王仕偉,鄭 浩,孟偉巍
(攀鋼集團(tuán)研究院有限公司釩技術(shù)研究所,釩鈦資源綜合利用國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,四川 攀枝花 617000)
近年來(lái),混合動(dòng)力電動(dòng)汽車(chē)和便攜式電子設(shè)備等眾多技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域?qū)勖L(zhǎng)、能量密度更高的鋰離子電池(LIB)的需求不斷增長(zhǎng)。因此,開(kāi)發(fā)具有高容量的負(fù)極材料以取代僅具有372 mAh/g 理論容量的傳統(tǒng)石墨材料正變得越發(fā)迫切[1]。在眾多材料中,硅基負(fù)極材料理論比容量可達(dá)3 572 mAh/g(以Li15Si4的形式),遠(yuǎn)高于石墨負(fù)極材料的理論容量,已被視為最有前途的候選材料之一[2]。但硅的實(shí)際應(yīng)用也面臨著嚴(yán)重挑戰(zhàn)。首先是硅的本征電導(dǎo)率低,這限制了高電流密度下Li+的傳輸[3]。另一個(gè)更為嚴(yán)重的問(wèn)題是硅在嵌鋰過(guò)程中會(huì)出現(xiàn)極大的體積膨脹(膨脹率≈400%),這導(dǎo)致了許多嚴(yán)重后果,如結(jié)構(gòu)粉碎、不穩(wěn)定的固體電解質(zhì)界面(SEI)膜的連續(xù)產(chǎn)生以及循環(huán)穩(wěn)定性差,使得硅負(fù)極材料的容量急劇下滑[4]。
針對(duì)上述問(wèn)題,研究人員主要采取包覆策略來(lái)努力解決。在諸多材料中,二氧化鈦(TiO2)因其較好的機(jī)械強(qiáng)度(大約是無(wú)定型碳的5 倍),脫嵌鋰時(shí)可忽略不計(jì)的體積膨脹率(<4%),以及可以在其表面上形成穩(wěn)定的SEI 膜等優(yōu)點(diǎn)在鋰離子電池硅負(fù)極材料的改性方面具有巨大潛力[5]。例如,Wang Kai等[6]用納米硅作硅源、原硅酸四乙酯為二氧化硅源、鈦酸四丁酯為鈦源(TBOT)、鹽酸多巴胺為碳源,通過(guò)溶膠凝膠法并經(jīng)熱處理得到C@TiO2@SiO2@Si材料,再經(jīng)HF 刻蝕合成中空結(jié)構(gòu)的C@TiO2@Si(CTS)納米復(fù)合材料,該復(fù)合材料在100 mA/g 電流密度下循環(huán)50 次后的容量為747 mAh/g。Lu Bing等[7]以鈦酸四丁酯為鈦源合成了機(jī)械堅(jiān)固的二氧化鈦(TiO2)殼和均勻碳層修飾的中空Si 納米球,中空Si@TiO2@C 納米球表現(xiàn)出優(yōu)異的電化學(xué)性能,其初始放電容量為2 557.1 mAh/g,庫(kù)侖效率為86.06%,在1 A/g 條件下進(jìn)行250 次循環(huán)后的大回收放電容量為1 270.3 mAh/g,平均庫(kù)侖效率為99.53%。Jiao Xiangwei 等[8]以正硅酸乙酯為硅源,通過(guò)鎂熱還原得到空心Si 納米球(HN-Si),再以鈦酸異丙酯為鈦源,利用溶膠-凝膠法制備了HN-Si@TiO2,復(fù)合材料在1 A/g 的電流密度下100 次循環(huán)后放電容量為1 196.3 mAh/g。然而,目前關(guān)于二氧化鈦包覆硅負(fù)極材料以改善硅材料性能的研究主要集中在使用鈦酸四丁酯、鈦酸異丙酯等有機(jī)鈦源,在無(wú)機(jī)鈦源,如TiCl4方面的研究報(bào)道較少。因此,筆者以攀鋼氯化法鈦白工藝中間產(chǎn)物精制四氯化鈦TiCl4作為鈦源,采用水解法合成具有堅(jiān)固二氧化鈦外殼的Si@TiO2納米復(fù)合材料,研究結(jié)果表明,采用TiCl4為鈦源,能夠制得二氧化鈦均勻包覆的Si@TiO2納米復(fù)合材料,其充放電性能相比原始納米硅明顯得到提高。
取0.45 g 100 nm 高純硅粉(純度99.99%,鑫鐵金屬材料有限公司)置于燒杯中,倒入50 mL 無(wú)水乙醇,超聲20 min,加入20 mL 去離子水,再滴入1.0 mL 氨水(25%~28%),磁力攪拌30 min,得到懸濁液A。用膠頭滴管取0.25 mL 四氯化鈦(攀鋼氯化法鈦白工藝中間產(chǎn)物精制四氯化鈦,純度≥99.99%)逐滴加入到10 mL 0 ℃的去離子水中配成四氯化鈦水溶液,再次進(jìn)行30 min 的磁力攪拌。在50 ℃水浴加攪拌條件下,用膠頭滴管將上述四氯化鈦水溶液緩慢滴加到混合液A 中,繼續(xù)攪拌至溶液蒸干。取蒸干后的物料放入管式氣氛爐,在氬氣氣氛、500 ℃條件下對(duì)物料進(jìn)行熱處理,時(shí)間30 min,隨爐冷卻至室溫,然后取出磨細(xì),即為Si@TiO2納米復(fù)合材料。
采用X 射線(xiàn)衍射儀(XRD)(Co 靶,電壓35 kV,電流50 mA)、透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電子顯微鏡(SEM)對(duì)樣品的物相及微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析和表征。
分別稱(chēng)取活性材料、乙炔黑和海藻酸鈉,質(zhì)量比為7∶2∶1,加入適量去離子水混合均勻后涂布在Cu 箔上,將獲得的電極放入真空烘箱中干燥12 h,溫度設(shè)定為80 ℃,沖壓成?12 mm 的電極片備用。使用鋰箔、PP 隔膜和電解質(zhì)(1.0 M LiPF6溶液,溶劑體積比為EC(碳酸乙烯酯)∶DMC(碳酸二甲酯)∶EMC(碳酸甲乙酯)=1∶1∶1,在填充有Ar(O2,H2O<0.000 01%)的手套箱中組裝紐扣電池(CR2016)。電池組裝后靜置8 h 以上。使用普林斯頓電化學(xué)工作站(VersaSTAT3)對(duì)電池進(jìn)行循環(huán)伏安測(cè)試,采用兩電極體系,測(cè)試電位為0.01~2.50 V,掃描速率設(shè)定為0.5 mV/s。采用藍(lán)電測(cè)試儀(CT2001A)進(jìn)行電極材料儲(chǔ)鋰性能測(cè)試,測(cè)試電位為0.01~2.50 V。
圖1 為未經(jīng)處理的納米硅和Si@TiO2納米復(fù)合材料的XRD 譜。從圖1 可以看出,Si@TiO2納米復(fù)合材料在33.1°、55.5°、66.2°、91.8°和107.6°處有明顯的衍射峰,與晶體硅(JCPDS :03-065-1060)的特征峰相一致,表明復(fù)合材料中硅的晶體結(jié)構(gòu)是穩(wěn)定的。此外,還可以觀察到銳鈦型二氧化鈦的衍射峰(29.5°),衍射峰較寬,且強(qiáng)度較低,說(shuō)明復(fù)合材料中二氧化鈦的結(jié)晶性不好。
圖1 Si 和Si@TiO2 納米復(fù)合材料的XRD 譜Fig.1 XRD diffraction patterns of Si and Si@TiO2 nanocomposites
圖2(a)、(b)為未經(jīng)處理的納米硅和Si@TiO2納米復(fù)合材料的形貌。如圖2(a)所示,Si 顆粒易于團(tuán)聚,顆粒大體呈球形,它的表面較為光滑,粒徑分布在 100 nm 左右;從圖2(b)可以觀察到,Si@TiO2納米復(fù)合材料表面比較粗糙,顆粒形狀為近球形,顆粒粒徑在110~120 nm。圖2(c)、(d)為納米硅和Si@TiO2納米復(fù)合材料的TEM 形貌。從圖2(d)可以看出復(fù)合材料樣品內(nèi)部為晶體Si 納米顆粒,表面包覆著一層無(wú)定型的TiO2殼,二氧化鈦殼層厚度為10~20 nm,增加了硅顆粒的尺寸。二氧化鈦具有較高的機(jī)械強(qiáng)度,它作包覆層能在一定程度上抑制硅核在鋰化過(guò)程中的膨脹。此外無(wú)定形TiO2外殼還能起到保護(hù)層的作用,避免硅顆粒和電解液直接接觸,確保復(fù)合材料的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性。該復(fù)合材料應(yīng)當(dāng)具有不錯(cuò)的電化學(xué)性能。
圖2 (a) Si 的SEM 形貌;(b) Si@TiO2 的SEM 形貌;(c)Si 的TEM 形貌;(d) Si@TiO2 的TEM 形貌Fig.2 (a) SEM image of Si;(b) SEM image of Si@TiO2;(c) TEM image of Si;(d) TEM image of Si@TiO2
圖3 為Si@TiO2復(fù)合材料的的元素分布。從圖3 可以直接觀察到,樣品中存在Si、Ti、O 三種元素,其分布狀況進(jìn)一步印證了包覆結(jié)構(gòu)。
圖3 Si@TiO2 納米復(fù)合材料的元素分布Fig.3 EDS analysis of Si@TiO2 nanocomposites
圖4(a)為Si@TiO2的循環(huán)伏安曲線(xiàn),電壓測(cè)試范圍為0.01~2.5 V,掃描速率設(shè)定為0.5 mV/s。如圖4 所示,在首次陰極掃描過(guò)程中,在1.2 V 左右處處出現(xiàn)了較寬的還原峰,這可能是有機(jī)電解質(zhì)發(fā)生分解以及在活性材料表面上形成SEI 層造成的[9]。峰值在后續(xù)的循環(huán)中消失,這意味著形成了穩(wěn)定的SEI 層[10]。隨著循環(huán)的繼續(xù),在約0.19 V 處出現(xiàn)一個(gè)還原峰,歸因于晶態(tài)Si 鋰化形成LixSi 合金[11]。由于LixSi 脫鋰形成非晶Si,在約0.38 V 處觀察到不明顯的氧化峰,在0.59 V 處觀察到強(qiáng)烈的氧化峰[8],且電流峰值不斷增大,表明Si 電極不斷被激活,直到電流峰值不再增加,Si 電極完成活化。值得注意的是,每個(gè)峰的位置幾乎保持不變,這意味著硅和鋰離子之間的反應(yīng)是高度可逆的。此外,還可以從圖中觀察到銳鈦礦TiO2的氧化還原峰。在第一個(gè)循環(huán)中,1.66 V 的還原峰和2.13 V 的氧化峰分別對(duì)應(yīng)于銳鈦礦TiO2中的Li+的嵌入和脫出。在后續(xù)循環(huán)中還原峰移動(dòng)到1.72 V,氧化峰基本保持不變。一般認(rèn)為在Li+嵌入過(guò)程中TiO2從四方銳鈦礦到正交Li0.5TiO2結(jié)構(gòu)的雙相轉(zhuǎn)變是還原峰移動(dòng)的原因[12]。這種現(xiàn)象是銳鈦礦型TiO2的典型特征[13]。
圖4 Si 和Si@TiO2 納米復(fù)合材料的電化學(xué)性能Fig.4 Electrochemical properties of Si and Si@TiO2 nanocomposites
圖4 (b)為 Si@TiO2在電流密度200 mA/g、電壓0.01~2.5 V(vs Li+/Li)條件下的前三次充放電曲線(xiàn)。納米復(fù)合材料在0.15 V 下顯示出一個(gè)長(zhǎng)的平坦平臺(tái),代表了硅鋰化的典型特征。在后續(xù)的循環(huán)過(guò)程中,鋰化平臺(tái)從0.1 V 移動(dòng)到0.3 V,這與晶體硅向非晶硅的轉(zhuǎn)化有關(guān)[8]。在充電過(guò)程中,0.55 V下出現(xiàn)的脫鋰平臺(tái)表示LixSi 向非晶硅的轉(zhuǎn)變。
圖4(c)為Si 和Si@TiO2的倍率性能曲線(xiàn)。以200、400、800、1 600、2000 mA/g 的電流密度下測(cè)試Si@TiO2的倍率性能,其對(duì)應(yīng)放電比容量分別為1 810.7、1 550、1 135.7、614.3、1 457.1 mAh/g。與之相比,未經(jīng)處理的Si 的放電比容量分別為3 140.8、1 843.3、288.3、3.3 和1 385 mAh/g。顯然,Si@TiO2納米復(fù)合材料的倍率性能和結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性遠(yuǎn)勝于未經(jīng)處理的Si。這歸因于TiO2涂層改善了硅材料的電子傳導(dǎo)性和結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性。圖4(d)為Si 和Si@TiO2納米復(fù)合材料在500 mA/g 電流密度下的循環(huán)性能曲線(xiàn)。從圖4 可以看出,在最初的幾個(gè)循環(huán)里,Si和Si@TiO2納米復(fù)合材料的比容量都發(fā)生了明顯的衰減,這是由于SEI 膜的生長(zhǎng)和電極材料的不可逆反應(yīng)造成的[7]。Si@TiO2在500 mA/g 電流密度下的首次放電比容量為1 691.4 mAh/g,循環(huán)100 次后仍有877 mAh/g 的放電比容量,容量保持率為51.8%。與之相比,未經(jīng)處理的Si 在500 mA/g 電流密度下循環(huán)100 次后放電比容量為4 mAh/g。從上述結(jié)果可以看出,二氧化鈦的包覆會(huì)降低硅負(fù)極材料的首次放電容量,但TiO2包覆層能通過(guò)提供機(jī)械支撐和形成穩(wěn)定的SEI 膜,起到穩(wěn)定電極的作用,避免硅負(fù)極材料結(jié)構(gòu)發(fā)生變化,從而提高復(fù)合材料的循環(huán)穩(wěn)定性。
為了進(jìn)一步評(píng)估采用無(wú)機(jī)鈦源制備的Si@TiO2復(fù)合材料的儲(chǔ)鋰性能,選擇了部分文獻(xiàn)報(bào)道的采用有機(jī)鈦源制備的硅基復(fù)合材料作比較,如表1 所示。從表1 可以看出,Si@TiO2表現(xiàn)出良好的儲(chǔ)鋰性能。與本文以水作TiCl4的反應(yīng)溶劑相比,有機(jī)鈦源一般采用乙醇等有機(jī)溶劑作為反應(yīng)溶劑,反應(yīng)過(guò)程要更為復(fù)雜,制備難度更大,且成本更高。因此,研究利用TiCl4這類(lèi)無(wú)機(jī)鈦源來(lái)制備硅基復(fù)合材料具有重要意義。
表1 不同鈦源制備的硅基復(fù)合材料儲(chǔ)鋰性能比較Table 1 Comparison of lithium storage performance of composite materials prepared from different titanium sources
以攀鋼氯化法鈦白工藝中間產(chǎn)物精制四氯化鈦TiCl4作為無(wú)機(jī)鈦源,采用水解法成功合成了具有二氧化鈦包覆層的Si@TiO2納米復(fù)合材料。合成的Si@TiO2材料在1 600 mAh/g 的大電流密度下的放電比容量為614.3 mAh/g。電流密度500 mA/g,循環(huán)100 次后仍有877 mAh/g 的放電比容量,容量保持率為51.8%,這說(shuō)明TiO2外殼憑借其較好的機(jī)械性能在充放電過(guò)程中極大地緩解了硅的體積膨脹,同時(shí)也改善了材料的電子傳導(dǎo)性,使得 Si@TiO2具有較為優(yōu)異的電化學(xué)性能。Si@TiO2納米復(fù)合材料采用TiCl4作為無(wú)機(jī)鈦源,相比鈦酸四丁酯等有機(jī)鈦源,TiCl4原料價(jià)格更為低廉,且水解法工藝也較為簡(jiǎn)單,易于工業(yè)化大規(guī)模生產(chǎn)。