車世琦
(中國石化油田勘探開發(fā)事業(yè)部,北京 100728)
隨著世界能源問題的進(jìn)一步凸顯,我國在能源結(jié)構(gòu)調(diào)整中的重心逐漸向非常規(guī)能源轉(zhuǎn)移,其中頁巖氣是非常規(guī)能源的重要組成之一[1],也是目前國內(nèi)外所關(guān)注的熱點(diǎn)[2-3]。在多旋回的構(gòu)造與沉積演化過程中,我國各大含油氣盆地相繼發(fā)育了海相、陸相和過渡相多套富有機(jī)質(zhì)泥頁巖,頁巖氣資源十分豐富,開發(fā)價值巨大[4-8]。
作為國內(nèi)首個實(shí)現(xiàn)商業(yè)開發(fā)的頁巖氣田,四川盆地涪陵頁巖氣田的成功開發(fā)標(biāo)志著我國頁巖氣勘探的突破性進(jìn)展。繼2015年底一期焦石壩區(qū)塊順利完成50×108m3產(chǎn)能建設(shè)后,目前正全力投入到平橋、江東等二期區(qū)塊的產(chǎn)能建設(shè)中;然而,平橋區(qū)塊地質(zhì)條件復(fù)雜,局部構(gòu)造差異較大,巖性縱向變化快,與涪陵氣田一期焦石壩區(qū)塊相比,儲層差異性更大、埋藏更深,增加了儲層壓裂改造的難度。截至2020年底,平橋區(qū)塊已試氣15口水平井,單井試氣產(chǎn)能為9.65×104~45.21×104m3/d。該區(qū)域主要存在試氣效果差異性大且影響因素不清等一系列問題,因此,急需建立一套適用于涪陵平橋區(qū)塊頁巖氣井復(fù)雜地質(zhì)條件下的地質(zhì)綜合評價技術(shù),旨在明確平橋區(qū)塊氣井產(chǎn)能地質(zhì)主控因素及有效評價參數(shù),為平橋區(qū)塊頁巖氣的高效開發(fā)提供技術(shù)支撐。
平橋區(qū)塊位于涪陵頁巖氣田西南部,地處川東南高陡褶皺帶平橋斷背斜,該區(qū)先后經(jīng)歷了加里東運(yùn)動、海西運(yùn)動、印支運(yùn)動、燕山運(yùn)動、喜山運(yùn)動等幾次大的構(gòu)造運(yùn)動,其中,早白堊世末期的晚燕山運(yùn)動對該區(qū)構(gòu)造影響最大,區(qū)域上整體呈現(xiàn)“東陡西緩”的狹長斷背斜形態(tài),剖面上受各構(gòu)造層巖石軟硬間互的影響,各構(gòu)造層變形程度存在差異,從而造成了上、中、下構(gòu)造的不同。研究區(qū)發(fā)育多條邊界斷裂和次級斷裂,其中平橋西斷層為平橋區(qū)塊的主控斷層,主要形成期為燕山運(yùn)動早期。該區(qū)沉積地層發(fā)育較為齊全,整個含氣頁巖段屬深水陸棚沉積環(huán)境,與焦石壩區(qū)塊沉積特征基本相同,但五峰組頂部的觀音橋段發(fā)育存在差異,研究區(qū)觀音橋段普遍缺失。
綜合巖性、電性特征,平橋區(qū)塊五峰組-龍馬溪組頁巖自下而上劃分為9個小層,頁巖平均厚度為110.5 m,整體比焦石壩區(qū)塊略厚,但主力頁巖氣層③小層地層厚度和焦石壩區(qū)塊基本相當(dāng),平均為9.0~12.0 m,勘探開發(fā)潛力良好;平橋區(qū)塊東翼受強(qiáng)壓實(shí)作用影響,頁巖厚度僅90.0 m左右,主力頁巖氣層③小層僅7.5 m,略薄于焦石壩區(qū)塊。
涪陵地區(qū)地表屬于低山、丘陵、河流地貌,高低不平。實(shí)鉆資料表明,平橋區(qū)塊五峰組地層埋藏深度為2 600~4 200 m,其中礦權(quán)范圍內(nèi)埋深3 500 m以淺占60%,從試氣效果來看,平橋區(qū)塊深度大于3 500 m的頁巖氣井產(chǎn)能明顯較低。前人研究認(rèn)為,深度的增加會導(dǎo)致頁巖由脆性向塑性轉(zhuǎn)變[9],不利于壓裂改造;但目前平橋區(qū)塊深度大于3 500 m的頁巖氣井產(chǎn)能低的原因除了受頁巖巖石物理性質(zhì)轉(zhuǎn)變影響外,絕大程度上可能受限于目前工程工藝條件。
水平井周邊斷裂發(fā)育程度的差異會對壓裂效果造成明顯影響[10],平橋區(qū)塊試氣產(chǎn)量偏低井主要集中在中部和深層,其中,深層氣井產(chǎn)量偏低的主要原因是深度較大,其后期壓裂改造難度大,需要工藝技術(shù)進(jìn)一步突破,而背斜核部氣井產(chǎn)量偏低的原因主要受區(qū)域斷裂的影響,保存條件較差。
首先從地震剖面上來看(圖1),平橋西斷層為一條大型滑脫斷層,背斜中部斷距達(dá)1 000 m,南區(qū)最小,南北部地層變形強(qiáng)度相對較弱,中部地層變形強(qiáng)度較大,認(rèn)為平橋西斷層對平橋背斜中部的破壞作用相對較強(qiáng)。其次,中區(qū)發(fā)育典型的雙層滑脫逆沖構(gòu)造變形,而北區(qū)、南區(qū)滑脫逆沖構(gòu)造變形發(fā)育程度明顯減弱,中淺層發(fā)育的通天逆沖斷層在中區(qū)目的層及上覆地層中滑脫消失,但其派生的次級斷層、高角度裂縫發(fā)育,上下溝通,成為逸散通道,造成中區(qū)保存條件變差,同時,從實(shí)際試氣效果來看,中區(qū)頁巖氣井產(chǎn)能均低于預(yù)期。
由此證實(shí),斷裂發(fā)育程度對頁巖氣的保存有著明顯影響,因此,斷裂發(fā)育程度是影響平橋區(qū)塊頁巖氣井產(chǎn)能的主控因素之一。
平橋區(qū)塊頁巖氣產(chǎn)能受斷裂發(fā)育程度的影響較大,在此認(rèn)識基礎(chǔ)上,通過對曲率概念的進(jìn)一步細(xì)化和量化,進(jìn)而開展斷裂對頁巖氣井的影響研究。目前,主要通過曲率屬性對頁巖儲層裂縫發(fā)育情況進(jìn)行表征[11-14],利用曲率預(yù)測裂縫的原理為:在應(yīng)力作用下,巖層發(fā)生彎曲變形,彎曲程度大的部位為應(yīng)力較集中處,對于易破裂的脆性巖層,應(yīng)力集中處微裂縫發(fā)育。因此,曲率的大小能夠反映巖層構(gòu)造微裂縫相對發(fā)育程度和分布特征,曲率越大,裂縫相對越發(fā)育。針對平橋區(qū)塊的地質(zhì)特點(diǎn),結(jié)合CRP道集的高精度曲率屬性特征,對平橋區(qū)塊裂縫的發(fā)育規(guī)律進(jìn)行預(yù)測。結(jié)果表明,大裂縫在靠近平橋斷層處最為發(fā)育,背斜主體區(qū)欠發(fā)育;按裂縫分布特征和曲率值強(qiáng)度,將其劃為5個區(qū)帶:①平橋西翼裂縫發(fā)育區(qū),基本位于斷裂帶上,靠近平橋西斷層處曲率較高,高曲率分布密集;②平橋東翼裂縫發(fā)育區(qū),基本位于斷裂帶上,靠近平橋東1號斷層處曲率較高,高曲率分布密集;③平橋北部地層破碎區(qū),地層破碎,地震同相軸連續(xù)性較差,曲率高,無明顯方向性;④中部大裂縫欠發(fā)育區(qū),背斜主體區(qū),中部發(fā)育一條褶皺條帶,裂縫整體不發(fā)育;⑤平橋東翼裂縫中等發(fā)育區(qū),位于平橋東1號斷層、東2號斷層中間區(qū)域,靠近斷層處曲率較高,裂縫中等發(fā)育(圖2)。
圖2 平橋區(qū)塊主力頁巖氣層曲率屬性
平橋區(qū)塊為受平橋西斷層與平橋東2號斷層夾持的北東走向狹長的斷背斜構(gòu)造,北窄南寬,構(gòu)造兩翼地層較陡。受構(gòu)造運(yùn)動的影響,巖層的產(chǎn)狀發(fā)生變化,同時不同傾角巖層的應(yīng)力狀態(tài)與裂縫特征亦會發(fā)生變化。地層傾角變大時,頁巖中容易形成大量順層滑脫縫,裂縫較平直,延伸范圍大,壓裂改造時極易成為壓裂液逸失通道,影響壓裂造縫效果。
當(dāng)?shù)貙哟嬖谝欢▋A角時[15],上覆巖層壓力可分解為垂向應(yīng)力和切應(yīng)力,降低了垂向應(yīng)力對地層壓實(shí)作用的影響,地應(yīng)力隨著地層傾角的增大而減小,增大了巖層的各向異性,隨著傾角的增大,水平最大主應(yīng)力與最小水平主應(yīng)力的差值增加,復(fù)雜縫網(wǎng)形成難度增大,從而影響壓裂改造效果。因此,對于傾角較大的地層,不能忽略其對壓裂效果的影響。平橋區(qū)塊地層傾角與產(chǎn)量之間存在一定的負(fù)相關(guān)關(guān)系,隨著地層傾角的增大,產(chǎn)量逐漸減小,進(jìn)一步證實(shí)了地層傾角對產(chǎn)量的影響較大。
氣測全烴值是頁巖含氣性的重要評價指標(biāo)之一,可定性表征頁巖含氣量的高低[16-17]。全烴值是頁巖氣層中進(jìn)入鉆井液的烴類氣體的總和,主要由鉆遇破碎的頁巖所產(chǎn)生的氣體計算得來,而該類型氣體受鉆井參數(shù)、鉆井液性能和脫氣效率等因素的影響非常大[18-20],現(xiàn)場錄井中,往往出現(xiàn)氣測值很高但試氣產(chǎn)量卻較低,或氣測值不高但試氣產(chǎn)量卻較高的情況。因此,通過分析氣測錄井的相關(guān)影響因素,并利用已鉆井的相關(guān)數(shù)據(jù),對主力頁巖氣層③小層,全烴值進(jìn)行進(jìn)一步校正,通過統(tǒng)計分析并擬合,近似得到以下關(guān)系:
式中:Q為全烴值,%;Q校正為全烴校正值,無量綱;t為鉆時,min;ρ為泥漿密度,g/cm3。從而得到全烴校正值和產(chǎn)量、全烴含量和產(chǎn)量的關(guān)系(圖3),全烴校正值與產(chǎn)能的相關(guān)性更強(qiáng),說明全烴校正值可以代替全烴值更好地表征區(qū)域內(nèi)同層之間的產(chǎn)能差異。
圖3 平橋區(qū)塊頁巖氣井測試產(chǎn)量與③小層全烴校正值、全烴值關(guān)系
③小層全烴校正值平面圖(圖4)表明:平橋區(qū)塊中部和北部存在兩個高值區(qū),平橋D井井區(qū)以南全烴校正值整體高于平橋D井以北。平橋D井以南整體全烴校正值較高,主要因?yàn)樵搮^(qū)域?qū)儆谄綐虮承焙瞬?,背斜高部位和近斷層部位小尺度高角度裂縫較為發(fā)育,為游離氣的運(yùn)移和儲集提供了良好的條件,因此在鉆井過程中具有較好的氣測顯示。
圖4 平橋區(qū)塊頁巖氣井③小層全烴校正值平面分布
一般含油氣儲層電阻率顯示為高值,而在頁巖儲層研究過程中發(fā)現(xiàn),頁巖儲層電阻率受黏土含量、過成熟有機(jī)質(zhì)、黃鐵礦含量、地層水礦化度和微裂縫發(fā)育等多方面因素的影響,相較于常規(guī)沉積巖儲層具有電阻率異常偏低的特征[21-23],因此,利用電阻率參數(shù)評價頁巖儲層含氣性的過程中需要充分考慮頁巖儲層的地質(zhì)特征和頁巖氣的賦存狀態(tài)。
根據(jù)實(shí)際鉆探資料在平橋區(qū)塊開展電阻率對產(chǎn)能影響的相關(guān)研究,主力頁巖氣層③小層的電阻率參數(shù)與平橋區(qū)塊產(chǎn)能呈現(xiàn)較好的負(fù)相關(guān)關(guān)系,同時電阻率在平面上存在明顯的分區(qū)性,平橋D井以南的背斜核部區(qū)域,屬于高電阻率區(qū);平橋D井以北的背斜傾沒端屬于中-低電阻率區(qū)(圖5)。高電阻率區(qū)表明頁巖儲層中游離氣含量較高,導(dǎo)致電阻率增大,而儲層中的頁巖氣主要有游離氣和吸附氣兩種賦存狀態(tài)[7-8],其中以吸附氣為主,如果頁巖儲層中游離氣含量較高,則相應(yīng)的吸附氣含量明顯降低,表現(xiàn)為明顯的高電阻率,而儲層中的游離氣在保存條件不利的情況下極易散失,進(jìn)而導(dǎo)致頁巖氣井產(chǎn)能較低。平橋D井以南的背斜核部發(fā)育大量高角度裂縫,為游離的頁巖氣提供了儲集空間,但相對也為頁巖氣的逸失提供了通道,因此,頁巖氣保存條件變差,氣井產(chǎn)能較低。
圖5 平橋區(qū)塊頁巖氣井③小層電阻率平面分布
綜合各種因素考慮得出,平橋區(qū)塊優(yōu)質(zhì)頁巖氣儲層的電阻率值整體呈中低值,電阻率與氣井產(chǎn)能呈現(xiàn)負(fù)相關(guān)較為合理,電阻率參數(shù)可間接反映頁巖氣儲層的含氣性,進(jìn)而有效評價氣井產(chǎn)能。
綜合以上分析,平橋區(qū)塊主力頁巖氣層③小層全烴校正值和區(qū)塊內(nèi)頁巖氣井的產(chǎn)量相關(guān)性最好,在建立頁巖氣井產(chǎn)能評價體系時,應(yīng)優(yōu)先考慮全烴校正值,該指標(biāo)對頁巖氣井的含氣性有較好的指示作用;在分析含氣性的同時,要綜合考慮保存條件的差異,而保存條件主要受斷裂控制,因此,頁巖氣井周邊斷裂的發(fā)育程度,對氣井的產(chǎn)量同樣起控制作用,總體上,斷裂發(fā)育程度和全烴校正值兩項(xiàng)指標(biāo)為頁巖氣井產(chǎn)能差異的主控因素。
綜合考慮,壓裂前地質(zhì)因素包括:埋藏深度、曲率特征、地層傾角、構(gòu)造形態(tài)、斷裂特征、全烴校正值和電阻率等,根據(jù)其影響程度分成主要指標(biāo)和次要指標(biāo),建立平橋區(qū)塊頁巖氣產(chǎn)能評價指標(biāo)體系(表1)。
表1 平橋區(qū)塊氣井產(chǎn)能評價指標(biāo)體系
Ⅰ類區(qū):主要位于平橋東1號斷層和西斷層傾沒端,埋深相對兩翼較淺,為3 000~3 500 m,曲率非均質(zhì)性弱,地層傾角為15°~20°,全烴校正值大于12,電阻率為50~100 Ω·m,易于壓裂改造(圖6)。
Ⅱ類區(qū):位于平橋東1號斷層和西斷層夾持的背斜中部區(qū)域,埋深3 000 m以淺,壓裂改造相對較容易;中部發(fā)育一條褶皺條帶,鄰近區(qū)域曲率非均質(zhì)性較強(qiáng),不利于壓裂改造;同時,背斜中部縱向上受滑脫逆沖構(gòu)造變形影響,近斷裂區(qū)裂縫發(fā)育,在壓裂改造過程中,容易發(fā)生濾失,導(dǎo)致加砂困難;地層傾角主要為10°~25°,全烴校正值為6~12,電阻率一般大于100 Ω·m(圖6)。
Ⅲ類區(qū):位于平橋區(qū)塊平橋東1號斷層以東3 500 m以淺區(qū)域,斷裂發(fā)育,斷裂周邊曲率較發(fā)育,且非均質(zhì)性較強(qiáng),鉆井過程中容易發(fā)生漏失,同時,地層傾角一般大于30°,導(dǎo)致壓裂改造過程中不利于形成復(fù)雜縫網(wǎng),全烴校正值大于12,電阻率為50~100 Ω·m,由于其靠近斷層,存在一定的漏失風(fēng)險,同時,該區(qū)塊地層傾角過大,不利于后期壓裂改造(圖6)。
Ⅳ類區(qū):位于平橋區(qū)塊平橋東1號斷層以東3 500 m以深區(qū)域,曲率中等發(fā)育,但埋深較大,壓裂施工難度較高,同時,由于其埋深變化迅速,不利于水平井地質(zhì)導(dǎo)向鉆進(jìn),鉆井難度同樣較大,所以將該區(qū)劃分為Ⅳ類區(qū)塊(圖6)。
圖6 平橋區(qū)塊地質(zhì)綜合評價分區(qū)
基于前期的研究結(jié)果,在平橋區(qū)塊Ⅰ類區(qū)和Ⅱ類區(qū)分別論證部署了平橋A-6井和平橋B-1井,其中位于Ⅰ類區(qū)的平橋A-6井水平段③小層電阻率為55.22 Ω·m,水平段③小層全烴校正值為14.59,曲率值較低,埋深2 800 m左右,試氣產(chǎn)量達(dá)25.2×104m3/d,目前穩(wěn)產(chǎn)6×104m3/d;位于Ⅱ類區(qū)的平橋B-1井,該井水平段③小層電阻率為101.36 Ω·m,水平段③小層全烴校正值為10.05,曲率均勻但發(fā)育程度較低,埋深2 600 m左右,試氣產(chǎn)量為12.7×104m3/d,目前穩(wěn)產(chǎn)3×104m3/d。
為進(jìn)一步探究深層頁巖氣開發(fā)潛力,在Ⅳ類區(qū)部署了平橋D-2井,該井水平段③小層電阻率為45.72 Ω·m,水平段③小層全烴校正值為5.76,曲率值低,埋深3 960 m左右,試氣產(chǎn)量為3×104m3/d。
目前平橋區(qū)塊一系列探井的鉆探效果表明,在平橋區(qū)塊該評價體系的應(yīng)用效果較好,有利于頁巖氣井的優(yōu)化部署,提高經(jīng)濟(jì)效益,同時,該評價體系在平橋區(qū)塊相鄰的白馬區(qū)塊,也開展了應(yīng)用和推廣,部署在Ⅰ類和Ⅱ類區(qū)的頁巖氣井試氣效果較好,為白馬區(qū)塊下步提交千億方探明儲量夯實(shí)了基礎(chǔ)。
(1)涪陵頁巖氣田復(fù)雜構(gòu)造區(qū)氣井產(chǎn)能受多因素影響,埋藏深度、曲率、地層傾角、斷裂特征、全烴校正值以及電阻率這6個因素與頁巖氣井產(chǎn)量均具備較好的相關(guān)性,其中,斷裂發(fā)育特征和全烴校正值是影響頁巖氣產(chǎn)量的主控因素。
(2)基于目前涪陵頁巖氣田平橋區(qū)塊氣井開發(fā)實(shí)踐,綜合頁巖氣井產(chǎn)能主控因素,建立涪陵頁巖氣田復(fù)雜構(gòu)造帶地質(zhì)綜合評價體系,優(yōu)選出位于平橋區(qū)塊平橋東1號斷層和西斷層夾持的北部及南部斷裂傾沒端,埋深相比兩翼較淺的3 000~3500 m區(qū)域?yàn)樽顑?yōu)開發(fā)區(qū),位于平橋東1號斷層和西斷層夾持的背斜核部區(qū)域,埋深3 500 m以淺區(qū)域和位于平橋區(qū)塊平橋東1號斷層以東3 500 m以淺區(qū)域次之。