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透射波半高度法測(cè)量裂紋高度的研究

2012-10-25 12:38韓曉華孟令華
中國(guó)測(cè)試 2012年6期
關(guān)鍵詞:聲束試塊線段

韓曉華,張 薇,楊 陽(yáng),孟令華,董 欣

(1.山東省科學(xué)院激光研究所,山東 濟(jì)寧 272017;2.中國(guó)科學(xué)院金屬研究所,遼寧 沈陽(yáng) 110016;3.遼寧職業(yè)技術(shù)學(xué)院,遼寧 沈陽(yáng) 110016)

0 引 言

近年來,以斷裂力學(xué)為基礎(chǔ)的安全評(píng)定技術(shù),在保障設(shè)備安全運(yùn)行方面發(fā)揮了重要的作用,取得良好的經(jīng)濟(jì)效益,該技術(shù)受到了較多的關(guān)注并有所發(fā)展[1-2]。進(jìn)行安全評(píng)定的重要前提是必須測(cè)定缺陷的尺度,尤其是裂紋長(zhǎng)度和高度。材料在使用過程中產(chǎn)生的裂紋絕大多數(shù)是從外表面開始的,例如疲勞裂紋和應(yīng)力腐蝕裂紋。在加工過程中產(chǎn)生的裂紋也有很大一部分是從表面開始的,例如淬火裂紋和磨削裂紋。所以需要測(cè)定高度的裂紋當(dāng)中有很大一部分是表面裂紋,在許多情況下,裂紋是經(jīng)過磁粉、滲透、或目視檢測(cè)被確認(rèn)之后,由主管部門提出要求測(cè)量裂紋高度。為了測(cè)定裂紋高度,曾經(jīng)開發(fā)過多種測(cè)量方法,例如直流電位差法和交流電位差法。這兩種方法常常統(tǒng)稱“四探針法”,國(guó)外稱交流電位差法為 ACPD(alternative current potential drop)。對(duì)這兩種方法曾經(jīng)做過大量的研究[3],但是由于探針與工件間的接觸電阻變化大,很難控制,加之裂紋引起的電位差除與裂紋高度有關(guān)之外,還與裂紋形狀和緊閉程度有較強(qiáng)的依賴關(guān)系,一般情況下電位差法的測(cè)量誤差較大,目前這兩種方法已經(jīng)消失。近年來,最熱門的測(cè)定裂紋高度的技術(shù)是衍射時(shí)差法(time of flight diffraction,TOFD)[4-5]。TOFD 大量應(yīng)用于焊縫探傷,并非用于測(cè)定裂紋高度,本文研究一種用透射波半高度法來測(cè)量裂紋高度的方法。

1 測(cè)量方法及其原理

為了滿足測(cè)量裂紋高度的要求,提出一種用普通的超聲探傷儀和普通的斜探頭測(cè)定裂紋高度的方法,對(duì)這種方法進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)研究,并取名為“透射波半高度法”。這種方法的主要優(yōu)點(diǎn)是:不需要專用設(shè)備,只要是從事超聲探傷業(yè)務(wù)的單位都有條件作這種測(cè)量;無盲區(qū),無論裂紋在工件厚度方向位置如何,都能測(cè)量它的高度;表面裂紋和內(nèi)部裂紋都能測(cè)量,還能測(cè)量?jī)A斜裂紋的傾斜角度[6]。與TOFD方法相比,這種方法的主要缺點(diǎn)是測(cè)量誤差稍大,根據(jù)測(cè)量線切割槽深度的實(shí)驗(yàn)結(jié)果估計(jì),測(cè)量裂紋高度的誤差大約在±2mm。

簡(jiǎn)單地說,透射波半高度法就是用兩支探頭,分別用來發(fā)射和接收超聲脈沖,利用裂紋對(duì)聲束的遮擋作用測(cè)量裂紋高度,如圖1所示。

圖1 透射波半波高度法測(cè)量裂紋高度示意圖

透射波半高度法測(cè)量裂紋高度的前提是工件的兩個(gè)相對(duì)的表面要互相平行。如圖1所示,將兩支相同的斜探頭耦合到工件表面上,一個(gè)(ST)用于發(fā)射,另一個(gè)(SR)用于接收。在工件的完好區(qū)域,當(dāng)兩個(gè)探頭發(fā)射點(diǎn)之間距離L滿足式(1),并且兩者的聲軸重合,此時(shí)收到的透射波幅度達(dá)到最高值Pmax。

式中:K——斜探頭的K值;

T——工件厚度;

β——折射角。

當(dāng)發(fā)射探頭ST位置靠近裂紋時(shí),聲束的一部分甚至全部被裂紋遮蔽,于是透射波幅度減小,甚至完全消失。當(dāng)發(fā)射探頭位置適當(dāng),裂紋頂點(diǎn)B恰好處在發(fā)射探頭的聲軸上,如圖2所示。此時(shí)聲束的50%被遮擋,接收探頭SR收到的透射波的幅度P降低到50%Pmax。設(shè)此時(shí)探頭發(fā)射點(diǎn)FT到裂紋的距離是X(圖1中的線段FTA),裂紋高度Hf(圖1中的線段AB)與X的關(guān)系為

測(cè)出X之后,再用式(3)計(jì)算得出裂紋高度Hf。

透射波半高度法也能用于測(cè)量?jī)A斜裂紋的高度,為此需要在裂紋左右兩側(cè)各進(jìn)行一次測(cè)量。在圖2中,線段AB表示傾斜裂紋,線段BO表示裂紋高度,即裂紋頂點(diǎn)B到工件表面的距離,ST1和ST2分別表示兩次測(cè)量的探頭入射點(diǎn)位置。在裂紋的左右兩側(cè)各測(cè)一次裂紋高度,得到的探頭發(fā)射點(diǎn)與裂紋的距離分別是X1=ST1O+AO和X2=ST2O-AO。從圖2可以看出,裂紋高度Hf(裂紋頂點(diǎn)B到工件表面的距離,即線段BO)計(jì)算公式為

裂紋傾斜角度θ,即圖2中的∠ST1-B-O,計(jì)算公式可以表示為

圖2 測(cè)量?jī)A斜裂紋高度示意圖

透射波半高度方法還能用于測(cè)量?jī)?nèi)部裂紋的高度。首先進(jìn)行透射波半高度測(cè)試,找出4個(gè)符合條件P=50%Pmax的超聲入射點(diǎn),即圖 3中的 ST1、ST2、ST3和ST4,圖中的線段AB代表裂紋。建立X-O-Y直角坐標(biāo)系,得到上述4個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)ST1(X1,0)、ST2(X2,0)、ST3(X3,0)、ST4(X4,0)。由X1、X2、X3和X4,用式(6)計(jì)算,得出裂紋端點(diǎn)A和B的坐標(biāo)XA、YA、XB和 YB,由裂紋端點(diǎn) A 和 B 的坐標(biāo) XA、YA、XB和 YB,得出裂紋高度Hf和傾斜角θ。

圖3 測(cè)量?jī)?nèi)部裂紋高度示意圖

綜上所述,透射波半高度法能測(cè)量表面裂紋和內(nèi)部裂紋的高度,包括垂直和傾斜的裂紋,并且能測(cè)量?jī)A斜裂紋的傾斜角度。這里需要指出,通常透射波半高度法不能測(cè)量比較淺的裂紋,原因是淺裂紋只能遮擋聲束的一小部分,不足50%。

2 裂紋高度測(cè)量實(shí)驗(yàn)

實(shí)驗(yàn)用的探傷儀是H600C型數(shù)字式超聲探傷儀,探頭是普通的斜探頭,折射角45°,頻率5MHz,晶片尺寸10mm×10mm。

裂紋高度測(cè)量實(shí)驗(yàn)是在試塊上進(jìn)行的,共有3個(gè)試塊,形狀都是長(zhǎng)條形,截面為40 mm×40 mm正方形,材質(zhì)是20#低碳鋼。No.1試塊上有3條線切割槽,槽寬0.2mm,槽從上表面開始垂直向下延伸,槽深分別是 10,20,30 mm,如圖 4(a)所示。No.2 試塊上有4條垂直向下的線切割槽,槽寬0.2mm,槽深分別是1,3,5,7 mm。No.3 試塊上有兩條傾斜的線切割槽,傾斜30°,槽深分別是5mm和23mm,槽的頂點(diǎn)到試塊表面的距離是4.33 mm和20 mm,如圖4(b)所示。制做試塊的鋼材,經(jīng)過嚴(yán)格的探傷檢驗(yàn),保證試塊中沒有自然缺陷。

圖4 No.1、No.2和No.3三個(gè)試塊的示意圖

首先將發(fā)射探頭ST和接收探頭SR放置在No.1試塊的上表面,加耦合劑,選好探頭位置,使超聲波從發(fā)射探頭傳播到接收探頭所經(jīng)過的區(qū)域無任何缺陷[7-9]。調(diào)節(jié)兩個(gè)探頭之間的間距X,滿足式(1),并調(diào)節(jié)探頭的方向,使兩個(gè)探頭的聲束中心線重合,此時(shí)透射波的幅度達(dá)到最高值Pmax。再將發(fā)射探頭ST放置在線切割槽附近,與工件耦合好。移動(dòng)接收探頭SR,使回波幅度P達(dá)到最高。如此時(shí)P>50%Pmax,則移動(dòng)發(fā)射探頭ST減小探頭與線切割槽之間距離X,再次測(cè)量回波幅度P。反之P<50%Pmax,則移動(dòng)發(fā)射探頭ST加大探頭與裂紋之間距離X,測(cè)量回波幅度P。多次重復(fù)上述測(cè)量,直到找出與P=50%Pmax對(duì)應(yīng)的間距X。測(cè)出X之后,再用式(3)計(jì)算得出線切割槽高度Hf。圖5是全高和半高透射波的波形。

圖5 全高和半高透射波波形

在No.2試塊上也進(jìn)行了同樣的測(cè)量,只有深度為1mm的刻槽不能達(dá)到P=50%Pmax,由于深度太淺,得到的結(jié)果總是P>50%Pmax。這表明在本文測(cè)試條件下,透射波半高度法的下限是3mm。以上測(cè)試結(jié)果列于表1的第1~7行。

對(duì)No.3試塊上兩條傾斜的線切割槽也進(jìn)行了相同的測(cè)試,在槽的左右兩側(cè)各進(jìn)行一次測(cè)試,得到了兩個(gè)探頭發(fā)點(diǎn)到刻槽的距離X1和X2。將X1和X2代入式(4)和式(5),計(jì)算出刻槽的高度Hf和傾斜角度θ,計(jì)算結(jié)果列于表1的第8~9行。

3 結(jié)束語(yǔ)

透射波半高度法能測(cè)量表面裂紋和內(nèi)部裂紋的高度,包括垂直和傾斜的裂紋,并且能測(cè)量?jī)A斜裂紋的傾斜角度。所需設(shè)備非常簡(jiǎn)單,只是一臺(tái)普通的超聲探傷儀和兩個(gè)普通的斜探頭。

表1 人工缺陷(線切割槽)高度和傾斜角度超聲測(cè)量值與真實(shí)值對(duì)比

對(duì)深度為3~30 mm的線切割槽進(jìn)行測(cè)量的結(jié)果顯示,測(cè)量誤差<1 mm。由于裂紋的形狀要比線切割槽復(fù)雜,所以測(cè)量裂紋高度的誤差可能大一些。斷裂力學(xué)的原理和觀察裂紋的實(shí)際經(jīng)驗(yàn)表明,裂紋形狀比較平緩,因此估計(jì)測(cè)量裂紋高度的誤差為±2 mm。

根據(jù)透射波半高度法的原理不難理解,如果用點(diǎn)聚焦探頭代替普通斜探頭作為發(fā)射探頭,測(cè)量裂紋高度的下限有可能從3mm下降到1mm。更加重要的是測(cè)量誤差會(huì)大幅度地減小,原因是點(diǎn)聚焦探頭的焦斑直徑能夠小至Φ1mm甚至更小,當(dāng)探頭聲束的焦柱與裂紋前沿相交時(shí),探頭微小的移動(dòng)會(huì)引起聲束被裂紋遮擋的比例發(fā)生很大的變化,這就導(dǎo)致測(cè)量誤差大幅度減小,裂紋形狀的影響也會(huì)減小。

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