強(qiáng)天鵬，朱從斌

（1.江蘇省特種設(shè)備安全監(jiān)督檢驗(yàn)研究院，南京 210003；2.中廣核工程有限公司，深圳 518124）

1 概述

JB/T 4730—2005標(biāo)準(zhǔn)［1］發(fā)布至今已有7年，在標(biāo)準(zhǔn)的執(zhí)行過程中積累了較多的經(jīng)驗(yàn)，相關(guān)章節(jié)需要進(jìn)行適當(dāng)修訂或補(bǔ)充，而且目前ASME規(guī)范和歐洲等標(biāo)準(zhǔn)系列中的無損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)有了較大的技術(shù)改進(jìn)。因此，隨著我國(guó)制造業(yè)水平的逐步提高和國(guó)家對(duì)特種設(shè)備安全性的重視，也為了更好的與國(guó)際接軌，根據(jù)國(guó)家能源局的要求，全國(guó)鍋爐壓力容器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)組織召開了關(guān)于修訂JB/T 4730—2005（NB/T 47013）的會(huì)議。

根據(jù)會(huì)議的主旨要求，JB/T 4730.2—2005射線部分的修訂綜合考慮國(guó)際和國(guó)內(nèi)射線檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)改進(jìn)，結(jié)合國(guó)內(nèi)特種設(shè)備制造的實(shí)際特點(diǎn)和標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行的經(jīng)驗(yàn)，優(yōu)化射線檢測(cè)參數(shù)，進(jìn)一步提高檢測(cè)質(zhì)量。

2 射線檢測(cè)修訂內(nèi)容的思考

對(duì)射線部分修訂的思考基于JB/T 4730—2005為檢測(cè)方法標(biāo)準(zhǔn)，主要考慮需要修訂和補(bǔ)充的相關(guān)技術(shù)參數(shù)及參考依據(jù)，涉及檢驗(yàn)文件、設(shè)備器材、透照工藝、暗室處理和檢驗(yàn)報(bào)告等內(nèi)容，確保標(biāo)準(zhǔn)的全面性、適用性、先進(jìn)性，同時(shí)使標(biāo)準(zhǔn)的執(zhí)行更具可操作性和方便性。

2.1 檢測(cè)文件

不同檢測(cè)方法規(guī)程編制的差異性大，JB/T 4730.1—2005部分關(guān)于“通用規(guī)程”和“工藝卡”的規(guī)定不能兼顧各種檢測(cè)方法的具體要求，考慮是否取消JB/T 4730.1—2005部分關(guān)于“通用規(guī)程”和“工藝卡”的內(nèi)容，移到各分檢測(cè)章節(jié)部分，提出檢測(cè)工藝規(guī)程內(nèi)容的基本要求，這樣更具體，關(guān)鍵參數(shù)不漏項(xiàng)；或在保留JB/T 4730.1—2005部分“通用規(guī)程”和“工藝卡”規(guī)定的基礎(chǔ)上，對(duì)各分檢測(cè)章節(jié)補(bǔ)充不同檢測(cè)方法的特殊要求。

考慮把目前JB/T 4730.1—2005中“通用規(guī)程”和“工藝卡”相結(jié)合的強(qiáng)制要求修改為推薦方式之一，另一種推薦的方式就是直接編制針對(duì)具體檢測(cè)對(duì)象的可操作性的射線檢測(cè)工藝規(guī)程或操作指導(dǎo)書。同時(shí)提出首次使用射線檢測(cè)規(guī)程或重要參數(shù)改變時(shí)對(duì)規(guī)程鑒定的具體要求，并分析射線檢測(cè)的關(guān)鍵要素，使檢測(cè)規(guī)程真正成為指導(dǎo)檢測(cè)人員操作的指導(dǎo)性文件。

2.2 膠片分類及其選擇

工程上普遍采用的工業(yè)膠片分類標(biāo)準(zhǔn)是ASTM E1815［2］、EN584－1［3］和ISO 11699［4］，JB/T 4730—2005標(biāo)準(zhǔn)中T1～T4的分類依據(jù)的是等同采用ISO 11699—1998的 GB/T 19348.1—2003［5］標(biāo)準(zhǔn)，目前的ISO 11699—2008標(biāo)準(zhǔn)在膠片分類上已經(jīng)進(jìn)行了修訂，同于EN 584－1分為C1～C6類，二者只是在C2類膠片（G/σD）min和σDmax兩項(xiàng)參數(shù)指標(biāo)上存在差異。因此會(huì)考慮修訂JB/T 4730—2005標(biāo)準(zhǔn)中T1～T4的分類，采用ISO 11699.1—2008標(biāo)準(zhǔn)的膠片分類依據(jù)，與國(guó)際接軌，使分類更加細(xì)化，膠片選擇會(huì)比較直接和方便。

膠片系統(tǒng)是膠片和膠片處理的組合，為獲得選定的膠片系統(tǒng)性能，考慮優(yōu)先選擇按膠片制造商推薦的處理?xiàng)l件進(jìn)行，增加膠片供應(yīng)商應(yīng)提供的膠片處理參數(shù)的相關(guān)內(nèi)容。

膠片灰霧度的物理意義應(yīng)是未曝光的膠片經(jīng)顯影處理后的總體黑度，與膠片的儲(chǔ)存條件及暗室處理情況有關(guān)，JB/T 4730—2005中規(guī)定膠片灰霧度不得大于0.3，考慮在此基礎(chǔ)上補(bǔ)充膠片灰霧度測(cè)量時(shí)間間隔、抽樣及暗室處理?xiàng)l件與產(chǎn)品底片暗室處理?xiàng)l件之間的關(guān)系等技術(shù)要求，做到對(duì)灰霧度的監(jiān)控，保證底片質(zhì)量。

根據(jù)擬修訂的膠片系統(tǒng)分類等級(jí)，重新確定JB/T 4730.2—2005標(biāo)準(zhǔn)中不同的透照技術(shù)、射線源和材料情況下膠片系統(tǒng)的選擇原則。

2.3 射線源170Tm和169Yb

170Tm和169Yb射線源適用于薄板和輕金屬的檢測(cè)，為使標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用范圍更加廣泛，也為薄板和輕金屬檢測(cè)時(shí)170Tm和169Yb射線源的選擇提供標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)，參考GB/T 3323《金屬熔化焊焊接接頭射線照相》，EN 1435［6］和ISO 17636［7］，在工藝性研究試驗(yàn)的基礎(chǔ)上增加相關(guān)要求（如增感屏選擇、膠片系統(tǒng)選擇等），同時(shí)規(guī)定射線源指標(biāo)應(yīng)符合相應(yīng)的制造標(biāo)準(zhǔn)（如GB/T 14058—2008）［8］。

2.4 像質(zhì)計(jì)

考慮使用孔型像質(zhì)計(jì)比絲型像質(zhì)計(jì)更有益于控制底片質(zhì)量，也為設(shè)計(jì)或合同方要求選擇孔型像質(zhì)計(jì)時(shí)提供標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)，在充分調(diào)研的基礎(chǔ)上，考慮JB/T 4730.2—2005增加孔型像質(zhì)計(jì)的選擇，主要包括適用的孔型像質(zhì)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)（如GB/T 23910—2009）［9］、型號(hào)、規(guī)格、材料、適用范圍等。

JB/T 7902—2006［10］標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)頒布并替代JB/T 7902—1999標(biāo)準(zhǔn)，考慮是否取消引用HB 7684［11］標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，同時(shí)考慮采用GB/T 23901—2009代替JB/T 7902—2006的可能性（標(biāo)準(zhǔn)附錄A除外），與孔型像質(zhì)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)保持一致。對(duì)于等徑像質(zhì)計(jì)，則考慮是否直接引用JB/T 7902—2006附錄A的要求。

考慮增加絲型像質(zhì)計(jì)材料選擇的總體原則，絲型像質(zhì)計(jì)材料吸收系數(shù)應(yīng)低于或等同于被檢工件材料的系數(shù)（JB/T 7902并未提及），并考慮修訂JB/T 4730.2—2005中表2的適用范圍，如表2中允許奧氏體不銹鋼像質(zhì)計(jì)用于碳鋼材料檢測(cè)的規(guī)定就不恰當(dāng)。

2.5 增感屏

規(guī)定增感屏相關(guān)指標(biāo)應(yīng)符合相應(yīng)的制造標(biāo)準(zhǔn)（如GB/T 23910—2009），保證增感屏質(zhì)量。

根據(jù)采取的不同膠片透照技術(shù)，增加中增感屏技術(shù)要求，在充分調(diào)研和工藝性試驗(yàn)的基礎(chǔ)上確定中增感屏的材料和厚度選擇原則。

調(diào)研和討論采用60Co射線源透照延遲裂紋傾向或抗壓強(qiáng)度Rm≥540MPa材料時(shí)，強(qiáng)制采用鋼或銅增感屏的可能性。實(shí)踐證明使用60Co射線源透照時(shí)采用鋼或銅比使用鉛增感屏的像質(zhì)計(jì)靈敏度至少提高一個(gè)等級(jí)。

2.6 濾光板

JB/T 4730—2005第4.6.1節(jié)提及了濾光板，但未作出具體闡述，考慮采用γ射線透照（尤其透照大厚度焊縫）時(shí)底片對(duì)比度低所帶來的靈敏度損失，以及盡可能的減少散射線的影響，建議考慮補(bǔ)充濾光板的使用及選擇要求。

ASME V SE—1994［12］中提及了濾光板使用的基本原則，但不具體；RCC－M標(biāo)準(zhǔn)［13］對(duì)使用γ射線透照時(shí)濾光板的選用有具體的規(guī)定，對(duì)提高底片的靈敏度在核電建造領(lǐng)域也有良好的工程實(shí)踐。在參考兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的要求并作充分的工藝性試驗(yàn)的基礎(chǔ)上，考慮增加γ射線透照使用濾光板的可能性或作為資料性附錄提出。γ射線源采用濾光板比不使用濾光板時(shí)的像質(zhì)計(jì)靈敏度至少提高一個(gè)等級(jí)。

2.7 鉛字“B”和背散射屏蔽鉛板的相對(duì)位置

為檢測(cè)背散射的影響，應(yīng)在暗盒后面附加背散射屏蔽鉛板，當(dāng)后增感屏不足以屏蔽背散射時(shí)，需要附加背散射屏蔽鉛板進(jìn)行防護(hù)。為了驗(yàn)證此時(shí)的背散射屏蔽效果，且為了避免鉛字“B”對(duì)膠片附加增感的影響，此時(shí)鉛字“B”放置在屏蔽鉛板后面應(yīng)更為合理，但在實(shí)際操作時(shí)，許多RT檢測(cè)人員對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)的理解存在歧義，無論是否附加背散射屏蔽鉛板，鉛字“B”往往放置在暗盒后面，甚至在定制暗盒時(shí)鉛字“B”已經(jīng)固定，這不合適。為了保證背散射屏蔽的可靠性，考慮標(biāo)準(zhǔn)修訂時(shí)對(duì)此應(yīng)加以明確。

JB/T 4730—2005、ISO 17636、EN 1435 和ASME標(biāo)準(zhǔn)對(duì)此均不明確，RCC－M標(biāo)準(zhǔn)則明確規(guī)定鉛字“B”必須放置于背散射屏蔽鉛板的后面。

2.8 其它透照布置

GB 150標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定角接接頭對(duì)接焊縫（以下簡(jiǎn)稱“角焊縫”）有射線檢測(cè)要求時(shí)應(yīng)按照J(rèn)B/T 4730—2005標(biāo)準(zhǔn)來執(zhí)行，但JB/T 4730—2005標(biāo)準(zhǔn)并未規(guī)定角焊縫的相關(guān)檢測(cè)技術(shù)參數(shù)。為了使角焊縫的射線檢測(cè)有標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)，考慮參考 GB/T 3323、ISO 17636或EN 1435標(biāo)準(zhǔn)增加安放式和插入接管全焊透角焊縫的透照布置。根據(jù)目前特種設(shè)備承壓焊縫分類情況和透照的可操作性，暫不考慮T型接頭的射線檢測(cè)情況。

換熱器管子管板焊縫的射線檢測(cè)已應(yīng)用廣泛，此類焊縫的射線檢測(cè)尚無標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)，參考化工、核電、火電等行業(yè)的工程實(shí)踐，考慮在JB/T 4730.2－2005中補(bǔ)充相關(guān)檢測(cè)技術(shù)要求或作為資料性附錄提出，為此類焊縫的檢測(cè)提供依據(jù)或參考。

角焊縫或管子管板焊縫射線檢測(cè)與對(duì)接焊縫檢測(cè)相比，主要考慮對(duì)背散射屏蔽鉛板厚度選擇、射線源與工件及底片的位置關(guān)系（幾何不清晰度Ug的計(jì)算）、透照布置、膠片透照技術(shù)等方面作較為詳細(xì)的規(guī)定，并考慮插入式角焊縫內(nèi)透照時(shí)Ug的最大值適當(dāng)放寬的可能性，并針對(duì)不同角焊縫的特點(diǎn)進(jìn)行工藝性研究試驗(yàn)。

2.9 小徑管透照

鑒于小徑管底片有效評(píng)定區(qū)是根據(jù)底片上黑度滿足要求的范圍來確定，為保證管子100%有效檢測(cè)，底片評(píng)定區(qū)應(yīng)該做到有效的重疊，JB/T 4730.2—2005只是給出了透照次數(shù)。因此必須明確在滿足透照次數(shù)的情況下應(yīng)保證相鄰角度底片評(píng)定區(qū)有效重疊。

由于結(jié)構(gòu)原因只能透照一次時(shí)，在對(duì)不同的管徑和厚度進(jìn)行充分調(diào)研和實(shí)際操作驗(yàn)證的基礎(chǔ)上，思考是否對(duì)焊縫影像兩邊不能評(píng)定的區(qū)域根據(jù)不同管徑和壁厚情況給出一個(gè)最大范圍，以規(guī)范實(shí)際操作。

2.10 有效評(píng)定區(qū)的搭接

為保證焊接接頭的整個(gè)體積范圍能夠達(dá)到100%檢測(cè).考慮增加100%檢測(cè)時(shí)有效評(píng)定區(qū)搭接的技術(shù)要求，意味著增加暗盒直接搭接透照的相關(guān)限制條件和技術(shù)要求。這是因?yàn)樵u(píng)定區(qū)的搭接并不意味著暗盒的直接搭接透照.相鄰部位暗盒直接搭接透照時(shí)，后面底片搭接部位黑度降低，其長(zhǎng)度范圍往往大于前面底片的搭接區(qū)，因此即使采用前面底片對(duì)搭接部位進(jìn)行了評(píng)定，仍需要對(duì)部分黑度降低區(qū)進(jìn)行評(píng)定，如果黑度不滿足標(biāo)準(zhǔn)要求，也就不能保證對(duì)焊縫進(jìn)行了100%檢測(cè)。

2.11 膠片透照技術(shù)和底片觀察技術(shù)

考慮透照大厚度工件、厚度差變化較大焊縫及不同種類材料焊接的需要，明確允許采用雙膠片和多膠片透照技術(shù)的要求。

JB/T 4730—2005對(duì)于AB和B級(jí)透照技術(shù)只允許單片觀察，雙片疊加觀察只是應(yīng)用于A級(jí)透照技術(shù)，建議允許采用雙膠片技術(shù)或多膠片技術(shù)的同時(shí)，對(duì)應(yīng)的也允許雙片疊加觀察評(píng)定，尤其是透照大厚度工件及厚度差變化較大焊縫及不同種類材料焊接的時(shí)候該工藝的優(yōu)勢(shì)更為突出。ASME V T282允許雙片評(píng)定，并對(duì)黑度范圍作了規(guī)定；RCC－M標(biāo)準(zhǔn)對(duì)此有更為詳細(xì)和明確的規(guī)定，并且是強(qiáng)制的，在核電建造領(lǐng)域也有良好的工程實(shí)踐。考慮RCC－M標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于雙/多膠片透照技術(shù)底片疊加評(píng)定的工程實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，允許JB/T 4730.2—2005對(duì)雙片疊加評(píng)定。

采用雙/多膠片透照技術(shù)及雙片評(píng)定，主要考慮以下幾個(gè)方面：

（1）采用雙膠片透照技術(shù)時(shí)，在保證足夠曝光量的基礎(chǔ)上盡量減少了曝光時(shí)間，從而最大可能的減小散射線的影響，提高底片對(duì)比度。

（2）在選用滿足上述曝光量和盡量減少散射線的基礎(chǔ)上，采用雙片疊加評(píng)定時(shí)能得到滿意底片黑度值。

（3）采用雙膠片透照技術(shù)有利于缺陷和偽缺陷的解釋和評(píng)定。

（4）獲得較大底片寬容度范圍（如角焊縫透照時(shí)）。

（5）與役前和在役射線檢測(cè)保持一致，有利于底片評(píng)定的一致性和缺陷的跟蹤控制，設(shè)備在役檢測(cè)采用雙/多膠片透照技術(shù)更能保證透照質(zhì)量和效率。

2.12 膠片與被檢工件之間的距離

除非其他的布置能使被檢區(qū)域得到更好的透照?qǐng)D像，否則，曝光期間，膠片應(yīng)緊貼于工件，不得隨意布置。

2.13 像質(zhì)計(jì)放置

如果標(biāo)準(zhǔn)修訂增加角焊縫和不等厚焊縫及不同種類材料焊接的射線檢測(cè)布置，考慮修訂補(bǔ)充此種透照條件下像質(zhì)計(jì)放置的技術(shù)要求。主要是考慮像質(zhì)計(jì)的種類、型號(hào)和放置數(shù)量及位置等。如角焊縫射線檢測(cè)時(shí)，考慮像質(zhì)計(jì)放置于有效評(píng)定區(qū)黑度最低的區(qū)域等規(guī)定。

2.14 底片標(biāo)識(shí)的補(bǔ)充

對(duì)于設(shè)計(jì)或合同要求內(nèi)外焊縫余高均磨平的情況，底片上不能正確區(qū)別焊縫時(shí)，不利于有效評(píng)定區(qū)的識(shí)別，影響底片評(píng)定及缺陷判別，針對(duì)此種情況下考慮補(bǔ)充標(biāo)識(shí)確定檢測(cè)區(qū)寬度范圍的技術(shù)要求；同時(shí)為了能精確的辨別底片位置，考慮補(bǔ)充被檢工件上永久標(biāo)識(shí)，或參考點(diǎn)，或其它確定底片位置方法（如布片圖）等的相關(guān)技術(shù)要求。

2.15 膠片處理

底片的保存壽命直接與底片上殘存的硫代硫酸根離子的含量有關(guān)，為了確保對(duì)膠片所進(jìn)行的處理能使底片得到最佳保存，必須補(bǔ)充底片處理質(zhì)量檢測(cè)的相關(guān)技術(shù)要求。ASME SE—1994中提出了測(cè)定要求，RCC－M標(biāo)準(zhǔn)對(duì)此作了較為詳細(xì)的測(cè)定方法和后續(xù)行動(dòng)要求規(guī)定。

考慮實(shí)際生產(chǎn)過程中會(huì)出現(xiàn)不按照膠片供應(yīng)商推薦的處理方式執(zhí)行的情況（如AGFA膠片，采用KODARK藥液處理），且考慮國(guó)內(nèi)藥液質(zhì)量參差不齊，為了保證按照處理的質(zhì)量，考慮是否提出對(duì)膠片處理方式改變時(shí)進(jìn)行評(píng)估的相關(guān)要求，如GB/T 19348.2—2003和ISO 11699.2—1998附錄A的規(guī)定。

2.16 暗室紅燈安全性測(cè)試

國(guó)內(nèi)暗室紅燈的制造水平參差不齊，為了控制膠片暗室處理時(shí)不合格安全燈對(duì)底片灰霧度的影響，參 考 ASME V 、GB/T 6846—2008 和 ISO 8374—2001標(biāo)準(zhǔn)確定暗室安全照明時(shí)間的方法，補(bǔ)充安全燈測(cè)試的技術(shù)要求。

2.17 標(biāo)準(zhǔn)密度片

JB/T 4730.2—2005 AB級(jí)要求的底片黑度范圍是2.0～4.0，為了保證黑度計(jì)在有效黑度范圍內(nèi)的測(cè)量精度，考慮對(duì)標(biāo)準(zhǔn)密度片的黑度范圍和測(cè)量點(diǎn)數(shù)目進(jìn)行規(guī)定。

2.18 檢驗(yàn)時(shí)機(jī)和檢驗(yàn)技術(shù)等級(jí)選擇

JB/T 4730—2005作為方法標(biāo)準(zhǔn)不宜直接確定檢驗(yàn)時(shí)機(jī)和檢驗(yàn)技術(shù)等級(jí)，應(yīng)按照相應(yīng)的法規(guī)、規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)、設(shè)計(jì)或業(yè)主的要求進(jìn)行。例如：國(guó)家強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)GB 150.4—2011和GB 12337—1998等已經(jīng)全面且明確了檢驗(yàn)時(shí)機(jī)和檢驗(yàn)技術(shù)等級(jí)選擇要求；JB/T 4730.2—2005中規(guī)定的“焊后”或“24h”并不能覆蓋各種承壓設(shè)備的要求，且容易造成誤解和遺漏，比如GB 12337—1998中規(guī)定球罐采用具有延遲裂紋傾向材料制造時(shí)，應(yīng)在焊后至少36h后進(jìn)行檢測(cè)。

2.19 檢測(cè)報(bào)告

報(bào)告中補(bǔ)充檢測(cè)時(shí)機(jī)（如再熱裂紋需在熱處理前或/和后檢測(cè)）、像質(zhì)計(jì)、底片評(píng)定（如底片像質(zhì)計(jì)靈敏度、底片黑度、底片缺陷位置和性質(zhì)）等相關(guān)技術(shù)要求，保證關(guān)鍵參數(shù)不漏項(xiàng)和檢測(cè)的可追溯性。

考慮“委托單位”修訂為“制造方，檢測(cè)方或委托單位”以適應(yīng)不同性質(zhì)的檢測(cè)（如制造廠產(chǎn)品檢測(cè)、檢測(cè)公司的檢測(cè)及法定強(qiáng)制檢測(cè)）。

3 結(jié)語

JB/T 4730—2005的修訂工作應(yīng)考慮符合國(guó)際無損檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展方向、與國(guó)際接軌，根據(jù)工程實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)和我國(guó)特種設(shè)備檢測(cè)的現(xiàn)實(shí)情況，補(bǔ)充、細(xì)化和明確相關(guān)檢測(cè)技術(shù)參數(shù)和概念，同時(shí)還要兼顧生產(chǎn)效率和成本，這需要國(guó)內(nèi)無損檢測(cè)工作者的共同努力和實(shí)踐。

［1］JB/T 4730—2005 特種設(shè)備無損檢測(cè)［S］.

［2］ASTM E 1815—2008 工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)分類的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法［S］.

［3］EN 584－1—2006 無損檢測(cè) 工業(yè)射線照相膠片 第1部分：工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)的分類［S］.

［4］ISO 11699－1—2008 無損檢測(cè) 工業(yè)射線照相膠片第1部分 工業(yè)射線照相膠片系列的分類［S］.

［5］GB/T 19348.1—2003 無損檢測(cè) 工業(yè)射線照相膠片 第1部分 工業(yè)射線照相膠片系列的分類［S］.

［6］BN 1435—1997 焊縫的無損檢測(cè) 熔化焊縫射線照相檢驗(yàn)［S］.

［7］ISO 17636—2003 焊縫無損檢測(cè) 熔化焊焊縫的射線照相檢測(cè)［S］.

［8］GB/T 14058—2008 γ射線探傷機(jī)［S］.

［9］GB/T 23910—2009 無損檢測(cè) 射線照相檢測(cè)用金屬增感屏［S］.

［10］JB/T 7902—2006 無損檢測(cè) 射線照相檢測(cè)用線型像質(zhì)計(jì)［S］.

［11］HB 7684—2000 射線照相檢驗(yàn)用線型像質(zhì)計(jì)［S］.

［12］ASME V—2010 ASME Boiler and Pressure Vessel Code V Nondestructive Examination［S］.

［13］RCC－M—2000 Edition ＆ Addendum 2002Deign and Construction Rules for Mechanical Components of PWR Nuclear Islands［S］.