申請公布號：CN 116227143A

申請公布日：2023月6月6日

申請人：哈爾濱工業(yè)大學

發(fā)明人：徐 樂、陳東旭、王紫陽等

本發(fā)明介紹了一種考慮橡膠老化機理的電連接器密封可靠性預計方法。該方法主要考慮因橡膠老化導致的電連接器密封失效模式，通過分析電連接器在溫度、濕度、鹽霧等外部環(huán)境應(yīng)力作用下橡膠密封件發(fā)生壓縮永久變形直至密封性功能失效的內(nèi)在原因及其機理，建立反映電連接器在失效誘因（包括工作應(yīng)力、環(huán)境應(yīng)力、時間應(yīng)力等）作用下密封性功能失效規(guī)律的失效物理模型，實現(xiàn)電連接器密封可靠性的準確預計。本發(fā)明解決了傳統(tǒng)可靠性預計方法難以量化產(chǎn)品材料、結(jié)構(gòu)、工藝數(shù)據(jù)波動對產(chǎn)品質(zhì)量可靠性的影響的問題。