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基于時(shí)間差型磁通門的電流傳感器抗干擾研究

2024-04-29 07:11李菊萍葉明盛任浩蔡艷蘭王文武劉莉娜
傳感器世界 2024年2期
關(guān)鍵詞:繞線時(shí)間差磁芯

李菊萍,葉明盛,任浩,蔡艷蘭,王文武,劉莉娜

1.寧波中車時(shí)代傳感技術(shù)有限公司,浙江寧波 315021 2.湖南汽車工程職業(yè)學(xué)院,湖南株洲 412000

0 引言

工業(yè)和民用的許多場合需要用到電流傳感器,以監(jiān)測電流和控制電動裝置。隨著技術(shù)發(fā)展,許多應(yīng)用場合對測量精度提出了更高要求,尤其是漏電流測量領(lǐng)域[1-6]。準(zhǔn)確快速地監(jiān)測到漏電對消除漏電造成的安全隱患有重要意義?;诨魻栃?yīng)、聚磁阻抗效應(yīng)、隨磁阻抗效應(yīng)等物理效應(yīng)的傳感器精度、穩(wěn)定性和可靠性都無法滿足要求,因此,目前這些技術(shù)未普遍應(yīng)用于漏電流測量領(lǐng)域。作為弱磁場測量的重要手段,磁通門電流傳感器具有精度高、分辨率高、靈敏度高、尺寸小和溫度漂移小等優(yōu)點(diǎn),因其優(yōu)異的綜合性能,經(jīng)常用于一些要求較高的場合,如地球和太空磁場測量、人造衛(wèi)星和導(dǎo)彈姿態(tài)控制。日本富士公司在2011 年的“IEEE傳感器會議”上報(bào)道了基于遲滯時(shí)間差型磁通門的商用漏電電流檢測器[7]。

遲滯時(shí)間差型(Residence Times Difference,RTD)磁通門采用單鐵芯結(jié)構(gòu),對傳感器輸出信號峰值的時(shí)間差而非信號幅度進(jìn)行檢測。相對傳統(tǒng)磁通門傳感器而言,RTD 磁通門體積減小,且不需考慮雙磁芯的聚磁、渦流及電磁參數(shù)的對稱性等問題,測量電路因避開了相敏檢波及積分等環(huán)節(jié)而得到簡化。針對遲滯時(shí)間差型磁通門傳感器的主要工作有剩余電流檢測[8]、模型[9-10]、噪聲[11-12]、時(shí)間差數(shù)據(jù)處理[13]等。

在漏電流檢測領(lǐng)域,需特別關(guān)注小電流檢測所需的靈敏度,及外界干擾對小電流檢測的影響。對于小電流傳感器,通常匝數(shù)較少,線圈端口需要釘針固定,而且鐵芯組件與PCB 也需要連接,釘針設(shè)計(jì)以及組件連接的可靠性、可制造性、產(chǎn)線量產(chǎn)問題導(dǎo)致實(shí)際線圈做不到理想均勻。實(shí)際應(yīng)用中缺乏考慮線圈不均勻因素時(shí)傳感器各種設(shè)計(jì)參量與抗干擾性能的定量關(guān)系指導(dǎo)。目前已發(fā)表的關(guān)于磁通門的抗干擾文獻(xiàn)大多為關(guān)于羅盤的。

本文在對自激振蕩時(shí)間差磁通門電流傳感器進(jìn)行理論推導(dǎo)的基礎(chǔ)上,分析了繞線不均勻?qū)鞲衅餍盘枡z測的影響,抗干擾性能的影響因素,分析了傳感器設(shè)計(jì)參數(shù)、不均勻因素與抗干擾性能的定量關(guān)系,為自激振蕩時(shí)間差磁通門電流傳感器的優(yōu)化設(shè)計(jì)提供重要參考。

1 工作原理

圖1 為RTD 型磁通門電流傳感器結(jié)構(gòu)示意圖。被測電流im穿過環(huán)形鐵芯,在鐵芯內(nèi)產(chǎn)生偏置磁場,繞有線圈的鐵芯與比較器相互作用,組成自振蕩電路。通過采樣電阻端電壓檢測鐵芯飽和情況,當(dāng)該電壓達(dá)到閾值電壓時(shí),比較器的輸出信號方向翻轉(zhuǎn),使線圈端加載周期性自振蕩方波,鐵芯內(nèi)產(chǎn)生周期性的磁場。當(dāng)被測電流為0 時(shí),自振蕩方波的高低電平持續(xù)時(shí)間相等。當(dāng)被測電流不為0 時(shí),在鐵芯內(nèi)產(chǎn)生偏置磁場,從而正反向磁化不對稱,通過檢測高低電平時(shí)間差,即可實(shí)現(xiàn)對被測電流的測量。

理想鐵芯的磁化曲線如圖2 所示,Hs為飽和磁場強(qiáng)度,Bs為飽和磁感應(yīng)強(qiáng)度。當(dāng)鐵芯內(nèi)磁場小于飽和磁場Hs時(shí),磁導(dǎo)率為μ;當(dāng)鐵芯內(nèi)磁場大于飽和磁場時(shí),鐵芯磁導(dǎo)率接近真空磁導(dǎo)率。圖3 為RTD 型磁通門電流傳感器工作原理示意圖。先考慮被測電流im為0 時(shí)的情況,如圖3 中的實(shí)線,當(dāng)方波換向?yàn)檎蚋唠娖綍r(shí),鐵芯還處于反向飽和狀態(tài),電感遠(yuǎn)小于電阻,因此電流變化很快,由反向最大值-ir快速降為-is,磁芯進(jìn)入非飽和狀態(tài),電感增大,線圈電流緩慢變化,當(dāng)電流達(dá)到正向is時(shí),鐵芯進(jìn)入正向飽和,電感急劇減小,電流突變增大,當(dāng)電流達(dá)到翻轉(zhuǎn)閾值is時(shí),方波電壓換向,高低電平時(shí)間差相等。被測電流im不為0 的情況如圖3 中的虛線,達(dá)到鐵芯飽和時(shí)的電流分別為imin、imax(見下文),在激磁電壓的正半周期內(nèi),被測電流使磁芯滯后飽和,在激磁電壓的負(fù)半周期內(nèi),被測電流使磁芯提前飽和,高低電平時(shí)間差不相等。

根據(jù)圖1 工作電路,得到如下磁調(diào)制回路方程:

求解,得:

假定鐵芯飽和時(shí),方波持續(xù)時(shí)間遠(yuǎn)小于非飽和時(shí)方波持續(xù)時(shí)間,鐵芯內(nèi)磁場等于Hs時(shí),近似為方波翻轉(zhuǎn)時(shí)刻,磁芯正向飽和時(shí):

磁芯反向飽和時(shí):

式中,H和Hm分別為繞在鐵芯的線圈與被測電流在鐵芯內(nèi)產(chǎn)生的磁場。由式(2)~(4)得高低電平持續(xù)時(shí)間分別為:

式中,xmin=imin/iR,xmax=imax/iR,iR=U/R,imin、imax分別為反向飽和與正向飽和時(shí)的線圈電流;imin+im=-is,imax+im=is,為未加被測電流時(shí)達(dá)到飽和所需的電流,im為被測電流。

令xm=im/iR,xs=is/iR,由式(5)~(6)得時(shí)間差輸出:

式中,xmax=(xs-xm),xmin=(-xs-xm)。

考慮傳感器正常工作時(shí)條件,即保證電流可以正常翻轉(zhuǎn),imin>-iR,imax<iR,因此要求被測電流滿足如下條件:

由式(5)~(7)分析可知,電阻與電感比值影響高低電平持續(xù)時(shí)間,但不影響時(shí)間差與周期比值,不影響輸出。隨著xs=is/iR=0.1~0.9 參數(shù)的改變,時(shí)間差與被測電流關(guān)系如圖4 所示。隨著被測電流增大,xm增大,時(shí)間差增大,可通過檢測時(shí)間差來測量被測電流。量程、靈敏度與參數(shù)xs有關(guān)。當(dāng)鐵芯飽和磁場一定時(shí),隨著方波激勵(lì)電壓與回路電阻之比iR=U/R減小,參數(shù)xs從0.1 增大到0.9,量程減小。考慮到xm=im/iR,對于同樣被測電流,隨著方波激勵(lì)電壓與回路電阻之比iR=U/R減小,參數(shù)xs從0.1 增大到0.9,由圖4 可知,斜率y/xm增大,靈敏度y/im=y/(xmiR)也增大。

2 繞線不均勻影響分析

考慮繞線不均時(shí)的情況,將磁芯分為1 和2 兩部分,如圖5所示。與均勻繞線相比,磁芯1匝數(shù)占比多了a,即等效匝數(shù)為n(1+a)/2,磁芯2 占比少了a,即等效匝數(shù)為n(1-a)/2,n為線圈總匝數(shù)。

同上文,假定鐵芯飽和時(shí)方波持續(xù)時(shí)間遠(yuǎn)小于非飽和時(shí)方波持續(xù)時(shí)間,磁場等于Hs時(shí)近似為方波翻轉(zhuǎn)時(shí)刻,磁芯正向飽和時(shí):

磁芯反向飽和時(shí):

其中,H1和H2分別為繞在鐵芯的線圈在鐵芯1 部分與2 部分產(chǎn)生的磁場。用等效電流表示被測磁場與飽和磁場,令is=Hsl/n,im=Hml/n,換向時(shí)的線圈電流如下:

令xm=im/iR,xs=is/iR,xmax=imax/iR,xmin=imin/iR,得時(shí)間差輸出同式(7),但式(7)中的xmax、xmin需改為式(13)、式(14):

考慮傳感器正常工作時(shí)條件,即保證電流可以正常翻轉(zhuǎn),需滿足imin>-iR,imax<iR,因此,要求被測電流滿足如下條件:

根據(jù)式(7)、式(13)~(15)得到繞線不均時(shí)的傳感器輸出。當(dāng)繞線不均勻參數(shù)a=0.1 時(shí),隨著參數(shù)xs從0.1增大到0.8,傳感器的輸出時(shí)間差如圖6所示。與繞線均勻時(shí)規(guī)律一樣,隨著被測電流增大,時(shí)間差增大,隨著方波激勵(lì)電壓與回路電阻之比iR=U/R減小,量程減小,靈敏度增大。電阻與電感對輸出的影響也與繞線均勻時(shí)規(guī)律相同。比較式(8)與式(15),與繞線均勻情況相比,繞線不均時(shí)的量程減小。圖7 為繞線不均勻時(shí)與均勻時(shí)的輸出對比,參數(shù)xs分別為0.1和0.8,繞線不均勻參數(shù)a=0.1。從圖7 可以看出,繞線不均時(shí)的靈敏度增大,量程減小。

3 干擾影響分析

當(dāng)存在外界磁場H0干擾時(shí),為方便分析,假定被測電流為0。如果傳感器繞線均勻,即使存在外界干擾,但正反向磁化對稱,如圖8(a)所示,因此時(shí)間差輸出為0。由于傳感器實(shí)際實(shí)現(xiàn)時(shí),不可能做到繞線完全均勻,當(dāng)傳感器繞線不均勻時(shí),正反向磁化不對稱,如圖8(b)所示,使輸出不為0。

分析外界干擾對輸出影響,同上文,假定鐵芯飽和時(shí),方波持續(xù)時(shí)間遠(yuǎn)小于非飽和時(shí)方波持續(xù)時(shí)間,磁場等于Hs時(shí)近似為方波翻轉(zhuǎn)時(shí)刻,磁芯正向飽和時(shí):

磁芯反向飽和時(shí):

其中,H1和H2分別為繞在鐵芯的線圈在鐵芯1 部分與2 部分產(chǎn)生的磁場。用等效電流表示外界干擾,i0=H0l/n,換向時(shí)的電流可能有以下情況:

換向時(shí)的最大最小電流與干擾相關(guān)。

當(dāng)i0≤-isa時(shí):

當(dāng)-isa<i0<isa時(shí):

當(dāng)i0≥isa時(shí):

考慮傳感器正常工作時(shí)條件,即保證電流可以正常翻轉(zhuǎn),需滿足imin>-iR,imax<iR。

因此,綜合式(18)~(22),并且令x0=i0/iR,xs=is/iR,xmin1=imin1/iR,xmin2=imin2/iR,xmax1=imax1/iR,xmax2=imax2/iR,得:

當(dāng)x0≤-xsa,且x0>-(1-a)+xs時(shí):

當(dāng)-xsa<x0<xsa,且-(1-a)+xs<x0<(1-a)-xs時(shí):

當(dāng)x0≥xsa,且x0<(1-a)-xs時(shí):

將式(23)~(25)代入式(7)可得不同參數(shù)xs時(shí)輸出隨干擾的變化,如圖9 所示。隨著外界干擾增大,輸出增大。在同樣的外界干擾時(shí),隨著激勵(lì)電壓與回路電阻之比iR=U/R增大,參數(shù)xs=is/iR減小,參數(shù)x0=i0/iR也減小,由圖9 可知,干擾輸出幅值減小。增大iR時(shí),雖然干擾對應(yīng)的輸出減小,但被測電流對應(yīng)的輸出也減小,需分析信噪比有無改善。

將不同參數(shù)xs時(shí)干擾的輸出時(shí)間差除以不同激勵(lì)電壓與回路電阻之比iR=U/R時(shí)的靈敏度,干擾轉(zhuǎn)化為等效被測電流xm,如圖10 所示。由圖10,x0=i0/iR,xm=im/iR可知,隨著參數(shù)xs=is/iR從0.8 減小到0.1,干擾對應(yīng)的等效被測電流也減小,即當(dāng)鐵芯飽和磁場一定時(shí),在同樣的外界干擾下,隨著激勵(lì)電壓與回路電阻之比iR=U/R增大,等效被測電流減小,抗干擾能力增強(qiáng)。當(dāng)激勵(lì)電壓與回路電阻之比iR=U/R減小時(shí),隨著iR=U/R成倍增大,等效干擾電流也相應(yīng)減小,抗干擾改善顯著。

4 結(jié)束語

本文對時(shí)間差磁通門電流傳感器進(jìn)行了理論推導(dǎo),分析了影響傳感器性能的因素,分析了繞線不均勻?qū)鞲衅餍盘枡z測的影響,以及對抗干擾性能的影響因素,得到了傳感器設(shè)計(jì)參數(shù)、不均勻因素與抗干擾性能的定量關(guān)系,結(jié)論如下:

(1)量程與靈敏度相互影響。電阻與電感比值不影響傳感器靈敏度,而隨著方波電壓與電阻比值減小,量程減小,靈敏度增大;

(2)與繞線均勻相比,繞線不均時(shí)的靈敏度稍增大,量程稍減?。?/p>

(3)線圈均勻性、方波電壓與回路電阻比值影響抗干擾性能。減小干擾措施包括:使繞線盡量均勻,增大方波電壓與回路電阻比值;

(4)得到了傳感器設(shè)計(jì)參數(shù)、線圈不均勻因素與抗干擾性能的定量關(guān)系,對傳感器設(shè)計(jì)優(yōu)化有重要參考作用。

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