陳昊　李術(shù)林　楊瑞宵　范勇

摘要：利用微乳化一熱液法制備納米分散液，制備了摻雜層與中間純聚酰亞胺（PI）層厚度比不同的三層復(fù)合薄膜.在相同環(huán)境條件下通過(guò)透射電鏡（TEM）、擊穿場(chǎng)強(qiáng)和耐電暈測(cè)試分別對(duì)三層復(fù)合薄膜的微觀結(jié)構(gòu)和納米摻雜層厚度比例的變化與介電性能的影響進(jìn)行了分析.TEM測(cè)試結(jié)果表明納米粒子在有機(jī)基體中的分散均勻；介電強(qiáng)度測(cè)試和耐電暈測(cè)試表明隨摻雜層厚度比例的增加，擊穿場(chǎng)強(qiáng)逐漸下降，耐電暈性能呈先上升后下降趨勢(shì).

關(guān)鍵詞：聚酰亞胺薄膜；納米雜化；TEM；擊穿場(chǎng)強(qiáng)；耐電暈