
SpaceX提出的篩選流程如圖3所示。PEMs的篩選流程分成3個階段:器件級、板級降額和單機級。其中,器件級篩選的試驗項目僅保留了常溫測試和外觀檢查;C-SAM抽樣進行,其結(jié)果僅作為參考。老煉和溫度循環(huán)在板級實施,一批至少電裝20塊。
圖3 SpaceX提出的篩選流程
SpaceX提出的PEMs鑒定流程也是在組裝后實施的,選用6個單元實施,項目包括了全功能性能測試、溫度循環(huán)、隨機振動、機械沖擊、耐濕試驗和EMI/EMC測試等,詳見“Commercial Parts Technology Qualification Processes”中的圖2.2.4-2。
馬斯克曾說: “你在S paceX中多放一個NASA的人,產(chǎn)品的成本就要翻番”。馬斯克認為NASA那些名聲在外、薪資昂貴的航天專家更適合當顧問,決定權(quán)在自己,聘請了NASA專家進行了指導,聽取建議吸收經(jīng)驗但并沒有完全聽從NASA的意見。對于宇航級零部件(含元器件),凡是覺得沒有必要的,都換成貨架產(chǎn)品,質(zhì)量夠用就行。對PEMs的選用持激進態(tài)度,認為優(yōu)勢明顯,存在的“問題”不是問題。
在此指導思想下,SpaceX對PEMs的試驗成本能省即省,器件級僅進行100%的常溫電測試和X光檢查,器件級的外觀檢查似乎都是抽樣進行的。和JPL、APL、SWRI觀點一致,其對針對PEMs進行100%C-SAM的必要性和有效性提出了質(zhì)疑,改為抽樣評價,結(jié)果作為使用參考。
但同時我們應該看到,SpaceX對PEM的大膽選用,與美國擁有強大的電子工業(yè)基礎,以及汽車電子、醫(yī)療電子行業(yè)的支撐密不可分。
調(diào)研了國防科技大學“天拓一號”、浙江大學“皮星一號A”、五院東方紅試驗星、哈工大的“快舟”和“珠海一號”等選用PEMs較多的航天器,發(fā)現(xiàn)目前元器件采用高可靠元器件和PEMs等COTS元器件混合設計的方式,PEMs的質(zhì)保方式也以器件級和板級、系統(tǒng)級相結(jié)合的方式進行,電測試和篩選以板級方式為主,必要時器件級進行C-SAM和X射線檢查等。
航天器用PEMs的質(zhì)量保證,目前很大一部分測試和老煉試驗是采取板級方式進行的,一方面是因為進行器件級測試和老煉開發(fā)需要較大的成本投入和較長的周期;另一方面是考慮到PEMs大多以表貼封裝為主,經(jīng)過測試和老煉,對管腳存在一定程度的損失,尤其BGA封裝器件,在高溫條件下老煉,夾具或管座對焊球很容易造成壓痕甚至凹陷缺損。因此進行板級測試老煉是經(jīng)濟可靠的一種方法。在器件級篩選方面,由于C-SAM發(fā)現(xiàn)分層等缺陷判批不合格的比例較大,一定程度上增加了用戶選用PEMs的成本;通過C-SAM判批不合格的多個品種和批次PEMs進行了針對性的評價,在采取防潮包裝、電裝前預處理等措施下,完全可以規(guī)避塑封器件分層缺陷的使用風險。
對PEMs的選用持什么態(tài)度,選用占多大的比例,采用何種質(zhì)保思路和方法,需要型號項目組最終決策;PEMs質(zhì)量保證已經(jīng)基本不存在技術(shù)問題了,需要的是型號總體的項目管理決策。 結(jié)合國內(nèi)外PEMs質(zhì)量保證的實例和經(jīng)驗,提出以下建議供參考。
a)首先,要落實好“先評價,后質(zhì)?!敝笇枷?;其次,評價應在已有收集到的數(shù)據(jù)的基礎上進行,關(guān)注壽命/可靠性、抗輻射、出氣溢氣、機械沖擊和振動等,試驗均可考慮板級進行。
b)驅(qū)動PEMs空間應用的主要因素是性能、尺寸、重量和價格,需要在風險和成本上系統(tǒng)地分析決策;決策以型號總體為主,元器件質(zhì)量保證和檢測部門做技術(shù)支持。
c)在空間輻照需求方面,元器件級只考慮總劑量,單粒子試驗可選做(根據(jù)系統(tǒng)設計采取糾錯和SEL防護,由用戶分析決定)。
d)PEMs的質(zhì)量保證重點在選用控制,評價試驗和數(shù)據(jù)庫信息是控制的重要依據(jù)。
e)質(zhì)量保證采用新方式和新方法,尤其是PEMs使用比例較高時,更加適宜采用板級測試老煉。
f)建立PEMs等COTS元器件數(shù)據(jù)信息庫,盡可能地獲取更多的元器件信息。
g)盡可能地選用已經(jīng)過汽車電子、醫(yī)療電子認可的元器件。
h)集中、批量采購和質(zhì)量保證。
建議的PEMs質(zhì)?;玖鞒倘鐖D4所示。
圖4 PEMs質(zhì)保建議流程
針對PEMs的選用和質(zhì)量保證,型號總體不能完全依賴物資保障部門和元器件試驗機構(gòu),應該擔負起主體責任,系統(tǒng)地策劃和統(tǒng)籌PEMs的選用比例、質(zhì)量保證流程;對PEMs宇航適用性的認知已經(jīng)很系統(tǒng)全面,質(zhì)量保證試驗項目和方法也已經(jīng)成熟,基本上不存在技術(shù)問題,需要的是型號總體在管理決策上進行取舍。針對PEMs質(zhì)量保證,CSAM建議由以往的100%篩選更改為抽樣評價;采用板級方式進行測試和老煉,已經(jīng)過大量的工程實踐證實了其可行性,對PEMs選用比例較大的單機,更是適合采用板級、單機方式進行質(zhì)量保證。