郭 虎,羅景潤
(中國工程物理研究院總體工程研究所,四川 綿陽621900)
高聚物黏結(jié)炸藥(polymer bonded explosive,PBX)PBX 是一種顆粒高度填充的復合材料。從細觀研究可以看出[1-4],PBX 含有初始損傷,在外加載荷的作用下,這些損傷會進一步演化,以顆粒斷裂、界面脫粘、黏結(jié)劑基體開裂、變形孿晶以及剪切帶等形式使炸藥的力學性能劣化。同時,PBX的起爆機理(特別是XDT)與損傷也有密切的聯(lián)系。因此,對PBX 細觀損傷的表征是其力學行為研究的重要內(nèi)容,也是武器安全性研究的基礎。
目前,已有不少本構(gòu)模型應用于PBX力學行為的研究,如修正的Ramberg-Osgood模型[5]、Johnson-cook模型[6]和羅景潤等[7]結(jié)合前兩者而建立的模型,以及周風華等[8-9]建立的損傷型ZWT 模型。但是,這些本構(gòu)模型都沒有較好地表征PBX 細觀損傷。微裂紋統(tǒng)計模型(Statistical Crack Mechanics,SCRAM)是基于微裂紋擴展的本構(gòu)模型[10-11],利用微裂紋尺寸表征材料細觀損傷,能較好地反映材料細觀物理過程[12-13]。本研究基于微裂紋統(tǒng)計模型,分析了PBX 的力學行為及相應的物理過程,以及黏性對PBX 力學行為的影響。
由于考慮的因素較多,SCRAM 本構(gòu)模型本身比較復雜,為方便應用,相繼出現(xiàn)了各向同性ISOSCRAM 模型[14]和在其基礎上建立的黏彈性Visco-SCRAM 模型[15-16]。如圖1所示,Visco-SCRAM模型由一個包含多個Maxwell體并聯(lián)的黏彈性體和一個由SCRAM 模型定義的微裂紋損傷體串聯(lián)而成。其中,是偏應力率,是黏彈性偏應變率,是微裂紋損傷體的偏應變率,而Gn和ηn分別是第n個Maxwell體的剪切模量和黏性系數(shù)。
在第n個Maxwell體里,有:
圖1 Visco-SCRAM 模型結(jié)構(gòu)圖[15]Fig.1 Schematic representation of Visco-SCRAM model[15]
由于彈簧與黏壺串聯(lián),故黏彈性應變率等于彈簧與黏壺產(chǎn)生的應變率之和,即:
故第n個Maxwell體的偏應力率為:
即
式中:τ(n)=η(n)/G(n)是 第n個Maxwell體 的 松 弛時間。
對于由多個Maxwell體并聯(lián)的黏彈性體,其偏應力S是各Maxwell體的偏應力的和,即:
所以黏彈性體的偏應力、偏應力率和偏應變率的關(guān)系可以表示為:
對于整個模型,總的偏應變率為黏彈性偏應變率和微裂紋損傷體的偏應變率的和,即:
微裂紋損傷體的偏應變和偏應力的關(guān)系可表示為[15]:
其中,βe是與剪切模量G和初始裂紋分布N0相關(guān)的參數(shù),c是微裂紋平均半徑,
式中:A 是常數(shù);a為初始缺陷尺寸。
將其代入(3)式,可以得到:
寫成率的形式為:
聯(lián)立方程(1)、(2)和(4),得到:
另外,模型假設體應變εm和體應力σm的關(guān)系為:
式中:k為材料的體積模量。
模型中含有微裂紋擴展速率,該變量難以測量。根據(jù)實驗觀察與總結(jié)[16],微裂紋擴展速率主要依賴于應力強度因子。本研究利用Dienes和Johnson等[17-18]總結(jié)的經(jīng)驗公式對應力強度因子和微裂紋擴展速率進行計算。
將本構(gòu)方程在單軸應力下進行簡化,即將式(5)和(6)進行簡化,得到(v為泊松比):
利用中心差分的方法,將上述微分方程組轉(zhuǎn)化為增量形式,可得:
和
由上述單軸應力情況下增量形式的本構(gòu)方程和文獻[16]給出的關(guān)于PBX9501 的參數(shù),可擬合得到不同加載方式和不同應變率下的應力應變關(guān)系曲線。PBX9501中的顆粒(HMX)和黏結(jié)劑質(zhì)量分數(shù)分別為95%和5%。
由于在拉伸和壓縮下的損傷機理不同,PBX 存在著明顯的拉伸和壓縮不對稱性[7]。PBX 的拉伸強度要比壓縮強度小很多,通常在一個量級左右。圖2是通過Visco-SCRAM 模型擬合出的拉伸和壓縮下的應力應變曲線(應變率1/s),可以看出,兩者明顯不對稱,且其拉伸和壓縮的強度和模量與實驗結(jié)果基本一致。所以,Visco-SCRAM 模型能夠反映PBX 的拉壓不對稱性,而模型的這一特征來自應力強度因子的計算公式。
圖2 Visco-SCRAM 單軸拉伸與壓縮曲線Fig.2 Simulated stress-strain response under uniaxial tension and compression
PBX 是一種應變率相關(guān)材料,在拉伸與壓縮狀態(tài)下,PBX 的模量和強度均隨應變率的增大而增加。圖3和圖4分別是通過Visco-SCRAM 模型擬合出的拉伸與壓縮狀態(tài)的單軸應力-應變曲線??梢钥闯?,兩種狀態(tài)下的曲線均有明顯的應變率效應,模量和強度均隨應變率的增大而增加,且在高應變率(101~103s-1)下更加明顯。
另外,在相對較低的應變率(<10s-1)下曲線的硬化效應并不明顯,在軟化之前應力應變幾乎呈線性關(guān)系,而在應變率較高時則表現(xiàn)出明顯的硬化效應。這種硬化不明顯的現(xiàn)象與模型選取的黏性參數(shù)有關(guān)。
計算采用PBX9501相關(guān)參數(shù),其壓縮狀態(tài)下的計算值與實驗結(jié)果吻合較好,兩者的強度與模量在進入軟化階段前均相近(如圖5)。其中,準靜態(tài)實驗結(jié)果來自Wiegand等[19]的工作,動態(tài)數(shù)據(jù)來自Dobratz等[20]的工作。進入軟化階段后,動態(tài)與準靜態(tài)的計算值與實驗結(jié)果均相差較大,說明Visco-SCRAM 模型不能較好地模擬PBX 的軟化階段,這可能是出現(xiàn)宏觀裂紋造成的。由于準靜態(tài)情況下計算曲線中的硬化效應不明顯,其擬合結(jié)果與實驗結(jié)果的差異比動態(tài)情況大。所以,Visco-SCRAM模型更適合于模擬PBX 在動態(tài)情況下的力學行為。
由以上結(jié)果可以看出,Visco-SCRAM 模型能較好地反映PBX 的模量和強度隨應變率增大而增加的特征,且其模量和強度的計算值與實驗結(jié)果吻合較好。但該模型只能模擬PBX 軟化前的階段,軟化階段的誤差較大。
圖5 準靜態(tài)和動態(tài)壓縮情況下應力-應變的擬合結(jié)果與實驗Fig.5 Comparison of the stress-strain responses calculated by Visco-SCRAM with data under static and dynamic compression
SCRAM 模型的建立是基于細觀微裂紋的擴展,微裂紋的平均半徑和微裂紋的擴展速率是其中的重要變量,它們會隨著加載的過程而變化。
單軸壓縮應力-應變曲線和其過程中微裂紋平均半徑隨應變的變化情況見圖6和圖7。
其中c/c0表示微裂紋平均半徑與初始平均半徑的比值。從微裂紋平均半徑與應變的關(guān)系可以看出,初始的A點到B的過程中,微裂紋平均半徑基本不變,即c/c0≈1。當?shù)竭_B點后,應力足夠大,致使微裂紋開始快速擴展,微裂紋半徑也快速增大。在C點,達到應力峰值,此時微裂紋平均半徑大約是初始半徑的10倍,即c/c0≈10。通過對各應變率下壓縮加載的分析,到達應力峰值時的微裂紋平均半徑隨應變率的增大而增大(如應變率為103s-1時,c/c0≈16)。另外,在拉伸情況下(10s-1),到達應力峰值時的微裂紋平均半徑只是初始半徑的兩倍(c/c0≈2),明顯小于同等應變率下壓縮的情況。在其他應變率下分析也能得到同樣的規(guī)律,即對于應力峰值時的微裂紋平均半徑,拉伸加載下明顯小于壓縮的情況。經(jīng)過應力峰值之后,由于微裂紋半徑過大,微裂紋聚合、生長,使材料發(fā)生宏觀的破壞,致使材料進入軟化階段(C—D)。上述分析能在一定程度上反映材料的細觀物理過程。
微裂紋是PBX 主要的損傷類型,而SCRAM 模型能從微裂紋擴展的角度描述PBX 在受載過程中的細觀物理過程,這將有助于研究PBX 宏觀力學行為與細觀物理過程的聯(lián)系。
PBX 的黏性主要來自黏結(jié)劑,黏結(jié)劑越少,黏性對PBX 力學行為的影響越小。Visco-SCRAM 模型里的黏性主要來自廣義Maxwell體里的松弛時間,表1中關(guān)于黏性的參數(shù)是通過半經(jīng)驗的方式得到的。首先通過實驗得到PBX 的模量與應變率的關(guān)系,然后半經(jīng)驗地假設松弛時間是應變率倒數(shù)的十分之一,從而通過最小二乘法擬合數(shù)據(jù)點得到松弛時間與模量的關(guān)系,即應力松弛譜。Bennett等[15]通過該方法得到PBX9501的松弛時間與模量呈對數(shù)關(guān)系(見圖8):
式中:m1=-0.17 077;m2=0.06 825;m3=7.1 679;E和τ的單位分別為MPa和s。
圖8 PBX9501楊氏模量與松馳時間的關(guān)系[15]Fig.8 The young′s modulus versus relaxation time data for PBX9501[15]
本研究假設松弛時間是應變率倒數(shù)的10-(q+1)倍,則可在表1給出的黏性參數(shù)的基礎上得到新的黏性參數(shù)組。顯然,當q<0 時,黏性減小;當q>0時,黏性增大。圖9 是不同黏性參數(shù)下Visco-SCRAM 模型單軸壓縮應力應變曲線(10s-1)。從圖9可以看出,黏性增大和減小對壓縮曲線的影響是不對稱的。當黏性增大時,模量略有減小,強度幾乎沒有變化,而q>2后,模量和強度都不會有明顯的變化。當黏性減小時,模量有明顯的增大,強度在q<-1后也有明顯的增大,而q<-4后,模量和強度都不會有明顯的變化。
圖9 黏性對Visco-SCRAM 壓縮應力—應變曲線的影響Fig.9 Effect of viscosity on the predicted stress—strain response under compression
以上分析說明,黏性的變化對PBX 力學性能的影響較明顯。黏性增大時,模量和強度會隨之減?。火ば詼p小時,模量和強度會增大。其中,存在一定的范圍(-1<q<2)內(nèi),可以使PBX 的模量變化,而強度幾乎保持不變。對于以上黏性增大減小時的不對稱,可能是因為PBX9501 的黏性本身就比較大。
(1)SCRAM 模型能較好地反映PBX 在拉伸和壓縮下的力學行為和相應的細觀物理過程,對于疲勞、蠕變以及斷裂等行為,還需更加深入的研究。
(2)在壓縮或拉伸過程中,應力較小時,微裂紋平均半徑基本保持不變。隨著應力的增大,微裂紋擴展速率增大,當微裂紋擴展到一定長度時會使PBX 產(chǎn)生破壞。到達應力峰值時,微裂紋平均半徑隨應變率的增加而增大,且該值在拉伸時明顯比壓縮時小。
(3)減小PBX 的黏性,模量明顯增大,破壞應變明顯減小。對于破壞應力,存在一個閾值,當黏性減小量小于這個閾值時,破壞應力基本不變,超過這個閾值后,破壞應力明顯增大。
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