背散射
- 某低品位磷礦工藝礦物學(xué)研究*
礦物化學(xué)成分及背散射圖3.1.1 膠磷礦化學(xué)成分及背散射圖膠磷礦為非晶質(zhì)集合體,磷灰石為自形粒狀,化學(xué)成分為Ca5[PO4,CO3]3(OH,F),硬度為3.5,密度在2.6～2.9 g/cm3,無(wú)磁性,其背散射及能譜圖見(jiàn)圖3。由圖3可知,Ca質(zhì)量分?jǐn)?shù)為45.3%,P質(zhì)量分?jǐn)?shù)為16.7%,F質(zhì)量分?jǐn)?shù)為4.5%,無(wú)其他雜質(zhì)元素。圖3 膠磷礦背散射及能譜分析圖3.1.2 白云石化學(xué)成分及背散射圖目前，養(yǎng)老機(jī)構(gòu)存在著供需錯(cuò)配的問(wèn)題。公辦養(yǎng)老機(jī)構(gòu)由于床位緊張，一位
化工礦物與加工 2023年10期2023-10-24
- 超聲背散射統(tǒng)計(jì)參數(shù)成像評(píng)價(jià)兒童脂肪肝的新方法
難度較高。超聲背散射信號(hào)蘊(yùn)含組織微結(jié)構(gòu)信息[10-12]，超聲背散射統(tǒng)計(jì)參數(shù)成像是一種基于背散射信號(hào)分析的定量超聲技術(shù)[13-15]，可兼容傳統(tǒng)超聲成像架構(gòu)，能作為B 超的補(bǔ)充成像方式。其中，基于瑞利分布和Nakagami 分布的超聲背散射統(tǒng)計(jì)參數(shù)成像技術(shù)已被商業(yè)化，并已通過(guò)美國(guó)食品藥品監(jiān)督管理局認(rèn)證[16]。Nakagami 分布和零差K 分布是最受關(guān)注的包絡(luò)統(tǒng)計(jì)廣義模型，其參數(shù)具有物理意義[15-17]，對(duì)其參數(shù)進(jìn)行成像，分別稱為超聲Nakagami
中國(guó)醫(yī)療設(shè)備 2023年9期2023-09-19
- 基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的超聲背散射零差K 成像脂肪肝評(píng)價(jià)方法研究
、功率譜參數(shù)、背散射統(tǒng)計(jì)（包絡(luò)統(tǒng)計(jì)）、彈性等聲參量[5-8]。定量超聲可通過(guò)分析原始超聲背散射信號(hào)，提取與生物組織微結(jié)構(gòu)或狀態(tài)直接相關(guān)的聲參量。聲學(xué)上，肝臟組織可建模為一系列散射聲波微小粒子即散射子的組合[9-10]。對(duì)于正常肝臟，肝細(xì)胞和肝小葉等是肝臟的超聲散射子，而當(dāng)肝臟發(fā)生脂肪變性時(shí)，脂肪滴成為額外的散射子。這種肝臟微結(jié)構(gòu)或狀態(tài)的改變，最終體現(xiàn)在從散射子接收的背散射回波信號(hào)中。超聲背散射信號(hào)的包絡(luò)統(tǒng)計(jì)可兼容傳統(tǒng)超聲成像架構(gòu)，使其成為一類重要的定量超聲
醫(yī)療衛(wèi)生裝備 2023年1期2023-03-11
- Zr-Cr-Y體系相平衡的實(shí)驗(yàn)測(cè)定和熱力學(xué)計(jì)算
RD譜和SEM背散射照片。結(jié)合XRD和SEM/EDS分析結(jié)果，確定1＃合金位于BCC(Zr)+HCP(Y)+αCr2Zr三相區(qū)，背散射照片中淺灰色區(qū)域?yàn)锽CC(Zr)、深灰色區(qū)域?yàn)镠CP(Y)，黑色區(qū)域?yàn)棣罜r2Zr。2＃合金位于BCC(Cr)+HCP(Y)+ αCr2Zr三相區(qū)。表1 Zr-Cr-Y合金在1 000、900、800和600 ℃下退火的相組成及成分3＃(Zr50Cr10Y40)和4＃合金(Zr10Cr60Y30)用來(lái)測(cè)定Zr-Cr-Y三元系
粉末冶金材料科學(xué)與工程 2022年4期2022-12-08
- 某典型閃鋅礦氧壓浸出高硫渣工藝礦物學(xué)研究
，可實(shí)現(xiàn)樣品的背散射電子圖像顆?；幚?、區(qū)分不同物相并自動(dòng)采集不同物相的能譜數(shù)據(jù)，進(jìn)而利用能譜產(chǎn)生的X射線準(zhǔn)確鑒定礦物，并建立樣品礦物標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)，通過(guò)計(jì)算機(jī)自動(dòng)擬合計(jì)算后獲取工藝礦物學(xué)參數(shù).目前，國(guó)內(nèi)有關(guān)鋅冶煉高硫渣的工藝礦物學(xué)研究報(bào)道不多.本文以廣東韶關(guān)冶煉廠產(chǎn)出鋅冶煉高硫渣為研究對(duì)象，通過(guò)對(duì)高硫渣中元素含量、物相組成、嵌布規(guī)律及解離度等工藝礦物學(xué)參數(shù)進(jìn)行精細(xì)認(rèn)知，為提高高硫渣有價(jià)元素回收率提供理論支撐.1 高硫渣的化學(xué)元素分析實(shí)驗(yàn)研究高硫渣來(lái)自廣東韶關(guān)丹霞
- 內(nèi)蒙古某鋅礦氧壓浸出渣有價(jià)組分形態(tài)特征
氧化形成鉛礬，背散射電子圖像見(jiàn)圖1，能譜分析結(jié)果見(jiàn)表8。表8 方鉛礦和鉛礬的能譜分析結(jié)果圖1 方鉛礦、鉛礬的背散射電子圖像2)閃鋅礦掃描電鏡能譜分析顯示，閃鋅礦中含鋅在52%～64%；含鐵量不等，在5%～12%，含量高者為鐵閃鋅礦，含鐵低者為閃鋅礦，含硫約32%；背散射電子圖像顯示，含鋅類礦物粒度在0.03～0.05 mm，均被單質(zhì)硫包裹。能譜分析結(jié)果見(jiàn)表9，背散射電子圖像見(jiàn)圖2。取轉(zhuǎn)接3次后的上述培養(yǎng)液1 mL適當(dāng)稀釋后分別涂布于MRS初篩平板和ATB初
礦冶 2022年5期2022-10-25
- 背散射探測(cè)器在場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡納米尺度高分辨表面分析中的應(yīng)用
子(SE)、 背散射電子(BSE)、 俄歇電子、 特征X射線、 陰極熒光(CL)和透射電子等. 掃描電子顯微鏡主要利用其中的二次電子和背散射電子成像. 二次電子是入射電子與樣品相互作用, 使樣品表面受原子核束縛較弱的電子發(fā)射出來(lái)的電子, 其特點(diǎn)是能量較低(通常低于50 eV), 逸出深度小(5～10 nm), 對(duì)樣品表面的高低起伏狀態(tài)較敏感, 通常用于表征樣品表面形貌. 背散射電子是入射電子被樣品散射重新逃逸出樣品的高能電子, 其特點(diǎn)是能量較高, 逸出深度
吉林大學(xué)學(xué)報(bào)（理學(xué)版） 2022年5期2022-09-24
- 基于康普頓背散射檢測(cè)技術(shù)的建筑外墻保溫性能優(yōu)化研究
法。利用康普頓背散射檢測(cè)技術(shù)對(duì)建筑外墻進(jìn)行康普頓散射線掃描，完成缺陷成像，再根據(jù)成像確定缺陷的位置與尺寸，是目前建筑外墻保溫性能優(yōu)化的一種常用辦法[2]。建筑外墻掛板是現(xiàn)代應(yīng)用于外墻保溫的一種常用方法，其主要原理是，將保溫材料懸掛在墻體外面對(duì)墻體起保護(hù)作用，減少建筑外墻的熱損失，達(dá)到傳熱保溫功能。本文以建筑材料為研究對(duì)象，采用康普頓背散射檢測(cè)技術(shù)對(duì)建筑外墻保溫材料進(jìn)行檢測(cè)，以達(dá)到建筑外墻保溫性能的優(yōu)化[3]。針對(duì)現(xiàn)有建筑外墻保溫材料隔熱能力一般等問(wèn)題，尚文
工業(yè)加熱 2022年7期2022-08-22
- 基于超聲背散射信息熵成像的微波消融凝固區(qū)檢測(cè)方法
子的集合。超聲背散射回波信號(hào)具有一定的隨機(jī)性，通過(guò)分析背散射信號(hào)的統(tǒng)計(jì)分布，尋找適合的數(shù)學(xué)模型對(duì)組織中的散射子進(jìn)行參數(shù)成像，可以對(duì)凝固區(qū)進(jìn)行檢測(cè)。Nakagami 參數(shù)成像[3-4]、超聲零差K 成像[5-6]都已應(yīng)用于凝固區(qū)的檢測(cè)。但基于模型的參數(shù)方法需要背散射數(shù)據(jù)符合所使用的統(tǒng)計(jì)分布模型，對(duì)于不同型號(hào)的超聲設(shè)備，得到的超聲回波信號(hào)會(huì)各不相同；在超聲背散射回波信號(hào)的處理過(guò)程中，不同的壓縮方法也會(huì)改變信號(hào)的分布，這些都會(huì)使背散射數(shù)據(jù)不能一直滿足所使用的分布
中國(guó)醫(yī)療設(shè)備 2022年7期2022-08-03
- 中子背散射譜儀在蛋白質(zhì)動(dòng)力學(xué)研究中的應(yīng)用
射技術(shù)廣泛使用背散射譜儀研究蛋白質(zhì)體系的動(dòng)力學(xué)問(wèn)題。中子背散射譜儀(NBS)具有高能量分辨率以及與蛋白質(zhì)局部弛豫運(yùn)動(dòng)相當(dāng)?shù)挠^測(cè)時(shí)間窗口(ps-ns)。蛋白質(zhì)在這一時(shí)間尺度上的弛豫運(yùn)動(dòng)被認(rèn)為與分子活性高度相關(guān)⑥。國(guó)際上已有的中子背散射譜儀包括：澳大利亞核科學(xué)和技術(shù)組織(ANSTO)的EMU(圖2)，法國(guó)勞厄-朗之萬(wàn)研究所(ILL)的IN13 和IN16B，德國(guó)尤利希中子科學(xué)中心(JCNS)的SPHERES，美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局中子研究中心(NCNR)的高通量背散射
現(xiàn)代物理知識(shí) 2022年1期2022-07-12
- 背散射方法測(cè)薄膜厚度和雜質(zhì)分布
探索者V號(hào)利用背散射方法對(duì)月球表面土壤元素成分進(jìn)行了分析. 這是根據(jù)盧瑟福提出的原理解決非核領(lǐng)域問(wèn)題的首個(gè)公開(kāi)發(fā)表的實(shí)際應(yīng)用例子[1]. 幾十年來(lái)該方法已發(fā)展成十分成熟的離子束分析(Ion beam analysis，IBA)技術(shù). 這種技術(shù)具有方法簡(jiǎn)便可靠，不需要依賴標(biāo)準(zhǔn)樣品就能得到定量的分析結(jié)果，不必破壞樣品宏觀結(jié)構(gòu)就能獲得樣品深度分布信息等優(yōu)點(diǎn). 因此IBA被廣泛應(yīng)用于離子注入工藝研究，對(duì)半導(dǎo)體材料、金屬材料、超導(dǎo)材料、反應(yīng)堆器壁材料以及各種薄膜材料
物理實(shí)驗(yàn) 2022年3期2022-06-20
- 基于經(jīng)驗(yàn)?zāi)B(tài)分解的超聲零差K成像評(píng)估肝纖維化研究
定量指標(biāo)。超聲背散射統(tǒng)計(jì)分析是一種新興的定量超聲檢測(cè)技術(shù)[5-6]。聲學(xué)上，肝實(shí)質(zhì)可以建模為由小于臨床超聲波長(zhǎng)的散射子組成的微結(jié)構(gòu)[6]，超聲背散射信號(hào)的概率分布模式與組織的微結(jié)構(gòu)(散射子)有關(guān)，由此從換能器所接收的背散射信號(hào)的統(tǒng)計(jì)特性，量化表達(dá)了肝實(shí)質(zhì)的微觀結(jié)構(gòu)(散射子)變化[8-12]。研究表明，零差K(homodyned K,HK)分布是超聲背散射統(tǒng)計(jì)的最具物理意義的超聲背散射信號(hào)概率統(tǒng)計(jì)模型[5,13-14]，其參數(shù)可以定量分辨單元內(nèi)有效散射子個(gè)數(shù)
北京生物醫(yī)學(xué)工程 2022年2期2022-04-23
- 基于電子背散射衍射技術(shù)的纖維狀方解石脈體晶體分析
掃描電鏡和電子背散射衍射(EBSD)等多種巖礦分析測(cè)試技術(shù)被綜合應(yīng)用于方解石脈體研究中，其中巖心—薄片—場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡實(shí)現(xiàn)了對(duì)方解石脈體的多尺度表征[15-17]，特別是觀察精度進(jìn)入了礦物晶體的納米尺度，而電子背散射衍射技術(shù)正越來(lái)越多地應(yīng)用在方解石脈體的物相鑒定、晶體取向和微觀應(yīng)力—應(yīng)變信息研究中[18-20]，這為研究裂縫和方解石脈體的耦合成因機(jī)制提供了切入點(diǎn)和有力手段[21-23]。電子背散射衍射技術(shù)廣泛應(yīng)用于工業(yè)領(lǐng)域，特別是材料方向[24]，其典型的
石油實(shí)驗(yàn)地質(zhì) 2022年2期2022-04-15
- 鑄件射線檢測(cè)質(zhì)量影響因素的研究與分析
方放置規(guī)定格式背散射鉛板以防止背散射。在近源側(cè)粘貼符合檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)像質(zhì)計(jì)。按照相關(guān)要求放置工件，調(diào)整焦距，做好安全防護(hù)。按照以下實(shí)驗(yàn)步驟進(jìn)行操作：①根據(jù)所做該射線機(jī)的曝光曲線；設(shè)置曝光時(shí)間2 min，管電壓70 kV作為曝光參數(shù)，在膠片后方放置鉛板，進(jìn)行照相。②照相結(jié)束后，更換新膠片，按照曝光曲線，設(shè)置曝光時(shí)間3 min，管電壓60 kV進(jìn)行第二次曝光，并在膠片后方放置鉛板。③照相結(jié)束后，再次更換膠片，按照曝光曲線，設(shè)置曝光時(shí)間4 min，管電壓50 kV進(jìn)行
河南化工 2021年12期2022-01-14
- EBSD-XPS法分析磷石膏中雜質(zhì)物相
相之間的關(guān)系。背散射電子是被固體樣品中的原子核反彈回來(lái)的一部分入射電子，背散射電子成像的襯度由樣品原子序數(shù)決定[8]，通過(guò)觀察襯度的不同可以區(qū)分雜質(zhì)物相與硫酸鈣相，因此本文將EBSD與XPS結(jié)合分析磷石膏中的雜質(zhì)物相。首先對(duì)磷石膏進(jìn)行鑲嵌和拋磨處理；再使用掃描電子顯微鏡的背散射模式，根據(jù)背散射衍射圖像的襯度不同，區(qū)分磷石膏中的不同雜質(zhì)物相；而后使用EDS確定雜質(zhì)物相的成分；最后結(jié)合XPS對(duì)磷石膏表面雜質(zhì)的分析，確定磷石膏中雜質(zhì)物相賦存狀態(tài)。采用EBSD與X
光譜學(xué)與光譜分析 2022年1期2022-01-12
- 背散射X射線圖像感興趣邊緣檢測(cè)方法
孔維武 邢羽背散射X射線人體安檢圖像通常存在信噪比低、對(duì)比度弱的特點(diǎn)，不利于安檢員觀察判讀，并且，直接利用原始圖像進(jìn)行人體安全檢查，涉及個(gè)人隱私問(wèn)題。為此，研究了一種圖像感興趣邊緣檢測(cè)方法:首先，利用一種基于中值的自適應(yīng)混合濾波方法降低圖像噪聲，然后，對(duì)濾波圖像進(jìn)行線性灰度拉伸提高其對(duì)比度，接著，利用一種多方向灰度形態(tài)學(xué)邊緣檢測(cè)方法提取圖像邊緣信息并進(jìn)行邊緣圖像分割，最后，利用連通區(qū)標(biāo)記過(guò)濾方法，保留圖像中感興趣邊緣。試驗(yàn)結(jié)果表明，方法能夠有效提取人體圖
數(shù)字技術(shù)與應(yīng)用 2021年11期2021-12-22
- 基于超聲背散射的骨質(zhì)評(píng)價(jià)實(shí)驗(yàn)研究
要分為透射法和背散射法[4],其中透射法將信號(hào)在骨中的衰減和聲速作為骨質(zhì)評(píng)價(jià)的主要參數(shù),但是很少反映骨微結(jié)構(gòu)信息,如骨小梁厚度、間距等,而這些微結(jié)構(gòu)信息已被證實(shí)與骨質(zhì)疏松有直接關(guān)聯(lián)[5].而背散射法通過(guò)骨小梁?jiǎn)卧裙俏⒔Y(jié)構(gòu)對(duì)超聲信號(hào)的散射作用,使接收的背散射信號(hào)包含了豐富的骨密度和骨微結(jié)構(gòu)信息.但是背散射法還需要建立更真實(shí)的骨模型和提取骨微結(jié)構(gòu)信息更準(zhǔn)確的算法[6].在背散射信號(hào)分析算法發(fā)展中,多元線性回歸模型沒(méi)有考慮超聲參數(shù)與骨參數(shù)之間的非線性聯(lián)系[7]
陜西科技大學(xué)學(xué)報(bào) 2021年5期2021-10-27
- Al-Co-Er三元體系液相面投影圖
鑄態(tài)樣品1#的背散射電子像(a)和X射線衍射譜(b)圖2 鑄態(tài)樣品2#的背散射電子像(a)和X射線衍射譜(b)圖3 鑄態(tài)樣品3#的背散射電子像(a)和X射線衍射譜(b)圖4所示為樣品4#的微觀組織形貌及XRD分析圖譜。圖4(a)為樣品4#的顯微組織，分析可得，白色相和灰色相層狀交替析出，黑色相在灰色相晶界處析出，結(jié)合圖4(b)的XRD結(jié)果及EPMA數(shù)據(jù)，可以確定初生相為Al13Co4(灰色相)和Al19Co6Er2(白色相)組成的二元共晶組織(Al13Co
粉末冶金材料科學(xué)與工程 2021年4期2021-09-07
- 二次電子發(fā)射對(duì)系統(tǒng)電磁脈沖的影響*
二次電子中, 背散射電子對(duì)系統(tǒng)電磁脈沖的影響占主導(dǎo), 而真二次電子的作用約為背散射電子的1/5.二次電子發(fā)射對(duì)系統(tǒng)電磁脈沖的影響隨著系統(tǒng)所用材料原子序數(shù)的增高而加大.空間電荷效應(yīng)較強(qiáng)時(shí), 二次電子才會(huì)對(duì)腔體外系統(tǒng)電磁脈沖產(chǎn)生影響.本研究有助于更好地通過(guò)數(shù)值模擬來(lái)獲得具體裝置在強(qiáng)輻射環(huán)境下的系統(tǒng)電磁脈沖響應(yīng).1 引 言系統(tǒng)電磁脈沖(system generated electromagnetic pulse, SGEMP)是指在γ射線和X射線(特別是由高空核
物理學(xué)報(bào) 2021年16期2021-09-03
- 基于微波-電子康普頓背散射的環(huán)形正負(fù)電子對(duì)撞機(jī)束流能量測(cè)量方案*
5水平.康普頓背散射方法是適用于百GeV高能電子對(duì)撞機(jī)束流能量高精度標(biāo)定的測(cè)量方法.本文擬采用微波電子康普頓背散射后對(duì)散射光子能量的精確測(cè)量, 來(lái)反推CEPC束流能量, 理論預(yù)計(jì)精度可達(dá)到3 MeV左右.首先根據(jù)設(shè)計(jì)需求選定圓波導(dǎo)傳輸TM01模微波, 并求解該條件下的電磁場(chǎng)分布情況及坡印廷矢量.根據(jù)波導(dǎo)內(nèi)光子分布傳輸情況提出設(shè)計(jì)思路簡(jiǎn)化計(jì)算的復(fù)雜程度, 結(jié)合高純鍺探測(cè)器靈敏度、同步輻射本底等限制條件聯(lián)立方程求解符合設(shè)計(jì)要求的參數(shù).使用最優(yōu)的一組波導(dǎo)內(nèi)徑、微
物理學(xué)報(bào) 2021年13期2021-08-04
- 電子背散射衍射的測(cè)試技術(shù)進(jìn)展
分信息，而電子背散射技術(shù)(Electron Backscatter Diffraction，以下簡(jiǎn)稱EBSD)可以獲得結(jié)構(gòu)和取向信息。雖然EBSD技術(shù)商品化較晚，在上世紀(jì)九十年代初才初露頭角[2]，但是它發(fā)展迅速[3-4]。目前，EBSD在材料研究中的應(yīng)用已十分廣泛，其應(yīng)用范圍包括金屬、半導(dǎo)體、礦物和陶瓷材料等領(lǐng)域，是研究結(jié)晶材料中成分、組織、工藝與性能關(guān)系的重要工具。與X射線衍射(獲取宏觀的統(tǒng)計(jì)信息)和透射電鏡(獲取極微小區(qū)域信息)相比，EBSD可以在微
材料科學(xué)與工藝 2021年3期2021-06-23
- 基于背散射電子的電子束加工過(guò)程在線觀測(cè)系統(tǒng)研制*
中的二次電子和背散射電子信號(hào)來(lái)成像的技術(shù)已經(jīng)得到較廣泛的應(yīng)用，并且可適用于高金屬蒸汽環(huán)境[2]。相比于傳統(tǒng)光學(xué)觀測(cè)方法，其觀測(cè)圖像的紋理更為清晰，對(duì)惡劣工作環(huán)境的適應(yīng)性更好，這對(duì)提高電子束加工的質(zhì)量和效率有著十分重要的意義。國(guó)外，德國(guó)SST、英國(guó)TWI、烏克蘭巴頓所等單位已經(jīng)開(kāi)展了大量研究工作，并且將其成功應(yīng)用到實(shí)際生產(chǎn)中。而國(guó)內(nèi)對(duì)此項(xiàng)技術(shù)的研究還處于起步階段。為滿足實(shí)際觀測(cè)需求，本試驗(yàn)采用四極板背散射電子接收傳感器、高頻信號(hào)放大電路、高頻數(shù)據(jù)采集卡、高頻
航空制造技術(shù) 2021年3期2021-04-02
- 利用掃描電子顯微鏡精確測(cè)定焊膏中焊料粉末粒徑分布的研究
[6]，SEM背散射電子成像更側(cè)重于原子序數(shù)襯度，這是由于視場(chǎng)中平均原子序數(shù)大的位置會(huì)產(chǎn)生更多的背散射電子信號(hào)，成像時(shí)該區(qū)域較亮，平均原子序數(shù)小的位置成像較暗[7]。當(dāng)使用專用軟件中二值化進(jìn)行圖像分割時(shí)，所有在某閾值范圍的像素都被判屬于物體，其余大于或小于該閾值范圍的像素則屬于背景[8]，因此樣品和背景襯度好的圖像在后續(xù)圖像二值化處理中更容易精確提取分析目標(biāo)。本文采用SEM在背散射模式下表征合金焊料粉末形貌，通過(guò)圖像處理軟件二值化處理精確提取分析目標(biāo)，收集
印制電路信息 2021年3期2021-03-25
- 3D打印用金屬粉末球形度分析方法
金粉末掃描電鏡背散射電子圖片。圖1 NiTi50合金粉末掃描電鏡背散射電子圖片F(xiàn)ig.1 Scanning electron microscopy backscatter morphology of NiTi50 alloy powder:a) field A; b) field B; c) field C將拍攝的掃描電鏡圖片導(dǎo)入Image-Pro Plus圖像分析軟件，對(duì)圖片中粉末顆粒進(jìn)行識(shí)別劃分，圖2 a),c),e)為圖像識(shí)別圖，然后在Image-P
理化檢驗(yàn)(物理分冊(cè)) 2021年2期2021-03-02
- RBS法測(cè)量重元素襯底上輕元素薄靶厚度的方法研究
散射稱為盧瑟福背散射(RBS)，使用探測(cè)器對(duì)這些背散射離子進(jìn)行測(cè)量，可得到有關(guān)靶原子的質(zhì)量、含量和深度分布等信息[1-5]。由于RBS法不需對(duì)樣品的宏觀結(jié)構(gòu)造成損傷，且實(shí)驗(yàn)裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作方便可靠，作為一種常用的雜質(zhì)成分、含量、深度分布的分析手段及膜厚度的測(cè)量方法，被廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、表面物理、微電子學(xué)等領(lǐng)域[6-9]。在核反應(yīng)截面測(cè)量實(shí)驗(yàn)中，常使用稱重法和RBS法對(duì)靶的厚度、質(zhì)量分布等信息進(jìn)行測(cè)量。與RBS法相比，稱重法難以獲得靶厚的分布情況，也難以
原子能科學(xué)技術(shù) 2021年2期2021-02-03
- 頁(yè)巖儲(chǔ)層礦物的高分辨率掃描電鏡和能譜儀分析
kV，探測(cè)器為背散射電子，用于形貌和成分襯度成像；利用Quantax200 Xflash型X射線能譜儀，進(jìn)行點(diǎn)掃描、線掃描和面掃描元素組成分析，進(jìn)而識(shí)別樣品中的礦物成分。2 結(jié)果與討論2.1 掃描電鏡分析方法目前利用掃描電鏡對(duì)頁(yè)巖氣儲(chǔ)層的觀察分析常有2種方法，即新鮮斷面二次電子(Secondary Electrons,SE)分析法和氬離子拋光背散射電子(Backscattered Electron,BE)分析法[33]。新鮮斷面制樣時(shí)需從大塊樣品上敲取 1
昆明冶金高等?？茖W(xué)校學(xué)報(bào) 2020年5期2021-01-04
- 超聲散射子有效聲濃度成像檢測(cè)微波消融凝固區(qū)
7]是一種基于背散射信號(hào)功率譜的定量超聲參數(shù). Lizzi等[8]提出了球形高斯模型，可得到描述組織微觀結(jié)構(gòu)的有效聲濃度參數(shù).目前，基于有效聲濃度參數(shù)進(jìn)行組織定征已應(yīng)用在熱消融監(jiān)測(cè)和疾病診斷等研究中. Kemmerer等[9]采用微波加熱離體牛肝的實(shí)驗(yàn)，得出隨著溫度從18 ℃升高到42 ℃，有效聲濃度下降了1.5 dB. Ghoshal等通過(guò)研究大鼠乳腺腫瘤高強(qiáng)度聚焦超聲消融治療，發(fā)現(xiàn)有效聲濃度參數(shù)隨溫度升高而升高，隨溫度降低而降低[10]，且有效聲濃度參
北京工業(yè)大學(xué)學(xué)報(bào) 2020年12期2020-12-21
- 管道內(nèi)部X射線背散射成像可行性分析
]?；诳灯疹D背散射原理的X射線背散射檢測(cè)技術(shù)，借助其具有探測(cè)器和射線源同側(cè)布置優(yōu)勢(shì)，非常適用于深埋地下的石油管道內(nèi)部缺陷檢測(cè)，且可以給出直觀的圖像[3-4]。盡管X射線背散射成像技術(shù)已經(jīng)相對(duì)成熟，但是尚未應(yīng)用于石油管道內(nèi)部缺陷檢測(cè)[5-9]。其檢測(cè)性能受X射線能量、能譜、系統(tǒng)布置等因素制約[9-11]。本文首先利用Geant4建立了管道內(nèi)部背散射檢測(cè)系統(tǒng)模型，并從X射線能量、能譜、束斑直徑三個(gè)因素對(duì)檢測(cè)性能的影響展開(kāi)研究，期望得到該系統(tǒng)工業(yè)應(yīng)用所需采用的
科技和產(chǎn)業(yè) 2020年11期2020-12-09
- 掃描電子顯微鏡在三元材料包覆改性中的應(yīng)用
、特征X射線、背散射電子和透射電子等信號(hào)(見(jiàn)圖1)。利用激發(fā)的各種信號(hào)，獲的材料的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息，比如顆粒形貌、元素組成、晶體結(jié)構(gòu)等等。二次電子：高能入射電子與樣品原子核外電子 相互作用，使核外電子電離產(chǎn)生的電子。主要來(lái)自表面下小于10nm的淺層區(qū)域，因此，二次電子成像具有高分辨率，能夠完全反應(yīng)樣品的表面形貌特征。背散射電子：高能入射電子受到樣品中原子核散射而大角度反射回來(lái)的電子，能量接近于入射電子，既能反映樣品的形貌，又能反饋樣品的成分信息。特
山東化工 2020年14期2020-08-17
- 掃描電鏡研究陶瓷-金屬結(jié)合界面的樣品制備方法
對(duì)界面處進(jìn)行了背散射電子(BSE)形貌觀察。圖4(a)和圖4(b)分別是同一位置電子槍加速電壓為10kV和20kV背散射形貌圖，與圖4(a)相比較，電子槍加速電壓從10kV提高到20kV后，陶瓷間金屬層內(nèi)的襯度發(fā)生了改變，從一定程度上說(shuō)明了金屬層內(nèi)的成分變化狀況，如圖4(b)中所示。圖2 10kv斷裂樣品SEM形貌像圖3 斷裂樣品SEM形貌放大像圖4 斷裂樣品背散射形貌像2.3 能譜分析圖5(a)所示為圖4中背散射電子(BSE)形貌處進(jìn)行成份分析。在電子槍
分析儀器 2020年2期2020-05-21
- 基于多迭代變分模態(tài)分解與復(fù)合多尺度散布熵的生物組織變性識(shí)別方法*
。但采集的超聲背散射回波信號(hào)含有大量的噪聲,對(duì)判斷生物組織是否變性造成了很大的困難。減少超聲背散射信號(hào)中的噪聲,對(duì)準(zhǔn)確判斷生物組織是否發(fā)生變性非常重要。經(jīng)驗(yàn)?zāi)B(tài)分解(Empirical Mode Decomposition,EMD)與變分模態(tài)分解(Variational Mode Decomposition,VMD)憑借其強(qiáng)大的分析和去噪能力廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域[7-11]。但是EMD得到的本征模函數(shù)(Intrinsic Mode Function,IMF)
傳感技術(shù)學(xué)報(bào) 2019年12期2020-01-02
- 康普頓背散射檢測(cè)的蒙特卡羅模擬
t4模擬康普頓背散射包裹檢測(cè)，計(jì)算了X射線入射不同材料的康普頓背散射和透射情況，給出了背散射光子的空間分布以及不同塑料閃爍體厚度對(duì)探測(cè)效率的影響，為康普頓背散射探測(cè)裝置的優(yōu)化設(shè)計(jì)提供了理論依據(jù)?！娟P(guān)鍵詞】康普頓 背散射 蒙特卡羅X射線康普頓背散射（CBS）技術(shù)可以有效提供表層較低原子序數(shù)而密度較高的被檢物的幾何形狀和空間分布特征?？灯疹D背散射檢測(cè)技術(shù)的主要特點(diǎn)是對(duì)低原子序數(shù)的物質(zhì)很靈敏，適宜對(duì)海洛因、炸藥等物品的檢測(cè)。但康普頓散射信號(hào)較弱，需要合理設(shè)計(jì)和優(yōu)
商情 2019年50期2019-12-16
- 康普頓背散射檢測(cè)理論方法概述
【摘要】康普頓背散射檢測(cè)是通過(guò)探測(cè)康普頓效應(yīng)的背向散射信息判斷被照射物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)的方法。該方法對(duì)原子序數(shù)較輕物質(zhì)的檢測(cè)尤其有效。本文闡述了康普頓背散射檢測(cè)應(yīng)用的基礎(chǔ)理論，為其更好的應(yīng)用提供了方法依據(jù)?！娟P(guān)鍵詞】康普頓 背散射X射線成像系統(tǒng)作為一種主要安檢技術(shù)手段可以實(shí)現(xiàn)在人員密集場(chǎng)所對(duì)行包等物品的不開(kāi)包快速檢查。X射線成像技術(shù)已由傳統(tǒng)的單能透射發(fā)展為雙能透射，CT成像，X射線背散射法。其中，X射線康普頓背散射（CBS）技術(shù)可以有效提供表層較低原子序數(shù)而密度
商情 2019年50期2019-12-16
- 基于超聲背散射信號(hào)遞歸定量分析的CFRP局部孔隙缺陷識(shí)別方法
者們提出了利用背散射信號(hào)來(lái)分析材料的微缺陷。英國(guó)諾丁漢大學(xué)的Smith團(tuán)隊(duì)[5]對(duì)背散射信號(hào)分析法進(jìn)行研究并取得了一定成果。超聲背散射信號(hào)含有缺陷回波、共振結(jié)構(gòu)噪聲、散射噪聲以及其他的非聲學(xué)噪聲[6]。如果找到一種有效的方法能從復(fù)雜的背散射信號(hào)中提取有用的信息，那么被試材料的缺陷就能被評(píng)估。提升小波變換[7]、離散小波變換[8]、頻譜分析[9]等方法均被用來(lái)對(duì)含局部孔隙CFRP試件的背散射信號(hào)進(jìn)行了研究。遞歸分析是分析時(shí)間序列的周期性、混沌性以及非平穩(wěn)性的
振動(dòng)與沖擊 2019年21期2019-11-20
- 超聲背散射骨質(zhì)評(píng)價(jià)中的頻散衰減測(cè)量與補(bǔ)償*
為超聲透射法和背散射法.超聲透射法參數(shù)(超聲聲速和寬帶超聲衰減)僅反映測(cè)量骨組織的平均值,不能提供松質(zhì)骨復(fù)雜的微結(jié)構(gòu)信息.另外,透射法測(cè)量的超聲衰減為傳播路徑上軟組織、皮質(zhì)骨及松質(zhì)骨組織介質(zhì)衰減的平均值,無(wú)法區(qū)分其衰減效應(yīng),無(wú)法測(cè)量感興趣區(qū)域內(nèi)松質(zhì)骨組織的超聲頻散衰減.超聲背散射法采用單一探頭收發(fā)信號(hào),測(cè)量過(guò)程簡(jiǎn)便,更適用于檢測(cè)髖骨、椎骨等骨折多發(fā)部位.超聲背散射能提供BMD、散射子(骨小梁)大小和數(shù)目、彈性模量及骨小梁復(fù)雜的微細(xì)結(jié)構(gòu)等信息[12?15].
物理學(xué)報(bào) 2019年18期2019-10-09
- 后置防護(hù)板對(duì)計(jì)算機(jī)射線檢測(cè)成像質(zhì)量的影響
高敏感性，其對(duì)背散射和后置金屬板(后板)的熒光輻射等無(wú)用射線也相當(dāng)敏感，所以在CR檢測(cè)時(shí)有必要考慮后板的種類。筆者通過(guò)試驗(yàn)得到不同管電壓下，采用不同材料和組合后板曝光掃描的數(shù)字圖像；通過(guò)對(duì)比數(shù)字圖像的歸一化信噪比(SRb)，發(fā)現(xiàn)當(dāng)管電壓為90 kV或以下時(shí)，可以不用后屏或采用后置鋼屏進(jìn)行檢測(cè)，達(dá)到100 kV以后，宜采用后置鉛板或鋼屏+鉛板的方式進(jìn)行檢測(cè)。1 散射線對(duì)成像質(zhì)量的影響1.1 散射現(xiàn)象眾所周知，散射是射線穿透物質(zhì)過(guò)程中的一種物理現(xiàn)象，是不可避免
無(wú)損檢測(cè) 2018年11期2018-11-28
- 掃描電子顯微鏡成像模式在金屬材料研究中的選用
儀(EDS)和背散射電子衍射分析儀(EBSD)快速便捷地對(duì)樣品表面進(jìn)行無(wú)損化學(xué)成分定性、定量以及組織等晶體學(xué)分析，還可以結(jié)合力學(xué)、熱學(xué)配件進(jìn)行材料的原位拉伸、壓縮、彎曲以及原位升降溫等實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)檢測(cè)[2]，在冶金、建筑、機(jī)械等領(lǐng)域的材料表征上都獲得了極廣泛的應(yīng)用。利用SEM的圖像研究方法分析顯微結(jié)構(gòu)，其內(nèi)容豐富、方法直觀。近年來(lái)隨著社會(huì)對(duì)新型材料需求的不斷增長(zhǎng)，SEM測(cè)試技術(shù)在新型材料科學(xué)領(lǐng)域中的應(yīng)用日益廣泛。與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡不同，SEM可以通過(guò)記錄樣品表面
- 掃描電子顯微鏡的工作原理及應(yīng)用
擊下會(huì)產(chǎn)生包括背散射電子、二次電子、特征X射線、吸收電子、透射電子、俄歇電子、陰極熒光、電子束感生效應(yīng)等在內(nèi)的多種信號(hào)，而一個(gè)單一機(jī)器能夠配有所有信號(hào)的探測(cè)器是很難的，背散射電子(BSE)、二次電子(SEI)、特征X射線探測(cè)器是一般掃描電子顯微鏡的標(biāo)配探測(cè)器[6-8]。本文只討論掃描電鏡常利用的這三種信號(hào)的原理及應(yīng)用。本校實(shí)驗(yàn)室所配備的是日本電子生產(chǎn)的JSM-7610F熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，配備了美國(guó)Thermo Fisher Inc生產(chǎn)的NORAN Syst
山東化工 2018年9期2018-05-24
- 固溶溫度對(duì)GH4169微觀組織形貌及超聲特性的影響
減系數(shù)、聲速、背散射系數(shù)等超聲信號(hào)特征值發(fā)生改變。衰減系數(shù)對(duì)晶粒尺寸變化敏感，兩者之間存在較強(qiáng)的正相關(guān)性[3-7]，晶粒尺寸越大，衰減系數(shù)就越大。聲速受到晶粒間結(jié)合力和殘余應(yīng)力的影響，對(duì)沉淀相含量[8]、析出相[3,9]、相變[10-11]敏感，可用于檢測(cè)球墨鑄鐵QT400-18的球化率[12]，在一定程度上能反映鈦合金TC4中初生α相的分布[13]。背散射信號(hào)同聲速、衰減系數(shù)一樣，可用于珠光體、馬氏體、鐵素體等組織結(jié)構(gòu)的區(qū)別；背散射系數(shù)對(duì)組織結(jié)構(gòu)性質(zhì)變化
無(wú)損檢測(cè) 2018年4期2018-04-26
- 康普頓背散射技術(shù)在固體火箭發(fā)動(dòng)機(jī)檢測(cè)中的應(yīng)用
206)康普頓背散射技術(shù)在固體火箭發(fā)動(dòng)機(jī)檢測(cè)中的應(yīng)用林德峰，陳仲華，劉曼曼，賈慶龍，劉利華(中國(guó)人民解放軍96630部隊(duì)，北京 102206)介紹了康普頓背散射技術(shù)的原理、技術(shù)特點(diǎn)及其在固體火箭發(fā)動(dòng)機(jī)檢測(cè)中的應(yīng)用前景。依據(jù)固體火箭發(fā)動(dòng)機(jī)燃燒室結(jié)構(gòu)，制備了燃燒室模擬脫粘缺陷試樣。使用ComScan 160Ⅱ型康普頓背散射成像檢測(cè)系統(tǒng)，對(duì)模擬試樣進(jìn)行了初步檢測(cè)。結(jié)果表明：康普頓背散射成像系統(tǒng)能夠有效檢測(cè)出固體火箭發(fā)動(dòng)機(jī)第一、第二界面脫粘以及絕熱層內(nèi)部脫粘等缺陷
無(wú)損檢測(cè) 2017年12期2017-12-25
- 一個(gè)PIXE-RBS離子束分析系統(tǒng)的刻度
XE)與盧瑟福背散射分析(Rutherford Backscattering Spectrometry,RBS)相結(jié)合的離子束分析系統(tǒng)，描述了該分析系統(tǒng)和刻度過(guò)程。通過(guò)10個(gè)金屬單質(zhì)的PIXE-RBS測(cè)量，刻度得到的儀器常數(shù)值是一條隨能量變化的曲線，然后采用最小二乘法擬合確定了X射線探測(cè)器前的Mylar膜有效厚度、選擇性濾膜的有效厚度和中心小孔大小，從而得到值。為了對(duì)刻度值進(jìn)行檢驗(yàn)，在相同實(shí)驗(yàn)條件下測(cè)量了標(biāo)準(zhǔn)粘土樣品元素成分，測(cè)量數(shù)據(jù)與證書數(shù)據(jù)符合得較好。
核技術(shù) 2017年8期2017-08-25
- 探究分析射線檢測(cè)技術(shù)在石油化工裝置中的作用
掃描技術(shù)；中子背散射技術(shù)1 γ射線掃描技術(shù)1.1 γ射線掃描技術(shù)原理γ射線是一種掃描工業(yè)設(shè)備裝置，與人體透視相似，是一種工業(yè)裝置進(jìn)行“透視”的先進(jìn)技術(shù)。γ射線掃描技術(shù)具有能夠在線檢測(cè)、準(zhǔn)確性高、速度快等優(yōu)點(diǎn)，應(yīng)用于石油化工裝置中，不僅能夠快速、準(zhǔn)確的檢測(cè)出石油化工裝置中故障，還能夠?qū)ρb置操作進(jìn)行優(yōu)化?，F(xiàn)階段，γ射線掃描技術(shù)還能夠?qū)κ突ぱb置中精餾塔、反應(yīng)器內(nèi)催化劑位置、管的流狀狀態(tài)等方面進(jìn)行診斷。該技術(shù)還對(duì)現(xiàn)場(chǎng)操作的版式塔和填料塔內(nèi)的流體力學(xué)的研究和檢測(cè)
化工設(shè)計(jì)通訊 2017年5期2017-06-05
- 厚截面CFRP孔隙超聲脈沖反射檢測(cè)方法*
于超聲脈沖反射背散射信號(hào)處理的孔隙缺陷識(shí)別方法。背散射信號(hào)特征分析結(jié)果表明,背散射信號(hào)由材料近表面共振結(jié)構(gòu)噪聲、信號(hào)指數(shù)型衰減成分、孔隙的反射和散射信號(hào)以及隨機(jī)噪聲組成。為得到孔隙的反射和散射信號(hào)，首先,利用提升小波變換良好的去噪能力除去背散射信號(hào)中的隨機(jī)噪聲;其次，設(shè)計(jì)低通濾波和自適應(yīng)濾波分別除去信號(hào)中的共振結(jié)構(gòu)噪聲和衰減成分。對(duì)實(shí)驗(yàn)信號(hào)的處理結(jié)果表明，上述處理方法可以有效去除相應(yīng)信號(hào)成分。在此基礎(chǔ)上進(jìn)一步提出了背散射信號(hào)幅值C掃描成像方法，將該成像方法
振動(dòng)、測(cè)試與診斷 2016年3期2016-11-23
- 機(jī)場(chǎng)的安檢門
有兩種，一種是背散射掃描，一種是毫米波掃描。乘坐過(guò)飛機(jī)的同學(xué)都會(huì)有這樣的體驗(yàn)：乘客在機(jī)場(chǎng)接受安檢時(shí)，必須要穿過(guò)一個(gè)像門一樣的鐵框框。這道門就是我們通常所說(shuō)的安檢門。傳統(tǒng)的安檢門現(xiàn)在，國(guó)內(nèi)的機(jī)場(chǎng)廣泛使用的安檢門其實(shí)是金屬探測(cè)門。當(dāng)被檢查人員從安檢門通過(guò)時(shí)，如果身上攜（xié）帶的金屬物品的重量、數(shù)量或形狀超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)，比如有槍支、管制刀具等大件的金屬物品，安檢門就會(huì)發(fā)出報(bào)警聲，并顯示造成報(bào)警的金屬所在的位置。像皮帶扣這樣的小金屬物品，安檢門則不會(huì)發(fā)出報(bào)警聲。不過(guò)
紅領(lǐng)巾·探索 2014年6期2015-03-11
- X射線背散射技術(shù)安檢系統(tǒng)核心方案設(shè)計(jì)
品走私。X射線背散射探測(cè)技術(shù)就能很好的解決這個(gè)問(wèn)題，成為海關(guān)和邊防部門迫切需要的檢測(cè)手段。常規(guī)的人體安檢系統(tǒng)存在著檢查高峰期人員流量大、人工檢測(cè)存在失誤、檢查人員可能被攜帶病毒或細(xì)菌感染等問(wèn)題。目前，國(guó)際市場(chǎng)上X射線安全檢查設(shè)備基本上可以分成三類：一是常規(guī)的X射線透視檢查設(shè)備，二是CT型爆炸物、毒品自動(dòng)探測(cè)設(shè)備，三就是X射線背散射設(shè)備。X射線背散射設(shè)備是根據(jù)COMPTON背散射原理的一種新型檢測(cè)設(shè)備，與傳統(tǒng)透射技術(shù)相比，可以在被檢物的一側(cè)（與射線源同側(cè)）給
科技視界 2015年1期2015-01-02
- 掃描人體確保安全
有兩種，一種是背散射掃描，一種是毫米波掃描。背散射掃描背散射掃描是一種X射線掃描技術(shù)，它能夠透過(guò)遮擋的物體來(lái)發(fā)現(xiàn)隱藏的物品，例如通過(guò)人體的衣服產(chǎn)生高分辨率的人體圖像。炸藥與毒品類的物質(zhì)對(duì)X射線的散射能力很強(qiáng)，采集到的散射信號(hào)也就強(qiáng)，圖像的灰度比較亮，所以，背散射人體掃描儀能發(fā)現(xiàn)人體攜帶的炸藥等危險(xiǎn)品。同時(shí)，金屬物品，例如槍支和匕首等，對(duì)X射線的散射能力很低，采集到的信號(hào)就低，在人體散射背景下，人體攜帶的這些危險(xiǎn)武器也極易被發(fā)現(xiàn)。常常有人擔(dān)心背散射掃描會(huì)危害
青少年科技博覽（中學(xué)版） 2014年6期2014-09-17
- 不同加速電壓對(duì)不導(dǎo)電樣品掃描電鏡圖像的影響
像和能量選擇式背散射電子圖像的影響，希望通過(guò)這些分析為科研工作者在電鏡測(cè)試時(shí)選擇合適的加速電壓提供依據(jù)和指導(dǎo).報(bào)道如下.1 實(shí)驗(yàn)與討論1.1 噴金前后不同加速電壓對(duì)不導(dǎo)電樣品二次電子圖像的影響從圖1a可知，用1 kv加速電壓下拍攝的照片，輪廓清晰，表面細(xì)節(jié)非常豐富，有許多突起和絲狀結(jié)構(gòu).而圖1b為10 kv加速電壓下拍攝的照片，照片邊緣似乎都是“光滑”的，許多的表面細(xì)節(jié)都消失看不到了.而圖1c和1d為同一樣品噴金后分別用1 kv和10 kv下拍攝的照片.從
暨南大學(xué)學(xué)報(bào)（自然科學(xué)與醫(yī)學(xué)版） 2014年4期2014-07-03
- 采用光致發(fā)光法和盧瑟福背散射法測(cè)定AlxGa1-xN薄膜中的Al元素含量及斯托克斯移動(dòng)研究*
～6]、盧瑟福背散射法[7～9]、電子探針?lè)?、高分辨X射線衍射法以及化學(xué)分析法等。本文選擇目前較為先進(jìn)的兩種方法，光致發(fā)光法和盧瑟福背散射法對(duì)AlxGa1-xN外延膜中的Al元素含量進(jìn)行測(cè)定，同時(shí)對(duì)AlxGa1-xN外延膜中是否存在斯托克斯移動(dòng)[10～11]進(jìn)行研究，通過(guò)分析比較兩種方法的測(cè)量結(jié)果，對(duì)測(cè)量結(jié)果的一致性作出評(píng)價(jià)。1 試驗(yàn)儀器與測(cè)試條件試驗(yàn)樣品為Al元素物質(zhì)的量分?jǐn)?shù)依次增大的4片AlxGa1-xN外延膜，編號(hào)為1#、2#、3#、4#。1.1 光
計(jì)量技術(shù) 2014年11期2014-03-22
- 4He和12C離子Rutherford背散射的Geant4模擬
herford背散射可無(wú)損、快速、直接分析表面雜質(zhì)濃度和雜質(zhì)深度技術(shù)［1－2］，將4He離子或其他離子入射至靶物質(zhì)上，入射離子和靶原子核發(fā)生庫(kù)侖相互作用，部分入射離子發(fā)生大角度散射，利用金硅半導(dǎo)體探測(cè)器測(cè)量即可得到背散射離子能譜.近年來(lái)，利用不同程序模擬 RBS分析表面信息已引起人們廣泛關(guān)注［3－6］.Eckstein等［7］用TRIM.SP和SIMNRA程序模擬并討論了1MeV4He離子的單一散射（庫(kù)侖散射）和多重散射模型對(duì)Rutherford背散射的影
吉林大學(xué)學(xué)報(bào)（理學(xué)版） 2013年4期2013-10-25
- 使用背散射配置拉曼光譜快速鑒定藍(lán)寶石表蒙子
文提出一種使用背散射配置拉曼光譜無(wú)損、快速鑒定藍(lán)寶石表蒙子的方法?；驹恚寒?dāng)頻率為v的單色光照射到樣品上時(shí)，在散射光中，除很大一部分的頻率仍為v外，還有一小部分的頻率為v±△v的散射光。其中，頻率沒(méi)有變化的散射光被稱為瑞利線，頻率發(fā)生變化的散射光被稱為拉曼線。拉曼頻移△v對(duì)應(yīng)于物質(zhì)的某個(gè)能級(jí)(振動(dòng)、轉(zhuǎn)動(dòng)或電子能級(jí))之間的差值，物質(zhì)結(jié)構(gòu)的任何微小變化都會(huì)非常敏感反映在拉曼光譜中，因此，拉曼頻移提供了物質(zhì)結(jié)構(gòu)的相關(guān)信息。不同物質(zhì)由于分子構(gòu)成、結(jié)構(gòu)不同，其拉曼
中國(guó)質(zhì)量監(jiān)管 2013年9期2013-09-13
- 4 He離子盧瑟福背散射的Geant4模擬
束分析(盧瑟福背散射)。盧瑟福背散射分析技術(shù)是一種無(wú)損、快速、直接分析表面雜質(zhì)濃度和雜質(zhì)深度的重要分析技術(shù)。1967年，RBS首次被成功用于分析月球土壤成分，現(xiàn)已發(fā)展成為一種十分成熟的分析手段，它在離子注入、薄膜技術(shù)、半導(dǎo)體和其他新型材料研究與生產(chǎn)方面，都表現(xiàn)出優(yōu)異的特點(diǎn)，因而在科學(xué)研究技術(shù)開(kāi)發(fā)方面，得到人們極大的重視，并已成為一種常規(guī)、不可缺少的分析手段［1，2］。盧瑟福背散射技術(shù)所帶來(lái)的社會(huì)和經(jīng)濟(jì)效益也是巨大的，美國(guó)2011年發(fā)射升空的“好奇”號(hào)火星車
黑龍江科學(xué) 2013年1期2013-09-03
- 人體掃描安檢
有兩種，一種是背散射掃描，一種是毫米波掃描。還有一種太赫茲掃描技術(shù)在研發(fā)和測(cè)試中，性能還不太穩(wěn)定。背散射掃描背散射掃描是一種X射線掃描技術(shù)，它能夠透過(guò)被遮擋的物體來(lái)發(fā)現(xiàn)隱藏的物品，例如透過(guò)人體的衣服產(chǎn)生高分辨率的人體圖像。背散射設(shè)備多年來(lái)被廣泛應(yīng)用于監(jiān)獄、鉆石開(kāi)采、海關(guān)搜索、醫(yī)療探測(cè)，近年來(lái)又被測(cè)試出可以用于機(jī)場(chǎng)安檢。背散射掃描使用高能量的X射線，這種射線不同于用于醫(yī)用的低能量的X射線，低能量的X射線可以穿透物體，而高能量的X射線能夠從物體表面反射回來(lái)。由
檢察風(fēng)云 2012年23期2012-07-07
- 油垢厚度檢測(cè)中的入射中子束設(shè)計(jì)
0046）中子背散射技術(shù)廣泛應(yīng)用于中子測(cè)水技術(shù)中。由中子背散射技術(shù)研制的中子表層型水分計(jì)，主要應(yīng)用于公路、鐵路、機(jī)場(chǎng)等土建工程中對(duì)土基壓實(shí)度的檢測(cè)和控制，以及焦炭中水分的檢測(cè)和堤防工程防滲墻的滲控效果檢驗(yàn)［1－3］。也可用于檢測(cè)埋在土壤里的地雷［4－7］。中子背散射測(cè)量的一個(gè)共同缺點(diǎn)是當(dāng)被測(cè)量參數(shù)變化較大時(shí)，測(cè)量的熱中子計(jì)數(shù)對(duì)被測(cè)量參數(shù)出現(xiàn)非線性，并趨向于飽和，這是由中子的自屏蔽效應(yīng)引起的，中子在射入目標(biāo)物質(zhì)之前，其能量是按一定的能譜分布的，中子在射入目標(biāo)
同位素 2012年2期2012-05-16
- 超聲換能器焦區(qū)內(nèi)軟組織背散射信號(hào)頻移與散射子粒徑的相關(guān)性研究
利用軟組織超聲背散射射頻信號(hào)的幅度包絡(luò)信息，沒(méi)有充分地利用與組織微觀結(jié)構(gòu)有關(guān)的頻率和相位特征信息。許多學(xué)者致力于利用超聲背散射回波信號(hào)的頻率和相位信息進(jìn)行軟組織微結(jié)構(gòu)特征的研究，利用超聲背散射信號(hào)的功率譜估計(jì)軟組織超聲特征散射子粒徑、衰減系數(shù)等超聲特性參數(shù)［1-9］；Konofagou等發(fā)現(xiàn)當(dāng)軟組織發(fā)生應(yīng)變時(shí)，其超聲特征散射子出現(xiàn)的聚集或分開(kāi)現(xiàn)象會(huì)導(dǎo)致超聲背散射信號(hào)的頻譜中心上偏移或下偏移，并且利用頻譜中心偏移估計(jì)了軟組織的應(yīng)變［10］。當(dāng)生物軟組織發(fā)生變
- 半導(dǎo)體環(huán)形激光器的非線性分岔動(dòng)力學(xué)研究
光學(xué)增益飽和和背散射．前者在文獻(xiàn)[5-6]中進(jìn)行了討論，指出這種機(jī)制可以實(shí)現(xiàn)光學(xué)模式鎖定．背散射效應(yīng)在文獻(xiàn)[3]中作為一種重要的機(jī)制被引入雙穩(wěn)態(tài)動(dòng)力學(xué)體系中，但作者只求解了幾種特殊情況的解，沒(méi)有從非線性動(dòng)力學(xué)角度進(jìn)行整體細(xì)致的分析，特別是對(duì)突變點(diǎn)出現(xiàn)的原因和性質(zhì)、極限環(huán)形態(tài)等特性沒(méi)有進(jìn)行仔細(xì)的理論分析．搞清楚背散射效應(yīng)參數(shù)對(duì)系統(tǒng)性能的影響無(wú)論從理論角度還是從實(shí)驗(yàn)角度都是非常有意義的．筆者利用了非線性分岔這一現(xiàn)代數(shù)學(xué)方法對(duì)半導(dǎo)體環(huán)形激光器進(jìn)行分析和計(jì)算，在分
天津大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)與工程技術(shù)版) 2010年7期2010-09-25
- 固體襯底上超薄膜表面的低能電子背散射系數(shù)計(jì)算研究
1–4]。電子背散射方法是一種重要的測(cè)量方法[5,6]，基于薄膜背散射系數(shù)r與薄膜厚度D之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系確定薄膜厚度是此方法的一種重要手段。當(dāng)入射電子能量為數(shù)十keV時(shí)，背散射電子在介質(zhì)中的穿透深度較大，一般適用于測(cè)量幾百nm厚的薄膜，此時(shí)r-D的關(guān)系較復(fù)雜；當(dāng)入射電子能量?jī)H數(shù)keV時(shí)，r與D存在簡(jiǎn)單的線性關(guān)系，且背散射電子穿透深度較小，適合于超薄膜的厚度測(cè)量。應(yīng)用此方法需分析r-D線性段的變化規(guī)律，及其對(duì)薄膜測(cè)量厚度分辨率的影響。因此，研究固體襯底上超薄膜
核技術(shù) 2010年11期2010-06-30
- 膠體懸浮液的相干背散射研究
，可以通過(guò)相干背散射技術(shù)來(lái)研究光子局域，這激起了人們極大的研究興趣。Anderson于1958 年首先提出了電子的無(wú)序局域，并因此與其它物理學(xué)家分享了1977年的諾貝爾物理獎(jiǎng)。1983年，John首先將局域化的概念推廣到光波[1]，即光子局域。光子局域是指光在無(wú)序介質(zhì)中傳播時(shí)，光波受到無(wú)序介質(zhì)的多重散射而發(fā)生干涉，使得光在傳播方向上受到抑制。目前，光子局域的一個(gè)成功應(yīng)用是無(wú)序激光器。由于光子局域在基礎(chǔ)研究方面的重要性及其潛在的應(yīng)用前景，自提出以來(lái)至今一直是
科技傳播 2010年6期2010-04-17
- 賽默飛世爾科技發(fā)布全新電子顯微分析產(chǎn)品
EBSD（電子背散射衍射），其與NORAN System 7微區(qū)分析系統(tǒng)提供了完整的一體化微區(qū)分析解決方案。這個(gè)系統(tǒng)是業(yè)界第一個(gè)集成電子背散射衍射（EBSD）和能譜儀（EDS）及波譜儀（WDS）在同一個(gè)軟件界面的微區(qū)分析系統(tǒng)。Thermo Scientific QuasOr 是完全集成到NORAN System 7微區(qū)分析平臺(tái)中，以確保新用戶便捷地在同一軟件界面下同時(shí)完成EBSD、EDS、WDS的數(shù)據(jù)采集。EBSD是用于在掃描電子顯微鏡（SEM）下測(cè)定樣品
生命科學(xué)儀器 2010年4期2010-04-14