張毅,申川
(中國工程物理研究院總體工程研究所 四川 綿陽 621900)
環(huán)境試驗中采用的存儲測試技術(shù)是將數(shù)據(jù)采集、信號調(diào)理及數(shù)據(jù)存儲3部分集成于小型記錄儀中,置入到被測試件體內(nèi)與被測試件一起進(jìn)行跌落等高撞擊環(huán)境試驗,實時完成信息的快速采集與記憶,試后回收記錄儀,由計算機處理和再現(xiàn)加速度時間歷程曲線的一種動態(tài)測試技術(shù)。
為實現(xiàn)雙通道200 ksps同步采樣,存儲時間10 s的存儲測試系統(tǒng),設(shè)計了基于16位高速轉(zhuǎn)換器AD7654、非易失性高速并行FRAM存儲器M28W640和C8051F340的并行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換存儲電路,文中主要介紹了存儲器與C8051F340的接口電路及相應(yīng)的讀寫中斷服務(wù)程序。
在數(shù)據(jù)存儲上,分析研究了多種存儲介質(zhì)的特性后,采用了非易失性高速并行FRAM存儲器M28W640。
美國Ramtron公司鐵電存儲器(FRAM)的核心技術(shù)是鐵電晶體材料,這一特殊材料使鐵電存儲器同時擁有隨機存取記憶體(RAM)和非易失性存儲器的特性,所以不需要定時刷新,能在斷電情況下長期保存數(shù)據(jù),具有高速讀寫、超低功耗和無限次寫入等特性,并且溫度特性優(yōu)越,抗輻射能力強,特別適合在航天軍工領(lǐng)域中使用[1-3]。
M28W640的主要特點是:64 Mbit鐵電非易失性隨機,結(jié)構(gòu)為4 Mbit×16位;頁操作模式達(dá)到40 MHz;無限次的讀寫次數(shù),寫數(shù)據(jù)無延時;與SRAM兼容;低功耗操作;工作電壓:2.6~3.6 V,待機電流 18 mA,其管腳主要功能如表 1 所示。
表1 管腳功能Tab.1 Function of electron tubes
M28W640通過6種標(biāo)準(zhǔn)的總線操作來控制,即總線讀(Read)、 總 線 寫 (Write)、 輸 出 禁 止 (Output disable), 待 命(Standby),待命和復(fù)位(Standby and reset)。 文中簡要介紹前兩者。
總線讀操作用于將存儲陣列中的內(nèi)容讀出來,為了執(zhí)行讀操作,片選E和輸出使能G都必須為低電平。片選E應(yīng)被用于使能芯片,而輸出使能G應(yīng)用于將數(shù)據(jù)導(dǎo)出。讀數(shù)據(jù)依靠以前寫入存儲器的命令,見圖1的波形圖,當(dāng)離開復(fù)位態(tài)或在加電后,寫模式是芯片默認(rèn)狀態(tài);總線寫操作是將命令寫入存儲器或者將輸入的數(shù)據(jù)鎖存。當(dāng)片選E和寫使能W都處于低電平,且輸出使能G高電平時,寫操作被激活。無論誰先出現(xiàn),當(dāng)遇見寫使能W或片選E的上升沿時,命令、輸入數(shù)據(jù)和地址被鎖存住。見圖2(E控制)。
圖1 讀波形Fig.1 Read AC waveforms
圖2 寫波形,片選控制Fig.2 Write AC waveforms, chip enable controlled
設(shè)計上首先需要考慮的是系統(tǒng)可靠性、穩(wěn)定性,其次是小型化、多功能集成化。為此采用了帶ADC和USB接口控件的Cygnal C8051F系列集成SOC混合信號片上系統(tǒng)C8051F340對存儲器進(jìn)行邏輯時序控制,其具有高速、低功耗、集成度高、體積小,低功耗的特點。C8051F340使用Silicon Labs的專利CIP-51微控制器內(nèi)核,與MCS-51指令集完全兼容,具有標(biāo)準(zhǔn)8052的所有外設(shè)部件,包括4個16位計數(shù)器/定時器、兩個具有擴展波特率配置的全雙工UART、一個增強型SPI端口、多達(dá)4 352字節(jié)的內(nèi)部RAM、128字節(jié)特殊功能寄存器(SFR)地址空間及多達(dá)40個I/O引腳。
接口電路如圖3所示,其中P0口分配給16 bit的AD轉(zhuǎn)換器及鎖存器的控制端。P1.0~P1.7連接8位數(shù)據(jù)端口,上位機通過P1口讀寫存儲器;系統(tǒng)實現(xiàn)雙通道200 ksps采樣10 s,且16位分辨率的 AD轉(zhuǎn)換, 需 22根地址線占用 P2.0~P4.5口,用來給4 MW的外存儲器尋址。P4.7、P4.6接 M28W640的片選E和輸出使能G,存儲器數(shù)據(jù)輸入端口DQ1~DQ15直接與AD轉(zhuǎn)換器的輸出D0~D15連接,系統(tǒng)采用上電立即開始轉(zhuǎn)換并將采樣結(jié)果直接寫入存儲器的方式,這里不詳細(xì)敘述
[4]。
由于存儲器采用4 Mbit×16位的存儲模式,而數(shù)據(jù)總線端口P1僅8位,所以當(dāng)上位機讀寫外存儲器中數(shù)據(jù)時,都需要一個8 bit數(shù)據(jù)鎖存器[5-6]。選用74HC373低噪聲高速鎖存器,當(dāng)鎖存使能LE為高電平時,在D0~D7端的數(shù)據(jù)進(jìn)入鎖存器中D型觸發(fā)器,此時觸發(fā)器中數(shù)據(jù)隨輸入數(shù)據(jù)的變化而變化,但當(dāng)LE變?yōu)榈碗娖綍r,將LE的下降沿時的數(shù)據(jù)鎖存住,此時鎖存器中數(shù)據(jù)不再變化。當(dāng)OE變?yōu)榈碗娖綍r,將鎖存的8位數(shù)據(jù)輸出到數(shù)據(jù)總線上。如圖,P0.4接鎖存器D12的輸出使能端 OE1,P0.3接鎖存器 D13的輸出使能端 OE2,D13鎖存器的輸入使能端LE2與M28W640的輸出使能端G相連,D12鎖存器的輸入使能端LE1與M28W640的寫使能端W相連。
外存寫函數(shù),用于將采樣參數(shù)設(shè)置等數(shù)據(jù)寫入外存儲器。將16 bit數(shù)據(jù)通過8位數(shù)據(jù)線傳輸?shù)酱鎯ζ鳎枰ㄟ^D13鎖存器先將高位字節(jié)鎖存再和低位字節(jié)一起送入外存儲器中,部分程序如下:
圖3 接口電路Fig.3 Circuit of interface
外存讀函數(shù),用于將外存儲器中存儲的數(shù)據(jù)回讀到上位機。P1口接M28W640的低位數(shù)據(jù) DQ0~DQ7,M28W640的高位數(shù)據(jù)DQ8~DQ15通過鎖存器D12再接到P1口。這樣先將M28W640輸出的高字節(jié)鎖存進(jìn)D12,在低字節(jié)讀出后再讀出高字節(jié)。
存儲測試系統(tǒng)在環(huán)境試驗的某些特殊場合使用,可以避免使用測量導(dǎo)線帶來的不便,采用鐵電存儲器作為存儲元器件,能夠快速準(zhǔn)確地記錄試驗數(shù)據(jù),并且長時間保存存儲數(shù)據(jù),延長實時數(shù)據(jù)記錄儀的使用壽命。同時,鐵電存儲器可以簡化系統(tǒng)硬件設(shè)計和軟件編程,降低系統(tǒng)成本,提高系統(tǒng)的可靠性。
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