徐昶

摘要：在設(shè)備進(jìn)行介質(zhì)損耗試驗(yàn)的時(shí)候，由于受到眾多因素的干擾，導(dǎo)致設(shè)備在進(jìn)行試驗(yàn)的過(guò)程中出現(xiàn)數(shù)據(jù)不穩(wěn)定、重復(fù)性差等狀況。因此，文章通過(guò)對(duì)現(xiàn)場(chǎng)設(shè)備介質(zhì)損耗試驗(yàn)導(dǎo)致負(fù)值問(wèn)題出現(xiàn)的原因進(jìn)行詳細(xì)分析，并通過(guò)故障機(jī)理分析，在實(shí)際的試驗(yàn)測(cè)量中采取一些方法解決試驗(yàn)時(shí)出現(xiàn)的負(fù)值。

關(guān)鍵詞：介質(zhì)損耗；負(fù)值問(wèn)題；電氣絕緣；故障機(jī)理

中圖分類號(hào)：TM835 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A 文章編號(hào)：1009-2374（2013）13-0156-02

1 現(xiàn)場(chǎng)設(shè)備介質(zhì)損耗試驗(yàn)導(dǎo)致負(fù)值問(wèn)題出現(xiàn)的原因

介質(zhì)損耗因素，簡(jiǎn)寫(xiě)成tanδ。導(dǎo)致設(shè)備tanδ出現(xiàn)負(fù)值的因素有許多種：例如：外部對(duì)電流的干擾、測(cè)量?jī)x器接地不良和儀器中標(biāo)準(zhǔn)電容介質(zhì)損耗大、電壓互感器接地鐵芯和底座接地不良以及電磁單元等影響。

1.1 外部對(duì)電流的干擾

設(shè)備介質(zhì)損耗試驗(yàn)時(shí)，外部干擾電流一旦投影直電壓相量上，并與電壓方向相同的時(shí)候，介質(zhì)損耗因素tanδ也將隨著介質(zhì)損耗角δ的增大而增大；相反，如果投影的方向與電壓的方向相反的時(shí)候，那么隨著介質(zhì)損耗角δ的縮小而出現(xiàn)負(fù)值。

1.2 測(cè)量?jī)x器接地不良和標(biāo)準(zhǔn)電容介質(zhì)損耗過(guò)大

1.3 電壓互感器接地鐵芯和底座接地不良

1.4 受電磁單元因素的影響

在采用正接測(cè)量法進(jìn)行測(cè)量時(shí)，介質(zhì)損耗因素的測(cè)量結(jié)果直接受到電磁單元及鐵芯損耗的影響。在實(shí)際測(cè)量的時(shí)候，由于利用分布電容在一、二次繞組上所產(chǎn)生鐵芯的介質(zhì)損耗較小，因此，測(cè)量結(jié)果也受鐵芯損耗影響。設(shè)備介質(zhì)損耗試驗(yàn)出現(xiàn)負(fù)值主要是由流入測(cè)量?jī)x器中的電流大于設(shè)備試品的電流。

在設(shè)備介質(zhì)損耗試驗(yàn)時(shí)，介質(zhì)損耗測(cè)試具有較高靈敏度要求，極容易被外界電場(chǎng)所干擾。在目前，盡管抗干擾的方法很多，但是一旦干擾度很強(qiáng)，那么就會(huì)存在較大偏差。例如：常用的方法有移相法、異頻法和倒相法等。

2 故障機(jī)理分析

當(dāng)產(chǎn)品設(shè)備的試驗(yàn)環(huán)境滿足設(shè)備介質(zhì)損耗試驗(yàn)要求下，我們對(duì)故障的產(chǎn)生將排除瓷套表面電流泄漏，而是定格于試驗(yàn)產(chǎn)品的內(nèi)部，因此首先對(duì)吊芯中一次引線進(jìn)行檢查，如果沒(méi)有發(fā)生問(wèn)題，其次再對(duì)低電壓進(jìn)行介質(zhì)損耗測(cè)試，其測(cè)試結(jié)果如表1所示。

根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)，當(dāng)介質(zhì)損耗因素值為負(fù)值，介質(zhì)損耗角δ偏差值會(huì)隨著電壓上升減小，形成漏電流。當(dāng)排除電流泄露問(wèn)題時(shí)，由于鐵芯與各支架之間的連接沒(méi)有可靠接地，因此，可以將支架涂漆，改進(jìn)的方式以發(fā)黑進(jìn)行處理，介質(zhì)損耗因素tanδ值將恢復(fù)正常。

3 設(shè)備介質(zhì)損耗試驗(yàn)時(shí)出現(xiàn)負(fù)值的解決方法

首先，針對(duì)外部對(duì)電流的干擾，將利用倒相法或異頻法進(jìn)行測(cè)量時(shí)，將電源正反兩次測(cè)試結(jié)果分析處理來(lái)排除外部干擾或采集不同頻率的信號(hào)，通過(guò)信號(hào)濾波對(duì)工頻信號(hào)進(jìn)行衰減，以達(dá)到排除外部干擾。

其次，針對(duì)測(cè)量?jī)x器接地不良和儀器中標(biāo)準(zhǔn)電容介質(zhì)損耗大的問(wèn)題，可以在實(shí)際試驗(yàn)測(cè)試的時(shí)候，將測(cè)量?jī)x器接地端直接與試品底座相連，并確保連接以后接觸良好。同時(shí)，還要確保試品的干凈和干燥，避免周圍設(shè)有鐵架或木梯等影響分布阻抗的物體。

最后，針對(duì)電壓互感器接地鐵芯和底座接地不良、電磁單元因素等問(wèn)題，在選取變壓器設(shè)備的時(shí)候，電壓和電流互感器在條件允許的情況下，短接那些未被試?yán)@組、避免電感和鐵芯損耗帶來(lái)的影響。同時(shí)，還要使試驗(yàn)引線和試品間的夾角達(dá)到90°，避免引線和試品兩者之間分布電容帶來(lái)的影響。

總而言之，目前當(dāng)設(shè)備介質(zhì)損耗出現(xiàn)負(fù)值時(shí)，隨著電壓的升高，介質(zhì)損耗角偏差減小時(shí)，由于試品等值串聯(lián)電容中有另一個(gè)支路的電流流入接地，使電流與電壓之間角成90°，導(dǎo)致設(shè)備介質(zhì)損耗出現(xiàn)負(fù)值。盡管目前針對(duì)設(shè)備介質(zhì)損耗出現(xiàn)負(fù)值的問(wèn)題已經(jīng)有了一定的了解，但是，在實(shí)際設(shè)備介質(zhì)損耗試驗(yàn)時(shí)，依然無(wú)法直接解決更多出現(xiàn)的問(wèn)題。例如：對(duì)試驗(yàn)時(shí)異常數(shù)據(jù)和相同試品接線所測(cè)量結(jié)果存在一定差距的問(wèn)題等。因此，為了使介質(zhì)損耗測(cè)量更為準(zhǔn)確，只有通過(guò)不斷地吸取試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)和尋找解決方法來(lái)實(shí)現(xiàn)。

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（責(zé)任編輯：秦遜玉）