美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院(NIST)的研究人員開發(fā)出一種新式顯微鏡——外差磁光微波顯微鏡(或稱H-MOMM)，可以測量電子自旋的群集動力。納米級磁鐵是高速低功耗的“自旋電子”計算機(jī)內(nèi)存的重要組成部分，而這種內(nèi)存可能很快就會取代傳統(tǒng)的隨機(jī)存取存儲器。

NIST 的研究人員使用H-MOMM 首次實現(xiàn)了對單個納米級磁鐵中的自旋弛豫(或阻尼)過程的量化。

利用這種顯微鏡，NIST 研究人員可以詳細(xì)研究單個磁鐵中自旋激化的上下波動。兩束綠色激光合并產(chǎn)生微波，從而激發(fā)“自旋波”，即磁振蕩。利用一束激光中的偏振光來分析這種激發(fā)模式。通過測量這種激發(fā)過程，找到電磁場與微波頻率之間的函數(shù)關(guān)系，從而可以推斷出每個納米級磁鐵中不同自旋波的阻尼。