印跡基因ＩＧＦ２在輔助生殖患者子宮內(nèi)膜中印跡丟失及意義
2009-04-29 00:44:03周亮李蓉魏麗惠等
生命科學(xué)研究 2009年3期
周 亮 李 蓉 魏麗惠等
摘要：檢測51名輔助生育患者子宮內(nèi)膜印跡基因IGF2的雜合性丟失狀況和印跡丟失狀況，結(jié)果顯示IGF2基因的雜合率為58.82％。印跡丟失率為41.67％，印跡丟失組與印跡正常組的胚胎種植率分別為0和33.33％，兩組臨床妊娠率分別為0％和50.00％，表明IGF2基因的印跡丟失對子宮內(nèi)膜接受性有重要影響，是胚胎種植失敗的重要候選因素。
關(guān)鍵詞：IGF2基因；印跡丟失；種植率
中圖分類號：Q132
文獻標(biāo)識碼：A
文章編號：1007－7847(2009)03－0189－04
