徐 峰/福建省計量科學研究院
砝碼作為質量量值傳遞系統(tǒng)中的實物量具,隨著JJG 99—2006《砝碼》檢定規(guī)程的頒布實施,對各個等級砝碼的磁化強度提出了要求,我國對于砝碼的各項性能指標要求與OIML國際建議R111保持一致。由于砝碼的磁性性能成為影響稱量準確度的重要因素,對砝碼磁性的控制顯得尤其重要。砝碼磁性測量在國內屬于剛剛開展的項目,本文對磁性測量裝置以及磁性測量方法進行分析。
測量方法依據 JJG 99—2006中有關砝碼的磁化強度測量方法,砝碼磁化強度測量設備采用梅特勒公司生產的MX型磁化率計。
砝碼磁化強度測量裝置如圖1所示。
其中:
h —砝碼的高度;
Z1—砝碼頂部到磁鐵中心的距離;
圖1 磁化強度測量裝置
Z0—砝碼底部到磁鐵中心的距離;
RW—砝碼的半徑。
1)磁鐵的N極朝下,將砝碼置于測量平臺且在磁鐵的正上方,重復稱量3次(測量時繞樣品軸心對稱旋轉120°),確保砝碼放在中心處。
a)記錄加載時間、讀數時間和卸載時間;
b)計算衡量儀器顯示質量變化的平均值Δm1;
c)確定力F1= -Δm1×g( g—重力加速度)。
2)磁鐵的N極朝上,將砝碼放在測量平臺且在磁鐵的正上方,重復稱量3次(測量中繞著樣品軸心對稱旋轉120°),確保砝碼放在中心處。
a)記錄加載時間、讀數時間和卸載時間;
b)計算衡量儀器顯示的質量變化的平均值,-Δm2;
c)確定力 F2= -Δm2×g。
以3個1 kg砝碼(包括圓柱體砝碼1個、OIML形狀砝碼1個,原一等形狀砝碼1個)為例,分析砝碼磁化強度的測量結果不確定度。砝碼幾何尺寸見表1。
形狀修正因子Ia,可以采用外圓柱體和內圓柱體分別計算Ia外和Ia內。
其中:Ia外為砝碼外圓柱計算式;Ia內為砝碼內圓柱計算式。
表1 砝碼幾何尺寸
砝碼凹底部分直徑統(tǒng)一采用最小直徑計算(針對OIML形狀的1 kg 砝碼)。
計算磁化率及其標準不確定度結果見表2。
表2 砝碼的磁化率和磁化率標準不確定度
磁化強度:
式中:μ0—真空磁導率,為 4 π×10-7N/A2;
π —取值 3.1415926;
md—永久磁鐵的磁矩,0.085 Am2;
g —當地重力加速度,為9.790 2 m/s2;
h —砝碼的高度;
Z0—砝碼底部和磁鐵中間距離;
χ —砝碼的磁化率;
BEZ—實驗室內大氣中磁場強度的垂直分量,福州地區(qū)取BEZ=28.539 17 μT。
1)對圓柱體、OIML、一等形狀的砝碼各進行3次連續(xù)測量,所得到的質量變化Δm1、Δm2測量序列如表3。
由式(7)、(8)計算可得質量變化的平均值Δm1、Δm2(表 4)。
2)使用標準磁化率塊對砝碼底部和磁鐵中間距離(Z0)進行6次測量,得到測量列,如表5所示。
由式(9)可得Z0的平均值:(Z0)= 0.022 77 m
表3 質量變化Δm1、Δm2 測量序列
表4 質量變化的平均值Δm1、Δm2
圖3 投影儀的光學系統(tǒng)工作原理
投影儀的光源安置在聚光鏡的焦點上,發(fā)出的光束經聚光鏡后變成平行光投向工件,再經過物鏡將被測工件放大并成像于影屏上。對于反射式投影系統(tǒng),光源同樣位于聚光鏡的焦點上,發(fā)出的光束經聚光鏡后成平行光,平行光束透過半透反射鏡后投向工作臺上的被測工件,在工作臺上被測工件表面反射后向上經半透反射鏡反射,通過物鏡成像于影屏上。
投影儀的結構主要由底座、光路系統(tǒng)、工作臺和讀數系統(tǒng)以及物鏡等部分所組成。光路系統(tǒng)、工作臺及其讀數系統(tǒng)固定在儀器的底座上。工作臺調焦系統(tǒng)能根據不同倍率的物鏡進行調焦,使被測工件清晰地成像于影屏,通過工作臺及其讀數系統(tǒng)進行測量。
投影儀一般帶有10倍、20倍、50倍和100倍4種物鏡。投影儀的物鏡要和相對應的聚光鏡一起使用,其目的是為了在影屏上能得到盡可能大的亮度。若高倍物鏡用了低倍聚光鏡,則影屏上亮度降低;相反,若低倍物鏡用了高倍聚光鏡,則影屏中間亮,而光照不能充滿整個視場。投影儀的工作臺可作縱向和橫向移動,圓工作臺可在360°范圍內任意轉動,這些運動均為測量工件的長度、角度所必需,達到進行測量的目的。
1)工作臺縱橫(垂)向導軌移動的直線度和垂直度
工作臺縱橫(垂)向導軌移動的直線度和垂直度要求見表1。
表1 工作臺縱橫(垂)向導軌移動的直線度和垂直度要求
2)儀器示值誤差
儀器示值誤差的要求見表2。
表2 儀器示值誤差
3)投影儀放大倍數的正確性
投影儀放大倍數的正確性要求見表3。
表3 投影儀放大倍數的正確性