楊明潔 訾雪旻 段美華
(天津職業(yè)技術(shù)師范大學(xué) 理學(xué)院,中國 天津 300222)
時(shí)間序列是根據(jù)時(shí)間順序得到的一系列觀測(cè)值,它的典型特征是相鄰觀測(cè)值之間存在一定的依賴性。許多理論或?qū)嶋H生活中的數(shù)據(jù)就是以這種時(shí)間序列的形式呈現(xiàn)的。
對(duì)于自相關(guān)過程,如果在t時(shí)刻的過程值z(mì)t,不僅與過程先前值有關(guān),而且與先前時(shí)刻的隨機(jī)擾動(dòng)也存在一定的關(guān)系時(shí),就應(yīng)用自回歸——移動(dòng)平均混合模型來模擬自相關(guān)數(shù)據(jù),混合模型為:
不失一般性,本文將應(yīng)用一階自回歸——一階移動(dòng)平均過程,即混合ARMA(1,1)過程來描述自相關(guān)的觀測(cè)值,并假設(shè)均值μ=0,模型為:
應(yīng)用EWMA、REWMA、T2和RT2四個(gè)控制圖來監(jiān)測(cè)混合 ARMA(1,1)模型,這些控制圖在很多論文及相關(guān)書籍中都有介紹,在這里就不加以贅述。
表1 EWMA、REWMA、T2和RT2控制圖在θ=0.2時(shí)的ARL對(duì)比值
Apley和Tsung(2002)[2]詳細(xì)給出了如何選擇最優(yōu)窗寬以及如何規(guī)定第一類錯(cuò)誤概率α的方法,此處不再贅述。在本文中選擇的最佳移動(dòng)窗寬為p=2,第一類錯(cuò)誤概率為α=0.002。λ為EWMA和REWMA的光滑系數(shù)。以0<θ<1為代表,下表表1、表2分別給出EWMA、REWMA、、T2和RT2控制圖在 θ=0.2和θ=0.8時(shí)的ARL值。
結(jié)果顯示,在 λ 極?。?.02)且 ?=-0.2、δ=0.2 時(shí),79.7<86.0<201.4<376.8(分別為 EWMA、REWMA、、T2和 RT2的 ARL 值),因此在此時(shí)最優(yōu)的為REWMA控制圖。同理,我們可以得到規(guī)律見表3。
當(dāng) λ 極大(0.8)且 ?=-0.8、δ=0.2 時(shí),173.2<191.8<350.1<421.5(分別為RT2、REWMA、T2和EWMA的 ARL值),因此在此時(shí)最優(yōu)的為RT2控制圖。同理,我們也可以得到規(guī)律見表3。
表3 當(dāng)0<θ<1時(shí),監(jiān)測(cè)中小漂移的最優(yōu)控制圖的選擇
表4 當(dāng)-1<θ<0時(shí),監(jiān)測(cè)中小漂移的最優(yōu)控制圖的選擇
應(yīng)用同樣的方法,可以得到當(dāng)-1<θ<0時(shí)的控制圖的選擇情況,見表4
結(jié)果表明,對(duì)于混合 ARMA(1,1)模型來說,當(dāng) 0<θ<1 時(shí),從整體來看,殘差控制圖要比原控制圖相對(duì)有優(yōu)勢(shì),當(dāng)光滑系數(shù)λ極小時(shí),可以選擇使用REWMA控制圖;當(dāng)λ極大時(shí),可以考慮應(yīng)用RT2控制圖;當(dāng)-1<θ<0 且-1<?<0 時(shí),殘差控制圖要占主導(dǎo),當(dāng)-1<?<-0.5(不考慮λ的影響)和-0.5<?<0且λ極小時(shí),可以考慮使用REWMA控制圖;當(dāng)-0.5<?<0 且 λ 極大時(shí),應(yīng)用 RT2控制圖;當(dāng)-1<θ<00<?<1 且時(shí),應(yīng)用EWMA控制圖為最優(yōu)。
[1]喬治 E.P.博克斯.時(shí)間序列分析[M].機(jī)械工業(yè)出版社,2002.
[2]王兆軍,鄒長(zhǎng)亮,李忠華.統(tǒng)計(jì)質(zhì)量控制圖理論與方法[M].科學(xué)出版社,2013.