傅惠民, 李子昂, 付越帥, 郭建超
(北京航空航天大學(xué) 小樣本技術(shù)研究中心, 北京 100191)
工程上許多大型機(jī)電產(chǎn)品具有高可靠度和長壽命的指標(biāo)要求[1],但是又無法進(jìn)行整機(jī)壽命試驗(yàn),結(jié)果難以按傳統(tǒng)方法進(jìn)行可靠性評估。 由于許多機(jī)電產(chǎn)品的壽命主要由關(guān)鍵子系統(tǒng)決定,任何一個(gè)關(guān)鍵子系統(tǒng)發(fā)生故障,都會導(dǎo)致整機(jī)無法正常運(yùn)行, 所以通常機(jī)電產(chǎn)品可視為由各個(gè)關(guān)鍵子系統(tǒng)組成的串聯(lián)系統(tǒng), 從而可以通過關(guān)鍵子系統(tǒng)壽命試驗(yàn)對其整機(jī)可靠性進(jìn)行評估[2]。 目前,工程實(shí)際中對機(jī)電產(chǎn)品關(guān)鍵子系統(tǒng)一般均要求開展可靠性鑒定試驗(yàn),以驗(yàn)證產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)是否達(dá)到規(guī)定值[3],且采用較多的鑒定試驗(yàn)方案是定時(shí)截尾試驗(yàn)。 這種情況通常要求關(guān)鍵子系統(tǒng)在可靠性鑒定試驗(yàn)中是無失效的, 失效則判定為不合格。 然而傳統(tǒng)的由子系統(tǒng)壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)評估串聯(lián)系統(tǒng)可靠性的LM 和MML 等方法又不適用于無失效數(shù)據(jù)情況。
為此,本文在文獻(xiàn)[4]的基礎(chǔ)上,提出一種機(jī)電產(chǎn)品積木式可靠性評估與外場實(shí)時(shí)更新方法。 該方法能夠根據(jù)機(jī)電產(chǎn)品的關(guān)鍵子系統(tǒng)壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)對整機(jī)可靠性進(jìn)行評估,給出整機(jī)高置信度、 高可靠度的可靠壽命單側(cè)置信下限, 從而解決了大型機(jī)電產(chǎn)品無法進(jìn)行整機(jī)壽命試驗(yàn)時(shí)的可靠性評估難題,為其外場使用提供了科學(xué)依據(jù)。并且還可以進(jìn)一步根據(jù)該機(jī)電產(chǎn)品大量的外場服役壽命數(shù)據(jù)對上述出廠時(shí)的可靠性評估結(jié)果進(jìn)行實(shí)時(shí)更新, 增大了信息量,從而顯著提高整機(jī)可靠性評估的精度。
對于一般情況, 可設(shè)某機(jī)電產(chǎn)品由m 個(gè)完全不相同且相互獨(dú)立的關(guān)鍵子系統(tǒng)串聯(lián)構(gòu)成, 圖1 給出一般機(jī)電產(chǎn)品的串聯(lián)模型。
圖1 一般機(jī)電產(chǎn)品串聯(lián)模型
對于上述機(jī)電產(chǎn)品串聯(lián)模型中包含若干個(gè)完全相同且相互獨(dú)立的子系統(tǒng)(如飛機(jī)的兩個(gè)機(jī)翼)情況,首先可將它們看成一個(gè)關(guān)鍵子系統(tǒng),并按文獻(xiàn)[5]中1.2.1 節(jié)方法計(jì)算其可靠度單側(cè)置信下限,然后再采用本文方法處理。
對于無法進(jìn)行整機(jī)壽命試驗(yàn)的大型機(jī)電產(chǎn)品, 通常要求對其關(guān)鍵子系統(tǒng)開展可靠性鑒定試驗(yàn), 下面針對工程中采用較多的定時(shí)截尾試驗(yàn), 分別給出電子產(chǎn)品和一般機(jī)電產(chǎn)品的積木式可靠性評估與外場實(shí)時(shí)更新方法。
設(shè)某電子產(chǎn)品由m 個(gè)完全不相同且相互獨(dú)立的子系統(tǒng)串聯(lián)而成, 第i 個(gè)子系統(tǒng)的壽命t 遵循失效率為λi的指數(shù)分布,其可靠度函數(shù)為
因此,該電子產(chǎn)品整機(jī)的可靠度函數(shù)R(t)為
由此可見, 該電子產(chǎn)品整機(jī)的壽命同樣遵循指數(shù)分布,其失效率為
對于電子產(chǎn)品串聯(lián)模型中包括完全相同且相互獨(dú)立的子系統(tǒng)的情況, 則可將完全相同且相互獨(dú)立的子系統(tǒng)看成一個(gè)關(guān)鍵子系統(tǒng) (若完全相同且相互獨(dú)立的子系統(tǒng)有m*個(gè),每個(gè)子系統(tǒng)失效率為λ*,則它們組成的關(guān)鍵子系統(tǒng)失效率為m*λ*)進(jìn)行處理。
設(shè)在可靠性鑒定試驗(yàn)中, 各個(gè)子系統(tǒng)的總試驗(yàn)時(shí)間均為T0, 且在規(guī)定的時(shí)間T0內(nèi)所有子系統(tǒng)的試樣均未失效, 則該電子產(chǎn)品整機(jī)置信水平為γ 的失效率λ 的單側(cè)置信上限為
證明如下:設(shè)(Ti,ri)為第i 個(gè)關(guān)鍵子系統(tǒng)無替換定數(shù)截尾壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù), 其中Ti為子系統(tǒng)i 所有試樣的總試驗(yàn)時(shí)間,ri為其發(fā)生失效的試樣數(shù),且ri=1,則有
式中: χ2(2)是自由度為2 的χ2分布。 式(5)既可以看作隨機(jī)變量Ti的分布[6],也可以看成失效率λi的置信分布[7]。由χ2分布的可加性得到下式
當(dāng)可靠性鑒定試驗(yàn)采用定時(shí)截尾試驗(yàn)時(shí), 設(shè)各個(gè)子系統(tǒng)的總試驗(yàn)時(shí)間均為T0,且在規(guī)定的時(shí)間T0內(nèi)所有子系統(tǒng)的試樣均未失效。 若繼續(xù)試驗(yàn),直到各子系統(tǒng)試樣出現(xiàn)一個(gè)失效時(shí)停止試驗(yàn), 此時(shí)得到定數(shù)截尾試驗(yàn)數(shù)據(jù)(Ti,1),無失效數(shù)據(jù)的總試驗(yàn)時(shí)間T0滿足T0≤Ti, i=1,2,…,m,即
因此由式(7)可知
式(4)證畢!
由式(4)可知,該電子產(chǎn)品整機(jī)置信水平為γ 的平均壽命θ=1/λ 的單側(cè)置信下限為
由式(4)可知,該電子產(chǎn)品整機(jī)置信水平為γ、可靠度為R 的可靠壽命tR=-lnR/λ 的單側(cè)置信下限為
由式(4)可知,該電子產(chǎn)品整機(jī)在給定時(shí)間t 處置信水平為γ 的可靠度R=e-λt的單側(cè)置信下限為
對于無法進(jìn)行整機(jī)壽命試驗(yàn)的電子產(chǎn)品, 其可靠性只能在出廠前由關(guān)鍵子系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)評估得到。隨著該電子產(chǎn)品在外場的使用, 積累了大量的整機(jī)實(shí)際使用壽命數(shù)據(jù)。 這些整機(jī)服役壽命數(shù)據(jù)比出廠前的子系統(tǒng)試驗(yàn)數(shù)據(jù)更加真實(shí)可信也更能反映整機(jī)的可靠性水平,因此必須充分利用這些真實(shí)的整機(jī)服役壽命數(shù)據(jù),對電子產(chǎn)品出廠前評估的可靠性進(jìn)行實(shí)時(shí)更新, 從而有效提高產(chǎn)品可靠性評估精度。
式中:g(λ)為整機(jī)失效率λ 的置信分布,根據(jù)式(4)和式(5)可知,g(λ)由下式給出
令x=2(Τ0+Τ)λ,并將式(15)代入式(14)得
由于式(16)中被積函數(shù)是自由度為2(m+r)的χ2分布概率密度函數(shù),所以
已經(jīng)由γ 更新為γ′。
由式(20)可知,其整機(jī)置信水平為γ 的平均壽命單側(cè)置信下限由更新為,即有
根據(jù)式(20)可知,整機(jī)置信水平為γ,可靠度為R 的可靠壽命單側(cè)置信下限由更新為,即有
同樣, 該電子產(chǎn)品整機(jī)置信水平為γ 的可靠度為R的單側(cè)置信下限由更新為,即有
設(shè)某機(jī)電產(chǎn)品由m 個(gè)完全不相同且相互獨(dú)立的關(guān)鍵子系統(tǒng)串聯(lián)而成, 各個(gè)關(guān)鍵子系統(tǒng)的壽命t 均遵循形狀參數(shù)為α0(已知)的兩參數(shù)Weibull 分布,其可靠度函數(shù)分別為
式中:βi為第i 個(gè)子系統(tǒng)的特征壽命,形狀參數(shù)α0可以通過以往試驗(yàn)數(shù)據(jù)或經(jīng)驗(yàn)獲得。例如,美國波音公司給出鋁合金結(jié)構(gòu)α0=4;鈦合金結(jié)構(gòu)α0=3;鋼結(jié)構(gòu)α0=2.2。 令y=tα0,λi=,則將式(24)變換為
即隨機(jī)變量y 服從失效率為λi的指數(shù)分布。 因此,上面第2和3 兩節(jié)的方法均可用于一般的機(jī)電產(chǎn)品, 成為機(jī)電產(chǎn)品的積木式可靠性評估與外場實(shí)時(shí)更新方法。對于機(jī)電產(chǎn)品串聯(lián)模型中包含若干個(gè)完全相同且相互獨(dú)立的子系統(tǒng)的情況,也同樣將它們看成一個(gè)關(guān)鍵子系統(tǒng)進(jìn)行處理。
設(shè)在可靠性鑒定試驗(yàn)中, 第i 個(gè)子系統(tǒng)的試樣廣義總試驗(yàn)時(shí)間為T0=,所有試樣均未失效,且各子系統(tǒng)廣義總試驗(yàn)時(shí)間T0相同,則由式(12)可知,該機(jī)電產(chǎn)品整機(jī)置信水平為γ, 可靠度為R 的可靠壽命單側(cè)置信下限為
同樣,由式(13)可知,該機(jī)電產(chǎn)品整機(jī)在給定時(shí)間t處置信水平為γ 的可靠度單側(cè)置信下限為
同樣,根據(jù)式(23)可知,該機(jī)電產(chǎn)品整機(jī)在給定時(shí)間t 處置信水平為γ 的可靠度R 的單側(cè)置信下限由更新為,即有
設(shè)某大型機(jī)電產(chǎn)品由兩個(gè)完全不相同且相互獨(dú)立的關(guān)鍵子系統(tǒng)串聯(lián)組成, 各子系統(tǒng)的壽命均服從形狀參數(shù)為α0=2.2 的兩參數(shù)Weibull 分布,其特征壽命分別為β1=8.76×105h 和β2=9.20×105h。 則該機(jī)電產(chǎn)品整機(jī)在可靠度R=0.99 處的可靠壽命真值tR=80896h。
首先,對兩個(gè)子系統(tǒng)的壽命母體進(jìn)行隨機(jī)抽樣,仿真生成各個(gè)子系統(tǒng)的一個(gè)壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù) (工程實(shí)際中通??捎杉铀賶勖囼?yàn)和加速因子獲得),如表1 所示。 然后根據(jù)式(26)可以求得該機(jī)電產(chǎn)品整機(jī)置信水平γ=0.7、可靠度R=0.99 的可靠壽命單側(cè)置信下限為
表1 某大型機(jī)電產(chǎn)品子系統(tǒng)仿真壽命數(shù)據(jù)
從上述計(jì)算結(jié)果可以看到,對于無法進(jìn)行整機(jī)壽命試驗(yàn)的大型機(jī)電產(chǎn)品,本文方法能夠根據(jù)其子系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)直接評估得到整機(jī)可靠壽命單側(cè)置信下限,從而為機(jī)電產(chǎn)品的外場服役或領(lǐng)先使用提供了科學(xué)依據(jù)。
設(shè)有200 臺該型機(jī)電產(chǎn)品在外場服役到其可靠壽命單側(cè)置信下限=32478h 均未失效(仿真生成),相應(yīng)獲得該機(jī)電產(chǎn)品的200 個(gè)無失效壽命數(shù)據(jù)ti=32478h,i=1,2,…,200。結(jié)合這批數(shù)據(jù)即可根據(jù)式(28)方便有效地將機(jī)電產(chǎn)品整機(jī)置信水平γ=0.7、可靠度R=0.99 的可靠壽命單側(cè)置信下限由原來的更新至
類似地, 若200 臺該型機(jī)電產(chǎn)品繼續(xù)使用至42682h仍均未失效, 則可根據(jù)相同方法將整機(jī)可靠壽命單側(cè)置信下限更新至49286h。 如此循環(huán)往復(fù), 最終可將整機(jī)可靠壽命單側(cè)置信下限更新至71551h,與出廠前確定的可靠壽命單側(cè)置信下限相比,可靠壽命提高了120%,更加接近可靠壽命真值tR=80896h。
上述計(jì)算結(jié)果匯總于表2。 由此可見,本文的可靠性外場實(shí)時(shí)更新方法能夠持續(xù)利用外場服役壽命數(shù)據(jù),對機(jī)電產(chǎn)品出廠前評估的可靠壽命進(jìn)行實(shí)時(shí)更新, 從而提高整機(jī)可靠壽命評估精度。
表2 某大型機(jī)電產(chǎn)品可靠壽命外場實(shí)時(shí)更新結(jié)果
建立了一種機(jī)電產(chǎn)品積木式可靠性評估方法, 能夠根據(jù)關(guān)鍵子系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行整機(jī)可靠性評估,給出其高置信度、 高可靠度的可靠壽命單側(cè)置信下限。從而解決了大型機(jī)電產(chǎn)品無法進(jìn)行整機(jī)壽命試驗(yàn)時(shí)的可靠性評估難題,為其外場使用提供了科學(xué)依據(jù)。
建立了一種機(jī)電產(chǎn)品可靠性外場實(shí)時(shí)更新方法,能夠開發(fā)利用大量的整機(jī)外場服役壽命數(shù)據(jù), 對出廠時(shí)評估的可靠性進(jìn)行實(shí)時(shí)更新,增大了信息量,從而顯著提高整機(jī)可靠性評估精度。
針對指數(shù)分布和Weibull 分布情況,給出了其整機(jī)高置信度的失效率單側(cè)置信上限和平均壽命、可靠壽命、可靠度的單側(cè)置信下限的評估和更新公式。