趙繼民,何 靜,王秀清
(天津科技大學(xué)電子信息與自動化學(xué)院,天津 300222)
萬能材料試驗機(以下簡稱材料試驗機)是生產(chǎn)行業(yè)、科研單位和各級質(zhì)檢部門在各類材料的質(zhì)量檢驗、科學(xué)研究中最重要的檢測設(shè)備之一.在國外,經(jīng)過近 60年的發(fā)展,材料試驗機的機械傳動單元已經(jīng)從單懸臂傳動轉(zhuǎn)向了雙懸臂傳動;測控系統(tǒng)由最初的繼電控制轉(zhuǎn)為微機控制;驅(qū)動系統(tǒng)也逐步由變頻驅(qū)動升級為伺服驅(qū)動[1],從而保證了材料試驗機在測試數(shù)據(jù)的精度、機械傳動的靈活性及驅(qū)動的精準(zhǔn)度方面都得到了極大的提高.國內(nèi)材料試驗機的技術(shù)水平也有較大提高,但在諸如測控系統(tǒng)等關(guān)鍵技術(shù)方面與歐美國家仍有較大的差距;同時,材料試驗機一直是歐美對我國尖端科研課題限制出口的產(chǎn)品.而國內(nèi)現(xiàn)有的材料試驗機產(chǎn)品從檢測精度等方面還不能達到某些材料的精度要求[2].
隨著新材料的不斷涌現(xiàn)和微電子技術(shù)的飛速發(fā)展,對于材料測試在數(shù)據(jù)處理、控制方法和設(shè)備集成度等方面也提出了更高的要求,國內(nèi)現(xiàn)有的材料試驗機變頻測控系統(tǒng)已不能滿足廣大用戶的測試需求,迫切要求試驗機測控系統(tǒng)向數(shù)字化、智能化、集成化方面邁進[3].測控系統(tǒng)性能的優(yōu)劣是決定材料試驗機性能的關(guān)鍵因素,因而高品質(zhì)的材料試驗機測控系統(tǒng)對材料科學(xué)的發(fā)展、工業(yè)產(chǎn)品和工程結(jié)構(gòu)的合理設(shè)計等方面都具有重要的作用.
針對材料試驗機,本文基于虛擬儀器和微控制器技術(shù)設(shè)計了測控系統(tǒng),并與傳統(tǒng)控制系統(tǒng)進行對比.
材料試驗機結(jié)構(gòu)如圖 1所示.該試驗機由儀器底座(內(nèi)置伺服驅(qū)動系統(tǒng)及減速系統(tǒng))、控制臺、力傳感器、位移變形傳感器及動懸臂等裝置組成.控制臺內(nèi)置的測控系統(tǒng)是整個儀器的控制核心,同時也是本文探討的主要內(nèi)容.
測控系統(tǒng)主要由儀表放大器、A/D轉(zhuǎn)換器、信號調(diào)理電路等構(gòu)成的力檢測及計量單元,由增量式光電編碼器、脈沖計數(shù)器、鑒相電路等構(gòu)成位移、變形檢測及計量單元,由液晶顯示器、鍵盤等構(gòu)成人機接口. 同時,系統(tǒng)通過 Modbus協(xié)議控制伺服驅(qū)動單元以精確的轉(zhuǎn)速實現(xiàn)材料試驗機的速度調(diào)節(jié)控制、位移變形控制及試驗力的保持控制等功能.利用虛擬儀器在多核、數(shù)據(jù)處理、通用性及可擴展性上的優(yōu)勢,構(gòu)建基于 LabWindows/ CVI開發(fā)平臺的材料試驗機檢測與分析系統(tǒng),提高了設(shè)備運行的可靠性和測試效率.
圖2為測控系統(tǒng)硬件功能框圖.
圖2 測控系統(tǒng)硬件功能框圖Fig.2 Diagram of the hardware functional block of the monitoring and control system
系統(tǒng)要用到 SPI總線、RS-485總線、I2C總線、RS-232通信、脈沖計數(shù)等功能.而 Atmel公司的ATmega64是基于增強的AVR RISC結(jié)構(gòu)的低功耗8位 CMOS微控制器,具有先進的指令集以及單時鐘周期指令執(zhí)行時間,可以緩減系統(tǒng)在功耗和處理速度之間的矛盾;同時 ATmega64外圍接口齊全,內(nèi)置看門狗電路及掉電檢測電路,是基于 CISC指令集的 8位微控制器所不能比擬的,故系統(tǒng)選用ATmega64微控制器作為控制系統(tǒng)的核心.
圖 3為微控制器接口電路原理圖,其中,Y2為微控制器的時鐘輸入引腳,U5為時鐘驅(qū)動器,型號為PCF8563,PCF8563與ATmega64之間采用I2C總線通信接口.
圖3 微控制器接口電路原理圖Fig.3 Diagram of the schematic circuit of the microcontroller interface
力檢測單元主要用于實時采集與處理應(yīng)變片式輪輻力傳感器的差分模擬信號.電阻應(yīng)變片是一種將被測對象上的應(yīng)變變化轉(zhuǎn)換為電信號的敏感器件[4].這種應(yīng)變片在受力時產(chǎn)生的電阻變化通常較小,一般都組成應(yīng)變電橋,其輸出為毫伏級的差分信號,并通過后續(xù)的調(diào)理電路對差分信號進行處理,再傳輸給A/D轉(zhuǎn)換電路將差分信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字量.
力檢測單元的電路原理如圖 4所示,其中,AD1+、AD1-為力傳感器差分輸入端.選用的AD7714是基于Σ-Δ轉(zhuǎn)換技術(shù)的模數(shù)轉(zhuǎn)換器.該轉(zhuǎn)換器具有可編程增益前端,可直接接受來自傳感器的低電平的輸入信號[5],故在本系統(tǒng)中不需考慮對傳感器輸出的差分信號的放大;LM336BZ2.5為 2.5,V的電壓基準(zhǔn)源,用于為AD7714提供基準(zhǔn)電壓.
圖4 力檢測單元電路原理圖Fig.4 Diagram of the schematic circuit of the force detection unit
在材料試驗機中,對位移、變形兩個物理量的檢測是通過增量型編碼器來實現(xiàn)的.增量編碼器的輸出為方波信號,在設(shè)計時要考慮編碼器的方波計數(shù)電路的抗干擾設(shè)計及鑒相電路設(shè)計.SN74HC14D為具有波形整形功能的高速施密特觸發(fā)器,用于對編碼器輸出的波形進行整形;SN74LS74是邊沿 D觸發(fā)器,用于對增量編碼器輸出信號的鑒相.而脈沖計數(shù)單元直接采用ATmega64微控制器內(nèi)置的16位外部事件計數(shù)器 Timer1來實現(xiàn).位移及變形檢測單元電路原理如圖5所示.
圖5 位移與變形檢測電路原理圖Fig.5 Diagram of the schematic circuit of the displacement and deformation detection
伺服驅(qū)動是閉環(huán)控制,而變頻驅(qū)動通常工作于開環(huán)控制,所以無論從速度還是控制精度上,變頻驅(qū)動都無法和伺服驅(qū)動相比.目前,伺服驅(qū)動的控制方式主要有 3種:驅(qū)動器面板設(shè)定、模擬量輸入設(shè)定及總線指令設(shè)定[6].從控制難易程度上來看,面板設(shè)定較后者方便,而從操作的靈活性及精度上來看,總線指令設(shè)定方式大大優(yōu)于前者.故本測控系統(tǒng)對伺服驅(qū)動單元的控制采用了總線驅(qū)動方式.伺服驅(qū)動器的總線遵循 Modbus工業(yè)總線協(xié)議.Modbus協(xié)議是第一個真正用于工業(yè)現(xiàn)場的總線協(xié)議,是應(yīng)用于電子控制器上的一種通用語言.通過此協(xié)議,控制器相互之間、控制器和其他設(shè)備之間可以進行安全可靠的通信操作.本系統(tǒng)的伺服驅(qū)動接口電路設(shè)計如圖6所示.
圖6 伺服驅(qū)動接口電路Fig.6 Diagram of the schematic circuit of the servo driving interface
人機接口包含液晶顯示和鍵盤輸入,如圖 7所示.液晶顯示單元采用 DM12864漢字圖形點陣液晶;同時,為保證鍵盤輸入的穩(wěn)定性及安全性,使用了鍵盤控制驅(qū)動器 CH452,避免了自建模擬鍵盤因干擾因素而導(dǎo)致的誤操作.
系統(tǒng)可將試樣的檢測數(shù)據(jù)實時上傳至計算機,由上位機的系統(tǒng)軟件對檢測數(shù)據(jù)進行處理.檢測系統(tǒng)與計算機之間采用USB通信接口.USB控制芯片為南京沁恒公司的基于USB1.0協(xié)議的CH376.
圖7 人機接口及通信接口電路原理圖Fig.7 Diagram of the schematic circuit of the man-machine interface and communication
上位機軟件采用 LabWindows/CVI作為開發(fā)環(huán)境.虛擬儀器是在以通用計算機為核心的硬件平臺上,由用戶設(shè)計定義,具有虛擬面板,測試功能由測試軟件實現(xiàn)的一種計算機儀器系統(tǒng)[7].用戶可以通過友好的圖形界面操作計算機,就像在操作自己定制的一臺傳統(tǒng)儀器一樣.它充分利用計算機的運算、存儲、回放、調(diào)用、顯示以及文件管理等智能化功能,同時把傳統(tǒng)儀器的專業(yè)化功能和面板控件軟件化,使之與計算機結(jié)合起來融為一體,這樣便構(gòu)成了一臺從外觀到功能都完全與傳統(tǒng)儀器相同,同時又充分利用計算機智能資源的全新的儀器系統(tǒng).
系統(tǒng)軟件的主界面如圖 8所示.可以完成基于逆波蘭算法的符合國家標(biāo)準(zhǔn)的自動輸入及存儲、數(shù)據(jù)顯示、曲線分析、自動報表、多種測試方法、數(shù)據(jù)再分析等功能,可以實現(xiàn)打印、測試、統(tǒng)計、單位切換、傳感器通道切換、儀器控制等操作.
圖8 系統(tǒng)軟件主界面Fig.8 Main interface of the system software
通過上位機軟件,可實現(xiàn)對儀器的速度和位移控制,并實時顯示當(dāng)前的試驗力數(shù)據(jù)、位移變形數(shù)據(jù)、試驗力及位移峰值;可實現(xiàn)包括斷點停機控制、定荷重控制、定位移控制、力量保持控制、自動回歸控制等控制和測量方式.
3.2.1 試驗力數(shù)據(jù)采集
ATmega64與AD7714通過SPI接口來實現(xiàn)數(shù)據(jù)的傳輸,AD7714包括6個可通過SPI接口訪問的片內(nèi)寄存器,與任何寄存器通信都要首先向通信寄存器寫入.AD7714上電或復(fù)位后,可通過兩種不同的讀選項確認(rèn) AD7714的采集過程是否完成:一是查詢DRDY引腳以確定數(shù)據(jù)寄存器更新是何時進行的;二是查詢通信寄存器中的 DRDY位以確認(rèn)數(shù)據(jù)寄存器是否進行過更新.本系統(tǒng)采用的是第一種方法.
3.2.2 位移、變形數(shù)據(jù)采集
位移、變形傳感器輸出為方波信號,Atmega64微控制器要對處理后的方波信號進行轉(zhuǎn)換處理,ATmega64的Timer1具有外部時鐘輸入捕獲功能(圖3中的 PD6引腳),而變形編碼傳感器具有相位相差90°的兩路信號輸出,通過鑒相電路的處理即可得到實際變形量.變形數(shù)據(jù)處理子程序如下所示:
void BXDateGather(void)//變形數(shù)據(jù)采集函數(shù)
{
unsigned char tcnt2,tcnt3;
tcnt2=TCNT2;//讀取Timer2捕獲的變形脈沖數(shù)
tcnt3=TCNT3;
if(JianXiang)//變形編碼器正向旋轉(zhuǎn)
{tcnt2+=tcnt3;
Counter+=tcnt2;
}
else//變形編碼器逆向旋轉(zhuǎn)
{tcnt2-=tcnt3;
Counter-=tcnt2;
}
BianXing=Counter*XiShu;//得到實際變形值
}
依據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)[8]進行系統(tǒng)整機配置,并依據(jù)相應(yīng)的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)[9]對試樣進行驗證性實驗,經(jīng)過大量測試,得到本測控系統(tǒng)主要技術(shù)參數(shù),并與傳統(tǒng)測控系統(tǒng)對比,見表1.表中FS表示滿量程.
表1 系統(tǒng)性能指標(biāo)對比Tab.1 Index contrast of the system performance
從表 1可以看出,本測控系統(tǒng)在測控精度、運動控制的精確性及軟件的功能等方面均比傳統(tǒng)試驗機測控系統(tǒng)有較大提高.
本文設(shè)計了材料試驗機測控系統(tǒng),詳細(xì)給出了系統(tǒng)硬件設(shè)計,介紹了實現(xiàn)的部分功能.與現(xiàn)有測控系統(tǒng)比較,本測控系統(tǒng)在控制精度、實現(xiàn)的功能等方面均有較大提高.目前,測控系統(tǒng)已成功應(yīng)用于天津市美特斯試驗機廠等試驗機生產(chǎn)廠家的產(chǎn)品上.實踐表明,系統(tǒng)運動控制精確、精度高、穩(wěn)定性好,并具有較強的數(shù)據(jù)分析處理能力.
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