婁本濁
摘要:本文利用固態(tài)反應(yīng)法制備了CaCu3-xMnxTi4O12(x=0, 0.2, 0.4, 0.6, 0.8, 1.0)陶瓷,并分析探討了MnO添加量對其介電性能的影響。研究結(jié)果表明,MnO的添加有助于CaCu3Ti4O12相生成,且在高M(jìn)nO添加的情況下所得陶瓷晶粒尺寸較小。MnO的添加對CaCu3Ti4O12的介電性能有非常不好的影響,少量的添加就會導(dǎo)致其介電常數(shù)由10000多降至只有數(shù)百。在1000Hz前MnO的添加會使陶瓷的介電損耗大幅上升,這表明MnO添加有降低電阻的效果。
關(guān)鍵詞:高介電材料;鈣鈦礦結(jié)構(gòu);CaCu3Ti4O12;MnO;介電性能
1 引言
電子元件的高性能與微型化是驅(qū)動微電子技術(shù)不斷發(fā)展的動力,而高介電材料是電容器、濾波器、儲存器等重要電子元件向高性能化和微型化方向發(fā)展的基礎(chǔ)[1-2]。高介電材料一般是指其介電常數(shù)大于SiO2的介電材料的泛稱,它們一般是具有鈣鈦礦結(jié)構(gòu)的鐵電材料,介電常數(shù)均在1000以上,如BaTiO3、Pb(Zr,Ti)O3及(Ba,Sr)TiO3等.然而這些材料的介電性質(zhì)隨溫度而有較大的變化,致使元件的穩(wěn)定性較差[3-5]。CaCu3Ti4O12是最近幾年備受關(guān)注的高介電材料,屬立方晶系鈣鈦礦氧化物[6]。A. Deschanvres等在1967年[7]制備出CaCu3Ti4O12陶瓷,但其優(yōu)異的介電性質(zhì)直到2000年才被M. A. Subramanian等[8]發(fā)現(xiàn)。與傳統(tǒng)鈣鈦礦結(jié)構(gòu)的介電材料相比,CaCu3Ti4O12制備工藝簡單、燒結(jié)溫度低,且不需添加其它雜質(zhì)元素就可得到對溫度敏感性較低,且具有巨大介電常數(shù)的特性,同時(shí)還具有強(qiáng)烈的非線性特征,使其成為制作高密度信息儲存器、高介電容器和非線性元件等的潛力材料[9]。由于目前沒有研究討論過添加劑對CaCu3Ti4O12介電性能的影響,因此本文通過添加不同摩爾比例的MnO,利用固態(tài)反應(yīng)法來制備CaCu3Ti4O12陶瓷,并且討論MnO添加量對其結(jié)構(gòu)與介電性能的影響。
2 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
本實(shí)驗(yàn)采用固態(tài)反應(yīng)法制備了CaCu3-xMnxTi4O12(x=0,0.2,0.4,0.6,0.8,1.0)陶瓷樣品。首先,按相應(yīng)化學(xué)計(jì)量比稱取高純度的CaO、CuO、TiO4與MnO等粉末置于裝有適量ZrO2球的球磨機(jī)中,加入等重量的去離子水后濕式球磨24h獲得漿料,然后將漿料放入烘箱中干燥24h;第二,將干燥后的粉末置于爐中煅燒,升溫速率為5℃/min,煅燒溫度為900℃,持溫6h,然后自然冷卻至室溫;第三,將煅燒后的粉體研磨后與ZrO2球、去離子水再次放入干燥箱中干燥24h,再在干燥后的粉末中加入1.5wt%的PVA與少量去離子水?dāng)嚢杈鶆蚝蠛娓?;第四,將上步所得粉體磨細(xì)并控制粒度為100目,利用單軸油壓機(jī)以100kg/cm2的壓力將所得粉粒壓制成片狀生坯;最后,為避免燒結(jié)時(shí)因黏結(jié)劑PVA快速揮發(fā)而造成孔洞、龜裂等不良現(xiàn)象,先以2℃/min的升溫速率加熱至600℃,保溫2h后再以5℃/min的升溫速率加熱至1100℃,保溫8h后再以5℃/min的速率降溫即可制得所需陶瓷樣品。
利用XRD-7000S/L型X射線衍射儀測量樣品的晶體結(jié)構(gòu),利用SNE-4000型掃描電鏡觀測樣品的微觀形貌,利用AET型介電常數(shù)測試儀測量樣品的介電特性。
3 結(jié)果分析與討論
3.1X射線衍射分析
圖1為CaCu3-xMnxTi4O12陶瓷樣品的XRD圖譜。由圖1可以看出,MnO的添加有助于減少TiO2相的形成,而且隨著MnO添加量的增加也沒有其它二次相產(chǎn)生。這表明MnO的添加有助于CaCu3Ti4O12相的生成。此外還可看出,2θ隨MnO添加量的增加向小角度偏移,即x=0時(shí)為61.490°;x=0.2時(shí)為61.470°;x=0.4時(shí)為61.412°;x=0.6時(shí)為61.369°;x=0.8時(shí)為61.330°;x=1.0時(shí)為61.169°。
由θ角的變化可以計(jì)算出晶格常數(shù)隨MnO添加量的變化規(guī)律,結(jié)果如圖2所示。由圖2可以發(fā)現(xiàn),陶瓷的晶格常數(shù)隨MnO添加量的增加而變大,即由x=0.0時(shí)的7.385?魡增至x=1.0時(shí)的7.421?魡。
3.2SEM分析
圖3給出了在1100℃燒結(jié)溫度下制備的CaCu3-xMnxTi4O12陶瓷樣品的SEM圖。由圖3可以看出,當(dāng)x<0.8時(shí),添加MnO對陶瓷晶粒大小的改變影響不大,晶粒尺寸基本維持在5~40μm之間;但當(dāng)x≥0.8時(shí),陶瓷晶粒尺寸開始變小且趨于均勻,約在1~10μm之間。
3.3介電常數(shù)分析
圖4表示的是外加1V電壓時(shí)CaCu3-xMnxTi4O12陶瓷的介電常數(shù)隨頻率的變化規(guī)律。由圖4可以發(fā)現(xiàn),在所測量的頻率范圍內(nèi),添加MnO對陶瓷的介電常數(shù)有非常不好的影響,即x<1.0時(shí)陶瓷的介電常數(shù)只有數(shù)百;而當(dāng)添加量x=1.0時(shí),陶瓷的介電常數(shù)有較大幅度的提高,但此時(shí)介電常數(shù)隨頻率的增大逐漸降低。在兩個(gè)測量頻率范圍內(nèi)有所不同的是,在低頻段20Hz~1MHz中介電常數(shù)一直緩慢降低;但在高頻段75kHz~30MHz中介電常數(shù)先緩慢降低后迅速降低,且在較高頻率處又出現(xiàn)小幅的先增大后減小的趨勢。
3.4介電損耗分析
圖5給出了外加1V電壓時(shí)CaCu3-xMnxTi4O12陶瓷的介電損耗隨頻率的變化規(guī)律。由圖5可以看出,當(dāng)頻率范圍為20Hz~1MHz時(shí),在4000Hz前陶瓷的介電損耗隨MnO的添加量增加有明顯增大趨勢;但是當(dāng)頻率超過4000Hz后介電常數(shù)趨于穩(wěn)定的最小值,沒有增大的趨勢。在低頻處的高介電損耗已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超越介電損耗可接受的范圍,用三用電表測量發(fā)現(xiàn)添加MnO后,陶瓷的電阻急劇變小,致使漏電流增大,進(jìn)而令介電損耗增大。當(dāng)頻率范圍為75kHz~30MHz時(shí),MnO的添加對陶瓷的介電損耗基本沒有影響。
4 結(jié)論
CaCu3Ti4O12作為一種重要的高介電材料,有希望在高密度信息儲存器、高介電容器和非線性元件制作中取代BaTiO3,并獲得廣泛運(yùn)用。本文利用固態(tài)反應(yīng)法制備了不同MnO添加量的CaCu3Ti4O12陶瓷,并且分析了這些陶瓷樣品的微觀結(jié)構(gòu)與介電性能。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,MnO的添加有助于CaCu3Ti4O12相生成,且陶瓷的晶格常數(shù)隨MnO添加量增加而變大。由SEM圖得知高M(jìn)nO添加有助于生成均勻且細(xì)小的陶瓷晶粒。MnO的添加對陶瓷的介電常數(shù)有不利影響。在低頻處的高介電損耗已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超越介電損耗可接受的范圍,用三用電表測量發(fā)現(xiàn)添加MnO后陶瓷的電阻急劇變小,致使漏電流增大,進(jìn)而令介電損耗增大;但對陶瓷的介電損耗幾乎沒有影響。
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